GB/T 17626.17-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)

ICS33.100.20L06中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)ElectromagnetieCompatibility-Testingandmeasurementtechniques-Rippleond.c.inputpowerportimmunitytest（IEC61000-4-17:2002,IDT)2005-02-06發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002前言IEC引言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語(yǔ)和定義5試驗(yàn)等級(jí)和波形6試驗(yàn)發(fā)生器7試驗(yàn)配置8試驗(yàn)程序9試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定10試驗(yàn)報(bào)告…附錄A（資料性附錄）紋波現(xiàn)象的資料A.1紋波現(xiàn)象的描述……A.2試驗(yàn)等級(jí)的選擇A.3有關(guān)發(fā)生器的資料圖1紋波電壓波形示例…圖A.1以整流系統(tǒng)為基礎(chǔ)的發(fā)生器示例圖A.2以可編程裝置為基礎(chǔ)的發(fā)生器示例表1試驗(yàn)等級(jí)

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002本部分等同采用IEC61000-4-17:2002《電磁兼容第4部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第17分部分：直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)》。本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備對(duì)直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)等級(jí)和測(cè)量方法。本部分是《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)之一，該系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分：GB/T17626.1—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論（idtIEC61000-4-1：1992)GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-2:1995)GB/T17626.3—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-3:1995）GB/T17626.4—1998電磁兼容武驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)（idtIEC61000-4-4:1995）GB/T17626.5-1999電電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-5:1995）GB/T17626.6-1998電磁兼容武驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)耐頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（idtIEC61000-4-6:1996）GB/T17626.7—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)：供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則(idtIEC61000-4-7:1991）GB/T17626.8—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)（idtIEC61000-4-8：1993）GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗抗度試驗(yàn)（idtIEC61000-4-9:1993）GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)（idtIEC61000-4-10:1993）GB/T17626.11-1999電磁兼容：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-11:1994）GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-12:1995）GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)(IEC61000-4-14:2002.IDT)GB/T17626.17—2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)0～150kHz傳導(dǎo)共模騷擾抗擾度試驗(yàn)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗(yàn)(IEC61000-4-17:2002.IDT)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電源頻率變化抗擾度試驗(yàn)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸人端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗抗度試驗(yàn)本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由國(guó)家經(jīng)濟(jì)貿(mào)易委員會(huì)電力司提出本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)歸口本部分起草單位：國(guó)家電力公司武漢高壓研究所本部分主要起草人：萬(wàn)保權(quán)、張小武、鄲雄、蔣虹、王勤、張廣洲。

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002IEC引本部分是IEC61000系列出版物的一部分,該系列出版物的構(gòu)成如下第一部分：綜述總的考慮(概述、基本原理)定義、術(shù)語(yǔ)第二部分：環(huán)境環(huán)境的描述環(huán)境的分類(lèi)兼容性水平第三部分：限值發(fā)射限值坑擾度限值(當(dāng)它們不屬于產(chǎn)品委員會(huì)的責(zé)任范圍時(shí))第四部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)測(cè)量技術(shù)試驗(yàn)技術(shù)第五部分：安裝和減緩導(dǎo)則安裝導(dǎo)則減緩方法和裝置第六部分：通用標(biāo)準(zhǔn)第九部分：其他每一部分又可分為若干分部分.它們作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)報(bào)告出版

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗批度試驗(yàn)1范圍本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備的直流電源輸人端口的紋波抗擾度試驗(yàn)方法本部分適用于由外部整流系統(tǒng)或正在充電的蓄電池供電的設(shè)備的低壓直流電源端口。本部分的目的是建立一個(gè)通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn).以在試驗(yàn)室條件下對(duì)電力和電子設(shè)備進(jìn)行來(lái)自于如整流系統(tǒng)和/或蓄電池充電時(shí)疊加在直流電源上的紋波電壓的抗擾度試驗(yàn)。本部分規(guī)定了：武試驗(yàn)電壓的波形；試驗(yàn)等級(jí)范圍；試驗(yàn)發(fā)生器；試驗(yàn)配置：試驗(yàn)程序下述的試驗(yàn)要求適用于電氣和電子設(shè)備及系統(tǒng)。當(dāng)受試設(shè)備的額定功率大于第6章中描述的試驗(yàn)發(fā)生器的容量時(shí)，本試驗(yàn)也適用于其組件或分系統(tǒng)。本試驗(yàn)不適用于按開(kāi)關(guān)模式轉(zhuǎn)換的蓄電池充電系統(tǒng)供電的設(shè)備本部分未規(guī)定用于特殊設(shè)備或系統(tǒng)的試驗(yàn)。本部分的主要目的是為有關(guān)專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供一個(gè)一般性的基本依據(jù)。有關(guān)專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(或用戶(hù)和制造商)有責(zé)任為其設(shè)備選擇合適的試驗(yàn)項(xiàng)目和嚴(yán)酷等級(jí)。專(zhuān)門(mén)的試驗(yàn)程序適用于特殊的電力或電子設(shè)備.如與電話(huà)交換中心直流供電網(wǎng)絡(luò)相連的設(shè)備：有關(guān)的專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)應(yīng)對(duì)本基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中給出的試驗(yàn)程序的相關(guān)性和適用性作出評(píng)價(jià)2范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而·鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T4365電磁兼容術(shù)語(yǔ)(GB/T4365-2003IEV60050(161).IDT)GB17626.11—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓酒降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.11-1999,idtIEC61000-4-11）GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)