GB/T 6394-2017金屬平均晶粒度測(cè)定方法

ICS7704099

H24..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6394—2017

代替

GB/T6394—2002

金屬平均晶粒度測(cè)定方法

Determinationofestimatingtheaveragegrainsizeofmetal

2017-02-28發(fā)布2017-11-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T6394—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

符號(hào)

4………………………2

概述與應(yīng)用

5………………4

取樣

6………………………5

試樣制備

7…………………5

測(cè)定方法

8…………………5

非等軸晶試樣的晶粒度

9…………………13

含兩相或多相組織試樣的晶粒度

10……………………16

晶粒度報(bào)告

11……………16

精度與偏差

12……………17

附錄規(guī)范性附錄晶粒度形成和顯示方法

A()…………19

附錄規(guī)范性附錄統(tǒng)計(jì)技術(shù)晶粒度測(cè)定結(jié)果的置信區(qū)間及相對(duì)誤差的計(jì)算

B()———………………23

附錄資料性附錄晶粒度測(cè)量基礎(chǔ)

C()…………………26

Ⅰ

GB/T6394—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替金屬平均晶粒度測(cè)定法

GB/T6394—2002《》。

本標(biāo)準(zhǔn)與相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

GB/T6394—2002,:

增加了晶界晶界截點(diǎn)的計(jì)數(shù)晶粒截線的計(jì)數(shù)和截線長度的術(shù)語及定義見第章

———、、(3);

增加了形成奧氏體晶粒的試樣熱處理方法取樣部位試樣取向和拋光面積要求及制樣等要求

———、、

見第章第章

(6、7);

在比較法中增加了檢驗(yàn)參數(shù)及視場(chǎng)選擇和評(píng)級(jí)操作細(xì)節(jié)的要求見

———(8.1);

增加了滲碳體網(wǎng)顯示晶?？梢允褂脠D譜的要求見表

———Ⅳ(8.1.1.32);

修改了倍和倍評(píng)級(jí)圖對(duì)應(yīng)的晶粒直徑和放大倍數(shù)的數(shù)值增加了倍和倍

———400500,5001000

評(píng)級(jí)圖的換算值見表和表

(8.1.2.334);

在面積法中增加了矩形測(cè)量網(wǎng)的計(jì)算公式增加了有關(guān)視場(chǎng)選擇和計(jì)數(shù)準(zhǔn)確性的方法見

———,(8.2.2);

修改了截點(diǎn)法的內(nèi)容增加了截點(diǎn)法的各種計(jì)算公式見

———,(8.3.1.8);

增加了非等軸晶粒的計(jì)算方法明確了計(jì)算過程見第章

———,(9);

對(duì)兩相及多相晶粒評(píng)定增加了相的特征和比例的測(cè)定報(bào)出的要求增加了截距法見

———,,(10.4.3);

增加了面積法和截點(diǎn)法測(cè)定的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)非等軸晶粒及多相晶粒的報(bào)告內(nèi)容要求完善了晶粒

———、,

度報(bào)告見第章

(11);

增加了精度與偏差的要求見第章

———(12);

附錄由原標(biāo)準(zhǔn)附錄鐵素體與奧氏體鋼奧氏體晶粒度的形成及顯示修改為晶粒度的形

———AC“”“

成和顯示方法在奧氏體晶粒形成方法中淬火溫度由均改為增加了細(xì)珠光體

”,900℃890℃,

屈氏體網(wǎng)法增加了部分晶粒度的浸蝕劑及使用方法增加了鐵素體鋼的鐵素體晶粒的測(cè)定

(),,

方法見

(A.2);

附錄由晶粒度測(cè)定結(jié)果的置信限及相對(duì)誤差的計(jì)算修改為統(tǒng)計(jì)技術(shù)晶粒度測(cè)定結(jié)

———B“”“———

果的置信限及相對(duì)誤差的計(jì)算并修正了計(jì)算方法

”,;

在附錄中增加了晶粒度各種測(cè)量方法計(jì)算公式及推導(dǎo)過程見增加了常用測(cè)量之間的關(guān)

———C(C.1),

系相關(guān)數(shù)據(jù)的計(jì)算和換算方法晶粒度常規(guī)測(cè)量方法之間的差異見增加了本標(biāo)準(zhǔn)的晶粒

、、(C.2),

度和晶粒度的關(guān)系以及微觀晶粒度級(jí)別數(shù)和宏觀晶粒度級(jí)別數(shù)的關(guān)系見

ISO(C.3)。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC183)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位撫順特殊鋼股份有限公司冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院蘇州昆侖重型裝備制造有

:、、

限公司首鋼總公司

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人程麗杰欒燕谷強(qiáng)鞠新華余超

:、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T6394—1986;GB/T6394—2002。

Ⅲ

GB/T6394—2017

引言

金屬材料平均晶粒度的測(cè)定常用比較法也可用截點(diǎn)法和面積法這些基本測(cè)量方法以晶粒幾何

,。

圖形為基礎(chǔ)與金屬或合金本身無關(guān)非金屬材料的晶粒晶體或晶胞的平均尺寸的測(cè)定可參照使用

,,、。

如果材料組織形貌接近于某一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖可用比較法但是不能使用比較法中的評(píng)級(jí)圖來測(cè)

,。,

量單個(gè)晶粒

。

本標(biāo)準(zhǔn)所述的試驗(yàn)方法只測(cè)量晶粒度單峰分布試樣的平均晶粒度對(duì)于具有雙峰或更復(fù)雜的

,。()

分布的試樣晶粒度用本標(biāo)準(zhǔn)和金相檢測(cè)面上最大晶粒尺寸級(jí)別晶粒度測(cè)定方法

,YB/T4290《(ALA)》

測(cè)量晶粒分布特征用雙重晶粒度表征與測(cè)定方法表征對(duì)于細(xì)晶基體出現(xiàn)個(gè)別粗大

,GB/T24177《》。

晶粒的試樣可用進(jìn)行晶粒度測(cè)定

,YB/T4290ALA。

Ⅳ

GB/T6394—2017

金屬平均晶粒度測(cè)定方法

1范圍

11本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬組織平均晶粒度的表示及測(cè)定方法包含有比較法面積法和截點(diǎn)法適用于單

.,、,

相組織但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組元試樣中特定類型的晶粒平均尺寸測(cè)定非金屬材料如

,。

組織形貌與比較評(píng)級(jí)圖中金屬組織相似也可參照使用

。

12本標(biāo)準(zhǔn)利用晶粒的面積直徑或截線長度的單峰分布近似于對(duì)數(shù)正態(tài)分布來測(cè)定試樣的平均晶

.、()

粒度不適用于雙峰分布的晶粒度雙重晶粒度的評(píng)定見分布在細(xì)小晶?；w上個(gè)別

,。GB/T24177。

非常粗大的晶粒的測(cè)定方法見

YB/T4290。

13本標(biāo)準(zhǔn)僅適用平面晶粒度的測(cè)量不適用于三維晶粒度即立體晶粒尺寸的測(cè)量

.,,。

14本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法不能確定受檢材料是否接收或適合使用的范圍

.,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

,,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

低碳鋼冷軋薄板鐵素體晶粒度測(cè)定法

GB/T4335

金屬顯微組織檢驗(yàn)方法

GB/T13298

雙重晶粒度表征與測(cè)定方法

GB/T24177

金相學(xué)術(shù)語

GB/T30067

金相檢測(cè)面上最大晶粒尺寸級(jí)別晶粒度測(cè)定方法

YB/T4290