第9章焊接接頭超聲檢測(cè)

Xi'anPolytechnicUniversity第9章焊接接頭超聲檢測(cè)主講：王秋萍19.1焊接加工及常見(jiàn)缺陷焊接過(guò)程

接頭形式坡口形式常見(jiàn)缺陷Xi'anPolytechnicUniversity2一.焊接過(guò)程1.焊接

焊接是指通過(guò)加熱或加壓，或者兩者兼用，并且用或不用填充材料，使工件達(dá)到原子結(jié)合的一種加工方法。2.常用的焊接方法熔焊、壓焊、釬焊或特種焊接等。超聲檢測(cè)的主要對(duì)象是熔焊焊接接頭。3.焊接過(guò)程

焊接過(guò)程實(shí)際是一個(gè)冶煉和鑄造過(guò)程，首先利用電能或其他形式的能量產(chǎn)生高溫使金屬熔化，形成熔池，熔融金屬在熔池中經(jīng)過(guò)冶金反應(yīng)后冷卻，將兩工件牢固地結(jié)合在一起。Xi'anPolytechnicUniversity3二.接頭形式金屬熔化焊焊接部位的總稱叫焊接接頭，簡(jiǎn)稱接頭，包括焊縫、熱影響區(qū)和鄰近母材等不同部位。a)對(duì)接接頭b)角接接頭c)T形接頭d)搭接接頭Xi'anPolytechnicUniversity4三.坡口形式根據(jù)設(shè)計(jì)或工藝需要，焊接前將母材焊口邊緣加工并裝配成一定的幾何形狀，這種形狀稱為坡口形式。a)I形b)V形c)X形d)U形e)單邊V形f)K形Xi'anPolytechnicUniversity5Xi'anPolytechnicUniversity對(duì)接接頭的坡口工藝圖6

V形坡口各部分名稱1—表面2—背面3—坡口角4—根部面(鈍邊)5—傾斜角6—坡口面7—根部高度8—根部間隙Xi'anPolytechnicUniversity7

V形坡口焊接接頭各部分的名稱1—焊縫寬度2—焊道邊縫3—母材4—根部5—焊縫金屬6—余高7—熱影響區(qū)8—焊趾Xi'anPolytechnicUniversity8四.常見(jiàn)焊縫缺陷Xi'anPolytechnicUniversity焊接接頭常見(jiàn)缺陷主要有不連續(xù)性、幾何偏差、冶金不均勻性。其中不連續(xù)性主要有氣孔、夾渣、未焊透、未熔合及裂紋等。密集型氣孔根部裂紋9Xi'anPolytechnicUniversity未熔合：焊縫金屬與母材之間或焊道金屬之間未完全熔化的現(xiàn)象稱為“未熔合”。主要分為：側(cè)壁未熔合、層間未熔合，根部未熔合。側(cè)壁未融合層間未熔合10Xi'anPolytechnicUniversity未焊透：實(shí)際熔深小于公稱熔深而形成的差異部分稱為“未焊透”。主要是根部未焊透。根部未焊透119.2鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)

焊接接頭的超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇檢測(cè)方法和檢測(cè)條件的選擇標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲檢測(cè)儀掃描速度的調(diào)節(jié)距離-波幅曲線和靈敏度調(diào)節(jié)掃查方式缺陷的評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)Xi'anPolytechnicUniversity121.A級(jí)檢測(cè)

A級(jí)檢測(cè)技術(shù)要求如下：A級(jí)檢測(cè)僅適用于母材厚度為8～46mm的焊接接頭檢測(cè)，一般用一種K值探頭，可采用直射波法和一次反射波法（或稱二次波法）在焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。

JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)》中規(guī)定：“超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A

、B、C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定?！币?焊接接頭的超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇Xi'anPolytechnicUniversity13

直射波法：用一次波直接掃查焊縫根部的探傷方法。Xi'anPolytechnicUniversity

一次反射波法：用二次波直接掃查焊縫區(qū)域的探傷方法。142.B級(jí)檢測(cè)

B級(jí)檢測(cè)技術(shù)要求如下：(1)母材厚度為8～46mm時(shí)，一般用一種K值探頭，采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。Xi'anPolytechnicUniversity一次波二次波15(2)母材厚度為46～120mm時(shí)，一般用一種K值探頭，采用直射波法在焊縫接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。(3)母材厚度為120～400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭，采用直射波法在焊縫接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10o。(4)為檢測(cè)焊接接頭及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行斜平行掃查。Xi'anPolytechnicUniversity163.C級(jí)檢測(cè)：C級(jí)檢測(cè)技術(shù)要求如下：

(1)采用C級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對(duì)接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。(2)母材厚度為８～46mm時(shí)，一般用兩種K值探頭，采用直射波法和一次反射波法在焊縫接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10o，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45o。(3)母材厚度為46～400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭，采用直射波法在焊縫接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10o。(4)應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。Xi'anPolytechnicUniversity17二.檢測(cè)方法和檢測(cè)條件的選擇1.檢測(cè)面的準(zhǔn)備

檢測(cè)面包括檢測(cè)區(qū)和探頭的移動(dòng)區(qū)。檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域δ，δmin=5mm，δmax=10mm。δ若T=15mm，則δ=15×30%=4.5mm

→5mm。若T=20mm，則δ=20×30%=6mm。若T=50mm，則δ=50×30%=15mm

→10mm。Xi'anPolytechnicUniversity18跨距：

P=2TK=2x

或P=2Ttanβ=2x

當(dāng)采用一次反射波法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)域大于或等于1.25P。當(dāng)采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)域大于或等于0.75P。Xi'anPolytechnicUniversityβxP192.耦合劑的選擇

在焊縫檢測(cè)中，常用的耦合劑材料有水、甘油、機(jī)油、變壓器油、化學(xué)糨糊盒潤(rùn)滑脂等。(1)在焊縫自動(dòng)檢測(cè)中，常用水作為耦合劑，這是因?yàn)樗牧鲃?dòng)性好，傳輸方便，價(jià)格便宜。使用時(shí)可加入潤(rùn)滑劑和防腐劑等。(2)機(jī)油和變壓器油的附著力、粘度、潤(rùn)濕性都較合適，也無(wú)腐蝕性、價(jià)格也不貴，因此是最常用的耦合劑。Xi'anPolytechnicUniversity20由于A、B級(jí)焊縫余高的存在和斜探頭前沿的影響，一次波只能檢測(cè)到焊縫中下部。當(dāng)焊縫寬度較大，若斜探頭的K值選擇較小，則一次波無(wú)法檢測(cè)到焊縫中下部。因此斜探頭K值的選擇應(yīng)考慮以下三個(gè)方面：

特種設(shè)備焊縫一般晶粒較細(xì)，且超聲波各向同性。因此檢測(cè)波型一般為橫波，頻率為2.5～5MHz。(1)斜探頭的聲束應(yīng)能掃查得到整個(gè)檢測(cè)區(qū)截面；(2)斜探頭的聲束中心應(yīng)盡量與該焊縫可能出現(xiàn)的危險(xiǎn)性缺陷垂直；(3)盡量使用一次波判斷缺陷，減少誤判并保證有足夠的檢測(cè)靈敏度。Xi'anPolytechnicUniversity3.探頭頻率和K值的選擇：21為保證能檢測(cè)到整個(gè)檢測(cè)區(qū)截面，必須滿足:d1+d2≤T所以有:討論:對(duì)于單面焊縫，b可忽略，此時(shí):K≥(a+l0)/TXi'anPolytechnicUniversity用一、二次波單面檢測(cè)雙面焊焊縫時(shí)聲束覆蓋情況：224.探頭晶片尺寸的選擇

對(duì)于板厚較大的焊縫檢測(cè)，可使用晶片尺寸較大的探頭。對(duì)于板厚較小的焊縫檢測(cè)，應(yīng)選擇晶片尺寸較小的探頭。(1)由θ0=acrsin(λ/D)可知，D越大，θ0將越小，波束指向性越好，超聲能量就會(huì)越集中。(2)由N=D2/4λ可知，隨著D的增大，N也將迅速增大。(3)D越大，輻射的超聲能量也就越大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍也將變大，而遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)就會(huì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷的能力就會(huì)增強(qiáng)。Xi'anPolytechnicUniversity235.母材的檢測(cè)a)母材內(nèi)部存在分層可能造成漏檢因此，對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類的缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。Xi'anPolytechnicUniversityb)母材內(nèi)部存在分層可能造成誤判24母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下：(1)

檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2～5MHz的直探頭，晶片直徑10～25mm。(2)

檢測(cè)靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為示波屏滿刻度的100%。(3)

記錄要求：凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)示波屏刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。Xi'anPolytechnicUniversity25三.標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲檢測(cè)焊接接頭用的標(biāo)準(zhǔn)試塊可用來(lái)校準(zhǔn)系統(tǒng)性能和檢測(cè)靈敏度。Xi'anPolytechnicUniversityCSK-ⅠA試塊——適用壁厚范圍為6～120mm的焊接接頭。

26Xi'anPolytechnicUniversityCSK-ⅡA——試塊適用壁厚范圍為6～120mm的焊接接頭

27Xi'anPolytechnicUniversityCSK-ⅢA試塊——適用壁厚范圍為6～120mm的焊接接頭

28Xi'anPolytechnicUniversityCSK-ⅣA試塊——適用壁厚范圍為120～400mm的焊接接頭

29表9-2CSK-ⅣA試塊尺寸(mm)CSK-ⅣA被檢測(cè)工件厚度對(duì)比試塊厚度T標(biāo)準(zhǔn)孔位置b標(biāo)準(zhǔn)孔直徑dNo.1>120~150135T/4、T/26.4（1/4in）No.2>150~200175T/4、T/27.9（5/16in）No.3>200~250225T/4、T/29.5（3/8in）No.4>250~300275T/4、T/211.1（7/16in）No.5>300~350325T/4、T/212.7（1/2in）No.6>350~400375T/4、T/214.3（9/16in）30四、超聲檢測(cè)儀掃描速度調(diào)節(jié)Xi'anPolytechnicUniversity聲程調(diào)節(jié)法水平調(diào)節(jié)法深度調(diào)節(jié)法31聲程法能使示波屏水平刻度值直接顯示反射體實(shí)際聲程。焊縫檢測(cè)中常用CSK-IA和半圓試塊來(lái)調(diào)整。1.聲程法Xi'anPolytechnicUniversity半圓試塊利用半圓試塊調(diào)整時(shí)，探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度0、100，然后調(diào)“脈沖移位”使B1對(duì)準(zhǔn)50即可。322.水平法

(1)利用CSK-ⅢA試塊橫孔反射法：按τ:x=1:1調(diào)節(jié)。設(shè)K=1.5，d1=20mm，d2=60mm，則對(duì)應(yīng)的水平刻度分別為：水平法能使示波屏水平刻度值直接顯示反射體的水平投影。焊縫檢測(cè)中常用CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和半圓試塊來(lái)調(diào)整。Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)節(jié)方法：調(diào)節(jié)儀器使深度為d1、d2的Φ1mm×6mm橫孔的回波A、B分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度30、90，這時(shí)水平距離掃描速度1:1就調(diào)好了。33

(2)CSK-ⅢA試塊邊角反射法：該方法是利用試塊上邊角和下邊角進(jìn)行定位的一種方法。Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)節(jié)方法：將探頭放在試塊上前后移動(dòng)，找到下邊角最大反射波H1，同時(shí)量出水平距離l1。調(diào)節(jié)儀器使H1

對(duì)準(zhǔn)水平刻度l1。然后移動(dòng)探頭找到上邊角的最大反射波H2，同時(shí)量出水平距離l2。調(diào)節(jié)儀器使H2

對(duì)準(zhǔn)水平刻度l2。343.深度法利用CSK-ⅢA試塊橫孔反射法：

按τ:x=1:1調(diào)節(jié)。設(shè)d1=40mm，d2=80mm。深度法能使示波屏水平刻度值直接顯示反射體的垂直深度。焊縫檢測(cè)中常用CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和半圓試塊來(lái)調(diào)整。Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)節(jié)方法：移動(dòng)探頭使之分別對(duì)準(zhǔn)A、B兩個(gè)橫孔。反復(fù)調(diào)節(jié)脈沖移位和微調(diào)旋鈕，使兩孔的最高回波分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度40、80，則深度1:1就調(diào)好了。351.距離-波幅曲線距離-波幅曲線是描述某一特定反射體回波高度隨距離變化關(guān)系的曲線。由評(píng)定線、定量線和判廢線組成，分三個(gè)區(qū)?？稍贑SK-ⅡA

、CSK-ⅢA

或CSK-ⅣA

試塊上制作?？蛇M(jìn)行靈敏度的調(diào)整和缺陷當(dāng)量尺寸的評(píng)定。Xi'anPolytechnicUniversity五.距離-波幅曲線的制作和靈敏度調(diào)整362.不同壁厚的距離-波幅曲線靈敏度選擇CSK-ⅡA試塊Xi'anPolytechnicUniversity37CSK-ⅡA試塊CSK-ⅢA試塊Xi'anPolytechnicUniversity38Xi'anPolytechnicUniversity39Xi'anPolytechnicUniversity403.距離-波幅曲線的繪制方法及其應(yīng)用距離-dB曲線面板曲線Xi'anPolytechnicUniversity41(1)距離-dB曲線的繪制（例：板厚T=30mm。）

→測(cè)定探頭入射點(diǎn)和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)

→測(cè)定CSK-ⅢA試塊不同距離處橫孔的dB值并填入表格。Xi'anPolytechnicUniversity42Xi'anPolytechnicUniversity→利用表中數(shù)據(jù)，以孔深為橫坐標(biāo)，以dB值為縱坐標(biāo)繪圖。43

2)調(diào)整檢測(cè)靈敏度：標(biāo)準(zhǔn)要求焊接檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線。

距離-dB曲線的應(yīng)用

1)了解反射體波高與距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

調(diào)節(jié)方法：本例中T=30mm，評(píng)定線為φ1×6-9dB，二次波檢測(cè)最大深度為60mm。由表中數(shù)據(jù)可得，掃查靈敏度為29dB，將衰減器調(diào)到29dB即可。Xi'anPolytechnicUniversity44

3)比較缺陷大小。

比較方法：如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=30mm，波高為45dB；缺陷2：df2=50mm，波高為40dB。缺陷1的當(dāng)量為φ1×6+45-47=φ1×6-2dB，缺陷2的當(dāng)量為φ1×6+40-41=φ1×6-1dB，由此可得缺陷1小于缺陷2。45

4)確定缺陷所處的區(qū)域。

比較方法：如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=20mm，波高為45dB；缺陷2：df2=60mm，波高位40dB。缺陷1的波高為45dB<47dB，在定量線以下，即在Ⅰ區(qū)。缺陷2的當(dāng)量為35dB<40dB<43dB，在定量線以上判廢線以下，即在Ⅱ區(qū)。46(3)面板曲線的繪制→測(cè)定探頭入射點(diǎn)和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)→探頭對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅢA試塊上深為10mm處φ1×6橫孔找到回波，調(diào)至滿幅的100%，在面板上標(biāo)記波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn)①，并記下此時(shí)的dB值N。→固定增益旋鈕和衰減器，分別檢測(cè)的深度為20、30、40、50、60mm的φ1×6橫孔找到回波，在面板上標(biāo)記相應(yīng)的波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn)②、③、④、⑤、⑥，然后連點(diǎn)成線，得到一條φ1×6參考曲線，即面板曲線。47

面板曲線的應(yīng)用1)調(diào)整靈敏度：若工件厚度在15～46mm范圍內(nèi)，評(píng)定線為φ1×6-9dB，只要在N(如30dB)的基礎(chǔ)上降低9dB，即衰減器讀數(shù)為21dB，此時(shí)靈敏度調(diào)好。482)確定缺陷所處區(qū)域：檢測(cè)時(shí)若缺陷回波低于參考線，則說(shuō)明缺陷波低于評(píng)定線，可以不考慮。若缺陷波高于參考線，則用衰減器將缺陷波調(diào)至參考線，根據(jù)衰減的dB值求出缺陷的當(dāng)量和區(qū)域。例如：+4dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+4=φ1×6-5dB，在Ⅰ區(qū)。+8dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+8=φ1×6-1dB，在Ⅱ區(qū)。+16dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+16=φ1×6+7dB，在Ⅲ區(qū)。49六.掃查方式1.鋸齒形掃查Xi'anPolytechnicUniversity掃查的目的是為了尋找和發(fā)現(xiàn)缺陷。鋸齒形掃查是手工超聲檢測(cè)中最常用的掃查方式，往往作為檢測(cè)縱向缺陷的初始掃查方式，速度快，易于發(fā)現(xiàn)缺陷。作鋸齒形掃查時(shí)，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上。502.前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)形掃查Xi'anPolytechnicUniversity發(fā)現(xiàn)缺陷后，為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用以下四種基本掃查方式。前后與左右掃查：當(dāng)用鋸齒形掃查發(fā)現(xiàn)缺陷后，可用前后與左右掃查找到缺陷的最大回波處，用前后掃查來(lái)確定缺陷的水平距離或深度，用左右掃查來(lái)確定缺陷沿焊縫方向的長(zhǎng)度。轉(zhuǎn)角掃查：利用轉(zhuǎn)角掃查推斷缺陷的方向。環(huán)繞掃查：利用環(huán)繞掃查大致推斷缺陷的形狀。513.檢測(cè)橫向缺陷的掃查方式Xi'anPolytechnicUniversity平行掃查：對(duì)于磨平的焊縫，可將斜探頭直接放在焊縫上作平行掃查。斜平行掃查：對(duì)于有余高的焊縫可在焊縫兩側(cè)邊緣，使探頭與焊縫成一定角度(10o)作斜平行掃查。交叉掃查：對(duì)于電渣焊的人字橫裂，可用K1斜探頭在焊縫兩側(cè)45o方向作交叉掃查。524.雙探頭掃查方式Xi'anPolytechnicUniversity串列掃查：對(duì)厚壁焊縫檢測(cè)時(shí)，在焊縫的一側(cè)，將一發(fā)一收兩個(gè)斜探頭同方向一前一后放置，作等間隔移動(dòng)，以檢測(cè)垂直檢測(cè)面的缺陷。V形掃查：對(duì)平板對(duì)接焊縫檢測(cè)時(shí)，在焊縫的兩側(cè)各放置一個(gè)探頭，兩個(gè)探頭一發(fā)一收，作垂直于焊縫中心線的相向移動(dòng)，以檢測(cè)平行于檢測(cè)面的缺陷。53掃查間距：指相鄰掃查線(探頭移動(dòng)的路線)之間的距離(鋸齒掃查為齒距)。一般不大于探頭晶片直徑或探頭聲束寬度的一半。Xi'anPolytechnicUniversity交叉掃查：對(duì)平板對(duì)接焊縫檢測(cè)時(shí)，在焊縫的兩側(cè)各放置一個(gè)探頭，使兩個(gè)探頭的聲束軸線相交于要檢測(cè)的部位，兩個(gè)探頭一發(fā)一收，在焊縫兩側(cè)作平行于焊縫中心線的相向移動(dòng)，以檢測(cè)橫向缺陷。掃查速度：焊縫手工檢測(cè)的掃查速度不應(yīng)大于150mm/s。54七.缺陷的評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)Xi'anPolytechnicUniversity1.缺陷的評(píng)定缺陷位置的評(píng)定(水平位置和深度)缺陷大小的評(píng)定(測(cè)長(zhǎng)法---6dB法)缺陷幅度的確定(距離-波曲線)55Xi'anPolytechnicUniversity799516314.9895Ⅱ56Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：按照J(rèn)B/T

4730.3-2005

標(biāo)準(zhǔn)，輸入相應(yīng)的曲線標(biāo)準(zhǔn)。57Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：掃查→觀察回波高度→80%→測(cè)量→記錄數(shù)據(jù)58Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：掃查→觀察回波高度→80%→測(cè)量→記錄數(shù)據(jù)59Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：掃查→觀察回波高度→80%→測(cè)量→記錄數(shù)據(jù)60Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：掃查→觀察回波高度→80%→測(cè)量→記錄數(shù)據(jù)61Xi'anPolytechnicUniversity操作步驟：掃查→觀察回波高度→80%→測(cè)量→記錄數(shù)據(jù)62Xi'anPolytechnicUniversity(1)JB/T4730.3-2005

標(biāo)準(zhǔn)將焊接接頭質(zhì)量級(jí)別分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ3個(gè)等級(jí)，其中Ⅰ級(jí)質(zhì)量最高，Ⅲ級(jí)質(zhì)量最低。2.質(zhì)量分級(jí)63Xi'anPolytechnicUniversity

例1：檢測(cè)厚度T=20mm的對(duì)接接頭，發(fā)現(xiàn)Ⅱ區(qū)有一缺陷波，其指示長(zhǎng)度為

L=14mm，試根據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該焊縫質(zhì)量級(jí)別。解：(1)由已知得：缺陷反射波幅位于Ⅱ區(qū)。(2)由已知得：缺陷指示長(zhǎng)度L=14mmT=20mm∈(6mm,30mm)

T/3=20/3=6.7mm→10mm<L=14mm，不符合Ⅰ級(jí)，應(yīng)考慮Ⅱ級(jí)。T=20mm∈(18mm,60mm)，2T/3=13.4mm<L=14mm，不符合Ⅱ級(jí)。(3)根據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)，超過(guò)Ⅱ級(jí)者質(zhì)量為Ⅲ級(jí)。所以該焊接接頭質(zhì)量級(jí)別為Ⅲ級(jí)。64Xi'anPolytechnicUniversity例2：檢測(cè)T=45mm的對(duì)接接頭，發(fā)現(xiàn)波幅為φ1×6+2dB、指示長(zhǎng)度為12mm的條狀缺陷3個(gè)且位于同一直線上，其間距均為7mm，試據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該焊縫質(zhì)量級(jí)別。解：(1)缺陷反射波幅所處區(qū)域

T=45mm，定量線為φ1×6-3dB，判廢線為φ1×6+5dB，該缺陷當(dāng)量為φ1×6+2dB，位于Ⅱ區(qū)。(2)缺陷指示長(zhǎng)度計(jì)算相鄰缺陷間距均為7mm，小于相鄰缺陷的指示長(zhǎng)度12mm，應(yīng)以缺陷之和作為單個(gè)缺陷，則缺陷總長(zhǎng)度為：L=12×3=36mm。(3)質(zhì)量評(píng)級(jí)由已知得：T/3=45/3=15mm<L，不符合Ⅰ級(jí)，應(yīng)考慮Ⅱ級(jí)。2T/3=30mm<L=36mm，不符合Ⅱ級(jí)，故該焊接接頭質(zhì)量級(jí)別為Ⅲ級(jí)。65Xi'anPolytechnicUniversity例3：檢測(cè)T=40mm的對(duì)接接頭，發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷，其當(dāng)量為φ2×40-2dB，長(zhǎng)為10mm，試評(píng)定該焊接接頭的質(zhì)量級(jí)別。解：(1)缺陷反射波幅所處區(qū)域

T=40mm，定量線為φ2×40-12dB，判廢線為φ2×40-4dB，該缺陷當(dāng)量為φ2×40-2dB，位于Ⅲ區(qū)。(2)質(zhì)量分級(jí)：根據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)，缺陷位于Ⅲ區(qū)，焊接接頭的質(zhì)量為Ⅲ級(jí)。66Xi'anPolytechnicUniversity(2)GB11345-89標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量級(jí)別分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ