GB/T 22889-2008皮革物理和機(jī)械試驗(yàn)表面涂層厚度的測定

犐犆犛５９．１４０．３０

犢４６

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２８８９—２００８

皮革物理和機(jī)械試驗(yàn)

表面涂層厚度的測定

犔犲犪狋犺犲狉—犘犺狔狊犻犮犪犾犪狀犱犿犲犮犺犪狀犻犮犪犾狋犲狊狋狊—

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（ＩＳＯ１７１８６：２００２，ＭＯＤ）

２００８１２３０發(fā)布２００９０９０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２２８８９—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ＩＳＯ１７１８６：２００２《皮革物理和機(jī)械試驗(yàn)表面涂層厚度的測定》（英文版）。

ＩＳＯ１７１８６：２００２所使用的方法基于國際皮革工藝師和化學(xué)師聯(lián)合會（ＩＵＬＴＣＳ）的方法標(biāo)準(zhǔn)

ＩＵＰ４１。

為了方便比較，在附錄Ａ中列出了本標(biāo)準(zhǔn)條款和國際標(biāo)準(zhǔn)條款的對照一覽表。

在附錄Ｂ中給出了技術(shù)性差異及其原因的一覽表以供參考。

根據(jù)我國的實(shí)際情況，本標(biāo)準(zhǔn)在采用ＩＳＯ１７１８６：２００２時(shí)進(jìn)行了修改。這些技術(shù)性差異用垂直單線

標(biāo)識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。

為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改：

ａ）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；

ｂ）將“本國際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”；

ｃ）用小數(shù)點(diǎn)“．”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號“，”。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ、附錄Ｂ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國皮革工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ２５２）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：國家皮革質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（浙江）、海寧蒙努集團(tuán)有限公司、浙江通天星集

團(tuán)股份有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：黃新霞、宋汝強(qiáng)、徐壽春、朱廣忠。

Ⅰ

書

犌犅／犜２２８８９—２００８

皮革物理和機(jī)械試驗(yàn)

表面涂層厚度的測定

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了皮革表面涂層厚度的測定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種具有涂層的皮革。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＱＢ／Ｔ２７０６皮革化學(xué)、物理、機(jī)械和色牢度試驗(yàn)取樣部位（ＱＢ／Ｔ２７０６—２００５，ＩＳＯ２４１８：

２００２，ＭＯＤ）

ＱＢ／Ｔ２７０７皮革物理和機(jī)械試驗(yàn)試樣的準(zhǔn)備和調(diào)節(jié)（ＱＢ／Ｔ２７０７—２００５，ＩＳＯ２４１９：２００２，

ＭＯＤ）

３原理

垂直于皮革涂層表面切割皮革，用顯微鏡觀察并測量切口處皮革表面涂層的厚度。結(jié)果可以表示

為涂層厚度，也可以表示為涂層厚度占總厚度的百分比。

４儀器設(shè)備

４．１光學(xué)顯微鏡或電子掃描顯微鏡，至少２０倍的放大倍率。

４．２手術(shù)刀，顯微鏡采用上光源或使用電子掃描顯微鏡時(shí)適用。

４．３組織切片機(jī)，顯微鏡采用下光源時(shí)適用。

４．４顯微測微尺，精確到０．００１ｍｍ。

５取樣和試樣準(zhǔn)備

５．１按ＱＢ／Ｔ２７０６取樣，按ＱＢ／Ｔ２７０７進(jìn)行預(yù)處理。

５．２切?。称s１０ｍｍ×１０ｍｍ的試樣，每片試樣按５．３或５．４制作縱切面切片。

注：如果被測試的一批樣品超過２張，則只要每張皮?。逼嚇樱ＷC試樣總數(shù)不少于３片。

５．３用手術(shù)刀（４．２）切穿皮革，確保在切割過程中手術(shù)刀的切邊垂直于涂層表面。

注：按５．３制作的縱切面切片適用于使用上光源的光學(xué)顯微鏡或電子掃描顯微鏡測試。

５．４用組織切片機(jī)切取適用于下光源光學(xué)顯微器測試的試樣縱切面切片。

６操作步驟

６．１使用帶有顯微測微尺的光學(xué)顯微鏡測試

６．１．１把按５．３或５．４制作的剖面切片放在顯微鏡下。調(diào)整切片