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ZnO薄膜的光電性能張亞莉13723159ZnO薄膜的光電性質(zhì)近年來,透明導電氧化物薄膜材料因其在光學、電學、壓電等方面的特性廣為人們所研究,ZnO薄膜就是其中一種。ZnO薄膜是一種重要的透明導電膜具有原材料廉價,無毒,化學性質(zhì)穩(wěn)定,易于制備,性能價格比高等優(yōu)點。ZnO薄膜簡介ZnO薄膜的光電性質(zhì)光電性質(zhì)的影響因素ZnO薄膜的應用ZnO薄膜簡介氧化鋅是直接寬禁帶半導體材料,室溫下的禁帶寬度約3.3eV,大于可見光的光子能3.10eV,因此在可見光波段(400nm-800nm)ZnO的透射率很高。

此外,ZnO的一個突出特點是具有高達60meV的激子束縛能。ZnO薄膜主要用于太陽能電池,它與之前所用的氧化銦錫(ITO)和二氧化錫透明導電薄膜相比,生產(chǎn)成本低,無毒,穩(wěn)定性高(特別是在氫等離子體中),對促進廉價太陽電池的發(fā)展具有重要意義。

ZnO薄膜簡介ZnO薄膜簡介真空蒸發(fā)鍍膜法磁控濺射鍍膜法射頻反應電子鍍法脈沖激光沉積(PLD)分子束外延金屬有機物化學氣相沉積(MOCVD)化學氣相沉積法噴射熱解法溶膠-凝膠法制備方法化學法物理法第一,寬帶隙使ZnO在可見光波段(400~800nm)有高達80%的光學透過率,ZnO材料高激子結(jié)合能使其在室溫下的受激輻射能在較低閾值出現(xiàn),是一種理想的紫外光發(fā)射材料。ZnO薄膜簡介ZnO薄膜的光電性質(zhì)光電性質(zhì)?第二,ZnO高熔點的物理特性(1975)℃,使其具有很好的熱化學穩(wěn)定性。ZnO薄膜可在低于600℃下獲得,有利于降低設備成本,可大大減少高溫制備條件下產(chǎn)生的缺陷,提高薄膜質(zhì)量。ZnO薄膜的光電性質(zhì)光電性質(zhì)?ZnO薄膜的光電性質(zhì)第三,ZnO是至今為止Ⅱ-Ⅵ族半導體材料中最硬的一種,可以避免像其它Ⅱ-Ⅵ族材料在光發(fā)射器件應用中出現(xiàn)的增殖現(xiàn)象。光電性質(zhì)?為分析ZnO薄膜的綜合光電特性,引入品質(zhì)因子作為量化ZnO薄膜綜合光電特性的指標:式中FTC

,RS,T分別為樣品的品質(zhì)因子,方塊電阻,透光率。其中T的取值為樣品在360~960nm波長范圍內(nèi)的平均透光率。FTC的值越大,樣品的綜合性能越好.ZnO薄膜的光電性質(zhì)蒸發(fā)鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料,衡量它們厚度的最好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊“之”間的電阻,如圖所示,即B邊到C邊的電阻值。方塊電阻有一個特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的,不管邊長是1米還是0.1米,它們的方阻都是一樣,這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關。ZnO薄膜的光電性質(zhì)(一)退火溫度(二)絡合劑(三)沉積溫度光電性質(zhì)的影響因素退火溫度光電性質(zhì)的影響因素在室溫下,采用直流磁控濺射法,以載玻片作為襯底,淀積出ZnO薄膜。在常壓氫氣氣氛中以不同溫度對樣品進行退火處理。制備方法:圖1不同退火溫度的ZnO薄膜的XRD圖譜Fig1XRDpatterns

oftheZnOfilmsannealedunderdifferenttemperatures光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素圖2不同退火溫度樣品的透射光譜Fig2Theopticaltransmittancespectraofthesamplesannealedunderdifferenttemperatures光學性能光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素圖3不同退火溫度樣品的方塊電阻Fig3Thesheetresistanceofthesamplesannealedunderdifferenttemperatures電學性能光電性質(zhì)的影響因素表1各個樣品的FTC值Table1TheFTCvalueofthesamples光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素1隨著退火溫度的增加,ZnO薄膜的平均晶粒尺寸增加,結(jié)晶性越來越好;2ZnO薄膜的光電性能發(fā)生了改變,在360-960nm波長范圍內(nèi)的透光率都有所下降,隨著退火溫度的增加,ZnO薄膜的方塊電阻逐步減?。?隨著退火溫度的增加,品質(zhì)因子先增加后減小,當退火溫度為500℃時最大,即具有最佳綜合光電性能。結(jié)論:光電性質(zhì)的影響因素絡合劑光電性質(zhì)的影響因素在400℃預處理溫度下,以醋酸鋅為前驅(qū)體,分別以乙醇胺(MEA)、二乙醇胺(DEA)和三乙醇胺(TEA)為絡合劑,在普通玻璃載玻片上采用溶膠-凝膠技術成功地制備ZnO薄膜。制備方法:圖4在400℃下,以不同絡合劑制備的ZnO薄膜XRD譜圖(a.MEA;b.DEA;c.TEA)光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素光吸收性能圖5在400℃下,以不同絡合劑制備的ZnO薄膜的UV—Vis譜圖(a.MEA;b.DEA;c.TEA)光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素圖6在400℃下,以不同絡合劑制備的ZnO薄膜的光電流(a.MEA;b.DEA;c.TEA)光電性質(zhì)的影響因素電學性能光電性質(zhì)的影響因素3種絡合劑都成功地制備出了C軸擇優(yōu)取向的ZnO薄膜,但制備的薄膜結(jié)構(gòu)不同,并導致其性能有較大的差異。其中,以MEA為絡合劑制備的ZnO薄膜有較突出的C軸擇優(yōu)取向,具有較高的光電流。光電性質(zhì)的影響因素結(jié)論:沉積溫度光電性質(zhì)的影響因素在較高溫度的非水溶液體系下,采用陰極電沉積法,用ZnCl2的二甲基亞砜溶液做電解液,在導電玻璃上制備了ZnO薄膜。制備方法:圖7不同沉積溫度下薄膜的XRD圖E1=180℃,E2=150℃,E3=120℃,E4=90℃光電性質(zhì)的影響因素光電性質(zhì)的影響因素圖8不同沉積溫度下薄膜的透射譜E1=180℃,E2=150℃,E3=120℃,E4=90℃光電性質(zhì)的影響因素光學性能光電性質(zhì)的影響因素圖9ZnO薄膜的面電阻值隨電解液溫度的變化E1=180℃,E2=150℃,E3=120℃,E4=90℃光電性質(zhì)的影響因素電學性能光電性質(zhì)的影響因素1隨電解液溫度的升高,薄膜的晶粒逐漸長大,但薄膜的禁帶寬度和面電阻減小了,當電解液溫度為180℃時制備的ZnO樣品的面電阻值最小為7.57×104。2除180℃沉積溫度下制備的樣品以外,其他溫度下制備的ZnO薄膜在可見光區(qū)域的透過率均接近甚至高于80%。光電性質(zhì)的影響因素結(jié)論:ZnO晶體結(jié)構(gòu)和光電特性,在光顯示、光照明、光存儲以及光探測等領域具有誘人的應用前景:ZnO薄膜的應用(1)太陽電池(2)全色大屏幕顯示器(3)照明工程(4)高密度存儲(5)紫外光探測器(6)與GaN互作緩沖層參考文獻[1]HusnaJ,AliyuMA,etal.InfluenceofannealingtemputeratureonthepropertiesofZnOthinfilmsgrownbysputtering[J].EnergyProcedia,2012,25:55-61.[2]ZhuMW,XiaJH.Heat-activatedStructuralEvolutionofSol-gel-derivedZnOThinfilms[J].JCrystGrowth,2008,310(4:816-823).[3]FahoumeM,Maghfoul(),AggourM,etal.GrowthandcharacterizationofZnOthinfilmspreparedbyelectrodepositiontechnique[J].SolarEnergyMaterialsandSolarCells,2006,9

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