智能儀器可測(cè)試設(shè)計(jì)方案教學(xué)課件

智能儀器可測(cè)試設(shè)計(jì)方案課件1、合法而穩(wěn)定的權(quán)力在使用得當(dāng)時(shí)很少遇到抵抗。——塞·約翰遜2、權(quán)力會(huì)使人漸漸失去溫厚善良的美德?！?、最大限度地行使權(quán)力總是令人反感；權(quán)力不易確定之處始終存在著危險(xiǎn)?！ぜs翰遜4、權(quán)力會(huì)奴化一切。——塔西佗5、雖然權(quán)力是一頭固執(zhí)的熊，可是金子可以拉著它的鼻子走。——莎士比智能儀器可測(cè)試設(shè)計(jì)方案課件智能儀器可測(cè)試設(shè)計(jì)方案課件1、合法而穩(wěn)定的權(quán)力在使用得當(dāng)時(shí)很少遇到抵抗?！ぜs翰遜2、權(quán)力會(huì)使人漸漸失去溫厚善良的美德。——伯克3、最大限度地行使權(quán)力總是令人反感；權(quán)力不易確定之處始終存在著危險(xiǎn)?！ぜs翰遜4、權(quán)力會(huì)奴化一切?！髻?、雖然權(quán)力是一頭固執(zhí)的熊，可是金子可以拉著它的鼻子走?！勘戎悄軆x器可測(cè)試性設(shè)計(jì)電子科學(xué)與工程學(xué)院2004年6月主要內(nèi)容可測(cè)試性概述固有測(cè)試性設(shè)計(jì)機(jī)內(nèi)自測(cè)試技術(shù)---BIT設(shè)計(jì)實(shí)例可測(cè)試性概述可測(cè)試性與可測(cè)試性設(shè)計(jì)測(cè)試性要求測(cè)試方案可測(cè)試性設(shè)計(jì)優(yōu)點(diǎn)可測(cè)試性概述可測(cè)試性可測(cè)試性（Testability）是指產(chǎn)品能夠及時(shí)準(zhǔn)確地確定其自身狀態(tài)（如可工作，不可工作，性能下降等）和隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性?？煽刂菩?Controllability)可觀測(cè)性(Observability)可預(yù)見(jiàn)性(Predictability)可測(cè)試性概述可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DesignForTestability—DFT)是一種以提高產(chǎn)品測(cè)試性為目的的設(shè)計(jì)方法學(xué)?？蓽y(cè)試性概述測(cè)試性要求在盡可能少地增加硬件和軟件的基礎(chǔ)上，以最少的費(fèi)用使產(chǎn)品獲得所需的測(cè)試能力，簡(jiǎn)便、迅速、準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)檢測(cè)和診斷?？蓽y(cè)試性概述可測(cè)試性設(shè)計(jì)優(yōu)點(diǎn)1．提高故障檢測(cè)的覆蓋率；2．縮短儀器的測(cè)試時(shí)間；3．可以對(duì)儀器進(jìn)行層次化的逐級(jí)測(cè)試4．降低儀器的維護(hù)費(fèi)用?？蓽y(cè)試性設(shè)計(jì)缺點(diǎn)1．額外的軟/硬件成本；2．系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)間增加。固有測(cè)試性設(shè)計(jì)總體設(shè)計(jì)通用設(shè)計(jì)準(zhǔn)則固有測(cè)試性是指僅取決于產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)，不依賴于測(cè)試激勵(lì)和響應(yīng)數(shù)據(jù)的測(cè)試性。它包括功能和結(jié)構(gòu)的合理劃分、測(cè)試可控性和可觀測(cè)性、初始化、元器件選用以及與測(cè)試設(shè)備兼容性等，即在系統(tǒng)和設(shè)備硬件設(shè)計(jì)上要保證其有方便測(cè)試的特性。它既支持BIT，也支持外部測(cè)試,固有測(cè)試性既有利于BIT，也支持外部測(cè)試設(shè)備，是滿足測(cè)試性要求的基礎(chǔ)。因此在測(cè)試性設(shè)計(jì)中，應(yīng)盡早進(jìn)行固有測(cè)試性的分析與設(shè)計(jì)，避免返工和浪費(fèi)。固有測(cè)試性設(shè)計(jì)總體設(shè)計(jì)

模塊劃分功能和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)元器件選擇固有測(cè)試性設(shè)計(jì)通用設(shè)計(jì)準(zhǔn)則

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)功能劃分模擬電路設(shè)計(jì)數(shù)字電路設(shè)計(jì)傳感器電路設(shè)計(jì)光電電路設(shè)計(jì)機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)--BITBIT簡(jiǎn)介常規(guī)BIT技術(shù)智能BIT技術(shù)BIT簡(jiǎn)介BIT的由來(lái)

傳統(tǒng)的測(cè)試主要是利用外部的測(cè)試儀器（ETE）對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，ATE是ETE的自動(dòng)化產(chǎn)物。由于ATE費(fèi)用高、種類(lèi)多、操作復(fù)雜、人員培訓(xùn)困難，而且只能離線檢測(cè)，隨著復(fù)雜系統(tǒng)維修性要求的提高，迫切需要復(fù)雜系統(tǒng)本身具備檢測(cè)、隔離故障的能力以縮短維修時(shí)間。所以，BIT在測(cè)試研究當(dāng)中占據(jù)了越來(lái)越重要的地位，成為維修性、測(cè)試性領(lǐng)域的重要研究?jī)?nèi)容。在測(cè)試性研究中，BIT技術(shù)應(yīng)用范圍越來(lái)越廣，正發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。BIT簡(jiǎn)介BIT的定義定義1：BIT是指系統(tǒng)、設(shè)備內(nèi)部提供的檢測(cè)、隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力。定義2：BIT的含義是：系統(tǒng)主裝備不用外部測(cè)試設(shè)備就能完成對(duì)系統(tǒng)、分系統(tǒng)或設(shè)備的功能檢查、故障診斷與隔離以及性能測(cè)試，它是聯(lián)機(jī)檢測(cè)技術(shù)的新發(fā)展。常規(guī)BIT技術(shù)通用BIT技術(shù)BIT通用設(shè)計(jì)性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則BIT測(cè)試點(diǎn)的選擇與配置常規(guī)BIT技術(shù)數(shù)字BIT技術(shù)板內(nèi)ROM式BIT微處理器BIT微診斷法內(nèi)置邏輯塊觀察法邊界掃描BIT常規(guī)BIT技術(shù)板內(nèi)ROM式BIT板內(nèi)只讀存儲(chǔ)器(on—boardROM)實(shí)現(xiàn)的機(jī)內(nèi)測(cè)試是一種由硬件和固件實(shí)現(xiàn)的非并行式BIT技術(shù)。該技術(shù)包括：將存儲(chǔ)在ROM中的測(cè)試模式施加到被測(cè)電路CUT中，然后將CUT的響應(yīng)與期望的正常響應(yīng)GMR對(duì)比，據(jù)此給出測(cè)試“通過(guò)/不通過(guò)(GO/NOGO)”輸出信號(hào)。常規(guī)BIT技術(shù)微處理器BIT微處理器BIT是使用功能故障模型來(lái)實(shí)現(xiàn)的，該模型可以對(duì)微處理器進(jìn)行全面有效的測(cè)試。該方法可能會(huì)需要額外的測(cè)試程序存儲(chǔ)器。此外，由于被測(cè)電路的類(lèi)型不同，還可能需要使用外部測(cè)試模塊。該外部測(cè)試模塊是一個(gè)由中央處理單元CPU控制的電路，用于控制和初始化位于微處理器模塊內(nèi)的外圍控制器件。常規(guī)BIT技術(shù)微診斷法

微診斷法是一種在微代碼級(jí)別上進(jìn)行微程序設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的診斷BIT技術(shù)。與運(yùn)行在RAM或者ROM中的應(yīng)用軟件級(jí)別的BIT相比，該BIT不需要硬件增強(qiáng)途徑，僅在微代碼級(jí)別執(zhí)行就可以對(duì)硬件和軟件進(jìn)行測(cè)試。常規(guī)BIT技術(shù)內(nèi)置邏輯塊觀察法內(nèi)置邏輯塊觀察器(BILBO)是一個(gè)多功能電路，通過(guò)2個(gè)工作方式控制位可以實(shí)現(xiàn)4種不同的功能配置：●鎖存器●移位寄存器●多輸入信號(hào)特征寄存器(MISR)或者偽隨機(jī)模式發(fā)生器(PRPG)；●復(fù)位BILBO。作為測(cè)試復(fù)雜數(shù)字電路的有效方法，通過(guò)使用偽隨機(jī)模式發(fā)生器PRPG和多輸入信號(hào)特征寄存器MISR,BILBO,可以進(jìn)行信號(hào)特征分析。常規(guī)BIT技術(shù)邊界掃描測(cè)試技術(shù)邊界掃描技術(shù)是一種擴(kuò)展的BIT技術(shù)。它在測(cè)試時(shí)不需要其他的輔助電路，不僅可以測(cè)試芯片或者PCB的邏輯功能，還可以測(cè)試IC之間或者PCB之間的連接是否存在故障。邊界掃描技術(shù)已經(jīng)成為VLSI芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)的主流，IEEE也已于1990年確定了有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，即IEEE1149．1。邊界掃描的原理框圖常規(guī)BIT技術(shù)模擬BIT技術(shù)比較器BIT在硬件設(shè)計(jì)中加入比較器，可以很容易地實(shí)現(xiàn)多種不同功能的BIT電路。在具體實(shí)現(xiàn)時(shí)，通常都是將激勵(lì)施加到被測(cè)電路CUT上，然后將CUT的輸出連同參考信號(hào)送人比較器中；CUT的輸出與參考信號(hào)進(jìn)行比較之后，比較器輸出通過(guò)／不通過(guò)信號(hào)。在某些應(yīng)用中，CUT的輸出必須經(jīng)過(guò)額外的信號(hào)處理電路進(jìn)行處理之后才能接到比較器上。常規(guī)BIT技術(shù)模擬BIT技術(shù)電壓求和BIT電壓求和是一種并行模擬BIT技術(shù)。它使用運(yùn)算放大器將多個(gè)電壓電平疊加起來(lái)，然后將求和結(jié)果反饋到窗口比較器并與參考信號(hào)相比較，再根據(jù)比較器的輸出生成通過(guò)／不通過(guò)信號(hào)。這種技術(shù)特別適用于監(jiān)測(cè)一組電源的供電電壓。智能BIT技術(shù)出現(xiàn)動(dòng)因常規(guī)BIT技術(shù)在應(yīng)用中存在著諸多問(wèn)題，歸納起來(lái)主要有以下兩個(gè)方面功能相對(duì)簡(jiǎn)單，診斷技術(shù)單一，診斷能力差；虛警率高；智能BIT技術(shù)主要研究?jī)?nèi)容BIT智能設(shè)計(jì)BIT智能檢測(cè)BIT智能診斷BIT智能決策第四節(jié)可測(cè)試性設(shè)計(jì)實(shí)例RAM測(cè)試設(shè)計(jì)A/D,D/A測(cè)試26、要使整個(gè)人生都過(guò)得舒適、愉快，這是不可能的，因?yàn)槿祟?lèi)必須具備一種能應(yīng)付逆境的態(tài)度。