標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17574.11-2006 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，專注于半導(dǎo)體器件和集成電路領(lǐng)域，特別是針對(duì)數(shù)字集成電路中的單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器（EEPROM）。此標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了這類存儲(chǔ)器的空白產(chǎn)品（即未編程狀態(tài)）的技術(shù)要求和測(cè)試方法。下面是該標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的概述：

標(biāo)準(zhǔn)范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用單一電源供電、集成有電可擦除功能的只讀存儲(chǔ)器（EEPROM）集成電路。這些器件的特點(diǎn)是可以多次編程與擦除數(shù)據(jù)，且在無(wú)電源供應(yīng)的情況下能保持?jǐn)?shù)據(jù)不丟失。標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)的是空白的EEPROM產(chǎn)品，定義了它們的基本性能指標(biāo)和檢驗(yàn)規(guī)則。

技術(shù)要求

  • 電氣特性：規(guī)定了在指定的工作電壓、溫度范圍內(nèi)，EEPROM應(yīng)滿足的輸入輸出電壓/電流水平、數(shù)據(jù)保存時(shí)間、讀寫周期時(shí)間等電氣參數(shù)。
  • 數(shù)據(jù)保留：明確了在特定條件下（如高溫存儲(chǔ)或室溫下長(zhǎng)時(shí)間放置），存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)必須保持不丟失的最短時(shí)間。
  • 耐用性：規(guī)定了擦寫循環(huán)次數(shù)的最小要求，確保在達(dá)到這一次數(shù)后，存儲(chǔ)單元仍能保持正常讀寫功能。
  • 編程與擦除特性：詳細(xì)說(shuō)明了編程和擦除操作的條件、時(shí)間和成功率要求。
  • 封裝與機(jī)械特性：包括引腳排列、封裝形式、尺寸公差以及耐熱、耐濕等物理要求。

測(cè)試方法

  • 描述了如何對(duì)EEPROM的電氣特性進(jìn)行測(cè)試，包括測(cè)試環(huán)境、測(cè)試設(shè)備、測(cè)試步驟及判定準(zhǔn)則。
  • 數(shù)據(jù)保留測(cè)試方法，通常涉及在極端條件下加速老化實(shí)驗(yàn)來(lái)評(píng)估數(shù)據(jù)保存能力。
  • 耐用性驗(yàn)證，通過(guò)連續(xù)擦寫循環(huán)直至達(dá)到規(guī)定的次數(shù)，監(jiān)測(cè)存儲(chǔ)性能的變化。
  • 對(duì)于編程與擦除特性的測(cè)試，規(guī)定了驗(yàn)證編程和擦除操作有效性的具體流程。

標(biāo)識(shí)與包裝

  • 規(guī)定了產(chǎn)品標(biāo)識(shí)信息的內(nèi)容和格式，確保用戶可以獲取到關(guān)鍵的制造信息和產(chǎn)品規(guī)格。
  • 包裝要求確保產(chǎn)品在運(yùn)輸和儲(chǔ)存過(guò)程中的安全，防止靜電損害和其他物理?yè)p傷。

符合性評(píng)估

說(shuō)明了產(chǎn)品需通過(guò)的檢驗(yàn)程序和合格判定準(zhǔn)則，確保所有出廠的EEPROM都符合本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。

此標(biāo)準(zhǔn)為制造商、采購(gòu)商及質(zhì)量監(jiān)管部門提供了統(tǒng)一的評(píng)判基準(zhǔn)，保障了電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器產(chǎn)品的互換性和可靠性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-12-05 頒布
  • 2007-05-01 實(shí)施
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GB/T 17574.11-2006半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分：數(shù)字集成電路單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范_第1頁(yè)
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ICS31.200L56中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999QC790108半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分;數(shù)字集成電路單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPart2-11:DigitalintegratedcircuitsBlankdetailspecificationforsinglesupplyintegratedcircuitelectricallyerasableandprogrammableread-onlymemory（IEC60748-2-11:1999.IDT)2006-12-05發(fā)布2007-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分：數(shù)字集成電路單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：01051299090.685220062007年3月第一版書(shū)號(hào)：155066·1-28947版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：(010)68522006

GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體器件：集成電路》中的數(shù)字集成電路部分分為如下幾部分GB/T17574—1998《半導(dǎo)體器件集成電路：第2部分：數(shù)字集成電路》（idtIEC60748-2:1985）GB/T5965—2000《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細(xì)規(guī)范》idtIEC60748-2-1:1991)GB/T17023—1997《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第二篇HCMOS數(shù)字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族規(guī)范》idtIEC60748-2-2：1992）GB/T17024—1997《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第三篇HCMOS數(shù)字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細(xì)規(guī)范》（idtIEC60748-2-3:1992）GB/T17572—1998《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范》idtIEC60748-2-4:1992)GB/T9424—1998《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第五篇CCMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范》idtIEC60748-2-5:1992)-GB/T7509—1987《半導(dǎo)體集成電路微處理器空白詳細(xì)規(guī)范》（可供認(rèn)證用）GB/T14119—1993《半導(dǎo)體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》（可供認(rèn)證用）GB/T6648-1986《半導(dǎo)體集成電路靜態(tài)讀/寫存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》（可供認(rèn)證用)GB/T17574.9—2006《半導(dǎo)體器件集成電路第2-9部分：數(shù)字集成電路紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》IEC60748-2-9:1994.IDT)GB/T17574.10—2003《半導(dǎo)體器件集成電路第2-10部分：數(shù)字集成電路集成電路動(dòng)態(tài)讀/寫存儲(chǔ)器集成電路空白詳細(xì)規(guī)范》IEC60748-2-10:1994.IDT)GB/T17574.11—2006《半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分：數(shù)字集成電路單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》(IEC60748-2-11:1999,IDT）（B/T17574.12《半導(dǎo)體器件集成電路第2-12部分：數(shù)字集成電路可編程器件(PLDs)空白詳細(xì)規(guī)范》(IEC60748-2-12）（待轉(zhuǎn)化）GB/T17574.20—2006《半導(dǎo)體器件集成電路第第2-20部分：數(shù)字集成電路低壓集成電路族規(guī)范》IEC60748-2-20:2000.IDT)本規(guī)范等同采用IEC60748-2-11:1999（QC790108)《半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分：數(shù)字集成電路單電源電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》英文版。本規(guī)范按照GB/T1.1的要求編制國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),只對(duì)IEC原文作編輯性修改：刪除IEC原文中的本規(guī)范由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。本規(guī)范由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口，本規(guī)范起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所本規(guī)范主要起草人：施華莎

GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分：數(shù)字集成電路單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范引IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC的章程，并在IEC的授權(quán)下進(jìn)行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序,以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一.并且與下列標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC60747-10/QC700000:19911半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范半導(dǎo)體器件集成電路IEC60748-11/QC790100:1990：第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路）IEC60749:1984.修改單1(1991).修改單2(1993)要求的資料本頁(yè)和后面括號(hào)內(nèi)的數(shù)字與下列各項(xiàng)要求的資料相對(duì)應(yīng),這些資料應(yīng)填入本規(guī)范相應(yīng)的欄中詳細(xì)規(guī)范的識(shí)別「17授權(quán)發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)名稱L2詳細(xì)規(guī)范的1ECQ編號(hào)。L3總規(guī)范和分規(guī)范的編號(hào)及版本號(hào)?！?詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家編號(hào)、發(fā)布日期及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)體系要求的其他資料器件的識(shí)別【57主要功能和型號(hào)?！?7典型結(jié)構(gòu)(材料、主要工藝)和封裝資料器件若具有若干種派生產(chǎn)品.則應(yīng)指出其特性差異詳細(xì)規(guī)范應(yīng)給出包括以下內(nèi)容的簡(jiǎn)短描述：-工藝(NM

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