• 被代替
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  • 1986-06-11 頒布
  • 1987-05-01 實(shí)施
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GB/T 6462-1986金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測(cè)量方法_第1頁
GB/T 6462-1986金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測(cè)量方法_第2頁
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UDC669.058:531.717.1中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB6462-86金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測(cè)量方法Metallicandoxide:coatings一MeasurementofcoatingthicknessMicroscopicalmethod1986-06-11發(fā)布1987-05-01實(shí)施家標(biāo)準(zhǔn)局批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬和氧化物覆蓋層GB6662-86橫斷面厚度顯微鏡測(cè)量方法Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatingthickness-Microscopicalmethod本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了運(yùn)用金相顯微鏡對(duì)金屬鍍層、氧化物覆蓋層的局部厚度作橫斷面顯微測(cè)量的方法本標(biāo)準(zhǔn)還可以測(cè)量箱瓷或糖瓷覆蓋層的局部厚度及測(cè)量薄的厚度,用金相顯微鏡進(jìn)行測(cè)量,其絕對(duì)精度可達(dá)到0.8Hm。本方法可作為金屬鏡層、氧化層厚度測(cè)量的仲裁方法。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO1463一1982《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測(cè)量方法》生:局部厚度:在試樣上指定的部位內(nèi),作規(guī)定次數(shù)的調(diào)量。其嘆度取平均值、方法概述從待測(cè)件上指定的位置切割一塊試樣,鑲嵌后,對(duì)橫斷面進(jìn)行適當(dāng)?shù)难心?、拋光和浸蝕。用校正過的標(biāo)尺測(cè)量覆蓋層橫斷面的厚度。!影響測(cè)量精度的因素2.1表面粗糙度若覆蓋層或覆蓋層的基體表面是粗糙的,則與漫蓋層橫斷面接觸的一條或兩條界面線也是不規(guī)則的,以致不能精確測(cè)量(見附錄A(補(bǔ)充件)中A·4】。2.2橫斷面的斜度橫斷面必須蠶直于待測(cè)覆蓋層,著有偏茶,則測(cè)得的厚度將大于真實(shí)厚度。如垂直度偏差10.則測(cè)量值比真實(shí)厚度大1.5"。2.3覆基層變形嵌試樣和制備橫斷面的過程中,過高的溫度和兒力將使軟的或低培點(diǎn)的覆蓋層產(chǎn)生變形,在制備脆性材料橫斷面時(shí),過度的打磨也同樣會(huì)產(chǎn)生變形2.4覆蓋層邊緣倒角制備試樣時(shí),不正確的鑲嵌、研磨、拋光和浸蝕都會(huì)引起覆蓋層橫斷面的邊緣倒角.或者不平整,采用顯微鏡測(cè)量則得不到真實(shí)厚度,因此在鑲嵌之前,試樣常要附加鍍層,這樣可使邊緣倒角減至最?。ㄒ夾.1)。2.5附加鍍層在制備橫斷面時(shí)為了保護(hù)覆蓋層的邊緣,以避免測(cè)量誤茶,常應(yīng)在試樣上附加鍍層。附加鍍層前、應(yīng)注意不要損壞待測(cè)量的鍍層并避免因除油、酸洗或形成合金而使鍍層減薄。2.6漫蝕適當(dāng)?shù)穆g能在兩種金屬的界面線上產(chǎn)生暗細(xì)而清晰的界面線:過度的沒蝕會(huì)使界面

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