GB/T 19267.6-2008刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

犐犆犛１３．３１０

犃９２

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１９２６７．６—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３

刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗

第６部分：掃描電子顯微鏡／犡射線

能譜法

犘犺狔狊犻犮犪犾犪狀犱犮犺犲犿犻犮犪犾犲狓犪犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狋狉犪犮犲犲狏犻犱犲狀犮犲犻狀犳狅狉犲狀狊犻犮狊犮犻犲狀犮犲狊—

犘犪狉狋６：犛犮犪狀狀犻狀犵犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆犲／犡狉犪狔犲狀犲狉犵狔犱犻狊狆犲狉狊犻狏犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔

２００８０８１４發(fā)布２００９０３０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜１９２６７．６—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１９２６７《刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗》分為１２個部分：

———第１部分：紅外吸收光譜法；

———第２部分：紫外可見吸收光譜法；

———第３部分：分子熒光光譜法；

———第４部分：原子發(fā)射光譜法；

———第５部分：原子吸收光譜法；

———第６部分：掃描電子顯微鏡／Ｘ射線能譜法；

———第７部分：氣相色譜質(zhì)譜法；

———第８部分：顯微分光光度法；

———第９部分：薄層色譜法；

———第１０部分：氣相色譜法；

———第１１部分：高效液相色譜法；

———第１２部分：熱分析法。

本部分為ＧＢ／Ｔ１９２６７的第６部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３《刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗第６部分：掃描電子顯微

鏡法》。

本部分與ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３相比主要變化有：

———標(biāo)準(zhǔn)名稱采用“掃描電子顯微鏡／Ｘ射線能譜法”；

———增加了環(huán)境電子顯微鏡的術(shù)語（本部分的３．２、３．１８）；

———增加了環(huán)境電子顯微鏡的原理部分（本部分的４．１）；

———儀器的組成、指標(biāo)作了必要的變動（本部分和ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３的第５章）；

———修改了樣品的制備的內(nèi)容（本部分的６．４．１、６．４．２，ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３的６．３、６．４）；

———增加了工作距離內(nèi)容的描述（本部分的７．２．４）；

———修改了樣品分析的內(nèi)容（本部分和ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３的７．３）。

本部分由中華人民共和國公安部提出。

本部分由全國刑事技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會理化檢驗標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ１７９／ＳＣ４）

歸口。

本部分起草單位：上海市公安局物證鑒定中心。

本部分主要起草人：丁敏菊、邵致遠。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１９２６７．６—２００３。

Ⅰ

書

犌犅／犜１９２６７．６—２００８

刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗

第６部分：掃描電子顯微鏡／犡射線

能譜法

１范圍

ＧＢ／Ｔ１９２６７的本部分規(guī)定了掃描電子顯微鏡和與Ｘ射線能譜儀聯(lián)用的檢驗方法。

本部分適用于刑事技術(shù)領(lǐng)域中的微量物證的理化檢驗，其他領(lǐng)域亦可參照使用。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ１９２６７的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ１３９６６分析儀器術(shù)語

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ１３９６６中確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。

３．１

掃描電子顯微鏡法狊犮犪狀狀犻狀犵犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆狔（犛犈犕）

由電子槍發(fā)射并經(jīng)電磁透鏡聚焦的電子束在掃描線圈的磁場作用下，在樣品表面按一定的時間、空

間順序作光柵掃描（也稱逐點掃描），由探測器接收樣品中激發(fā)的二次電子等信號，再經(jīng)光電轉(zhuǎn)換，在顯

示器上觀察到反映樣品表面貌似的電子圖的方法。

３．２

環(huán)境掃描電子顯微鏡法犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狊犮犪狀狀犻狀犵犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆狔（犈犛犈犕）

環(huán)境掃描電鏡是近年發(fā)展起來的新型掃描電鏡。常規(guī)掃描電鏡樣品室真空度必須優(yōu)于１０－３Ｐａ，非

導(dǎo)體及含水樣品需要表面鍍導(dǎo)電層，而ＥＳＥＭ的樣品室通入氣體處于低真空的“環(huán)境”狀態(tài)（氣壓可達

到２６００Ｐａ），根據(jù)氣體電離及放大原理，非導(dǎo)體及含水樣品可以不經(jīng)表面導(dǎo)電處理就能直接觀察。

３．３

犡射線能譜法犲狀犲狉犵狔犱犻狊狆犲狉狊犻狏犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔（犈犇犛）

用具有一定能量和強度的粒子束轟擊試樣物質(zhì)，根據(jù)試樣物質(zhì)被激發(fā)的粒子能量和強度，或被試樣

物質(zhì)反射的粒子能量和強度的關(guān)系圖（稱為能譜）實現(xiàn)對試樣的非破壞性元素分析、結(jié)構(gòu)分析和表面物

化特性分析的方法。

３．４

掃描電子顯微鏡／犡射線能譜法狊犮犪狀狀犻狀犵犲犾犲犮狋狉狅狀犿