標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 35309-2017 用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)顆粒狀多晶硅的規(guī)程》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要規(guī)定了使用區(qū)熔法與光譜分析技術(shù)對(duì)顆粒狀多晶硅進(jìn)行質(zhì)量評(píng)價(jià)的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于光伏產(chǎn)業(yè)、半導(dǎo)體材料加工等領(lǐng)域中對(duì)于原材料品質(zhì)控制的需求。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),首先明確了樣品制備的要求。需要從待測(cè)批次中隨機(jī)抽取具有代表性的樣本,并確保這些樣本能夠真實(shí)反映整個(gè)批次的質(zhì)量狀況。此外,還詳細(xì)描述了如何通過(guò)適當(dāng)?shù)奈锢矸椒▽⑺〉玫拇髩K樣品破碎成適合進(jìn)一步測(cè)試的小顆粒。
接下來(lái),標(biāo)準(zhǔn)介紹了區(qū)熔提純的過(guò)程。這是一種基于不同元素在固液界面溶解度差異而實(shí)現(xiàn)雜質(zhì)分離的技術(shù)。通過(guò)對(duì)特定區(qū)域加熱至熔化狀態(tài)然后緩慢冷卻,可以使大部分雜質(zhì)集中于某一部分或被去除,從而達(dá)到提高材料純度的目的。在此過(guò)程中,需嚴(yán)格按照設(shè)定條件操作以保證結(jié)果準(zhǔn)確性。
之后,利用光譜分析技術(shù)測(cè)定提純后樣品中的各種元素含量。這一步驟通常涉及原子吸收光譜法(AAS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或其他類似手段,旨在精確測(cè)量出目標(biāo)元素的具體濃度值。同時(shí),也提供了數(shù)據(jù)處理及報(bào)告編制的相關(guān)指導(dǎo)原則。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2017-12-29 頒布
- 2018-07-01 實(shí)施
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GB/T 35309-2017用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)顆粒狀多晶硅的規(guī)程-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS77040
H17.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T35309—2017
用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)
顆粒狀多晶硅的規(guī)程
Practiceforevaluationofgranularpolysiliconby
melter-zonerandspectroscopies
2017-12-29發(fā)布2018-07-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T35309—2017
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草的
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)與全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)
(SAC/TC203)
化技術(shù)委員會(huì)材料分技術(shù)委員會(huì)共同提出并歸口
(SAC/TC203/SC2)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司新特能源股份有限公司天津市環(huán)歐半導(dǎo)體材
:、、
料技術(shù)有限公司青海黃河上游水電開發(fā)有限責(zé)任公司新能源分公司洛陽(yáng)中硅高科技有限公司
、、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王桃霞劉曉霞耿全榮魯文鋒柳德發(fā)胡偉邱艷梅銀波由佰玲秦榕
:、、、、、、、、、、
嚴(yán)大洲
。
Ⅰ
GB/T35309—2017
用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)
顆粒狀多晶硅的規(guī)程
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)顆粒狀多晶硅的代位碳原子濃度施主雜質(zhì)濃度和受主
、
雜質(zhì)濃度的方法
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于尺寸為的顆粒狀多晶硅其他尺寸的顆粒狀多晶硅可參照本標(biāo)
600μm~3000μm,
準(zhǔn)執(zhí)行
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
化學(xué)試劑氫氟酸
GB/T620
化學(xué)試劑鹽酸
GB/T622
化學(xué)試劑硝酸
GB/T626
硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法
GB/T1558
硅多晶氣氛區(qū)熔基磷檢驗(yàn)方法
GB/T4059
氬
GB/T4842
固體化工產(chǎn)品采樣通則
GB/T6679
電子級(jí)水
GB/T11446.1
半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ)
GB/T14264
低溫傅立葉變換紅外光譜法測(cè)量硅單晶中族雜質(zhì)含量的測(cè)試方法
GB/T24581Ⅲ、Ⅴ
潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境第部分空氣潔凈度等級(jí)
GB/T25915.11:
用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評(píng)價(jià)多晶硅棒的規(guī)程
GB/T29057
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T14264。
4方法提要
將顆粒硅裝入高純石英管內(nèi)在石英管的下方通入高純氬氣顆粒硅在氬氣作用下處于流態(tài)化調(diào)
,,,
節(jié)線圈位置和功率使顆粒硅逐漸地粘附在熔化的硅棒或籽晶上制備成多晶硅棒采用
,(),。GB/T4059,
氬氣氛圍中在單晶籽晶的作用下利用區(qū)域熔解將多晶硅棒熔煉生長(zhǎng)成為單晶棒采用
,,。GB/T1558
和中規(guī)定的方法測(cè)定代位碳和施主雜質(zhì)濃度受主雜質(zhì)濃度
GB/T24581
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