EMC-測試作業(yè)指導(dǎo)書

EMC測試作業(yè)指導(dǎo)書一．EMC測試類型EMC測試包括ESDEFTSurgeHarmonicFlicker標(biāo)準(zhǔn)和測試方法將在下面具體介紹。二．名詞定義：ESD：靜電放電Harmonic：諧波Flicker：閃耀放射Surge：浪涌PowerDip：電壓跌落ConductedImmunity:傳導(dǎo)免疫性三．測試規(guī)劃5.1ESD測試測試目的ESD下性能保持完好，功能正常，不被損害。測試標(biāo)準(zhǔn)EN61000-4-2空氣放電接觸放電〕.測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備NoiseKenESS-2023(靜電測試器)ESD原理一個充電的導(dǎo)體接近另一個導(dǎo)體時，就有可能發(fā)生ESD。首先，兩個導(dǎo)體0.7ns10ns的時間里，電弧電流會到達(dá)幾十安培，有時甚至?xí)^100安培。電弧將始終維持直到兩個導(dǎo)體接觸短路或者電流低到不能維持電弧為止?？赡墚a(chǎn)生電弧的實例有人400～600V電勢，假設(shè)他們在。針對大多數(shù)環(huán)境的產(chǎn)品和通用標(biāo)準(zhǔn)打算5.12標(biāo)準(zhǔn)所列的測試水平.測試方法EUT依據(jù)正常運行時的典型安裝進(jìn)展布局和配置,并將全部電纜都連接上.對地的連接尤為重要.EUT80cm的木桌上,設(shè)備下面放置一個水平耦合板,但該耦合板與設(shè)備之間絕緣隔離.5.1.信號輸入將Notebook的信號輸入到EUT的D-Sub端口,將DVDPlayer信號輸入.靜電放電發(fā)生器設(shè)置STARTEND鍵把握靜電放電發(fā)生器的動作。開頭后，警示燈會閃耀。留意，只有在接觸放電也即AIR/CONDUCT按下后，相應(yīng)的其次欄和第三欄參數(shù)才可設(shè)定。施加放電接觸放電接觸放電是首選的測試方式,EUT具有導(dǎo)電的外表或不被認(rèn)為是起絕緣作用的噴涂外表.在一樣的點選用正負(fù)極性電壓(±4KV)施加單次放電,10次,1S.接觸放電使用尖頭端子.靜電放電發(fā)生器應(yīng)與EUT外表垂直,或者與耦合平面在同一平面內(nèi)且對準(zhǔn)耦合平面的中心邊緣.空氣放電空氣放電是指在不具備接觸放電測試條件的某些點,在這些點上施加空,例如:按鍵邊緣,連接器或通風(fēng)孔等.對于空氣放電,使用圓頭端子,放電尖端應(yīng)盡可能快的接近EUT,但留意不能導(dǎo)致設(shè)備受損,由于這種測試不能漸漸接近受EUT,因此需要測試者精力充分且有樂觀性.空氣放電的電壓為±8KV.模擬放電EUT固定距離的一個耦合板上,耦合板的大小為10cm,并行放置,包括垂直耦合和水平耦合.EUT的四個面都要施加這種耦合放電.耦合放電的方法:在耦合板的邊緣中間用尖頭端子單點施加±4KV電壓,至少十次,1S.測試結(jié)果測試工程測試工程S/N:測試前狀況測試后狀況S/N:測試前狀況測試后狀況圖象品質(zhì)音質(zhì)品質(zhì)AL Plate,VerticalAL Plate,VerticalCouplingPlaneEUTLOADs:5.1靜電放電測試環(huán)境布置簡圖極性選擇+模式選擇SET鍵- KV上下翻轉(zhuǎn)鍵清零Air/contactSTARTEND電源開關(guān)警示燈5.2NoiseKenESS-2023面板示意圖5.2EFT測試測試目的EUT對來自操作暫態(tài)過程〔諸如開斷感性負(fù)載、繼電器觸頭彈跳等〕中各種瞬態(tài)擾動的抗擾性。測試標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-4進(jìn)展。測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備TRANIENT2023，PCEFT原理快速瞬間脈沖群被規(guī)定為：源阻抗50Ω、上升時間與持續(xù)時間為5ns/50ns的單脈沖〔5.2.15KH〔2.5KHz〕15ms,每300ms施加一次的脈沖群〔如圖5.2.2，電壓水平變化的范圍為250V～4KV。90%50%10%5nsec+30%

50nsec+30%PulseRateT5.2.1單脈沖波形圖IncidentIncidentBurst15msec20%300msec+ 20%PossibleICinputVstaircaseduetoBurst.MustnotbesynchedtoACline5.2.2脈沖群規(guī)格電源線耦合網(wǎng)絡(luò)以共模方式通過電容〔相對于地面〕向每一根電源線施加脈LC網(wǎng)絡(luò)去耦。對信號的耦合可以使用容性5.2.3。耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)

瞬態(tài)發(fā)生器 瞬態(tài)發(fā)生器容性耦合夾NL 口 口NE 端EUT 端源電 I

10cm

相關(guān)設(shè)備5.2.3EFT布置簡圖測試水平電壓峰值循環(huán)頻率電壓峰值循環(huán)頻率KVKHzKVKHz10.550.2552150.5532515442.525X指定指定指定指定開路輸出測試電壓〔±10開路輸出測試電壓〔±10，脈沖重復(fù)度〔±20〕電壓水平 電源端口，保護(hù)地端口 信號、數(shù)據(jù)、把握I/O端口X是開放的測試水平，由專用設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)指定。EUT80cm高的一個絕緣桌上，同時，使用1m長的EUT外I/O電纜則需要穿過放置在地平面上方10cm高處的容性耦合夾。設(shè)置和操作如附件一。測試結(jié)果電壓水平SPE檢查標(biāo)準(zhǔn)S/N：S/N：0.25～1.0KV自我恢復(fù)1.0～2.0KV人為干預(yù)或系統(tǒng)2.02.0～4.0KV元器件或設(shè)備不能損壞5.3Surge測試測試目的在電源線和長信號線上可能消滅高能量但相對較慢的瞬態(tài)過電壓現(xiàn)象,它通EUT能夠承受得起規(guī)定水平的瞬態(tài)干擾,而不會消滅故障或者工作狀態(tài)混亂.測試標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-5進(jìn)展.測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備TRANSIENT2023,PCSurge原理I/O端口,EUT中的保護(hù)裝置(假設(shè)沒有保護(hù)裝置,可能發(fā)生閃絡(luò)或元件擊穿),所以測試中使用的浪涌發(fā)生器輸出的是電壓和電流的組合波.發(fā)生器的電路元件值必需加以限制,以使發(fā)生器可以在高阻抗負(fù)載上產(chǎn)生1.2/50μｓ的電壓浪涌波形,以及在8/20μｓ的電流浪涌波形(5.3.1),對EUT施加波形時必需通/去耦網(wǎng)絡(luò)〔5.3.2。VVWaveform1.501.000.500.00T1T2-0.50t(uS)OpenCircuits--T1:1.2uS,T2:50uSShortCircuits--T1:8uS,T2:20uS5.3.1浪涌波形圖去耦網(wǎng)絡(luò)LNE

線對線

18uF電源線

線對地10Ω9uFEUT

I/O接口線關(guān)心設(shè)備

網(wǎng)絡(luò)

浪涌發(fā)生器

40Ω0.5uF轉(zhuǎn)換以供給需要的耦合5.3.2浪涌波形的規(guī)格及其耦合方法測試水平測試水平測試水平1234XX是一個開放指標(biāo),有相應(yīng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)指定1KV:線對線KV0.51.02.04.0指定2KV1KV線對線模式施加于溝通電源輸入端口，對直流輸入端0.5KV。測試方法;I/O線纜,,只是源阻抗稍高一些.2Ω代表電源網(wǎng)絡(luò)的差模源阻抗,12Ω代表線對地的電源網(wǎng)絡(luò)阻抗,42Ω代表全部其他線纜的線對線源阻抗和線對地源阻抗.:10次(5次);重復(fù)率:>1次/min.軟件操作:參見附錄一,相應(yīng)的軟件程式不同。測試結(jié)果EUT:EUT:S/N:S/N：溫度:濕度:輸入電壓:220V工程 測試水平 結(jié)果共模(LTOE)(NTOE)差模(LTOE)0.5KV1KV±2KV0.5KV±1KV備注:1. 15~35C.2. 測試濕度范圍10%~75%5.4PowerDip測試測試目的模擬EUT在供電電源不連續(xù)和中斷的狀況下的抗擾度。測試標(biāo)準(zhǔn)EN61000-4-11進(jìn)展測試；測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備TRANSIENT2023,PC測試原理化導(dǎo)致。在特定狀況下，可能會發(fā)生屢次跌落或中斷。電壓變化則由連接到網(wǎng)絡(luò)上的連續(xù)變化的負(fù)載所導(dǎo)致的。這些現(xiàn)象在本質(zhì)上都是隨機(jī)的。相當(dāng)于向電源網(wǎng)絡(luò)中發(fā)送能量的發(fā)電機(jī)。試格外重要。測試水平1.001.001.000.500.500.000.000.00-0.50-0.50-1.00-1.00-1.50工程標(biāo)準(zhǔn)(%降低率)〔周期〕>95%0.510ms50Hz30%25500ms50Hz>95%2505s50Hz測試次數(shù)測試間隔性能指標(biāo)電壓跌落>3>10sB>3>10sC電壓中斷>3>10sC者存儲數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)變。可以通過把握操作恢復(fù)正常。5.4.15.4.2.圖5.4.1 70%的電壓跌落 >95%的電壓跌落測試方法在SurgePowerDipshort,voltagevariation,Surge，參見附錄一。測試結(jié)果測試工程S/N:S/N:電壓變化5.5Flicker測試測試目的EUT的電壓波動對公共電網(wǎng)的影響程度。測試標(biāo)準(zhǔn)EN61000-3-3測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備Harmonics1000測試原理所帶來的視覺上的不穩(wěn)定性的主觀感受。就EMC而言，這個問題是指由電力網(wǎng)么關(guān)聯(lián)。熱器的設(shè)備。1.相對電壓變化；2.Pst；3.長Plt；電壓變化本身缺乏以形成閃耀的可感知性，在閃耀的頻率變化時，人類的眼腦結(jié)合對閃耀的感覺是變化的。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定Pst不能大于1；標(biāo)準(zhǔn)同時說明，對于2小時，12Pst值，Plt0.65。有效的正值理由是：盡管一般人可以忍受高達(dá)1的Pst值達(dá)10分鐘，但假設(shè)閃耀能持續(xù)更長的時間，則人的過敏閾值會更低。測試方法翻開Harmonics1000電源開關(guān)；Harmonics1000EUT機(jī)臺；EUT輸入信號〔PC，用最大的區(qū)分率運行一段程序Run“；翻開軟件，操作如附錄二；EUTTV為例，一般選“230V5A僅供參考，可以參見機(jī)臺的銘牌標(biāo)示。測試結(jié)果閃耀S/N:S/N:〔附測試報告〕5.6Harmonic測試目的驗證產(chǎn)品設(shè)計成熟度，限制EUT將諧波電流注入到公共電力系統(tǒng).測試標(biāo)準(zhǔn)EN61000-3-2測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備Harmonics1000PC測試原理將電流輸入到設(shè)備的AC電源的諧波重量來源于負(fù)載在單周期輸入電壓上呈〔如導(dǎo)線、變壓〕將產(chǎn)生額外的溫升及絕緣的破壞；當(dāng)它流經(jīng)電容器設(shè)備〔如電力電容器等，將造成電容器過載、跳閘、故障、燒毀，亦會產(chǎn)生諧振，將設(shè)備產(chǎn)生的諧波電流放大，再注入電網(wǎng)，更加大諧波電壓的諧變。2KHz,〔50Hz40次諧波，所以RF測試技術(shù)。根本測量電路如下5.6.1，它的組成包括：一個AC源；一個電流傳感器；一個波形；測量設(shè)備In測量設(shè)備InZsZmLEUTN圖5.6.1根本測量電路AC.諧波失真的要求是:三次諧波0.3%,0.2%,其他各次0.1%.在阻抗Zm0.15峰值.電流傳感器的作用是將諧波電流In耦合到測量儀器,既可以是電流分流器,也可以是電流互感器.波形In,n=2～40.依據(jù)標(biāo)準(zhǔn),最大諧波電流如下表5.6.2.奇次諧波最大允許諧波電流偶次諧波最大允許諧波電流32.3021.0851.1440.4370.7760.3090.408n400.23*8/n110.33130.2115n390.15*15/n5.6.2諧波電流允許值測試方法4.翻開軟件操作如附錄三.測試結(jié)果閃耀S/N:S/N:〔附測試報告〕5.7ConductedImmunity測試測試目的EUT在共模射頻(150kHz～80MHz)傳導(dǎo)下的抗擾度.測試標(biāo)準(zhǔn)EN61000-4-6測試場地BQCEMC試驗室測試設(shè)備傳導(dǎo)抗擾度測試器CDNM3〔CDNM2〕測試原理,所以為允許較低頻率上進(jìn)展傳導(dǎo)抗擾度的測試帶來了越來越大的壓力.EN61000-4-6定義了傳導(dǎo)抗擾度的測試方法.第一,耦合方法.在EN61000-4-6定義的三種耦合方法,最好的方法是通過耦合/去耦(CDN)直接注入電壓,這樣插入損耗為零,因此只需要較小的功率.其次,電纜射頻注入測試要求遠(yuǎn)離EUT的電纜末端上的共模阻抗固定不變.所以,每一種類型的電纜都必需在其遠(yuǎn)端有一個共模去耦網(wǎng)絡(luò)或阻抗穩(wěn)固網(wǎng)絡(luò)(ISN),以確保這一阻抗,并將任何關(guān)心設(shè)備與電纜上的射頻電流影響隔離開,并且,使用該網(wǎng)絡(luò)將射頻電壓耦合到電纜上.第三,,但當(dāng)幾根電纜連接到EUT上時,EUT的真實狀況還值得疑心.所以,這種電壓注入法不太適合按規(guī)定有很多電纜連接到其上的設(shè)備.第四,對傳導(dǎo)抗擾度測試的主要限制條件是頻率.EUT尺寸遠(yuǎn)小于測試頻率的波長時,射頻能量的大局部被暴露在輻射場中的設(shè)備電纜所獲得,因此傳導(dǎo)測試可以反映真實狀況.但隨著頻率的增大,EUT尺寸接近半波長時,則電纜的主,EUT80～230MHz(相應(yīng)設(shè)備尺寸0.6～2m).依據(jù)電磁輻射環(huán)境,1V、3V10V.在設(shè)計的測試中，我們選擇3V1kHz80%深度的幅度調(diào)制.5.7.1:T─50Ω終端阻抗;T2:衰減器PA:功率放大器EUTEUT關(guān)心設(shè)備CDNCDN關(guān)心設(shè)備10cminsulationGroundReferencePlaneNon-ConductedTableTT2屏蔽室RF發(fā)生器PA5.7.1傳導(dǎo)抗擾度的測試環(huán)境布置示意簡圖測試方法將傳導(dǎo)抗擾度測試器預(yù)熱半小時;EUT的電源,CDN〔CDN-M2CDN-M3D-SubPCPC〔保證有圖像和聲音。翻開軟件,操作見附錄四.檢查EUT的畫質(zhì)和音質(zhì)有沒有影響。注:1.5×10-3十倍頻程/1%的步進(jìn)頻率,駐留時間應(yīng)使EUT產(chǎn)生響應(yīng).150kHz～80MHz(230MHz),通過耦合.CDN不適合或不行用時,可選的方法是使用電磁鉗或電流注入探頭(除了電源線除外).測試結(jié)果溫度: 濕度:測試工程測試工程傳導(dǎo)抗擾度S/N:S/N:5.8EMI測試測試目的評估EUT電磁輻射干擾的限值是否符合國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。測試標(biāo)準(zhǔn)EN55022;FCCPart15B;測試場地測試設(shè)備EMI自動測試把握系統(tǒng)〔電腦及其介面單元EMI測試接收機(jī)〔或頻譜；各式天線及天線把握單元；〔LISN〕測試原理在30MHz～1000MHz頻率范圍內(nèi),用帶有準(zhǔn)峰值檢波器的測量接收機(jī)進(jìn)展測量.為了節(jié)約試驗時間,可以用峰值測量替代準(zhǔn)峰值測量,一旦發(fā)生爭議,則以準(zhǔn)峰值測量接收機(jī)的測量結(jié)果為準(zhǔn).天線應(yīng)為一對稱偶極子天線.當(dāng)頻率等于或高于80MHz時,天線的長度應(yīng)為諧;80MHz時,80MHz的諧振頻率。EUT邊框確定遠(yuǎn)的距離處，EUT的邊框系由簡潔幾何構(gòu)型的假想直線確定。ITE系統(tǒng)間的全部電纜及全部連ITE都應(yīng)包括在這一邊框內(nèi)。應(yīng)在地面高度1～4mEUT的方位以查找最大的EUTEUTEUT進(jìn)展測量。在測量的過程中，為了查找最大的場EUT的水平和垂直極化方向。在30～1000MHz頻率范圍應(yīng)通過水平和垂直極化方向的場地衰減測量來檢大于±4dB，則認(rèn)為該場地是可承受的。EUT5.8.1布置，EUT應(yīng)放置在輻射場強試驗場地中非金屬的桌0.8m，其下放有一塊金屬接地平板。測試方法1m4m內(nèi)變化，直到測量儀器獲得最大讀書為止。然后，將被測設(shè)備繞其中心水平旋轉(zhuǎn)，直到測量儀器獲得最大讀數(shù)為止。2m4m變化。斷被測設(shè)備是否符合要求。連續(xù)函數(shù)曲線上；GB4824-2023C的方法。電波暗室〔內(nèi)嵌吸波材料〕3m10m0.8m把握室 EMI接收機(jī) 無線監(jiān)測系統(tǒng) 場強閉路系統(tǒng)訊號產(chǎn)生器及放大器

屏蔽門5.8.1EMIEUT測試布置圖測試限值輻射放射限值：測試標(biāo)準(zhǔn)頻率范圍(MHz)距離場強(Meter)(dBuV/m)30~8840FCCCLASSB>88~216343.5>216~10004630~23030VDECLASSB>230~4701037>470~10004030~23030EN55022CLASSB>230~1000103730~23030VCCICLASS2>230~10001037傳導(dǎo)放射限值：CONDUCTIONFREQUENCYRFVOLTAGERANGE(MHz)(dB/uV)FCCCLASSB0.45~30480.01~0.05110VDECLASSB>0.05~0.1590~80>0.15~30RefertoEN550220.15~0.566~56EN55O22CLASSB>0.5~556>5~30600.15~0.566~56VCCICLASS2>0.5~556>5~30605.88測試結(jié)果測試工程EMI(10m)EMI(3m)S/N:S/N:S/N:S/N:附測試報告：附件一：

EFT&Surge&DipTestProcedureStep1:PoweronthePCandthetestequipmentStep2:ChooseStep2:Choosethe“Genecs”Step3:PressStep3:Press“File”and“Open”Step4:ChooseStep4:ChoosethetestprogramwhichyouwantlikeEFTorSurgeorDipStep5:PressStep5:Press“翻開”Step6:PressStep6:Press“SETUP”Step7:PressStep7:Press“Load”Step10:PressStep10:Pressthe“RUN”tostartthetestStep9:PressStep9:Press“PWR1”thenrunningtheEUTunderthetestmodelStep8:inserttheadapterorthePowerlineintothissocketStep11:PressStep11:Press“OK”Whenthetestcompleted附錄二：FlickerTestProcedureStep1:PoweronthePCandthetestequipment.Step2:Step2:Choosethe“Flicker”Step3:ChooseStep3:Choosethe“Comment”Step4:TypesomeinformationaboutthetestStep6:Step6:choosetheVoltageandCurrentStep5:Step5:Choosethe“Settings”Step8:PressStep8:PressthegreenButton to make thepoweron.andrunningtheEUTunderthetest