射線檢測知識

元素是具有一樣核電荷數(shù)的同一類原子的總稱。原子的質(zhì)量取決于原子核。核素可分為穩(wěn)定和不穩(wěn)定兩類。不穩(wěn)定的核素會自發(fā)蛻變，這種現(xiàn)象稱做放射性衰變。質(zhì)子數(shù)一樣而中子數(shù)不同的同一類元素的不同原子互為同位素。不穩(wěn)定的同位素又稱作放射性同位素。目前射線檢測所用的同位素，均為人工放射性同位素。衰變常數(shù)反映了放射性物質(zhì)的固有屬性。λ值越大，說明該物質(zhì)越不穩(wěn)定，衰變得越快。一種同位素相當(dāng)于多少千伏或兆伏力氣的X射線機(jī)來做一樣的工作，這種關(guān)系叫做同位素的當(dāng)量能。 放射性同位素的當(dāng)量能，總是高于其平均能。放射性同位素有鈷60 銫137 銥192 鐿169 銩170 硒75質(zhì)量數(shù)即相對原子質(zhì)量等于質(zhì)子數(shù)加中子數(shù)。同能量的γX射線具有完全一樣的性質(zhì)。射線與物質(zhì)相互作用時導(dǎo)致其強(qiáng)度減弱，共有四種效應(yīng)即光電效應(yīng)康普頓效應(yīng) 電子對效應(yīng)瑞利散射。康普頓散射的特征是產(chǎn)生反沖電子。光電效應(yīng)的特征是產(chǎn)生光電子。光子是傳遞電磁作用的根本粒子。光電效應(yīng)的發(fā)生幾率隨光子能量增大而削減;隨原子序數(shù)增大而削減。瑞利散射發(fā)生幾率隨光子能量增大而急劇削減。對于低能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，光電效應(yīng)占優(yōu)勢。對于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，電子對效應(yīng)占優(yōu)勢。利散射不轉(zhuǎn)變光子能量，只轉(zhuǎn)變光子的運(yùn)動方向。隨著電磁輻射波長的減小，其頻率和能量增大，穿透物質(zhì)的力氣也增大。X射線照相檢測是很不利的，它造成底片X射線照相檢測中應(yīng)實(shí)行相應(yīng)措施避開康普頓效應(yīng)的影響。在工業(yè)探傷中，使膠片感光的主要是連續(xù)譜X射線，標(biāo)識譜X射線不起什么作用。 γ射線的光譜稱為線狀譜。XXX射線。X射線的穿透力氣取決于千伏值；γ射線的穿透力氣取決于源的種類。XX射線波長不變，強(qiáng)度增加。XX射線波長增大，強(qiáng)度減小。XX射線的強(qiáng)度與管電壓平方成正比。X射線的產(chǎn)生效率與管電壓和靶材料的原子序數(shù)成正比。連X射線的波長與管電壓有關(guān)。X射線的能量與管電壓和管電流均無關(guān)，僅取決于靶材料。射線照相法不適宜摩擦焊和釬焊的檢測。射線照相難以檢出的缺陷是分層和折迭。X射線管的有效焦點(diǎn)總是小于實(shí)際焦點(diǎn)。X射線管中電子的速度越小，則所發(fā)生的射線能量也就越小。要。對于某一同位素放射源，其活度越大，則所發(fā)出的射線強(qiáng)度也越大。γ射線探傷設(shè)備60γ射線探傷機(jī)，137γ192γ75γ射線探傷機(jī)，170γ169γ射線探傷機(jī)。S通道形式。按使用方法可分為便攜式，移動式，固定式和管道爬行器。工業(yè)γ射線探傷主要使用便攜式銥192γ75γ射線探傷機(jī)和移60γ射線探傷機(jī)。在換γ射線源的操作過程中，必需使用γ射線劑量儀表及音響報警儀進(jìn)展監(jiān)測。170γ射線探傷機(jī)和鐿169γ射線探傷機(jī)在輕金屬及薄壁工件的探傷具有優(yōu)勢。合層，感光乳劑層，保護(hù)層。與一般膠片不同，X和黑度。X射線，γ射線的照耀時，在感光乳劑層中會產(chǎn)生眼睛看不到的影像即所謂潛影。此現(xiàn)象稱為潛影衰退。膠片所處的環(huán)境溫度越高，濕度越大，潛影衰退的越厲害。D表示，定義為阻光率的常用對數(shù)值。D1時，意味著透射光強(qiáng)為入射光強(qiáng)的格外之一。SD0GL，最大密度。曝光量的倒數(shù)為感光度。同一膠片對不同能量的射線具有不同的感光度。稱為本底灰霧度。膠片灰霧度包括片基固有密度和化學(xué)灰霧密度兩局部。曲線上某一點(diǎn)切線的斜率表示。梯燥比高的膠片成像質(zhì)量好。寬容度指膠片有效黑度范圍相對應(yīng)的曝光范圍。寬容度大的膠片其梯度必定低。從實(shí)際應(yīng)用的角度來說，射線的能量對膠片特性曲線外形根本上不產(chǎn)生影響。黑度計(jì)又稱光學(xué)密度計(jì)。增感屏包括金屬增感屏，熒光增感屏和金屬熒光增感屏三種。QE0E屬熒光增感屏兼顧二者居中。在常用的100千伏到400千伏 X射線能量范圍內(nèi)，鉛增感屏的增感系數(shù)隨其厚度的增大而削減。X射線，增感系數(shù)隨射線能量的增大而增大，但對γ射線來說則不是這樣，60的增感系數(shù)比銥192低。IQI，也稱透度計(jì)。像質(zhì)計(jì)通常用與被檢工件材質(zhì)一樣或?qū)ι渚€吸取性能相像的材料制作。透照不銹鋼焊縫，可以使用碳素鋼絲像質(zhì)計(jì)。 ，必需使用鈦金屬絲像質(zhì)計(jì)。像質(zhì)計(jì)一般擺放在射線透照區(qū)內(nèi)顯示靈敏度較低部位。曝光量可定義為射線源發(fā)出的射線強(qiáng)度與照耀時間的乘積。X射線來說，曝光量是指管電流IT的乘積。對于γ射線來說，AT的乘積。是指覺察和識別細(xì)小影像的難易程度。寸。相對靈敏度是指該最小缺陷尺寸與射線透照厚度的百分比。像質(zhì)計(jì)靈敏度是指由像質(zhì)計(jì)作為底片影像質(zhì)地監(jiān)測工具而得到的靈敏度。吸取系數(shù)和三維位置的函數(shù)；但像質(zhì)計(jì)靈敏度的提高，表示底片像質(zhì)水平也相應(yīng)提高，因而也能間接地反映出射線照相相對最小自然缺陷檢出力氣的提高。影響射線照相影像質(zhì)量的三要素是：比照度，清楚度，顆粒度。射線照相比照度定義為射線照相底片上某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差。射線照相清楚度定義為射線照相底片上的黑度變化過渡區(qū)域的寬度。用來定量度漲落的客觀量值。比照度的根本因素，膠片比照度可以看作主因比照度的放大系數(shù)。由于不同區(qū)域射線強(qiáng)度存在差異所產(chǎn)生的比照度稱為主因比照度。主因比照度取決于透照厚度差，射線的質(zhì)以及散射比。膠片比照度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數(shù)定量表示。UGUI，兩者共U。使用較低能量的射線可得到較高能的主因比照度。度，增大寬容度。250千伏以上時，就會對底片顆粒度產(chǎn)生明顯影響。射線照相主因比照度與入射線的能譜有關(guān)，與強(qiáng)度無關(guān)。膠片成像的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。比照度，清楚度，顆粒度是打算射線照相靈敏度的三個主要因素。源完全一樣。G有關(guān)。散射線只影響主因比照度，不影響膠片比照度。射線的能量同時影響照相的比照度，清楚度和顆粒度。黑度值范圍。底片只影響比照度，不影響清楚度。底片能夠記錄的影像細(xì)節(jié)的最小尺寸取決于顆粒度。射線照相顆粒度表示影像黑度的不均勻程度。UGUI兩局部。焦點(diǎn)至工件距離是影響幾何不清楚度的緣由之一。膠片比照度與顯影條件有關(guān)。增感屏與膠片未貼緊會增大固有不清楚度。射線照相固有不清楚度可承受鉑-鎢雙絲像質(zhì)計(jì)測定。顆粒度是指均勻曝光的射線底片上影像黑度分布不均勻的視覺印象。能量的下線，以保證足夠的靈敏度為射線能量的上線。具體管電壓數(shù)值主要依據(jù)底片比照度要求而確定，當(dāng)被檢區(qū)域厚度變化較小時，適當(dāng)降低比照度，應(yīng)承受較高管電壓。擇射線能量時加以考慮。K的條件L3。為了削減因照耀場內(nèi)射線強(qiáng)度不均勻比照相質(zhì)量的影響，焦距取大一些為好。距也不能過大。X射線來說曝TγAT的乘積、X射線機(jī)或同一個放射一樣。平方反比定律是指射線強(qiáng)度與距離的平方成反比的規(guī)律。造度和時間的乘積，而與這兩個因素的單獨(dú)作用無關(guān)。度只與總的曝光量有關(guān)，而與照度和時間分別無關(guān)。鉛箔增感和無增感時遵守互易定律當(dāng)承受熒光增感時互易定律失效。曝光曲線的固定條件有射線機(jī) 焦距 膠片型號 增感方式 暗室處理?xiàng)l件 基準(zhǔn)黑度 試件材質(zhì)。曝光曲線的變化參數(shù)有：穿透厚度 曝光量 管電壓。射源是試件本身。常用把握散射線的方法有：1使用鉛箔增感屏，吸取局部前散射線和背散射線；23削減散射源；45用流質(zhì)吸取劑或金屬粉末局部的影響；6承受濾板去除射線中線質(zhì)較軟的局部，削減“邊蝕”效應(yīng)；7削減或去除焊縫余高，降低焊縫部位散射比。散射比與余高的變化關(guān)系是：余高寬度越窄，高度越大，散射比越大。依據(jù)“高靈敏度法的要求300KV 米。所謂“最正確焦距”是指照相幾何不清楚度UG與固有不清楚度UI相等時的焦距值。度可以通過轉(zhuǎn)變曝光量來把握。會產(chǎn)生較大誤差。選擇射線源的首要因素是其對被檢工件應(yīng)有足夠的穿透力。X射線。X射線機(jī)作內(nèi)透中心周向曝光。X射線機(jī)對環(huán)縫作內(nèi)透中心周向曝光時，有利于檢出橫向裂紋，但不利于檢出縱向裂紋。在常規(guī)射線照相檢驗(yàn)中，散射線是無法避開的。增大透照厚度寬容度最常用的方法是適當(dāng)提高射線能量。在實(shí)際工作中正常使用的焦距范圍內(nèi)，可以認(rèn)為焦距對散射比沒有影響。高靈敏度法表示用微粒膠片加金屬箔增感屏低靈敏度法表示用粗粒膠片加金屬箔增感屏膠片手工處理過程可分為顯影停顯定影水洗和枯燥五個步驟。顯影202度46分鐘預(yù)先水，過程中適當(dāng)攪拌停顯1624度0.5分鐘充分?jǐn)嚢瓒ㄓ?624度515分鐘適當(dāng)攪拌水洗3060分鐘流淌水漂洗枯燥40度去除外表水滴后枯燥顯影液的主要成分包括顯影劑保護(hù)劑促進(jìn)劑抑制劑。顯影劑 米吐爾加對苯二酚或菲尼酮加對苯二酚 作用將感光的鹵化銀復(fù)原成金屬銀保護(hù)劑 亞硫酸納 作用阻擋顯影劑與氧發(fā)生作用，使其不被氧化促進(jìn)劑 碳酸鈉硼砂 氫氧化鈉 作用增加顯影劑的顯影力氣和速度抑制劑 溴化鉀苯并三氮唑 作用抑制灰霧的產(chǎn)生。23等。定影液的主要成分包括定影劑保護(hù)劑堅(jiān)膜劑酸性劑。定影劑 硫代硫酸納或硫代硫酸銨 作用與銀離子反響，生成可溶于水的絡(luò)合物，從而把鹵化銀從膠片的乳劑層中除去。保護(hù)劑 亞硫酸納 作用保護(hù)定影劑，防止其在酸性溶液中發(fā)生分解析出硫而失效。堅(jiān)膜劑 硫酸鋁鉀或硫酸硌鉀 作用削減膠片乳劑層吸水膨脹變軟的程度，削減劃傷和藥膜脫落。酸性劑 模酸和硼酸 作用中和膠片帶來的堿性物質(zhì)并防止堅(jiān)膜劑水解。動。顯影時膠片上的鹵化銀被復(fù)原成金屬銀，從而使膠片變黑。定影液有兩個作用，溶解未曝光的鹵化銀和堅(jiān)膜作用。膠片外表藥膜脫落可能是膠片處理溫度過高而引起的。顯影液中假設(shè)過量增加碳酸鈉，在底片上會產(chǎn)生灰霧增大的不良后果。射線底片上產(chǎn)生亮的月牙形痕跡的緣由可能是曝光前使膠片彎曲。射線底片上產(chǎn)生黑的月牙形痕跡的緣由可能是曝光后使膠片彎曲。PH值。一般手工沖洗顯影液不能用于自動洗片機(jī)?，F(xiàn)象。顯影液中的溴化鋰過量會大大抑制對苯二酚的顯影作用。顯影液中促進(jìn)劑的作用是增加顯影劑的顯影力氣和速度。顯影液中抑制劑的主要作用是抑制灰霧。通常對底片的質(zhì)量檢查包括六個工程靈敏度檢查黑度檢查標(biāo)記檢查 陷檢查背散射檢查搭接狀況檢查。射線照相，則應(yīng)對內(nèi)凹燒穿咬邊等外形缺陷評級。轉(zhuǎn)變。一般狀況下，正常人的眼睛大約可以看清直徑0.25毫米的點(diǎn)和0.025毫米的線。底片上消滅寬度不等，有很多斷續(xù)分枝的鋸齒形黑線，它可能是裂紋。沾染了定影液。X射線或γ射線,不能用于中子射線.小劑量或低劑量率輻射不會發(fā)生隨機(jī)性損害效應(yīng).X射線機(jī)和γ射線的防護(hù)角度來說,11希沃特.焦耳每千克是劑量當(dāng)量單位,庫倫每千克是照耀量單位.劑量當(dāng)量的國際單位是希沃特,專用單位是雷姆,1希沃特等于100雷姆.當(dāng)照耀量一樣時,XX射線對人體損害力更大一些.在輻射防護(hù)中,X或γ射線照耀后的吸取劑量和當(dāng)量劑量在數(shù)值上是相等的.吸取劑量的國際單位是戈瑞.輻射防護(hù)三個根本要素是時間防護(hù)距離防護(hù)屏蔽防護(hù).輻射防護(hù)應(yīng)遵循的三個根本原則是輻射實(shí)踐的正值化輻射防護(hù)的最優(yōu)化個人劑量限制.輻射防護(hù)的目的是防止有害確實(shí)定性效應(yīng),限制隨機(jī)性效應(yīng)的發(fā)生率,使之到達(dá)被認(rèn)為可以承受的水平.,電離室式劑量筆,熒光玻璃劑量計(jì),熱釋