常見模組不良分析

MODULE技術部AGING&TESTChangeLifewithHeartFINALINSPECTIONGUIDEBOOK

BOERevisionO2011.12.09目鏡用途垂直置于Defect處，頭左右輕輕搖動（角度不要太大）。使用方法觀察點類，異物類不良。使用時需輕拿輕放，防止造成PolScr注意事項橡膠錘用途使用方法注意事項敲擊力度適中，且敲擊前確認好Panel在Pallet上傾斜角度及是否與PalletJig保持距離，避免造成Cell破損。使用前橡膠錘上需包裹無塵布，防止敲擊力度過大，同時防止造成Panel表面臟污和劃傷。檢查異物及因接觸不良產生的非再現(xiàn)性不良，如Shock亮點，敲擊亮線，畫面異常，TouchMura等用橡膠錘從15CM的高度適度地敲擊GATE向和SOURCE向IC的BEZEL部或PANEL顯示區(qū)域檢查工具比對卡用途測量異物長、寬、大小。測量不良間距。使用方法置于Defect處，用比對的方式進行測量。必要時和目鏡搭配使用。注意事項點規(guī)：測量圓形(1b:a10:1)不良線規(guī)：測線形(b:a<10:1)不良相切圓：測點間距調節(jié)筆用途用于模擬式VCOM調解。使用方法食指和拇指握住調節(jié)筆身，垂直插入FLICKER調節(jié)口，在一個圓周內雙向往復旋轉調節(jié)筆，直至FLICKERPATTERN不再閃爍。注意事項垂直插入,雙向旋轉,輕微調節(jié)。檢查畫面DelayTime2s?檢查顯示灰度級?實施SHOCKTEST(COFCrack,異常點燈,內部Short等)?BLOCK,線缺陷檢查MainDefectWRGB256H-GRAY

WHITERASTERL255DelayTimeTV：4sMNT：7sMainDefect?重點檢查B/L異物.?B/L畫面品質(B/LScr,B/L白點etc)?檢查暗點個數(shù)DelayTime?X&YLINEDEFECT?BITLINE?某種特定的點不良MainDefectX-FILEGRAYSCALE

TV：2sMNT：1sRASTERR/G/BL127(MNT)DelayTime1sMainDefect?暗點檢查?X,Y薄線缺陷,BLOCK?色MURA檢查?DATAOPEN檢查CROSSTALKDelayTimeMainDefect?中央部位的CROSSTALK?四角BLF.M強化檢查1sWHITERASTERL0DelayTimeTV：3sMNT：4sMainDefect

?實施SHOCKTES和指壓測試(POL/CELL異物,POL污漬，POL壓痕，POL氣泡，L0漏光,亮線,C/S,亮點等)?CELLSCR,ZARATSUKI,C/FALIGNMISS?白MURA,TOUCHMURADOTFLICKERDelayTime1sMainDefect?畫面中心閃爍GREENMIXGRAYL63(MNT)DelayTime3sMainDefect?對L63進行局部檢查(Cell異物，Cell黑白點，Cell黑白Gap等)WHITERASTERL63?低亮點檢查、SPOT、GAP?MURA檢查(參照LimitSample)DelayTime3sMainDefectWHITERASTERL127DelayTime2sMainDefect?CELLSTAIN及SPOTBLACKLEFT(TV)DelayTime1sMainDefect?PIXEL,ZARA,CELL&POLSCR?SIDEGAP及其他MURANote?檢查LEFT部分RED256GRAY(TV)DelayTime1s?色MURA?X&Y薄LINE、BLOCKMainDefectFI不良大全NOCONTENTS1PanelDefect(Mura,Spot,Scratch,Particle)2PixelDefect3LineDefect4Function5POLDefect6BLUDefectPanelDefect(Mura,Spot,Scratch,Particle)不良圖片現(xiàn)象描述在L63PATTERN下，Gap部分的顏色與其他位置處相比較黑，按壓后產生水波紋現(xiàn)象。判定方法L63+參照限度樣本。黑Gap白Gap不良圖片現(xiàn)象描述在L63PATTERN下，Gap部分的顏色與其他位置處相比較白，按壓后產生水波紋現(xiàn)象。判定方法L63+參照限度樣本。不良圖片現(xiàn)象描述L63PATTERNPanel邊緣泛黑，L0PATTERN下給視角（下視）檢查，不良現(xiàn)象明顯。判定方法L63+參照限度樣本。周邊黑Gap周邊白Gap不良圖片現(xiàn)象描述L63PATTERNPanel邊緣泛白，L0PATTERN下給視角（下視）檢查，不良現(xiàn)象明顯。判定方法L63+參照限度樣本。L63+參照限度樣本。L63/L127PATTERN周邊發(fā)白或發(fā)黑,或長條狀污漬。周邊Mura1不良圖片現(xiàn)象描述判定方法周邊Mura周邊Mura2周邊Mura3周邊Mura4不良圖片現(xiàn)象描述L0Pattern可見周邊發(fā)白或者發(fā)黃的漏光現(xiàn)象。判定方法L0+參照限度樣本。L0周邊漏光水平/垂直黑線不良圖片現(xiàn)象描述水平方向/豎直方向發(fā)黑或發(fā)白的規(guī)則條狀Mura，

Block邊界模糊過渡到正常區(qū)域。判定方法L63+參照限度樣本。不良圖片現(xiàn)象描述L0PATTERN下如上圖所示，貫穿全屏的水平/垂直黑線Mura，上下或左右超視角時可看到黑線邊緣泛白。(此不良目前只出現(xiàn)在32’’)判定方法L0+規(guī)定的檢查視角、距離內可見則PL判定。L0水平/垂直黑線RubbingETC不良圖片現(xiàn)象描述L63

PATTERN左右傾角45度斜線整齊排列，滿屏發(fā)生，局部嚴重。判定方法L63+參照限度樣本。L63+參照限度樣本。L63/L127PATTERN水平或垂直的黑或白色的Block,Block邊界模糊過渡到正常區(qū)域。水平白Block不良圖片現(xiàn)象描述判定方法Block

Mura水平黑Block垂直白Block垂直黑BlockTouchMura不良圖片現(xiàn)象描述判定方法在L0PATTERN下加壓后出現(xiàn)的白色面狀不良，形狀不規(guī)則，停止加壓后不良現(xiàn)象會逐漸消失。敲擊顯示區(qū)域的左邊，右邊會出現(xiàn)不良；敲擊右邊，左邊會出現(xiàn)不良現(xiàn)象。在L0下正常敲擊，若敲擊左側在Panel右側出現(xiàn)TouchMura，此時在右側有TouchMura的位置再敲擊一次時現(xiàn)象消失則按PL判定，若敲擊后3s內不消失需Q級判定。CrossTalk不良圖片現(xiàn)象描述CrossTalkPattern中黑色區(qū)域影響周邊灰色區(qū)域的亮度，造成上下或左右亮度異常。判定方法在CrossTalk畫面判定，規(guī)定的檢查視角、距離內可見則判為Q級。ZaraAlign不良圖片L0Pattern下全屏漏光現(xiàn)象，每個SubPixel周邊都存在漏光現(xiàn)象，有視角依賴性?，F(xiàn)象描述判定方法L0Pattern+規(guī)定的檢查視角、距離內可見則Q級判定。

ZaraPT不良圖片現(xiàn)象描述L0Pattern下目視為團狀發(fā)白，目鏡下可觀察到Spacer周邊發(fā)生漏光，有顏色的星星點點狀，有時伴有黑GapMura。判定方法L0Pattern+規(guī)定的檢查視角、距離內可見則Q級判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法L63+規(guī)定的檢查視角、距離內可見Q級判定。Cell黑點不良圖片現(xiàn)象描述判定方法在L63PATTERN下可見的黑色小斑點，與周邊正常區(qū)域顏色對比較明顯，但邊界模糊多為圓形。黑點施壓時不發(fā)生水波紋現(xiàn)象，且Size一般比Gap小。在L63PATTERN下可見的白色小斑點，與周邊正常區(qū)域顏色對比較明顯，但邊界模糊多為圓形。白點施壓時不發(fā)生水波紋現(xiàn)象，且Size一般比Gap小。Cell白點L63+規(guī)定的檢查視角、距離內可見Q級判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法L63或L0Pattern下參照Spec判定。多為Q級或NG。CellScratch不良圖片現(xiàn)象描述判定方法

L0Pattern下根據Spec判定。Cell異物L0下發(fā)亮或L63Pattern下的發(fā)黑/白不良，多為線型或具特定方向性，如方向為45°或135°。L0下觀察到亮點，用目鏡看可見到R、G、B顏色，且不隨視角的變化而變化。L63Pattern下參照限度樣本判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法CellStain一般現(xiàn)象不規(guī)則，有點狀，條紋狀，面狀污痕等，發(fā)白或者發(fā)黑。常見的現(xiàn)象為滿屏不規(guī)則橫條紋。PixelDefect亮點不良圖片RedDotGreenDotBlueDot現(xiàn)象描述不受驅動電路控制，在所有畫面下保持常亮且亮度可以通過NDFilter(5%)的不良。如圖所示，一個亮點占滿一整個亞像素（DOT）。判定方法三種類型：個數(shù)、連續(xù)、距離。詳見FinalSpec。暗點不良圖片現(xiàn)象描述不受驅動電路控制，在所有畫面下保持常暗的點。如圖所示，一個暗點占滿一整個亞像素（DOT）。判定方法三種類型：個數(shù)、連續(xù)、距離。詳見FinalSpec。RedDotGreenDotBlueDotRedDot輝點不良圖片現(xiàn)象描述不受驅動電路控制，在所有畫面下保持常亮，亮度可以通過NDFilter(5%)但面積小于1個DOT的不良。判定方法MNT：輝點面積大于或等于1/2DOT時，判為亮點；面積小于1/2DOT時，判為CELL異物。TV：70cm處輝點面積大于或等于1/3DOT時，判為亮點；面積小于1/3DOT時，判為CELL異物。GreenDot低亮點不良圖片現(xiàn)象描述類型一：L0下DOT點顯示低亮（比亮點稍暗）；L63&L127等其它Pattern顯示暗點。類型二：L0下無不良；L63&L127等PatternDOT顯示低亮。判定方法類型一：L0下亮度比限度樣本亮的判為亮點，暗的判為暗點。類型二：L127下亮度比限度樣本亮的判為亮點，暗的無視。RedDotShock亮點敲擊現(xiàn)象描述敲擊時出現(xiàn)的亮點。判定方法敲擊后出現(xiàn)，若3s內不消失的判為亮點（參照亮點Spec），若3S內消失此不良無視，RevisionCode選擇L。不良圖片亮點的判定一、1個亮點：按1個亮點Spec表判定。二、多個亮點：亮點點距：橫向/縱向/斜向隔一個Dot及一個Dot以上，且亮點之間的間距小于15mm(比對卡測量)。亮點連結：橫向/縱向/斜向通過邊/點相連接(3個Dot以內)。亮點個數(shù)：

N個亮點中有無2S等連續(xù)亮點或亮點距離。斜向2S縱向點2S橫向2S縱向點點距斜向3S橫向點3S縱向點3S橫向點點距亮點距離小于15mm根據以上亮點類型，對照相應型號的Spec表，對亮點不良進行判級。注意：需要計算亮暗點總數(shù)，并對照Spec表判定。暗點的判定一、1個暗點：按1個暗Spec表判定。二、多個暗點暗點點距：（R、G、B）橫向都為點距/縱向隔一個及一個Dot以上，全白畫面橫向有連結。暗點連結：（R、G、B）橫向無連結/縱向相連。暗點個數(shù)：

N個亮點中有無2S等連續(xù)暗點或暗點距離。根據以上暗點類型，對照相應型號的Spec表，對暗點不良進行判級。暗點3S暗點點距2個暗點LineDefectWRGB/L0PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。由Active區(qū)域Data方向某一點開始向下的一段亮度均一的亮線。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法DataOpenWRGB/L0PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法GateOpenActive區(qū)域Gate方向的一點開始向右的一段亮度均一的白線。L0/L63PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。Remark:對于32Inch產品，若亮線貫穿一個暗點，一般需將Flicker畫面調節(jié)OK后再進行判定，如果亮線消失則不需判定NG。Active區(qū)域Data方向的一整條亮度不均一，一般為由上到下漸變的單色亮線；有時亮線上可見一個亮點(或暗點)，也有時為一個發(fā)光小異物。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法DCSL0/L63PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。Active區(qū)域Gate方向的一整條亮度不均一，一般為由左至右漸變的白線，有時中間貫穿亮點或異物不良圖片現(xiàn)象描述判定方法GCSL0/L63PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法DGS1.Data向一條兩種顏色的線2.Data向的線會閃動3.Gate和Data方向十字交叉不良不良現(xiàn)象機理：---Gate線與Data線發(fā)生Short，加在兩條線上的信號互相干擾。---Gate線大部分時間電壓較低，導致Data線上的電壓也較低。

在CellTest的DGSData線應為亮線。---加在Gate線的脈沖也會受到Data信號的影響，但所受影響隨位置而變，沿信號加入方向，越靠近Short發(fā)生處，受到的影響越大。

所以在CellTest觀察應為逐漸變亮的線。L0/L63PATTERN下發(fā)現(xiàn)即NG判定。不良圖片現(xiàn)象描述判定方法DDS/GGS1.DDS:現(xiàn)象與同X2-Line,為兩條相鄰亮線。2.GGS:現(xiàn)象為相鄰兩條較暗的Y白線，相對其他正常像素來說顏色較暗。GGSDDSFunction不良圖片現(xiàn)象描述FlickerPattern下畫面閃爍不可調節(jié)或調節(jié)好后不能

保存。判定方法出現(xiàn)即NG。Flicker閃爍Crosstalk不良圖片現(xiàn)象描述CrossTalkPattern中黑色區(qū)域影響周邊灰色區(qū)域的亮度，造成上下或左右亮度異常。判定方法出現(xiàn)即判為NG。POLDefectL0Pattern下根據異物大小和個數(shù)判定，詳見Spec。在L0Pattern下有RGB顏色，用Loupe觀察，異物會隨視角移動而相對BM移動，異物在網格(BM部)上面相對移動為上POL異物，反之為下POL異物，且異物會有R/G/B顏色變化。Loupe下POL異物不良圖片現(xiàn)象描述判定方法POL異物DOT間黑色部分稱為BM部L0Pattern下根據大小和個數(shù)判定，詳見Spec。內POL劃傷不良圖片現(xiàn)象描述判定方法外POL劃傷內POL劃傷：在L0Pattern有RGB顏色的劃傷，呈線狀，Loupe下不良現(xiàn)象同POL異物。外POL劃傷：不點燈肉眼明顯可見，有明顯劃傷痕跡。POL劃傷L0Pattern下根據氣泡大小判定和個數(shù)，詳見Spec。Loupe下POL氣泡不良圖片現(xiàn)象描述判定方法POL氣泡外POL氣泡內POL氣泡：L0Pattern可見圈狀發(fā)白不良(立起Pattern較明顯)，分異物和非異物引起氣泡。外POL氣泡：不點燈肉眼可見Panel表面氣泡不良。L0Pattern下根據大小和個數(shù)判定，詳見Spec。圓形POL壓痕不良圖片現(xiàn)象描述判定方法POL壓痕蝴蝶狀壓痕圓形壓痕：L0Pattern可見圓形發(fā)白不良(立起Pattern較明顯)，壓痕邊界清晰無立體感。蝴蝶狀壓痕：L0Pattern正視可見蝴蝶狀輕微發(fā)白不良，在L63正視可見輕微發(fā)黑。外POL污漬不良圖片現(xiàn)象描述判定方法POL污漬內POL污漬內POL污漬：L0Pattern可見局部發(fā)黑且無固定形態(tài)不可擦拭的污漬。外POL污漬：外觀