超聲波測(cè)厚度_第1頁
超聲波測(cè)厚度_第2頁
超聲波測(cè)厚度_第3頁
超聲波測(cè)厚度_第4頁
超聲波測(cè)厚度_第5頁
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超聲波測(cè)厚度第一頁,共8頁。超聲波在工件中的傳播當(dāng)一個(gè)電脈沖加到用壓電晶體制作的探頭上時(shí),探頭的晶片就會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的振動(dòng),而向被測(cè)試件內(nèi)發(fā)射超聲波,當(dāng)超聲波在工件內(nèi)遇到缺陷或是遇到了分界面時(shí),就服從反射定律反射回來,圖中為工件厚度。

[實(shí)驗(yàn)原理]回波中一部分被探頭接收,立即轉(zhuǎn)變成電脈沖信號(hào),并在熒光屏上顯示為脈沖波。一、超聲波的獲得第二頁,共8頁。那些未被探頭接收的回波,將從上界面反射回底面,又第二次被底面反射回來,形成二次回波。其中又只有一部分被探頭接收,在熒光屏上顯示出脈沖波。以此類推,經(jīng)過多次反射后,在熒光屏上呈現(xiàn)出B1~Bn個(gè)回波、回波圖第三頁,共8頁。二、測(cè)厚原理1、查圖法時(shí)基刻度與厚度關(guān)系曲線(1)制作厚度與時(shí)基刻度關(guān)系曲線第四頁,共8頁。(2)探測(cè)待測(cè)件高度及底孔厚度底孔反射圖第五頁,共8頁。2、計(jì)算法前提:時(shí)基刻度與厚度關(guān)系曲線線性較好第六頁,共8頁。[實(shí)驗(yàn)儀器]標(biāo)準(zhǔn)回波探頭BH-50工作方式,選擇1“收”插座粗調(diào)衰減器細(xì)調(diào)衰減器增益探測(cè)范圍粗調(diào)①探測(cè)范圍微調(diào)(選擇250mm)②脈沖移位聚焦

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