GB/T 17626.4-2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

ICS3310020

L06..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.代替:

GB/T17626.4—2008

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—

Electricalfasttransient/burstimmunitytest

[IEC61000-4-4:2012,Electromagneticcompatibility(EMC)—

Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—

Electricalfasttransient/burstimmunitytest,IDT]

2018-06-07發(fā)布2019-01-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義縮略語(yǔ)

3、………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3.1…………………………1

縮略語(yǔ)

3.2………………3

概述

4………………………3

試驗(yàn)等級(jí)

5…………………4

試驗(yàn)設(shè)備

6…………………4

概述

6.1…………………4

脈沖群發(fā)生器

6.2………………………4

交流直流電源端口的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)

6.3//……………7

容性耦合夾

6.4…………………………9

試驗(yàn)布置

7…………………11

概述

7.1…………………11

試驗(yàn)設(shè)備

7.2……………11

實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行型式試驗(yàn)的試驗(yàn)布置

7.3…………………13

現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的試驗(yàn)布置

7.4………………16

試驗(yàn)程序

8…………………18

概述

8.1…………………18

實(shí)驗(yàn)室參考條件

8.2……………………18

進(jìn)行試驗(yàn)

8.3……………19

試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定

9…………………………19

試驗(yàn)報(bào)告

10………………19

附錄資料性附錄關(guān)于電快速瞬變的信息

A()…………21

附錄資料性附錄試驗(yàn)等級(jí)的選擇

B()…………………23

附錄資料性附錄測(cè)量不確定度的考慮

C()……………24

參考文獻(xiàn)

……………………31

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

前言

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)目前包括以下部分

GB/T17626《》:

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論

———GB/T17626.1—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.2—2018;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.3—2016;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.4—2018;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.5—2008();

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.6—2017;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測(cè)

———GB/T17626.7—2008、

量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.10—2017;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗

———GB/T17626.11—2008、

擾度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.12—2013;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信

———GB/T17626.13—2006、

號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

———GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.18—2016;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾

———GB/T17626.20—2014(TEM)

度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法

———GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度

———GB/T17626.22—2017

測(cè)量

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)

———GB/T17626.24—2012HEMP

方法

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.28—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中

———GB/T17626.29—2006、

斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法

———GB/T17626.30—2012;

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的

———GB/T17626.34—201216A

電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)

、。

本部分為的第部分

GB/T176264。

Ⅰ

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.4—2008《》。

與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T17626.4—2008,:

刪除了引用標(biāo)準(zhǔn)國(guó)際電工詞匯電氣和電子測(cè)量及測(cè)量?jī)x表第

———IEC60050—300:2001,311

部分和測(cè)量有關(guān)的一般術(shù)語(yǔ)第部分和電氣測(cè)量有關(guān)的一般術(shù)語(yǔ)第部分電氣測(cè)

:;312:;313:

量?jī)x表的類型第部分根據(jù)儀表類型的特定術(shù)語(yǔ)見(jiàn)第章

;314:(2);

增加了個(gè)術(shù)語(yǔ)和定義見(jiàn)

———1(3.1.1);

增加了縮略語(yǔ)見(jiàn)

———(3.2);

刪除了試驗(yàn)發(fā)生器的主要元件見(jiàn)

———(6.2.1);

增加了圖及理想波形的計(jì)算公式見(jiàn)

———3(6.2.2);

刪除了圖接負(fù)載時(shí)單個(gè)脈沖的波形增加了圖輸出到負(fù)載的單個(gè)脈沖的理

———“350Ω”,“350Ω

想波形見(jiàn)的圖

(6.2.23)”;

增加了容性耦合夾的校準(zhǔn)內(nèi)容增加了圖圖見(jiàn)

———6.4.2,7,8(6.4.2);

增加了試驗(yàn)儀器驗(yàn)證見(jiàn)

———7.2.2(7.2.2);

增加圖中容性耦合夾后的標(biāo)注見(jiàn)圖

———11(11);

修改了頂部進(jìn)線設(shè)備的試驗(yàn)布置新增了圖見(jiàn)圖

———,13(7.2.213);

刪除了圖增加了圖見(jiàn)圖

———12,15(7.4.215);

增加了附錄關(guān)于測(cè)量不確定度的信息見(jiàn)附錄

———C(C);

刪除了附錄表和表單位中的見(jiàn)附錄表和表

———CC.1C.21(CC.1C.2);

修改了附錄表中A為α在附錄中沒(méi)有A的出現(xiàn)見(jiàn)附錄表

———CC.1,C(CC.1)。

本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

IEC61000-4-4:2012《(EMC)4-4:

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

》。

本部分做了下列編輯性修改

:

為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)系列一致將本部分名稱改為電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群

———,《

抗擾度試驗(yàn)

》。

本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC246)。

本部分起草單位上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究院有限公司上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院中國(guó)電力科

:、、

學(xué)研究院有限公司上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗(yàn)測(cè)試所有限公司

、。

本部分主要起草人王英翁海豐俞磊張翼翔龔增李妮周鵬成費(fèi)杰

:、、、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T17626.4—1998、GB/T17626.4—2008。

Ⅱ

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

1范圍

的本部分涉及電氣和電子設(shè)備對(duì)重復(fù)性電快速瞬變的抗擾度要求和試驗(yàn)方法此

GB/T17626。

外還規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)的范圍和確定了試驗(yàn)程序

,。

本部分的目的是為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口信號(hào)控制和接地端口在受到電快速瞬變

、、

脈沖群時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法描述了一種評(píng)估設(shè)備或系

。

統(tǒng)對(duì)已定義現(xiàn)象抗擾度的一致性方法

。

注正如導(dǎo)則中所述的本部分是電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)供各產(chǎn)品委員會(huì)使用導(dǎo)則還規(guī)定產(chǎn)品委

:IEC107,,。IEC107,

員會(huì)負(fù)責(zé)確定是否應(yīng)用本抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如果使用需要負(fù)責(zé)確定合適的試驗(yàn)等級(jí)和性能判據(jù)全國(guó)電磁兼

,,。

容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)及其分技術(shù)委員會(huì)愿與產(chǎn)品委員會(huì)合作