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- 2009-04-01 頒布
- 2009-12-01 實(shí)施
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犐犆犛01.040.37:37.020
犖33
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜23414—2009/犐犛犗22493:2008
微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)
犕犻犮狉狅犫犲犪犿犪狀犪犾狔狊犻狊—犛犮犪狀狀犻狀犵犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆狔—
犞狅犮犪犫狌犾犪狉狔
(ISO22493:2008,IDT)
20090401發(fā)布20091201實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書(shū)
犌犅/犜23414—2009/犐犛犗22493:2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅱ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2縮略語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3SEM物理基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4SEM儀器術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
5SEM成像和圖像處理術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
6SEM圖像詮釋和分析術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!14
7SEM圖像放大倍率和分辨率校正及測(cè)量術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!18
中文索引!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!19
英文索引!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!22
書(shū)
犌犅/犜23414—2009/犐犛犗22493:2008
前言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO22493:2008《微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)》(英文版)。
為了便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改:
———“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”;
———?jiǎng)h除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言。
———“掃描電子顯微鏡”簡(jiǎn)稱“掃描電鏡”。
———增加了中文索引。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李香庭、曾毅。
Ⅰ
犌犅/犜23414—2009/犐犛犗22493:2008
引言
SEM技術(shù)通常用于觀察和表征金屬、合金、陶瓷、玻璃、礦物、聚合物和粉體等固體材料在微米納
米范圍內(nèi)的形貌和組織。另外,應(yīng)用聚焦離子束與掃描電鏡分析技術(shù)能產(chǎn)生3維結(jié)構(gòu)。SEM技術(shù)的物
理基礎(chǔ)是電子光學(xué)、電子散射和二次電子發(fā)射的機(jī)理。
SEM技術(shù)是微束分析(MBA)的一個(gè)主要分支,已廣泛應(yīng)用于高技術(shù)工業(yè)、基礎(chǔ)工業(yè)、冶金和地質(zhì)、
生物和醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)和商貿(mào)等領(lǐng)域。各技術(shù)領(lǐng)域的術(shù)語(yǔ)標(biāo)準(zhǔn)化是該領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展的先決條件之一。
本標(biāo)準(zhǔn)是有關(guān)SEM的術(shù)語(yǔ),它包含掃描電鏡在科學(xué)和工程領(lǐng)域?qū)嵺`中共同應(yīng)用的術(shù)語(yǔ)定義。本
標(biāo)準(zhǔn)是ISO/TC202微束分析技術(shù)委員會(huì),SC1術(shù)語(yǔ)分技術(shù)委員會(huì)為完成微束分析(MBA)領(lǐng)域中電子
探針顯微分析(EPMA)、掃描電子顯微術(shù)(SEM)、分析電子顯微術(shù)(AEM)、能譜法(EDX)等系列標(biāo)準(zhǔn)中
的第二個(gè)標(biāo)準(zhǔn),主要內(nèi)容包括:
SEM物理基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ);
SEM儀器術(shù)語(yǔ);
SEM成像和圖像處理術(shù)語(yǔ);
SEM圖像詮釋和分析術(shù)語(yǔ);
SEM圖像放大倍率和分辯率校正及測(cè)量術(shù)語(yǔ)。
Ⅱ
犌犅/犜23414—2009/犐犛犗22493:2008
微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)定義了掃描電子顯微術(shù)(SEM)實(shí)踐中使用的術(shù)語(yǔ)。包括一般術(shù)語(yǔ)和按技術(shù)分類的具體概
念的術(shù)語(yǔ),也包括已經(jīng)在ISO23833中定義的術(shù)語(yǔ)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有有關(guān)SEM實(shí)踐的標(biāo)準(zhǔn)化文件。另外,本標(biāo)準(zhǔn)的某些術(shù)語(yǔ)定義,也適用于相關(guān)領(lǐng)
域的文件〔例如:電子探針顯微分析(EPMA)、分析電子顯微術(shù)(AEM)、能譜法(EDX)等〕。
2縮略語(yǔ)
AEManalyticalelectronmicroscopy/microscope分析電子顯微術(shù)/分析電子顯微鏡
BSE(BE)backscatteredelectron背散射電子
CPSEMcontrolledpressurescanningelectronmicroscope可控氣壓掃描電鏡
CRTcathoderaytube陰極射線管
EBICelectronbeaminducedcurrent電子束感生電流
EBSDelectronbackscatter/backscatteringdiffraction電子背散射衍射
EDSenergydispersiveXrayspectrometer/spectrometry能譜儀/能譜法
EDXenergydispersiveXrayspectrometry能譜法
EPMAelectronprobemicroanalysis/analyzer電子探針顯微分析/電子探針儀
ESEMenvironmentalscanningelectronmicroscope/microscopy環(huán)境掃描電鏡/環(huán)境掃描電子顯
微術(shù)
FWHMfullwidthathalfmaximum譜峰半高寬
SE
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