原子發(fā)射光譜分析1

原子發(fā)射光譜分析

AtomicEmissionSpectrometry,AES原子發(fā)射光譜分析法的特點(diǎn)1

可多元素同時(shí)檢測(cè)各元素同時(shí)發(fā)射各自的特征光譜2

分析速度快試樣不需處理，同時(shí)對(duì)幾十種元素進(jìn)行定量分析(光電直讀儀)；3

選擇性高各元素具有不同的特征光譜；4

檢出限較低10～0.1gg-1(一般光源)；ngg-1(ICP)5

準(zhǔn)確度較高5%～10%(一般光源)；<1%(ICP)；6

ICP-AES性能優(yōu)越線性范圍4～6數(shù)量級(jí)，可測(cè)高、中、低不同含量試樣；缺點(diǎn)：非金屬元素不能檢測(cè)或靈敏度低。原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生EE0E1E2E3EnM基態(tài)

+△E

M※△E＝hv＝hc/λ

h=6.6256×10-34J·sM※

M*

+

EM基態(tài)+hv’M※M基態(tài)

+hv原子光譜是線狀光譜第一激發(fā)態(tài)第二激發(fā)態(tài)共振吸收線原子從基態(tài)躍遷至第一激發(fā)態(tài)時(shí)吸收的光譜線基態(tài)共振發(fā)射線原子從第一激發(fā)態(tài)躍遷至基態(tài)時(shí)發(fā)射的光譜線激發(fā)電位使原子中外層電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)所需的能量。1eV=1.6021892×10-19Jhv由各種高能級(jí)躍遷到同一低能級(jí)時(shí)發(fā)射的一系列光譜線Na能級(jí)圖原子發(fā)射光譜分析的基礎(chǔ)原子外層電子的躍遷遵循光譜選律，產(chǎn)生一系列特征譜線(組)，按一定順序排列，并保持一定的強(qiáng)度比例。識(shí)別元素的特征光譜鑒別元素的存在定性分析測(cè)定特征譜線的強(qiáng)度測(cè)定元素的含量定量分析第一共振線

原子由第一激發(fā)態(tài)躍遷到基態(tài)發(fā)射的譜線。最易發(fā)生，能量最小，一般是最靈敏線，又叫最后線。原子獲得足夠的能量(電離能)產(chǎn)生電離。失去一個(gè)電子形成一級(jí)離子，再失去一個(gè)電子形成二級(jí)離子。電離線

離子由第一激發(fā)態(tài)躍遷到基態(tài)發(fā)射的譜線。與電離能大小無關(guān)，離子的特征共振線。光譜分析基本過程攝譜法光電法看譜法光源分光系統(tǒng)檢測(cè)系統(tǒng)原子發(fā)射光譜儀器有多種類型，如：火焰發(fā)射光譜儀、微波等離子體光譜儀、感耦等離子體光譜儀、光電光譜儀等儀器構(gòu)成光源為試樣的蒸發(fā)和激發(fā)提供能量

直流電弧

交流電弧

高壓火花

電感耦合高頻等離子體攝譜儀

梭鏡攝儀譜

光柵攝譜儀觀測(cè)設(shè)備

光譜投影儀

測(cè)微光度計(jì)直流電弧直流電作激發(fā)能源，電壓150～380V，電流5～30A,兩支石墨電極，試樣放置在下電極(正極)的凹槽內(nèi)，使分析間隙的兩電極接觸或用導(dǎo)體接觸兩電極，通電，電極尖端被燒熱，點(diǎn)燃電弧，再使電極相距4～6mm。R

鎮(zhèn)流電阻調(diào)節(jié)和穩(wěn)定電流L

減小電流波動(dòng)直流電弧工作原理電弧點(diǎn)燃后，熱電子流高速通過分析間隔沖擊陽(yáng)極，產(chǎn)生高熱，試樣蒸發(fā)并原子化，電子與原子碰撞電離出正離子沖向陰極。電子、原子、離子間的相互碰撞，使原子躍遷到激發(fā)態(tài)，返回基態(tài)時(shí)發(fā)射出該原子的光譜?；⊙鏈囟龋?000～7000K，可使70多種元素激發(fā)。特點(diǎn)：絕對(duì)靈敏度高，背景小，適合定性分析。缺點(diǎn)：弧光游移，再現(xiàn)性差；不適合定量和低熔點(diǎn)元素。低壓交流電弧工作電壓：110～220V。

采用高頻引燃裝置點(diǎn)燃電弧，在每一交流半周時(shí)引燃一次，保持電弧不滅。交流電弧工作原理（1）接通電源，由變壓器B1升壓至2.5～3kV，電容器C1充電；達(dá)到一定值時(shí)，放電盤G1擊穿；G1-C1-L1構(gòu)成振蕩回路，產(chǎn)生高頻振蕩；（2）振蕩電壓經(jīng)B2的次級(jí)線圈升壓到10kV，通過電容器C2將電極間隙G的空氣擊穿，產(chǎn)生高頻振蕩放電；（3）當(dāng)G被擊穿時(shí)，空氣電離，電源的低壓部分沿著已造成的電離氣體通道，通過G進(jìn)行電弧放電(R2

－L2－G)。（4）在放電的短暫瞬間，電壓降低直至電弧熄滅，在下半周高頻再次點(diǎn)燃，重復(fù)進(jìn)行特點(diǎn)（1）電弧溫度略高于直流電弧，激發(fā)能力強(qiáng)；（2）電極溫度稍低，蒸發(fā)能力稍低，致使靈敏度稍低；（3）電弧穩(wěn)定性好，使分析重現(xiàn)性好，適用于定量分析。高壓火花（1）交流電壓經(jīng)變壓器T后，產(chǎn)生10～25kV的高壓，然后通過扼流圈D向電容器C充電，達(dá)到G的擊穿電壓時(shí)，通過電感L向G放電，產(chǎn)生振蕩性的火花放電。（2）轉(zhuǎn)動(dòng)續(xù)斷器M，2,3為鎢電極，每轉(zhuǎn)動(dòng)180度，對(duì)接一次，轉(zhuǎn)動(dòng)頻率(50轉(zhuǎn)/s)，接通100次/s，保證每半周電流最大值瞬間放電一次。高壓火花的特點(diǎn)1放電瞬間能量很大，產(chǎn)生的溫度高，激發(fā)能力強(qiáng)，某些難激發(fā)元素可被激發(fā)，且多為離子線。2放電間隔長(zhǎng)，使得電極溫度低，蒸發(fā)能力稍低，適于低熔點(diǎn)金屬與合金的分析。

3穩(wěn)定性好，重現(xiàn)性好，適用定量分析。缺點(diǎn)：（1）靈敏度較差，但可做較高含量的分析。

（2）噪音較大。電感耦合高頻等離子體焰炬

inductivecoupledhighfrequencyplasma,ICP等離子體

是一種電離度大于0.1%的電離氣體。以氣態(tài)形式存在的包含分子、離子、電子等粒子的整體電中性集合體。原子發(fā)射光譜在上世紀(jì)50年代發(fā)展緩慢

1960年，工程熱物理學(xué)家Reed設(shè)計(jì)了環(huán)形放電感耦等離子體炬，指出可用于原子發(fā)射光譜分析中的激發(fā)光源。光譜學(xué)家法塞爾和格倫菲爾德用于發(fā)射光譜分析，建立了電感耦合等離子體光譜儀(ICP-AES)。

70年代ICP-AES獲廣泛應(yīng)用。工作原理當(dāng)高頻(5－30MHz)發(fā)生器接通電源后，高頻電流I通過感應(yīng)線圈產(chǎn)生交變磁場(chǎng)。開始時(shí)，管內(nèi)為Ar氣，不導(dǎo)電，需要用高壓電火花觸發(fā)，使氣體電離后，在高頻交流電場(chǎng)的作用下，帶電粒子高速運(yùn)動(dòng)，碰撞，形成“雪崩”式放電，產(chǎn)生等離子體氣流。在垂直于磁場(chǎng)方向?qū)a(chǎn)生感應(yīng)電流(渦電流)，其電阻很小，電流很大(數(shù)百安)，產(chǎn)生高溫。又將氣體加熱、電離，在管口形成穩(wěn)定的等離子體焰炬。炬管與霧化器三層同心石英玻璃炬管置于高頻感應(yīng)線圈中。外層Ar從切線方向進(jìn)入，迫使等離子體收縮，增大電流密度，提高等離子體的溫度；將等離子體吹離外層石英管內(nèi)壁，保護(hù)石英管不被燒熔；在炬管中心產(chǎn)生低氣壓通道以利進(jìn)樣。中層管通入輔助氣體氬，用于點(diǎn)燃等離子體。內(nèi)層管內(nèi)徑1－2mm，以氬氣為載氣，把經(jīng)霧化的試樣溶液以氣溶膠形式引入等離子體。ICP的分析特點(diǎn)1.對(duì)大多數(shù)元素有高的靈敏度檢測(cè)限達(dá)10-9－10-11

g·L-1因?yàn)闇囟雀撸ǖ入x子體核處10000K，中央6000－8000K）；惰性氣氛，有利于難熔物質(zhì)分解。2.測(cè)定線性范圍寬因趨膚效應(yīng)而無自吸現(xiàn)象。趨膚效應(yīng)高頻電流密度在導(dǎo)體截面呈不均勻分布，集中在導(dǎo)體表層的現(xiàn)象。3.堿金屬電離不造成干擾，因電流密度大。4.無電極污染因是無極放電。5.耗樣量小載氣流速低，試樣在中央通道充分激發(fā)6.背景干擾小因工作氣體氬氣是惰性氣體不產(chǎn)生其它物質(zhì)。等離子體光源的形成類型等離子體噴焰作為發(fā)射光譜的光源主要有以下三種形式：(1)直流等離子體噴焰(directcurrut

plasmajet，DCP)

弧焰溫度高8000-10000K，穩(wěn)定性好，精密度接近ICP，裝置簡(jiǎn)單，運(yùn)行成本低；(2)電感耦合等離子體(inductivelycoupledplasma，ICP)ICP的性能優(yōu)越，已成為最主要的應(yīng)用方式；(3)微波感生等離子體(microwaveinducedplasma,MIP)

溫度5000-6000K，激發(fā)能量高，可激發(fā)許多很難激發(fā)的非金屬元素：C、N、F、Br、Cl、C、H、O等，可用于有機(jī)物成分分析，測(cè)定金屬元素的靈敏度不如DCP和ICP。幾種光源性能的對(duì)比光譜儀(攝譜儀)

spectrophotometer將原子發(fā)射出的輻射分光后觀察其光譜的儀器。攝譜儀在鋼鐵工業(yè)應(yīng)用廣泛。按儀器分光系統(tǒng)分：棱鏡攝譜儀、光柵攝譜儀。棱鏡攝譜儀*照明系統(tǒng)準(zhǔn)光系統(tǒng)色散系統(tǒng)投影系統(tǒng)投影物鏡εf光柵攝譜儀光路圖狹縫平面反射鏡準(zhǔn)直鏡成像物鏡平面光柵感光板光柵轉(zhuǎn)臺(tái)二次衍射反射鏡球面反射鏡原子發(fā)射譜線二次衍光譜的色散率和分辨率比一次衍光譜的高一倍，但光強(qiáng)小，將其聚集成像在一次衍射光譜下面5mm處。在暗盒前設(shè)一光欄，可選用其一。光譜投影儀(映譜儀)定性分析用，看譜放大倍數(shù)19.75－20.25測(cè)量微光度計(jì)(黑度計(jì))用于定量分析，測(cè)量感光板上譜線的黑度。定義黑度01002003004005006007008009001000∞1.51.00.70.60.50.40.30.20.10.0460TSW∞0-∞照射在感光板上的光線越強(qiáng)，照射時(shí)間越長(zhǎng)，感光板上的譜線越黑。譜線強(qiáng)度spectrumlineintensity原子由某一激發(fā)態(tài)i

向低能級(jí)j

躍遷，所發(fā)射的譜線強(qiáng)度與激發(fā)態(tài)原子數(shù)成正比。在熱力學(xué)平衡時(shí)，單位體積的基態(tài)原子數(shù)N0與激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni的之間的分布遵守玻耳茲曼分布定律：發(fā)射譜線強(qiáng)度

Iij

=Ni

AijhijhPlank常數(shù)；Aij

兩個(gè)能級(jí)間的躍遷幾率；ij

發(fā)射譜線的頻率。gi

、g0激發(fā)態(tài)與基態(tài)的統(tǒng)計(jì)權(quán)重；Ei

激發(fā)能；k玻耳茲曼常數(shù)；T激發(fā)溫度。譜線強(qiáng)度影響譜線強(qiáng)度的因素：（1）激發(fā)能越小，譜線強(qiáng)度越強(qiáng)；（2）溫度升高，譜線強(qiáng)度增大，但易電離。譜線的自吸與自蝕

self-absorptionandselfreversalofspectrumline

等離子體內(nèi)溫度和原子濃度的分布不均勻，中間的溫度高、激發(fā)態(tài)原子濃度高，邊緣反之。自吸

中心發(fā)射的輻射被邊緣的同種基態(tài)原子吸收，使輻射強(qiáng)度降低的現(xiàn)象。

元素濃度低時(shí)，不出現(xiàn)自吸。隨濃度增加，自吸越嚴(yán)重，當(dāng)達(dá)到一定值時(shí)，譜線中心完全吸收，如同出現(xiàn)兩條線，這種現(xiàn)象稱為自蝕。譜線表中r

自吸

R

自蝕光譜定性分析

qualitativespectrometricanalysis光譜定性分析依據(jù)元素不同→電子結(jié)構(gòu)不同→光譜不同→特征光譜元素的分析線、最后線、靈敏線分析線：復(fù)雜元素的譜線可能多至數(shù)千條，只選擇其中幾條特征譜線(靈敏線)檢驗(yàn)，稱其為分析線。最后線：濃度逐漸減小,譜線強(qiáng)度減小,最后消失的譜線靈敏線：最易激發(fā)的能級(jí)所產(chǎn)生的譜線，每種元素都有一條或幾條譜線最強(qiáng)的線，即靈敏線。最后線也是最靈敏線。共振線：由激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)時(shí)輻射的譜線。第一共振線：由第一激發(fā)態(tài)回到基態(tài)所產(chǎn)生的譜線；通常也是最靈敏線、最后線。離子的電離線原子獲得足夠的能量(電離能)產(chǎn)生電離,失去一個(gè)電子，一次電離。電離線

離子由第一激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷(離子發(fā)射的譜線)。與電離能大小無關(guān)，離子的特征共振線。

原子譜線表：I表示原子發(fā)射的譜線；

II表示一次電離離子發(fā)射的譜線；

III表示二次電離離子發(fā)射的譜線；

Ⅳ表示三次電離離子發(fā)射的譜線。

Mg：I285.21nm

II280.27nm光譜定性分析靈敏度靈敏度與元素性質(zhì)、光源、攝譜儀、試樣引入方法等實(shí)驗(yàn)條件有關(guān)。光譜定性分析方法

－標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法將欲檢測(cè)元素的純物質(zhì)與試樣并列攝譜于同一感光板上，在映譜儀上比較以確定被檢元素是否存在的方法。例：檢查TiO2試樣中Pb的存在：1.將試樣攝譜2.配制含Pb的TiO2標(biāo)準(zhǔn)試樣3.在相同條件下攝譜在同一感光板上4.在映譜儀上比較特點(diǎn)：方法簡(jiǎn)便，適于少數(shù)指定元素的分析。將試樣與鐵并列攝譜于同一感光板上，在映譜儀上將試樣光譜與鐵標(biāo)準(zhǔn)光譜圖對(duì)照。光譜定性分析方法

－元素標(biāo)準(zhǔn)光譜圖比較法靈敏度等級(jí)線級(jí)1譜線多：在210～660nm范圍內(nèi)有4600條譜線。2譜線間距離分配均勻：容易對(duì)比，適用面廣。3定位準(zhǔn)確：已準(zhǔn)確測(cè)量了鐵譜每一條譜線的波長(zhǎng)。標(biāo)準(zhǔn)譜圖將其他元素的分析線標(biāo)記在鐵譜上，鐵譜起到標(biāo)尺的作用。譜線檢查將試樣與純鐵在完全相同條件下攝譜，將兩譜片在映譜器(放大器)上對(duì)齊、放大20倍，檢查待測(cè)元素的分析線是否存在，并與標(biāo)準(zhǔn)譜圖對(duì)比確定。由于譜線的相互干擾可能發(fā)生。至少要有兩條靈敏線出現(xiàn)才能確認(rèn)元素的存在?？赏瑫r(shí)進(jìn)行多元素測(cè)定。為什么選鐵譜做標(biāo)尺光譜定性分析方法－譜線波長(zhǎng)測(cè)量法用上述方法不能確定試樣中的某些譜線的元素時(shí)，準(zhǔn)確測(cè)定出譜線的波長(zhǎng)，從元素波長(zhǎng)表上查出相對(duì)應(yīng)的元素。元素譜線表元素波長(zhǎng)在碳電孤內(nèi)靈敏度%干擾元素Be394.4032Ⅰ<0.0003396.1527Ⅱ<0.001Nb313.0786(>0.01)V313.0267(>0.01)Ti313.0800(>0.3)313.1072Ⅱ265.0470Ⅰ0.003249.4559Ⅰ0.01249.4733Ⅰ235.0680Ⅰ≈0.3298.6457Ⅰ≥1298.6620Ⅰ試樣處理攝譜檢查譜線(1)

試樣處理a.金屬或合金可以試樣本身作為電極，當(dāng)試樣量很少時(shí)，將試樣粉碎后放在電極的試樣槽內(nèi)。b.固體試樣研磨成均勻的粉末后放在電極的試樣槽內(nèi)c.溶液先試樣蒸干，殘?jiān)心コ删鶆虻姆勰┖蠓旁陔姌O的試樣槽內(nèi)?；虿捎肐CP-AES直接進(jìn)行分析。(2)實(shí)驗(yàn)條件選擇a.光譜儀

在定性分析中通常選擇靈敏度高的直流電??；狹縫寬度5～7m；分析稀土元素時(shí)，由于其譜線復(fù)雜，要選擇色散率較高的大型攝譜儀。定性分析實(shí)驗(yàn)操作程序b.電極電極材料：采用光譜純的碳或石墨，特殊情況采用銅電極。電極尺寸：直徑約6mm，長(zhǎng)3～4cm。試樣槽尺寸：直徑約3～4mm，深3～6mm。試樣量：10～20mg。放電時(shí)，碳+氮產(chǎn)生氰(CN)，氰分子在358.4～421.6nm產(chǎn)生帶狀光譜，干擾其他元素出現(xiàn)在該區(qū)域的光譜線，需要該區(qū)域時(shí)，可采用銅電極，但靈敏度低。攝譜順序

碳電極(空白，含Si、Fe、Al等雜質(zhì))、鐵譜、A試樣(1)、A試樣(2)、A試樣(3)，鐵譜、B試樣…。分段暴光法

先在小電流(5A)激發(fā)光源攝取易揮發(fā)元素光譜，調(diào)節(jié)光闌，移動(dòng)感光板后，加大電流(10A)，再次曝光攝取難揮發(fā)元素光譜。采用哈特曼光闌，可多次曝光而不影響譜線相對(duì)位置，便于對(duì)比。攝譜過程光譜定量分析

quantitativespectrometricanalysis

(1)發(fā)射光譜定量分析的基本關(guān)系式在條件一定時(shí)，譜線強(qiáng)度I與待測(cè)元素含量c關(guān)系為:

b<1不是常數(shù)，隨濃度c增加而減小，當(dāng)濃度很小，自吸消失時(shí)，b=1。由于a和b隨被測(cè)元素含量和實(shí)驗(yàn)條件變化而變化，定量分析只能采用相對(duì)比較方法進(jìn)行。光譜定量分析基本關(guān)系式賽伯－羅馬金公式(Schiebe-Lomarkinequation)

a為常數(shù)(與蒸發(fā)、激發(fā)過程等有關(guān))，考慮到發(fā)射光譜中存在著自吸現(xiàn)象，需要引入自吸系數(shù)b

，則：I=a·c

在被測(cè)元素的光譜中選擇一條作為分析線(強(qiáng)度I)，再選擇基體元素或加入某種元素的一條與分析線均稱的譜線(強(qiáng)度I0)作內(nèi)標(biāo)線(比較線)，組成分析線對(duì)。則

相對(duì)強(qiáng)度R：

內(nèi)標(biāo)法定量的基本關(guān)系式。A為其他三項(xiàng)合并后的常數(shù)項(xiàng)。相對(duì)強(qiáng)度不受光源波動(dòng)和其它實(shí)驗(yàn)條件波動(dòng)的影響。光譜定量分析基本關(guān)系式lgclgI含量高時(shí)，譜線自吸嚴(yán)重，曲線向下彎曲。a.內(nèi)標(biāo)元素含量固定。可以選擇基體元素，或另外加入b.內(nèi)標(biāo)元素與待測(cè)元素具有相近的蒸發(fā)特性。c.分析線對(duì)應(yīng)匹配，同為原子線或離子線，且激發(fā)電位相近(譜線靠近)，使兩條線的絕對(duì)強(qiáng)度隨激發(fā)條件的改變作均稱變化?！熬Q線對(duì)”

d.分析線對(duì)的波長(zhǎng)接近，消除感光板乳劑層特性和沖洗差異。e.線對(duì)的強(qiáng)度相差不應(yīng)過大，基體含量高，選弱線，外加元素選強(qiáng)線。f.分析線對(duì)無其它元素譜線干擾，無自吸或自吸小。內(nèi)標(biāo)元素與分析線對(duì)的選擇乳劑特性曲線曝光不足曝光正常曝光過度感光板反襯度γ

，曝光量H改變時(shí)，感光板黑度變化快慢乳劑惰延量Hi惰延量越大，乳劑靈敏度越低乳劑展度曝光正常部分的曝光量對(duì)數(shù)范圍在同一感光板的正常部分曝光分析線內(nèi)標(biāo)線感光板上的譜線黑度S與曝光量H之間的變化曲線在一定條件下，分析線對(duì)的黑度差與試樣中該組分的含量c的對(duì)數(shù)成線性關(guān)系。定量分析方法－－三標(biāo)準(zhǔn)試樣法S＝lgR

＝

blgc

＋lgA

在完全相同的條件下，將標(biāo)準(zhǔn)樣品與試樣在同一感光板上攝譜，由標(biāo)準(zhǔn)試樣分析線對(duì)的黑度差(S)對(duì)lgc作標(biāo)準(zhǔn)曲線(三個(gè)點(diǎn)以上，每個(gè)點(diǎn)攝三次譜，取三次的平均值)，再由試樣分析線對(duì)的黑度差，在標(biāo)準(zhǔn)曲線上求得未知試樣lgc

。該法即三標(biāo)準(zhǔn)試樣法。lgcΔS****光譜半定量分析光譜半定量分析

與目視比色法相似，測(cè)量試樣中元素的大致濃度范圍。應(yīng)用：用于鋼材、合金等的分類、礦石品位分級(jí)等大批量試樣的快速測(cè)定。1.譜線強(qiáng)度比較法測(cè)定一系列不同含量的待測(cè)元素標(biāo)準(zhǔn)光譜系列，在完全相同條件下(同時(shí)攝譜)，測(cè)定試樣中待測(cè)元素光譜，選擇靈敏線，比較標(biāo)準(zhǔn)譜圖與試樣譜圖中靈敏線的黑度，確定含量范圍。光譜半定量分析2.

譜線呈現(xiàn)法配制分析元素的系列濃度，試樣與標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)攝譜，檢查譜線條數(shù)。3.均稱線對(duì)法目視法比較分析元素和基體元素均稱線對(duì)間的強(qiáng)度。如在合金鋼中，實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)：wV/%釩線與鐵線的比較0.20V438.997nm=Fe437.593nm0.30V439.523nm=Fe437.593nm0.40V437.924nm=Fe437.593nm0.60V439.523nm>Fe437.593nm用目視法比較試樣中V的譜線與Fe437.593nm的黑度確定大致含量。光電直讀等離子體發(fā)射光譜儀由三部分構(gòu)成：光源、分光、檢測(cè)。光電直讀等離子體發(fā)射光譜儀光電直讀光譜儀是利用光電法直接獲得光譜線的強(qiáng)度。單道掃描式轉(zhuǎn)動(dòng)光柵進(jìn)行掃描，在不同時(shí)間檢測(cè)不同譜線。多道固定狹縫式安裝多個(gè)狹縫(多達(dá)70個(gè))，同時(shí)測(cè)定多個(gè)元素的譜線多道型光電直讀光度儀多采用凹面光柵。凹面光柵與羅蘭圓羅蘭圓

Rowland(羅蘭)發(fā)現(xiàn)在曲率半徑為R

的凹面反射光柵上存在著一個(gè)直徑為R的圓，不同波長(zhǎng)的光都成像在圓上，即在圓上形成一個(gè)光譜帶。凹面光柵既具有色散作用也起聚焦作用（凹面反射鏡將色散后的光聚焦）。光電直讀等離子體發(fā)射光譜儀的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)：1多達(dá)70個(gè)通道可選擇設(shè)置，同時(shí)進(jìn)行多元素分析。2分析速度快，準(zhǔn)確度高。3線性范