標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5594.4-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),它規(guī)定了用于測(cè)定電子元器件中結(jié)構(gòu)陶瓷材料介質(zhì)損耗角正切值的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于在特定頻率下對(duì)陶瓷材料進(jìn)行電性能評(píng)價(jià)時(shí)使用。

根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),介質(zhì)損耗角正切(tanδ)是指交流電場(chǎng)作用下,材料內(nèi)部能量損失與儲(chǔ)存能量之比的一種度量方式。通過(guò)測(cè)量這個(gè)參數(shù)可以評(píng)估材料的絕緣性能和品質(zhì)因素。標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了實(shí)驗(yàn)所需的儀器設(shè)備、樣品準(zhǔn)備步驟、測(cè)試條件以及具體的操作程序等信息。例如,要求使用的測(cè)試頻率范圍通常為幾百赫茲到兆赫茲之間,并且指出了如何正確連接電路以確保準(zhǔn)確讀數(shù)。


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  • 1985-11-27 頒布
  • 1986-12-01 實(shí)施
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UDC621.315.612:621.382/.387:620.1中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB5594.4-85電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinnelectroniccomponentsTestmethodfordielectriclossangletangentvalue1985-11-27發(fā)布1986-12-01實(shí)施國(guó)家批準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料UDC621.315.612:621.382性能測(cè)試方法/.387:620.1GB35594.4-85介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodfordielectriclossangletangentalue本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料在頻率1MHz,溫度從室溫至500℃條件下的介質(zhì)損耗角正切值。1定義和測(cè)試原理陶瓷材料的介質(zhì)損耗角正切值(tano)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。所調(diào)介質(zhì)損耗即是單位時(shí)間內(nèi)消耗的電能。由陶瓷材料制成的元器件,當(dāng)它工作時(shí),交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上,并通過(guò)交變電流,這時(shí)陶瓷介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分,.,可以石成有損耗的電容器,并可用一個(gè)理想電容器和一個(gè)純電阻器并聯(lián)或串聯(lián)的電路來(lái)等效,如圖1所示。電壓和電流的相位關(guān)系可用圖2表示。a.料聯(lián)等效電路b.串聯(lián)等效電路圖1有損耗電

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