晶體光學(xué)與造巖礦物智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下長安大學(xué)

晶體光學(xué)與造巖礦物智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下長安大學(xué)長安大學(xué)

第一章測試

偏光可以是白光，也可以是單色光。

A:錯(cuò)B:對

答案:對

折射率與速度成正比。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

折射率與臨界角成反比。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

低級晶族的礦物都是二軸晶的礦物。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

光軸就是一條直線。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

第二章測試

二軸晶光率體的形態(tài)為：

A:圓球體B:圓C:旋轉(zhuǎn)橢球體D:三軸不等橢球體

答案:三軸不等橢球體

對于一軸晶來說，光軸就是：

A:NoB:b軸

C:a軸D:Ne

答案:Ne

光軸面的法線方向是下列那個(gè)主軸的方向：

A:NmB:NoC:NPD:Ng

答案:Nm

二軸晶垂直光軸的切面是：

A:三角形切面B:正方形切面C:橢圓切面D:圓切面

答案:圓切面

二軸晶平行光軸面的切面，兩個(gè)主折射率是

A:Nm-Np

B:Ng-NPC:Ne-NoD:Ng-Nm

答案:Ng-NP

第三章測試

偏光顯微鏡使用10倍的目鏡，10倍的物鏡，那么總的放大倍數(shù)為

A:10B:1000C:100D:20

答案:100

偏光顯微鏡的工作距離是指()之間的距離

A:物鏡前端與目鏡前端B:目鏡前端與載物臺C:目鏡前端與薄片D:物鏡前端與薄片

答案:物鏡前端與薄片

偏光顯微鏡高倍物鏡視域直徑的測量應(yīng)選用

A:帶刻度的方格紙B:帶刻度的鋼尺C:帶刻度的透明尺

D:載物臺測微尺

答案:載物臺測微尺

偏光顯微鏡中心不正是指（）不在一條直線上

A:載物臺中軸、物鏡中軸、目鏡旋轉(zhuǎn)軸B:載物臺旋轉(zhuǎn)軸、物鏡中軸、目鏡中軸C:載物臺旋轉(zhuǎn)軸、物鏡旋轉(zhuǎn)軸、目鏡中軸D:載物臺中軸、物鏡旋轉(zhuǎn)軸、目鏡中軸

答案:載物臺旋轉(zhuǎn)軸、物鏡中軸、目鏡中軸

光薄片相較巖石薄片缺少()

A:礦片B:蓋玻片C:載玻片D:樹膠

答案:蓋玻片

第五章測試

能夠出現(xiàn)四次消光的切面是：

A:光性均質(zhì)體任意切面B:光性非均質(zhì)體垂直光軸的切面C:光性非均質(zhì)體斜交光軸的切面D:光性非均質(zhì)體平行光軸或光軸面的切面

答案:光性非均質(zhì)體斜交光軸的切面;光性非均質(zhì)體平行光軸或光軸面的切面

下面哪個(gè)切面干涉色最高

A:垂直光軸的切面B:平行光軸面的切面C:斜交光軸的切面D:平行光軸的切面

答案:平行光軸面的切面;平行光軸的切面

消光現(xiàn)象分為

A:全消光B:對稱消光C:斜消光D:平行消光

E:不消光F:四次消光

答案:全消光;不消光;四次消光

消光類型分為

A:平行消光B:不消光

C:全消光D:斜消光E:四次消光

F:對稱消光

答案:平行消光;斜消光;對稱消光

微斜長石的格子雙晶，屬于下列哪種雙晶類型

A:復(fù)式雙晶B:簡單雙晶C:聚片雙晶

D:復(fù)合雙晶

答案:復(fù)式雙晶;復(fù)合雙晶

第六章測試

下面對一軸晶垂直光軸切面干涉圖描述正確的是

A:在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，以黑十字中心為中心的同心圓切線方向?yàn)镹o方向B:在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，由黑十字中心向外的放射性方向?yàn)镹e方向C:在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，以黑十字中心為中心的同心圓切線方向?yàn)镹e方向D:在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，由黑十字中心向外的放射性方向?yàn)镹o方向

答案:在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，以黑十字中心為中心的同心圓切線方向?yàn)镹o方向;在一軸晶垂直光軸切面干涉圖中，由黑十字中心向外的放射性方向?yàn)镹e方向

對于一軸晶斜交光軸切面干涉圖來說

A:一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較小時(shí)，視域里只看見一條黑帶B:一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較大時(shí)，視域里只看見一條黑帶C:一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較大時(shí)，視域里可以看見黑十字D:一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較小時(shí)，視域里可以看見黑十字

答案:一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較大時(shí)，視域里只看見一條黑帶;一軸晶斜交光軸切面干涉圖當(dāng)光軸傾角較小時(shí)，視域里可以看見黑十字

對于二軸晶⊥Bxa切面干涉圖來說

A:二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，兩彎曲黑帶頂點(diǎn)為光軸出漏點(diǎn)B:二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在0°位時(shí)為一個(gè)黑十字C:二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，通過兩彎曲黑帶頂點(diǎn)之間的直線代表光軸面D:二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，視域中心為Bxa出露點(diǎn)

答案:二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，兩彎曲黑帶頂點(diǎn)為光軸出漏點(diǎn);二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在0°位時(shí)為一個(gè)黑十字;二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，通過兩彎曲黑帶頂點(diǎn)之間的直線代表光軸面;二軸晶⊥Bxa切面干涉圖在45°位時(shí)，視域中心為Bxa出露點(diǎn)

下面對二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖描述正確的是

A:二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖在45°位時(shí)，光軸位于視域中心B:二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖在0°位時(shí)為一個(gè)黑十字。C:二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖在45°位時(shí)，為彎曲黑帶D:二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖相當(dāng)于垂直Bxa切面干涉圖的一半

答案:二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖在45°位時(shí)，光軸位于視域中心;二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖在45°位時(shí)，為彎曲黑帶;二軸晶垂直一個(gè)光軸切面干涉圖相當(dāng)于垂直Bxa切面干涉圖的一半

對于二軸晶礦物來說，可以估測2V大小的切面是

A:⊥Bxa切面B:⊥Bxo切面C:⊥OA切面D:平行OA切面

答案:⊥Bxa切面;⊥OA切面

第七章測試

橄欖石屬于（）硅酸鹽。

A:雙鏈狀B:層狀C:單鏈狀D:島狀

答案:島狀

角閃石屬于（）硅酸鹽

A:層狀B:單鏈狀C:雙鏈