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  • 2019-06-04 頒布
  • 2020-05-01 實施
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GB/T 29055-2019太陽能電池用多晶硅片_第1頁
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文檔簡介

ICS29045

H82.

中華人民共和國國家標準

GB/T29055—2019

代替

GB/T29055—2012

太陽能電池用多晶硅片

Multicrystallinesiliconwafersforphotovoltaicsolarcell

2019-06-04發(fā)布2020-05-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T29055—2019

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替太陽電池用多晶硅片本標準與相比除編

GB/T29055—2012《》。GB/T29055—2012,

輯性修改外主要技術變化如下

:

修改了適用范圍將適用于鑄錠多晶切片垂直于長晶方向生產(chǎn)的太陽電池用多晶硅片改為

———,“”

適用于太陽能電池用鑄造多晶硅片包括類單晶硅片見第章年版的第章

“()”(1,20121)。

刪除了規(guī)范性引用文件和增加了

———GB/T1551SEMIMF1535,GB/T30860、GB/T30869、

和見第章

SJ/T11627、SJ/T11628、SJ/T11630、SJ/T11631、SJ/T11632YS/T28(2,2012

年版的第章

2)。

刪除了密集線痕的定義增加了線痕和微裂紋的定義見和年版的

———,(3.13.2,20123.1)。

修改了邊長分類由和改為

———,125mm×125mm156mm×156mm156.75mm×156.75mm,

建議邊長的增減量為的整數(shù)倍見表年版的表

1mm(1,20121)。

將外形尺寸分類與要求合并并修改了邊長厚度及允許偏差的要求見年版的

———,、(4.1,2012

第章第章

4、5)。

修改了總厚度變化彎曲度的要求見年版的

———、(4.1,20125.2)。

修改了載流子壽命間隙氧含量代位碳含量的要求見年版的

———、、(4.2.3、4.3,20125.3.3、5.3.4、

5.3.5)。

增加了表面質(zhì)量中缺口微裂紋的要求見

———、(4.4.1)。

修改了表面質(zhì)量中崩邊缺陷的要求見年版的

———(4.4.2,20125.1.2)。

刪除了表面質(zhì)量中的色斑邊緣缺陷晶粒數(shù)量及尺寸規(guī)格中密集型線痕的要求見年版

———、、(2012

5.1.1、5.1.3、5.1.4、5.2)。

增加了類單晶硅片的要求見第章

———(4)。

修改了組批檢驗項目取樣及檢驗結(jié)果的判定見年版的

———、、(6.2、6.3、6.4,20127.2、7.3、7.4)。

修改了包裝的要求見年版的

———(7.2.1,20128.1.1)。

本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會與全國半導體設備和材料標準

(SAC/TC203)

化技術委員會材料分技術委員會共同提出并歸口

(SAC/TC203/SC2)。

本標準起草單位江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司鎮(zhèn)江仁德新能源科技有限公司江西賽維

:、、

太陽能高科技有限公司宜昌南玻硅材料有限公司有色金屬技術經(jīng)濟研究院揚州榮德新能源科

LDK、、、

技有限公司蘇州協(xié)鑫光伏科技有限公司英利能源中國有限公司

、、()。

本標準主要起草人萬躍鵬唐駿游達林清香蘇磊李素青余剛高長昆常傳波李建敏何亮

:、、、、、、、、、、、

梁學勤齊靈燕孫培亞李英葉

、、、。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T29055—2012。

GB/T29055—2019

太陽能電池用多晶硅片

1范圍

本標準規(guī)定了太陽能電池用多晶硅片以下簡稱硅片的要求試驗方法檢驗規(guī)則標志包裝運

()、、、、、

輸貯存質(zhì)量證明書及訂貨單或合同內(nèi)容

、、()。

本標準適用于太陽能電池用鑄造多晶硅片包括類單晶硅片

()。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

非本征半導體材料導電類型測試方法

GB/T1550

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法非接觸渦流法

GB/T6616

硅片厚度和總厚度變化測試方法

GB/T6618

硅片彎曲度測試方法

GB/T6619

半導體材料術語

GB/T14264

太陽能級鑄造多晶硅塊

GB/T29054

太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法

GB/T30860

太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法

GB/T30869

太陽能電池用硅片電阻率在線測試方法

SJ/T11627

太陽能電池用硅片尺寸及電學表征在線測試方法

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