射線照相質(zhì)量的影響因素

射線照相質(zhì)量的影響因素3.1射線照相靈敏度3.1.1射線照相靈敏度評(píng)價(jià)射線照相最重要的指標(biāo)是射線照相靈敏度。所謂射線照相靈敏度，從定量方面來(lái)說(shuō)，是指在射線底片上可以觀察到的最小缺陷尺寸或最小細(xì)節(jié)尺寸，從定性方面來(lái)說(shuō)，是指發(fā)現(xiàn)和識(shí)別細(xì)小影象的難易程度。靈敏度有絕對(duì)與相對(duì)之分，在射線照相底片上所能發(fā)現(xiàn)的沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸稱為絕對(duì)靈敏度。此最小缺陷尺寸與射線透照厚度百分比稱為相對(duì)靈敏度。象質(zhì)計(jì)作為底片影像質(zhì)量的監(jiān)測(cè)工具，由此得到的靈敏度稱為象質(zhì)計(jì)靈敏度。需要注意的是，底片顯示的象質(zhì)計(jì)最小金屬絲直徑（或孔徑、槽深），并不等于工件中所能發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸。即象質(zhì)計(jì)靈敏度并不等于自然缺陷靈敏度。但象質(zhì)計(jì)靈敏度越高，則表示底片影象的質(zhì)量水平越高，因而也能間接地定性反映出射線照相對(duì)最小自然缺陷檢出能力。對(duì)裂紋類方向性很強(qiáng)的平面狀缺陷來(lái)說(shuō),即使透照底片影像質(zhì)量很高，黑度、靈敏度、不清晰度均能符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有時(shí)也有難于檢出甚至檢不出的情況。這是由于射線透照方向與此類缺陷的平面有一定夾角而造成厚度差減小，以至對(duì)比度降低的緣故。要提高對(duì)此類缺陷的檢出靈敏度，必須很好考慮透照方向及其它有助于提高缺陷顯示清晰度和對(duì)比度的措施（如選用適當(dāng)?shù)哪z片、增感屏、透照方式、幾何布置、曝光條件及暗室處理等）。JB4730標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定采用金屬絲透度計(jì)相對(duì)靈敏度S二dminX100% （3.1）TA式中：S—相對(duì)靈敏度百分?jǐn)?shù)d—底片上可識(shí)別的最小線徑minT—透照厚度AJB4730標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的射線照相靈敏度，是用底片上可以識(shí)別的最細(xì)金屬絲直徑或線編號(hào)表示影象質(zhì)量。在給定工件厚度時(shí)，底片可識(shí)別的金屬絲直徑越小,象質(zhì)指數(shù)越大，表示達(dá)到的象質(zhì)水平越高，此時(shí)可識(shí)別最細(xì)金屬絲直徑d或其min對(duì)應(yīng)的最大象質(zhì)計(jì)指數(shù)Z就稱為象質(zhì)計(jì)的絕對(duì)靈敏度。max3.1.2射線照相靈敏度的影響因素射線照相靈敏度是射線底片對(duì)比度（小缺陷或細(xì)節(jié)與其周圍背景的黑度差），不清晰度（影象輪廓邊緣黑度過(guò)渡區(qū)的寬度），顆粒度（影象黑度的不均勻程度）三大要素的綜合結(jié)果。射線照相靈敏度的影響因素可歸納為表3-1。表3-1影響射線照相靈敏度的因素射線照相對(duì)比度ADAD=0,434u.Y-AT/(1+n)射線照相不清晰度UU=（U2+U2）1/2射線照相顆粒度Gr主因?qū)Ρ榷取?/1=卩.AT/（1+n）膠片對(duì)比度Y=AD/AlgE&幾何不清晰度Ug=d丄/Lf2 1固有不清晰度取決于：取決于：取決于：取決于：取決于：a.由缺陷成的透a.膠片類型a.焦點(diǎn)尺寸dfa.射線的線質(zhì)卩a.膠片類型照厚度差厶T（缺陷b.顯影條件（配b.焦點(diǎn)至工件表(或入,KVp,MeV)b.射線的線質(zhì)高度、形狀透照方方、時(shí)間、活度、面距離L1b.增感屏種類卩（或入，向）溫度、攪動(dòng)）c.工件表面至c.屏-片貼緊程度KVp,MeV)b.射線的線質(zhì)卩（或c.底片黑度D膠片距離L2d.膠片銀膠比c.顯影條件（配入，KVp,MeV)（y*d）方、時(shí)間、溫度）c.散射比n=(I/I)3.2射線底片對(duì)比度3.2.1射線底片對(duì)比度把底片某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差稱為底片對(duì)比度，又叫作底片反差。顯然，底片對(duì)比度越大，影象越容易被觀察到和識(shí)別清楚。因此，為檢出較小的缺陷，獲得較高的靈敏度，就必須設(shè)法提高底片對(duì)比度。但在提高對(duì)比度的同時(shí)，也會(huì)產(chǎn)生一些不利后果，例如試件能被檢出的厚度范圍（厚度寬容度）減小，底片上的有效評(píng)定區(qū)域縮小，曝光時(shí)間延長(zhǎng)，檢測(cè)速度下降，檢測(cè)成本增大

3.2.2射線底片對(duì)比度公式射線強(qiáng)度差異是底片產(chǎn)生對(duì)比度的根本原因，所以把AI/I稱為主因?qū)Ρ榷取＃ㄈ鐖D4-3所示） 2二興 （4.2）I1+n式中AI-因試件中存在厚度為AT的缺陷而引起的一次透射射線強(qiáng)度之差（AI=Ip，-Ip）I-無(wú)缺陷處的射線總強(qiáng)度,包括一次透射射線和散射線（1=1+I）；ps口-試件材料的線衰減系數(shù)；AT-缺陷在射線透照方向上的尺寸；n-散射比，散射線強(qiáng)度與一次透射強(qiáng)度之比（n=I/I）。sp需要說(shuō)明的是，公式的導(dǎo)出是從以下三個(gè)假設(shè)為基本前提：1.試件中缺陷厚度相對(duì)于試件厚度來(lái)說(shuō)很?。ˋT<<T）,AT且缺陷中充滿空氣，其衰減系數(shù)忽略不計(jì)。AT2.缺陷的存在不影響到達(dá)膠片的散射量3?缺陷的存在不影響散射比（n=n‘）在大多數(shù)情況下，以上假設(shè)引起的誤差極小因此公式是可以成立的。AD=0.434Y.口.AT/（l+n）此即射線照相對(duì)比度公式3.2.3射線照相對(duì)比度的影響因素射線底片對(duì)比度AD是主因?qū)Ρ榷華I/I和膠片對(duì)比度Y共同作用的結(jié)果，主因?qū)Ρ榷仁菢?gòu)成底片對(duì)比度的根本原因，而膠片對(duì)比度可以看作是主因?qū)Ρ榷鹊姆糯笙禂?shù)（通常這個(gè)系數(shù)為3?6）。1影響主因?qū)Ρ榷鹊囊蛩赜绊懸蛩赜校汉穸炔預(yù)T,衰減系數(shù)，散射比n。AT與缺陷尺寸有關(guān)，某些情況下還與透照方向有關(guān)。對(duì)于試件中具體存在的缺陷，它的幾何尺寸是一定的，但在不同方向上形成的厚度差可能不同,對(duì)于具有方向性的面積型缺陷，如裂紋、未熔合等，透照方向與AT的關(guān)系特別明顯，為提高照相對(duì)比度，就必須考慮選擇適當(dāng)?shù)耐刚辗较蚧蚩刂埔欢ǖ耐刚战嵌?，以求得到較大的AT。例如，為檢出坡口未熔合，往往選擇沿坡口透照方向，為保證裂紋的檢出率,就必須控制射線束與工件表面法線的角度不得過(guò)大。衰減系數(shù)口與試件材質(zhì)和射線能量有關(guān)。在試件材質(zhì)給定的情況下，透照的射線能量越低，線質(zhì)越軟，□值越大，在保證射線穿透力的前提下，選擇能量較低的射線進(jìn)行照相，是增大對(duì)比度的常用方法。減小散射比n可以提高對(duì)比度，因此透照時(shí)就必須采取有效措施控制和屏蔽散射線。2?影響膠片對(duì)比度的因素影響因素有：膠片種類、底片黑度、顯影條件。不同類型的膠片具有不同的襯度。通常，非增感膠片的襯度比增感膠片的襯度大。非增感型膠片中不同種類的膠片有時(shí)襯度也不一樣，要想提高對(duì)比度，可以選擇襯度較大的膠片。膠片襯度隨黑度的增加而增大，為保證對(duì)比度，常對(duì)底片的最小黑度提出限制，為增大對(duì)比度，射線照相底片往往取較大的黑度值。顯影條件的變化可以顯著改變膠片特性曲線的形狀，顯影時(shí)間、溫度以及顯影活度都會(huì)景響膠片的襯度。3.3射線底片清晰度射線底片清晰度是指底片上影像輪廓的明晰程度，通常用其反義術(shù)語(yǔ)“不清晰度”（符號(hào)U）表示。在實(shí)際工業(yè)射線照相中，造成底片影象不清晰有多種原因，如果排除試件或射源移動(dòng)、屏一膠片接觸不良等偶然因素，不考慮使用鹽類增感屏熒光散射引起的屏不清晰度，那么構(gòu)成射線照相不清晰度主要是兩方面因素，即：由于射源有一定尺寸而引起的幾何不清晰度U以及由于電子在膠片乳劑中散射而引起的固g有有清晰度U。i底片上總的不清晰度U是U和U的綜合結(jié)果，U和U、U三者之間的關(guān)系有g(shù)igi多種表達(dá)式，目前比較廣泛采用的關(guān)系表達(dá)式為U=（U2+U2）1/2 （4.4）gi兩者不是簡(jiǎn)單算術(shù)相加，而是由兩者中較大值決定。3.3.1幾何不清晰度U由于X射線管焦點(diǎn)或Y射線源都有一定尺寸，所以透照工件時(shí)，工件表面輪廓或工件中的缺陷在底片上的影象的邊緣會(huì)產(chǎn)生一定寬度的半影，這個(gè)半影的寬度就是幾何不清晰度U,gU=d.b/(F-b) (4.5)gf式中：d-焦點(diǎn)尺寸；F-焦點(diǎn)至膠片距離；fb-缺陷至膠片距離。通常技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的射線照相必須滿足的幾何不清晰度。是指工件中可能產(chǎn)生的最大幾何不清晰度U，相當(dāng)于射線源側(cè)面缺陷或射線源側(cè)放置的象質(zhì)計(jì)金屬絲所產(chǎn)生的幾何不清晰度。U=d.L/(F-L)=d.L/L (4.6)gmaXf2 2f2 1式中：L-焦點(diǎn)至工件表面的距離；L-工件至膠片的距離。12由上式可知，幾何不清晰度與焦點(diǎn)尺寸和工件厚度成正比，而與焦點(diǎn)至工件表面的距離成反比。在焦點(diǎn)尺寸和工件厚度給定的情況下，為獲得較小的U值，g透照時(shí)就需要取較大的焦距F,但由于射線強(qiáng)度與距離平方成反比，如果要保證底片黑度不變，在增大焦距的同時(shí)就必須延長(zhǎng)曝光時(shí)間或提高管電壓，所以對(duì)此要綜合權(quán)衡考慮。使用X射線照相時(shí)，由于透照?qǐng)鲋胁煌恢蒙系慕裹c(diǎn)尺寸不同，陰極一側(cè)的焦點(diǎn)尺寸較大，因此相應(yīng)位置上的幾何不清晰度也較大。實(shí)際上，由于照相場(chǎng)內(nèi)光學(xué)焦點(diǎn)從陰極到陽(yáng)極一側(cè)都是變化的。因此，即使是縱焊縫(平板)照相，底片上各點(diǎn)的U值也是不同的，而環(huán)焊縫(曲面)照相，由于距離、厚度的變化，故g底片上的各點(diǎn)的U值的變化更大，更復(fù)雜。g3.3.2固有不清晰度在理想的、不存在幾何不清晰度和散射線影響和情況下，物體或缺陷影象輪廓由射線能量、膠片和增感屏粒度等因素引起的模糊程度，稱“固有不清晰度”用“U”表示。i固有不清晰度大小就是散射電子在膠片乳劑層中作用的平均距離。假定不存在幾何不清晰度U也不存在散射線I，則底片上的影像邊緣附近gs出現(xiàn)的兩個(gè)黑度(a)和(b)之間的過(guò)渡區(qū)域，就是固有不清晰度U。i固有不清晰度主要取決于射線的能量，U