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壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第1壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第1頁共29頁一般要求:主題內(nèi)容與適用范圍方法和質(zhì)量分級(jí),檢測(cè)工藝和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)鋼板、全焊透熔化焊對(duì)接接頭和管座角接接頭及鍛件的超聲波檢測(cè)。標(biāo)準(zhǔn)的要求編寫。符合《壓力管道安全治理與監(jiān)察規(guī)定》的要求。UTII級(jí)人員按圖樣規(guī)定、依據(jù)托付單和本規(guī)程的要求編寫。其參數(shù)規(guī)定的更具體。檢測(cè)人員資格:規(guī)章》的要求取得相應(yīng)的無損檢測(cè)資格。級(jí)以上的資格證書,并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。引用標(biāo)準(zhǔn):JB/T4730〔不包括訂正的內(nèi)容或均不適用于本局部。然而,鼓舞依據(jù)本局部達(dá)成協(xié)議的各方爭(zhēng)論是否可使用這些文件的最版本。但凡不注日期的引用文件,其最版本適用于本局部。JB/T4730.1 承壓設(shè)備無損檢測(cè)第一局部:通用要求JB/T7913-1995 超聲波檢測(cè)用鋼制比照試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214-1999 測(cè)試方法JB/T10061-1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062-1999 超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法JB/T10063-1999 1探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能探傷儀ACTS-22CTS-26QKS-958數(shù)字式超聲波探傷儀。0.5MHz-10MHz80%80dB2dB,12dB的誤差在±1dB1dB。水平線性誤1%5%JB/T10061的規(guī)定。探頭25㎜。的雙峰。探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能10dB。10%。儀器和直探頭組合的始脈沖寬度〔在基準(zhǔn)靈敏度下5MHz102.5MHz的探頭,寬度≧15㎜。30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)分力應(yīng)≦6dB。探傷議和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)展測(cè)試。超聲波檢測(cè)一般方法檢測(cè)前預(yù)備;超聲波檢測(cè)的時(shí)機(jī)及抽檢率等應(yīng)按《壓力管道標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)管道》GB/T20801-2023及設(shè)計(jì)要求執(zhí)行。所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件受檢局部均能得到充分檢查。飛濺和污物,其外表粗糙度應(yīng)滿足檢測(cè)要求。外表不規(guī)章狀態(tài)不得影響檢測(cè)的正確性和完整性,否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚?。掃查掩蓋率:15%。150mm/s。掃查靈敏度:掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。靈敏度補(bǔ)償:償。量誤差進(jìn)展補(bǔ)償。塊,通過比照試驗(yàn)進(jìn)展曲率補(bǔ)償。一般要求:面,以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。JB/T10061的規(guī)定執(zhí)行。JB/T10062的規(guī)定進(jìn)展,并滿足其要求。檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定:K值和主聲束偏離,調(diào)整或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。調(diào)整或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。檢測(cè)過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述狀況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)展復(fù)核:校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)整旋鈕發(fā)生變化時(shí);檢測(cè)人員疑心掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí);4h以上時(shí);工作完畢時(shí)。檢測(cè)完畢前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核復(fù)檢。2dB,則應(yīng)對(duì)全部的記錄信號(hào)進(jìn)展重評(píng)定。校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)留意事項(xiàng)〔如抑制或?yàn)V波開關(guān)等〕都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊本局部承受的試塊有:鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CBI、CBⅡ;鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSI、CSⅡ、CSⅢ;焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA;探頭檢測(cè)時(shí),不得有≥φ2㎜平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本局部的要求,并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。標(biāo)準(zhǔn)試塊的其它制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定比照試塊比照試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。大厚度來確定。比照試塊反射體的外形、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本局部的規(guī)定。承壓設(shè)備用鋼板超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)范圍和質(zhì)量分級(jí)。探頭選用探頭選用應(yīng)按表一的規(guī)定執(zhí)行。A〔標(biāo)準(zhǔn)性附錄〕的要求。1.承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)探頭選用6~20雙晶直探頭5晶片面積≦150mm2>20~40單晶直探頭5φ14mm—φ20mm>40~250單晶直探頭2.5φ20mm—φ25mm8.3.壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)版本號(hào):02修訂號(hào):00第6頁 共29頁板 厚 mm采用探頭公稱頻率MHz壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)版本號(hào):02修訂號(hào):00第6頁 共29頁板 厚 mm采用探頭公稱頻率MHz探頭晶片尺寸用單晶直探頭檢測(cè)厚度>20mm的鋼板時(shí)CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2探頭進(jìn)展檢測(cè)。表2CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度TCBⅡ-1>20-4015≥20CBⅡ-2>40-6030≥40CBⅡ-3>60-10050≥65CBⅡ-4>100-16090≥110CBⅡ-5>160-200140≥170CBⅡ-6>200-250190≥220基準(zhǔn)靈敏度板厚不大于20mm時(shí),用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到50%10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。板厚大于20mm時(shí),應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻50%作為基準(zhǔn)靈敏度。板厚不小于探頭的38.4.2.的要求相全都。檢測(cè)方法檢測(cè)面壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第10壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第10頁共29頁可選用鋼板的上、下扎制外表分別進(jìn)展檢測(cè)。耦合方式耦合方式可承受直接接觸法或液浸法。掃查方式100mm50mm〔100mm〕內(nèi)應(yīng)作100%掃查,3。依據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求,也可承受其它形式的掃查。缺陷的測(cè)定和記錄在檢測(cè)過程中,覺察以下狀況之一即作為缺陷:缺陷第一次反射波〔F〕波高大于或等于滿刻度的50%,即F≥50%。1 1〔B〔F〕1 1波高與底面第一次反射波〔B〕波高之比大于或等于50%,即B<100%,而F/B≥50%。1 1 1 1底面第一次反射波〔B〕50%,B<50%。1 1缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法檢出缺陷后,應(yīng)在它的四周連續(xù)進(jìn)展檢測(cè),以確定缺陷的范圍。25%或使缺陷50%。此時(shí),探頭中心的移動(dòng)距離即用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí),移動(dòng)探頭使缺陷第一次反25%或使缺陷第一次反射波波高與底頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)峻者為準(zhǔn)?;螂p晶直探頭〕50%。此時(shí),探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。敏度應(yīng)以相應(yīng)的其次次反射波來校準(zhǔn)。缺陷的評(píng)定方法缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)章40mm單個(gè)缺陷的指示面積的評(píng)定規(guī)章一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。100mm〔取其較大值〕時(shí),以各個(gè)缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷面積。指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)章1m×1m1m×1m,可按比例折算。鋼板質(zhì)量分級(jí)鋼板質(zhì)量分級(jí)見表3。50mmV級(jí)。表3 鋼板質(zhì)量分級(jí)單個(gè)缺陷單個(gè)缺陷1m×1m以下單個(gè)缺陷等級(jí)指示長(zhǎng)度指示長(zhǎng)度缺陷面積百分比指示面積不計(jì)mmcm2%cm2Ⅰ<80<25≤3<9Ⅱ<100<50≤5<15Ⅲ<120<100≤10<25Ⅳ<150<100≤10<25Ⅴ超過Ⅳ級(jí)者V級(jí)。橫波檢測(cè)測(cè)。JB/T4730-2023B〔標(biāo)準(zhǔn)性附錄〕進(jìn)展。承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)范圍本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。探頭5MHz2MHz~5MHz,探頭晶片一般為φ14mm~φ25mm。試塊 應(yīng)符合7.的規(guī)定。單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊承受CSI試塊,其外形和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。如確有需要也可承受其它形式的比照試塊。雙晶直探頭試塊試塊序號(hào)CSⅡ-1CSⅡ-2CSⅡ-3試塊序號(hào)CSⅡ-1CSⅡ-2CSⅡ-3CSⅡ-4孔徑φφφφ檢測(cè)距離L12345678951015202530354545工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí),應(yīng)承受CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí),應(yīng)承受CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。CSII54CSⅢ標(biāo)準(zhǔn)試塊來測(cè)定由于曲率不同引起的聲能損6所示。檢測(cè)時(shí)機(jī)檢測(cè)原則上應(yīng)安排在熱處理后,孔、臺(tái)等構(gòu)造機(jī)加工前進(jìn)展,檢測(cè)面的外表粗糙度Re≤6.3μm。檢測(cè)方法一般原則鍛件應(yīng)進(jìn)展縱波檢測(cè),對(duì)筒型和環(huán)型鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)??v波檢測(cè)7鍛件厚度超過400mm時(shí),應(yīng)從相對(duì)兩端進(jìn)展100%掃查。橫波檢測(cè)鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4730-2023附錄C〔標(biāo)準(zhǔn)性附錄〕的要求進(jìn)展。靈敏度確實(shí)定單直探頭根本靈敏度確實(shí)定33CSI雙晶直探頭根本靈敏度確實(shí)定φ3mm〔3。調(diào)整衰減器,作出雙晶直探頭的距離--波幅曲線,并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定1 儀器使第一次底面回波幅度〔BB〕50%1 〔B2
B〕為滿刻m50%,兩次調(diào)整衰減器讀數(shù)之差即為B〕或B〕的dB〔不考慮底面反射損失。
1 2 n m衰減系數(shù)〔T<3N,且滿足n>3N/T,m=2n=按式〔1〕計(jì)算:α=[〔B-B〕-6]/2〔m-n〕T ??〔1〕n m式中:α-衰減系數(shù),dB/m〔單程;〔B-B〕-兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB;n mT-工件檢測(cè)厚度,mm;,mm;m、n-底波反射次數(shù)。衰減系數(shù)〔T≥3N〕按式〔2〕計(jì)算α=[〔B-B〕-6]/2T ??〔2〕1 2式中:〔B-B〕-兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB;1 2其余符號(hào)意義同式〔1。工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。缺陷當(dāng)量確實(shí)定3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷,可承受單直探頭或雙晶直探頭的距離-波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量,也可承受其它等效方法來確定。4dB,應(yīng)考慮修正。缺陷記錄記錄缺陷當(dāng)量直徑超過φ4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。密集區(qū)缺陷:記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。50mm×50mm6dB6的要求記錄。表5 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí) dB等級(jí)等級(jí)ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF≤8>8~14>14~20>20~26>26注:本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷衰減系數(shù)質(zhì)量分級(jí)等級(jí)評(píng)定單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見表6。缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)見表5。缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級(jí)見表7。567的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。6等級(jí)Ⅰ單個(gè)Ⅱ缺陷的質(zhì)量Ⅲ分級(jí)mmⅣⅤ缺陷當(dāng)量直徑≤φ4φ4+〔>0dB-8dB〕φ4+〔>8Db-12dB〕φ4+〔>12Db-16dB〕>φ4+16dB等級(jí)密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的%Ⅰ0等級(jí)密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的%Ⅰ0Ⅱ>0-5Ⅲ>5-10Ⅳ>10-20Ⅴ>20V級(jí)。鋼制承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。本條適用于母材厚度為8mm-120mm全熔化焊對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)。母6mm-8mm全熔化焊對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4703-2023G〔標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定進(jìn)展。承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和構(gòu)造件焊接接頭的超聲波檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)展。如確有需要,壁厚為4mm-6mm的環(huán)向?qū)咏宇^的超聲波檢測(cè)可參照J(rèn)B/T4730.3-2023標(biāo)準(zhǔn),6.1進(jìn)展。本條不適用于鑄鋼件對(duì)接接頭、外徑小于159mm徑小于200mm250mm或內(nèi)外徑之比80%的縱向?qū)咏宇^超聲波檢測(cè)。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的要求“A”級(jí)僅適用于母材厚度為8mm-46mmK進(jìn)展橫向缺陷的檢測(cè)?!癇”級(jí)檢測(cè):8mm-46mmK法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)展檢測(cè)。46mm120mmKK應(yīng)進(jìn)展橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí),可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接12。如焊接接頭余高磨平,探頭13?!癈”級(jí)檢測(cè)JB/T4730.3-20235.1.4.4。母材厚度為8mm-46mm時(shí),一般用兩種K值探頭承受直射波法和一次反射波45°。46mm120mmK10°5°的窄間隙焊縫,如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口外表平行缺陷的有效檢測(cè)方法。13。試塊JB/T4730.3-20233.5的規(guī)定。承受的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。其外形和141516178的規(guī)定。CSK-IA、CSK-ⅡACSK-ⅢA6mm-120mm的焊接120mm-400mm可承受其他型式的等效試塊。壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第18壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第18頁共29頁8CSK-IV被檢工件厚度CSK-IVATmmbdNo.1>120-150135T/4、T/26.4〔1/4in〕No.2>150-200175T/4、T/27.9〔5/16in〕No.3>200-250225T/4、T/29.5〔3/8in〕No.4>250-300275T/4、T/211.1〔7/16in〕No.5>300-350325T/4、T/212.7〔1/2in〕No.6>350-400375T/4、T/214.3〔9/16in〕環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為寬度,縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度b一般應(yīng)滿足:b≥2λS/D????????????〔3〕0式中: b-試塊寬度,mm; λ-超聲波波長(zhǎng),mm;S-聲程,mm; D-聲源有效直徑,mm。0壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第19壓力管道安裝程序文件文件編號(hào):ZS-GY-06版本號(hào):02管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)第19頁共29頁檢測(cè)預(yù)備檢測(cè)面30%的一段10mm,18。Re6.3μm,一般應(yīng)進(jìn)展打磨。1.25P:P=2TK??????????????〔4〕或P=2Ttanβ????????????〔5〕式中:P-跨距,mm;T-母材厚度,mm;K-Kβ〔°承受直反射法檢測(cè)時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P。的評(píng)定。K值〔角度〕T,mm6~25>25~46>46~120>120~400K3.0-2.0〔72°~60°〕2.5-1.5〔68°~56°〕2.0-1.0〔60°~45°〕2.0-1.0〔60°~45°〕T,mm6~25>25~46>46~120>120~400K3.0-2.0〔72°~60°〕2.5-1.5〔68°~56°〕2.0-1.0〔60°~45°〕2.0-1.0〔60°~45°〕檢測(cè)頻率檢測(cè)瀕率一般為2MHz-5MHz。母材的檢測(cè)材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下:檢測(cè)方法:接觸式脈沖反射法,承受頻率2MHz-5MHz的直探頭,晶片直徑10mm-25mm。檢測(cè)靈敏度:將無缺陷處其次次底波調(diào)整為熒光屏滿刻度的100%。20%予以記錄。-波幅曲線的繪制距離-族由評(píng)定線、定量線、判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間〔包括評(píng)定線〕為I區(qū),定量線與判廢線之間〔包括定量線〕10所示。20%。-波幅曲線的靈敏度選擇壁厚為6mm-120mm的焊接接頭,其距離-波幅曲線靈敏度按表10的規(guī)定。壁厚為6mm-120mm的焊接接頭,其距離-波幅曲線靈敏度按表10的規(guī)定。檢測(cè)橫向缺陷時(shí)應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。試塊上進(jìn)展。工件的外表耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊一樣,否則應(yīng)按JB/T4730-2023附錄F〔標(biāo)準(zhǔn)性附錄〕的規(guī)定進(jìn)展傳輸損失補(bǔ)償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等2dB掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。試塊型式板厚 mmCSK-IIA試塊型式板厚 mmCSK-IIACSK-IIIA6-46>46-1208-15>15-46>46-120評(píng)定線φ2×40-18dBφ2×40-14dBφ1×6-12dBφ1×6-9dBφ1×6-6dB定量線φ2×40-12dBφ2×40-8dBφ1×6-6dBφ1×6-3dBφ1×6dB判廢線φ2×40-4dBφ2×40+2dBφ1×+2dBφ1×+5dBφ1×+10dB檢測(cè)方法平板對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)為檢測(cè)縱向缺陷,斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上,作鋸齒型掃的左右移動(dòng),不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)縱向缺陷的10.2.。不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)橫向缺陷的檢測(cè)要求見10.2.。對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。21。曲面工件〔500mm〕對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)幾何外形限制,無法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄??v縫檢測(cè)時(shí),比照試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。K束能掃查到整個(gè)焊接接頭。K定。離弧長(zhǎng)的差異,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)展修正。環(huán)縫檢測(cè)時(shí),比照試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.9-1.5倍。管座角焊縫的檢測(cè)一般原則焊接接頭構(gòu)造的主要缺陷。檢測(cè)方式件的限制。在接收內(nèi)壁承受直探頭檢測(cè),見圖22位置1。1。在容器內(nèi)壁承受斜探頭檢測(cè),224。在接收外壁承受斜探頭檢測(cè),見圖23位置2。223233。在容器外壁承受斜探頭檢測(cè),見圖22位置2。〔c〕內(nèi)容。探頭頻率、尺寸應(yīng)按JB/T4730-202345.1.410的規(guī)定,直探頭的距離-波幅曲線靈敏度按表JB/T4730.3-20235.1.5.1。評(píng)定線評(píng)定線定量線判廢線T型焊接接頭的超聲檢測(cè)適用范圍TT根本原則類焊接接頭構(gòu)造的主要缺陷。檢測(cè)方式依據(jù)焊接接頭構(gòu)造形式,T型焊接接頭的檢測(cè)有如下三種檢測(cè)方式,可選擇一種或何條件的限制。用斜探頭在翼板外側(cè)用直射法進(jìn)展探測(cè),見圖24位置1、圖25位置1和圖261。用斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)展探測(cè),見圖24位置2和位置425242624。用直探頭或雙晶直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測(cè),或者用斜探頭〔推舉使K1〕在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測(cè),見圖243253263。3KK1K18距離-波幅曲線靈敏度確實(shí)定12評(píng)定線評(píng)定線定量線判廢線掃查方式:直探頭和斜探頭的掃查按10.6的有關(guān)規(guī)定進(jìn)展。對(duì)缺陷進(jìn)展等級(jí)評(píng)
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