• 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.50-2012
  • 1999-10-10 頒布
  • 2000-05-01 實(shí)施
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GB/T 2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)_第1頁(yè)
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ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T_2423.50-1999idtIEC:68-2-67:1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:TestsTTestCy:Dampheat.steadystate,acceleratedtestprimarilyintendedforcomponents1999-10-10發(fā)布2000-05-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T2423.50-1999目次前言IEC前言范圍2概述3試驗(yàn)裝置的說(shuō)明4嚴(yán)酷等級(jí)·5預(yù)處理6初始檢測(cè)條件試驗(yàn)中間檢測(cè)9恢復(fù)10最后檢測(cè)…11有關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的資料……附錄A(提示的附錄)試試驗(yàn)的物理意義附錄B(提示的附錄)試驗(yàn)裝置及其管理…

GB/T2423.50-1999前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-67:1995《環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)》。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B都是捉示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家機(jī)械工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:廣州電器科學(xué)研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:章薔英、張馳,

GB/T2423.50-1999IEC前言1)IEC(國(guó)際電工委員會(huì))是由所有國(guó)家電工委員會(huì)(IEC國(guó)家委員會(huì))組成的世界標(biāo)準(zhǔn)化組織。IEC的宗旨是促進(jìn)電工電子領(lǐng)域中有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題的國(guó)際合作。為此目的IEC除進(jìn)行其他活動(dòng)外.還出版國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)委托給技術(shù)委員會(huì)起草,對(duì)所涉及標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目感興趣的任何國(guó)家委員會(huì)均可參與此項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的起草。與IEC有聯(lián)絡(luò)關(guān)系的國(guó)際組織、政府和非政府組織也可參與此項(xiàng)工作。IEC與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)根據(jù)二者之間的協(xié)議所規(guī)定的條件緊密合作。2)因?yàn)楦骷夹g(shù)委員會(huì)是由所有感興趣的國(guó)家委員會(huì)派代表參加的.因此,IEC有關(guān)技術(shù)問(wèn)題的正式?jīng)Q議或協(xié)議.盡可能表達(dá)了對(duì)所涉及問(wèn)題在國(guó)際上的一致意見(jiàn)。3)這些制定的文件以推薦的形式供國(guó)際上使用,并以標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報(bào)告或?qū)t的形式出版·在此意義上被各國(guó)家委員會(huì)所接受。44)為了促進(jìn)國(guó)際統(tǒng)一,各IC國(guó)家委員會(huì)承諾最大限度地在其國(guó)家和地方標(biāo)準(zhǔn)中忠實(shí)地采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或地方標(biāo)準(zhǔn)之間的任何不同之處,應(yīng)在后者中明確說(shuō)明。5)IEC沒(méi)有規(guī)定過(guò)任何認(rèn)可標(biāo)志的程序。因此,對(duì)任何聲稱(chēng)符合IEC標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備不承擔(dān)責(zé)任6)應(yīng)注意到本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)某些部分可能是專(zhuān)利項(xiàng)目.IEC不對(duì)鑒別任一或所有這些專(zhuān)利項(xiàng)目負(fù)責(zé)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-67由IEC的第50技術(shù)委員會(huì)(環(huán)境試驗(yàn))的分技術(shù)委員會(huì)50B(氣候試驗(yàn))制本標(biāo)準(zhǔn)的正文以以下文件為基礎(chǔ):國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)最后草案(FDIS)投票報(bào)告50B/360/FDIS50B/373/RVD批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的全部投票資料可在上表的投票報(bào)告中查到根據(jù)IEC導(dǎo)則104.本標(biāo)準(zhǔn)具有基本安全出版物的地位在環(huán)境試驗(yàn)總標(biāo)題之下,IEC68由以下部分組成:-第1部分:總則第2部分:試驗(yàn)第3部分:背景資料第4部分:標(biāo)準(zhǔn)制定者用的資料一試驗(yàn)摘要-第5部分:試驗(yàn)方法編寫(xiě)導(dǎo)則附錄A和附錄B僅供參考。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱GB/T2423.50—1999主要用于元件的加速試驗(yàn)idtIEC68-2-67:1995EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:Tests-TestCy:Dampheat.steadystate.acceleratedtestprimarilyintendedforcomponents范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種以加速方式評(píng)價(jià)小型電工電子產(chǎn)品,主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)不適用于評(píng)價(jià)諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。2概述在本試驗(yàn)中,樣品在較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)承受很高的未飽和濕熱蒸汽壓力的作用通常施加偏壓。本試驗(yàn)在相對(duì)濕度為85%、溫度為85℃的條件下提供了若干優(yōu)先的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間就塑封元件而言,劣化作用是因塑料吸收水汽和水汽沿引出端滲入而引起的。3試驗(yàn)裝置的說(shuō)明3.1試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱應(yīng)如此設(shè)計(jì)和制造:a)能產(chǎn)生表1中給出的溫度和相對(duì)濕度條件,并至少保持2000h不間斷:b)試驗(yàn)期間·應(yīng)能提供受控的溫濕度條件,并能根據(jù)規(guī)定的斜率升溫和降溫:)試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度應(yīng)由放置在工作空間內(nèi)或(和)能給出相同結(jié)果的其他區(qū)域內(nèi)的傳感裝置監(jiān)測(cè):d)應(yīng)從工作空間不斷排水.且不能重復(fù)使用:e)凝結(jié)水不允許落在試驗(yàn)樣品上:「)箱壁結(jié)構(gòu)材料不應(yīng)引起試驗(yàn)樣品的明顯腐蝕和降低加濕用水質(zhì)量(見(jiàn)附錄B1)。士2C的溫度容差考慮了測(cè)量的絕對(duì)誤差、工作空間內(nèi)任意兩點(diǎn)間溫度的變化和任一一點(diǎn)的溫度波動(dòng)為了將相對(duì)濕度維持在規(guī)定的士5%容差范圍內(nèi)·必須將工作空間任意兩點(diǎn)的溫差(任

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