GB/T 17554-1998識(shí)別卡測試方法

！C5.35.240.15L64中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17554一1998idtIso/IEC10373:1993識(shí)別卡測試方法Identificationcards-Testmethods1998-11-05發(fā)布1999-06-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17554-1998前言ISO/IEC前言·…………·范圍引用標(biāo)準(zhǔn)3定義A測試環(huán)境和條件5測試方法5.1卡的翹曲5.2卡的尺寸5.3字符凸印的起伏高度5.4磁條高度和表面斷面5.5磁條表面粗糙度5.6磁條磨損測試5.7剝離········5.8耐耐化學(xué)性…5.9福度測量………·5.10溫度和濕度條件下卡尺寸的穩(wěn)定性和翹曲5.11粘連或并塊5.12彎曲韌性5.13可燃性5.14光透射性5.15磁通翻轉(zhuǎn)間距偏離6集成電路卡的測試方法·6.1動(dòng)態(tài)彎曲壓力（彎曲特性)6.2動(dòng)態(tài)扭曲壓力(扭曲）6.3點(diǎn)位置…………6.4靜電………·6.5紫外線…………………·6.6《射線……6.7觸點(diǎn)電阻和阻抗·6.8融點(diǎn)的表面斷面·振動(dòng)…·…·6.10電磁場

GB/T17554-1998前本標(biāo)淮等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373:1993(識(shí)別卡測試方法》.本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出、本標(biāo)淮由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：李韻琴、劉鐘、聶舒、王云生、蔡懷中、馮敬。

GB/T17554-1998ISO/IEC前言ISO(國際標(biāo)準(zhǔn)化組織)和IEC(國際電工委員會(huì))建立了世界范圍標(biāo)準(zhǔn)化的專門系統(tǒng)。ISO或IEC的國家成員團(tuán)體通過由各自的組織建立的技術(shù)委員會(huì)所涉及的專門領(lǐng)域的技術(shù)活動(dòng)，來參與國際標(biāo)準(zhǔn)的制定。ISO和IC技術(shù)委員會(huì)在共同感興趣的領(lǐng)域合作。其他與ISO和IC有聯(lián)系的官方和非官方的各國際組織也參與此項(xiàng)工作。在信息技術(shù)領(lǐng)域,ISO和IEC建立了一個(gè)聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)，即ISO/IECJTCl。由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)提出的國際標(biāo)準(zhǔn)草案須分發(fā)給各成員團(tuán)體進(jìn)行表決。作為國際標(biāo)準(zhǔn)批準(zhǔn)發(fā)行至少需要75%的成員團(tuán)體投票贊成。國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)ISO/IECJTCI(信息技術(shù))的分技術(shù)委員會(huì)SC17(識(shí)別卡和相關(guān)設(shè)備)制定。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17554一1998識(shí)別卡測試方法HdtisoEC10373.1553Identificationcards-Testmethods范圍本標(biāo)準(zhǔn)描述了GB/T14916、GB/T15120、GB/T17552和GB/T16649所規(guī)定的識(shí)別卡的測試方法驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)不形威本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容，但可以在上述標(biāo)準(zhǔn)中找到。本標(biāo)準(zhǔn)所述的測試方法是可以單獨(dú)完成的。指定的卡不需要順序進(jìn)行所有的測試2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)中所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T131一1993機(jī)械制圖表面粗糙度符號(hào)、代號(hào)及其注法(eqvISO1302:1992)GB/T14916-1994識(shí)別卡物理特性(idtISO/IEC7810:1985)GB/T15120.3—1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第3部分：ID-1卡上凸印字符的位置(idtISO7811-3:1985）GB/T15120.4-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第4部分：只讀磁道的第1磁道和第2磁道的位置CidtISO7811-4：1985GB/T15120.5-19941識(shí)別卡記錄技術(shù)第5部分：讀寫磁道的第3磁道的位貿(mào)(idtISO7811-5:1985）GB/T16649.1一1996識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分：物理特性(idtISO7816-1:1987)GB/T16649.2一1996識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第2部分:觸點(diǎn)的尺寸和位置(idtISO7816-2:1988）GB/T17552-1998識(shí)別卡金融交易卡(idtISO/IEC7813:1995)ISO5-1:1984攝影技術(shù)密度測量第1部分：術(shù)語、符號(hào)和記法ISO5-2:1991攝影技術(shù)密度測量第2部分:透射密度的線性條件ISO5-3:1984攝影技術(shù)密度測量第3部分：光譜條件ISO105-E04:1989紡織品色牢度試驗(yàn)第E04部分：耐汁漬色牢度ISO1817：1985硬橡膠確定對(duì)液態(tài)的影響ISO1880:1979用輪廊法表面粗糙測量儀遞進(jìn)式輪廊變形的觸電(指針)儀器輪廊記錄儀ISO7811-1:1993識(shí)