安防視頻存儲(chǔ)應(yīng)用的固態(tài)硬盤技術(shù)規(guī)范

1信息技術(shù)安防視頻存儲(chǔ)應(yīng)用的固態(tài)硬盤技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了安防視頻存儲(chǔ)應(yīng)用固態(tài)硬盤的一般要求、功能要求、性能要求、可靠性要求、安全性要求、測(cè)試方法、包裝及運(yùn)輸要求。本文件適用于安防視頻存儲(chǔ)應(yīng)用領(lǐng)域固態(tài)硬盤的設(shè)計(jì)、開發(fā)、集成與應(yīng)用。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2423.34環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法GB9254—2008信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測(cè)量方法GB/T17618—2015信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測(cè)量方法GB/T17625.1—2012電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）GB/T36355—2018信息技術(shù)固態(tài)盤測(cè)試方法GA/T367—2001視頻安防監(jiān)控系統(tǒng)技術(shù)要求YD/T3520—2019視頻監(jiān)控系統(tǒng)的視頻體驗(yàn)質(zhì)量指標(biāo)及評(píng)測(cè)方法SJ/T11654—2016固態(tài)盤通用規(guī)范3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1安防視頻監(jiān)控videosurveillanceforsecurity利用視頻探測(cè)、采集手段對(duì)目標(biāo)進(jìn)行監(jiān)視、控制和信息記錄。[來源:GA/T367—2001,3.3,有修改]3.2固態(tài)硬盤solidstatedisk一種以閃存或其他半導(dǎo)體存儲(chǔ)介質(zhì)為存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，主要由控制器和存儲(chǔ)單元構(gòu)成，通常采用傳統(tǒng)硬盤驅(qū)動(dòng)器接口進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀寫和存儲(chǔ)。[來源:GB/T36355—2018,2.1.1,有修改]3.3標(biāo)稱容量nominalcapacity固態(tài)硬盤所注明的容量，按照十進(jìn)制計(jì)算，用GB或者TB表示，其中1GB=109字節(jié)，1TB=1012字節(jié)。[來源:GB/T36355—2018,2.1.2,有修改]3.4標(biāo)稱壽命nominallifespan固態(tài)硬盤所注明的生命周期內(nèi)的數(shù)據(jù)寫入量。3.5準(zhǔn)備時(shí)間powerontoreadytime2從設(shè)備上電到數(shù)據(jù)可讀出所需的時(shí)間。4一般要求4.1外觀要求固態(tài)硬盤外表面不應(yīng)有明顯的劃痕、裂縫、形變等，外表面涂層不應(yīng)氣泡、龜裂和脫落，非金屬部件不應(yīng)有變形和破損，金屬部件不應(yīng)有銹蝕及其他機(jī)械損傷。4.2結(jié)構(gòu)要求固態(tài)硬盤主要包括2.5”，也可根據(jù)用戶需求定制其他尺寸的固態(tài)硬盤。5功能要求5.1自診斷功能固態(tài)硬盤應(yīng)具有故障自診斷功能，并符合下列要求：a)在設(shè)備制造期間完成自診斷需要的各項(xiàng)參數(shù)、屬性的設(shè)定，見附錄A；b)在特定系統(tǒng)平臺(tái)下，能夠正常使用自診斷功能；c)允許用戶自由開啟和關(guān)閉自診斷功能；d)在用戶使用過程中，能提供自診斷的各項(xiàng)有效信息，確定設(shè)備的工作狀態(tài)，并能發(fā)出相應(yīng)的修正指令或警告。5.2數(shù)據(jù)接口要求5.2.1SATA接口要求固態(tài)硬盤接口應(yīng)符合SATA3.0協(xié)議接口要求，端口速率6G/s，同時(shí)支持向下兼容3G/s和1.5Gb/s。5.3運(yùn)維管理要求固態(tài)硬盤運(yùn)維管理應(yīng)符合下列要求：a)具備基本的硬盤維護(hù)管理功能，具體包括全盤數(shù)據(jù)清除功能、在線升級(jí)功能便于用戶進(jìn)行設(shè)備維護(hù)；b)具備資產(chǎn)管理功能，提供序列號(hào)、固件版本號(hào)、容量等信息，方便用戶進(jìn)行資產(chǎn)管理；c)具備自診斷功能，用戶可以查詢?cè)O(shè)備的健康狀態(tài)、壽命、讀寫數(shù)據(jù)量、溫度等信息；d)具備日志查詢功能，運(yùn)維人員用來進(jìn)行設(shè)備故障問題分析。6性能要求6.1存儲(chǔ)容量固態(tài)硬盤的標(biāo)簽應(yīng)標(biāo)明固態(tài)硬盤的標(biāo)稱容量，使用說明書中應(yīng)給出固態(tài)硬盤的可用容量，且可用容量不應(yīng)小于標(biāo)稱容量。固態(tài)硬盤的實(shí)際存儲(chǔ)容量不應(yīng)小于使用說明書中給出的可用容量。6.2使用壽命3固態(tài)硬盤應(yīng)標(biāo)明使用壽命（標(biāo)稱使用壽命），標(biāo)稱使用壽命包含“每日整盤寫入次數(shù)（DWPD）”和“使用年限”兩個(gè)參數(shù)指標(biāo)。標(biāo)準(zhǔn)格式為：XDWPD/Y年。用于視頻存儲(chǔ)的固態(tài)硬盤的使用壽命應(yīng)符合下列要求：a)整盤寫滿一次的周期≤7天，即DWPD≥0.143b)可連續(xù)使用年限≥5年。6.3功耗及能效固態(tài)硬盤的功耗及能效指標(biāo)應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1固態(tài)硬盤功耗及能效要求6.4穩(wěn)態(tài)性能在基于視頻監(jiān)控工作負(fù)載寫入場(chǎng)景下，視頻模擬寫入最低穩(wěn)態(tài)性不低于廠家標(biāo)稱的穩(wěn)態(tài)性能。6.5最大響應(yīng)時(shí)間固態(tài)硬盤應(yīng)給出最大響應(yīng)時(shí)間，在基于視頻監(jiān)控工作負(fù)載寫入場(chǎng)景下，固態(tài)硬盤的I/O最大響應(yīng)時(shí)間應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2最大響應(yīng)時(shí)間要求6.6掉電數(shù)據(jù)保護(hù)固態(tài)硬盤應(yīng)標(biāo)明是否支持掉電保護(hù)功能，“支持掉電保護(hù)”的固態(tài)硬盤和“不支持掉電保護(hù)”的固態(tài)硬盤，應(yīng)符合表3“異常掉電”及表4“正常掉電”工況的要求。表3正常掉電的數(shù)據(jù)保護(hù)要求表4異常掉電的數(shù)據(jù)保護(hù)要求47可靠性要求7.1出錯(cuò)率UBER用于邊緣側(cè)NVR網(wǎng)絡(luò)硬盤錄像機(jī)的固態(tài)硬盤UBER工作范圍不應(yīng)大于10E-15，用于中心側(cè)視頻存儲(chǔ)平臺(tái)的固態(tài)硬盤UBER工作范圍不應(yīng)大于10E-17。7.2數(shù)據(jù)保存時(shí)間在正常工況下，用于邊緣側(cè)NVR網(wǎng)絡(luò)硬盤錄像機(jī)的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保持時(shí)間不應(yīng)小于1年（30℃)。在正常工況下，用于中心側(cè)視頻存儲(chǔ)平臺(tái)的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保持時(shí)間不應(yīng)小于3月（40℃)。7.3無故障運(yùn)行時(shí)間用于視頻存儲(chǔ)的固態(tài)硬盤MTBF工作范圍不應(yīng)小于100萬小時(shí)。8安全性要求8.1概述視頻存儲(chǔ)的固態(tài)硬盤可支持安全相關(guān)功能，并滿足以下要求。若無安全相關(guān)功能要求，此章節(jié)可選。測(cè)試方法見9.4節(jié)。8.2數(shù)據(jù)安全固態(tài)硬盤的數(shù)據(jù)安全包括數(shù)據(jù)完整性、數(shù)據(jù)保密和數(shù)據(jù)使用者身份驗(yàn)證三個(gè)方面。其中，數(shù)據(jù)完整性主要指掉電安全；數(shù)據(jù)保密包括固件安全、啟動(dòng)安全、加密要求；數(shù)據(jù)使用者身份驗(yàn)證主要通過固態(tài)硬盤和主機(jī)之間的數(shù)字簽名來實(shí)現(xiàn)。8.2.1數(shù)據(jù)完整性固態(tài)硬盤應(yīng)提供在異常掉電情況下的數(shù)據(jù)保護(hù)機(jī)制，硬盤能夠滿足寫入盤的數(shù)據(jù)不丟失。8.2.2固件安全固態(tài)硬盤固件安全應(yīng)滿足以下要求：a)不包含未公開接口。所有向客戶公開的命令、接口應(yīng)在公開文檔中說明；b)固件對(duì)管理通道及管理接口上傳輸?shù)拿钸M(jìn)行合法性校驗(yàn)（包括但不限于命令字、數(shù)據(jù)長(zhǎng)度等），對(duì)于非法的命令需要進(jìn)行識(shí)別并進(jìn)行錯(cuò)誤處理；c)固件應(yīng)提供對(duì)管理通道及管理接口配置管理操作記錄日志的能力；d)固件不提供日志刪除接口；e)可使用數(shù)字簽名對(duì)固件進(jìn)行完整性保護(hù)，待升級(jí)固件需驗(yàn)簽通過后方允許執(zhí)行升級(jí)操作。8.2.3啟動(dòng)安全固態(tài)硬盤啟動(dòng)安全應(yīng)提供的完整性保護(hù)能力，在系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)對(duì)固態(tài)硬盤的Bootloader、固件等代5碼做完整性保護(hù)檢查。8.2.4加密要求涉及密碼算法的固態(tài)硬盤產(chǎn)品，該算法須符合國家密碼管理要求，固態(tài)硬盤控制器或者固態(tài)硬盤成品盤須獲得國家密碼管理局《商用密碼產(chǎn)品型號(hào)證書》，并在產(chǎn)品相關(guān)文檔中進(jìn)行說明。8.2.5身份驗(yàn)證可支持身份驗(yàn)證功能，驗(yàn)證通過后固態(tài)硬盤才允許使用者訪問盤內(nèi)數(shù)據(jù)。8.3電磁兼容性8.3.1無線電騷擾限值固態(tài)硬盤的無線電騷擾限值應(yīng)符合GB/T9254—2008中第5、6章規(guī)定的要求，應(yīng)在產(chǎn)品文檔中給出是A級(jí)或B級(jí)。8.3.2抗擾度限值固態(tài)硬盤的抗擾度限值應(yīng)符合GB/T17618—2015中附錄B規(guī)定的要求。8.3.3諧波電流限值固態(tài)硬盤的諧波電流限值應(yīng)符合GB/T17625.1—2012中第6章及附錄C.10規(guī)定的要求。8.4環(huán)境適應(yīng)性固態(tài)硬盤應(yīng)在下列工況可以正常工作：a)運(yùn)行狀態(tài)：0℃~70℃;b)存儲(chǔ)狀態(tài)：-40℃~85℃;c)相對(duì)濕度：25%～95%。9測(cè)試方法9.1測(cè)試環(huán)境要求固態(tài)硬盤所有測(cè)試在未加特殊說明時(shí)，下述測(cè)試均應(yīng)符合下列要求：a)溫度：15℃~35℃;b)相對(duì)濕度：25%～75%；c)大氣壓：86kPa～106kPa。9.2性能測(cè)試9.2.1存儲(chǔ)容量測(cè)試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行容量測(cè)試，被測(cè)對(duì)象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預(yù)置條件1)被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)連接，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；62)被測(cè)固態(tài)硬盤需在標(biāo)簽中標(biāo)明“標(biāo)稱容量”及在說明書中標(biāo)明“可用容量”，否則視為不通過。b)測(cè)試步驟1)使用測(cè)試系統(tǒng)讀出被測(cè)固態(tài)硬盤的最大扇區(qū)數(shù)(x)；2)校驗(yàn)讀出的扇區(qū)數(shù)(x)，需要滿足(x)≥可用容量≥硬盤標(biāo)稱容量（轉(zhuǎn)化為GB）*1,953,125。如不滿足，測(cè)試結(jié)束，測(cè)試結(jié)果為不通過；3)擦除被測(cè)固態(tài)硬盤中的已有數(shù)據(jù)；4)使用測(cè)試工具向被測(cè)固態(tài)硬盤的指定空間寫入隨機(jī)數(shù)據(jù)，直至寫滿；5)關(guān)閉被測(cè)固態(tài)硬盤電源；6)將被測(cè)固態(tài)硬盤上電，并識(shí)別成功；7)使用測(cè)試工具讀被寫入指定空間數(shù)據(jù)并校驗(yàn)，如果對(duì)比結(jié)果一致則測(cè)試通過，否則測(cè)試不通過，結(jié)束本項(xiàng)測(cè)試。9.2.2功耗和能效測(cè)試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行功耗和能效測(cè)試，被測(cè)對(duì)象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預(yù)置條件1)被測(cè)固態(tài)硬盤應(yīng)在說明書中給出“工作功耗”、“啟動(dòng)功耗”、“平均能效”，否則視為測(cè)試不通過；2)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)連接，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；3)使用測(cè)試系統(tǒng)對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤的功耗情況進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試；4)將被測(cè)固態(tài)硬盤，按照工作負(fù)載整盤寫滿一圈。b)測(cè)試步驟1)根據(jù)被測(cè)固態(tài)硬盤標(biāo)稱的錄像帶寬，對(duì)被測(cè)盤進(jìn)行全盤寫入數(shù)據(jù)操作，并記錄；2)記錄步驟1）操作期間的平均功耗A和總能耗a；3)按照數(shù)據(jù)負(fù)載，進(jìn)行錄像全盤數(shù)據(jù)讀出操作；4)記錄步驟3）操作期間的平均功耗B和總能耗b；5)取功耗A與功耗B的最大值為被測(cè)固態(tài)硬盤的“工作功耗”，即工作功耗w=max(A,B)；6)取能耗a與能耗b的最大值為總能耗，計(jì)算出平均能效j=max(a，b)/全盤實(shí)際容量（換算為GB）；7)執(zhí)行步驟1）的操作，在寫入過程中對(duì)被測(cè)試固態(tài)硬盤掉電；8)對(duì)被測(cè)試盤上電；9)記錄被測(cè)試盤從供電到識(shí)別成功后1分鐘期間的最大瞬時(shí)功耗s1；10)重復(fù)步驟7)到步驟9)的操作5次，記錄最大瞬時(shí)功耗s1～s5；11)被測(cè)固態(tài)硬盤的最大啟動(dòng)功耗為步驟10得到的5組瞬時(shí)功耗的最大值，即最大啟動(dòng)功耗s=max(s1,s2,s3,s4,s5)。9.2.3穩(wěn)態(tài)性能測(cè)試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行穩(wěn)定性能測(cè)試，被測(cè)對(duì)象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預(yù)置條件1)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)連接，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)被測(cè)固態(tài)硬盤作為數(shù)據(jù)盤，數(shù)據(jù)被全盤擦除73)需注明支持的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，否則視為不通過。b)測(cè)試步驟1)按照被測(cè)試固態(tài)硬盤標(biāo)稱的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，配置寫測(cè)試工作負(fù)載；2)測(cè)試全盤容量10倍的數(shù)據(jù)寫入；3)得到指定錄像分區(qū)全部寫入指令的最小寫入性能YMB/s；4)Y滿足6.4的要求，則測(cè)試通過，否則測(cè)試不通過。9.2.4最大響應(yīng)時(shí)間測(cè)試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行最大響應(yīng)時(shí)間測(cè)試，被測(cè)對(duì)象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預(yù)置條件：固態(tài)硬盤應(yīng)在相關(guān)文檔中給出“最大讀響應(yīng)時(shí)間”和“最大寫響應(yīng)時(shí)間”，否則視為不通過；b)最大寫響應(yīng)時(shí)間測(cè)試方法1)使用預(yù)置條件中的測(cè)試結(jié)果，在指定區(qū)域中讀最大寫響應(yīng)時(shí)間的數(shù)據(jù)；2)讀取數(shù)據(jù)應(yīng)滿足6.5的要求，則測(cè)試通過，否則測(cè)試不通過；c)最大讀響應(yīng)時(shí)間測(cè)試方法3)使用預(yù)置條件中的測(cè)試結(jié)果，在指定區(qū)域中讀最大讀響應(yīng)時(shí)間的數(shù)據(jù)；4)按照被測(cè)試固態(tài)硬盤標(biāo)稱的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，配置讀測(cè)試工作負(fù)載；5)測(cè)試全盤容量2倍的數(shù)據(jù)讀?。?)得到指定區(qū)域所有I/O的最大讀響應(yīng)時(shí)間的數(shù)據(jù)y；7)y滿足6.5的要求，則測(cè)試通過，否則測(cè)試不通過。9.2.5掉電數(shù)據(jù)保護(hù)測(cè)試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行最大響應(yīng)時(shí)間測(cè)試，被測(cè)對(duì)象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預(yù)置條件1)被測(cè)固態(tài)硬盤的說明文檔應(yīng)標(biāo)明是否支持掉電保護(hù)，如不標(biāo)注，默認(rèn)以不支持掉電保護(hù)的方式測(cè)試。2)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)連接。b)正常掉電測(cè)試步驟1)按照被測(cè)固態(tài)硬盤分成相同大小的兩個(gè)分區(qū)：固定區(qū)域A和測(cè)試區(qū)域B；2)使用指定文件系統(tǒng)對(duì)固定區(qū)域A和測(cè)試區(qū)域B進(jìn)行格式化；3)向固定區(qū)域A寫入測(cè)試文件，測(cè)試文件包括大文件和小文件，直至固定區(qū)域A寫滿；4)向被測(cè)固態(tài)硬盤發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對(duì)被測(cè)盤掉電；5)被測(cè)盤上電，認(rèn)盤成功后，對(duì)固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)進(jìn)行全部讀校驗(yàn)，保證固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)沒有錯(cuò)誤；6)向測(cè)試區(qū)域B寫入隨機(jī)個(gè)數(shù)的測(cè)試文件。寫入結(jié)束后，發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對(duì)被測(cè)盤掉電，1秒后再次上電，被測(cè)盤認(rèn)盤成功，記錄認(rèn)盤時(shí)間；7)校驗(yàn)測(cè)試步驟6)寫入成功的測(cè)試文件，校驗(yàn)成功；8)重復(fù)執(zhí)行測(cè)試步驟6)和測(cè)試步驟7)，每執(zhí)行1000次，校驗(yàn)1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；9)測(cè)試通過的判斷依據(jù)：完成要求的測(cè)試輪數(shù)，所有寫入操作正常、standby指令操作成功、認(rèn)盤正常、認(rèn)盤時(shí)間滿足需求、所有校驗(yàn)數(shù)據(jù)無錯(cuò)誤。c)異常掉電測(cè)試步驟81)將被測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)的數(shù)據(jù)全盤擦除；2)將被測(cè)盤的物理地址區(qū)間分成相同大小的兩個(gè)分區(qū)：固定區(qū)域A和測(cè)試區(qū)域B；3)向固定區(qū)域A寫入測(cè)試數(shù)據(jù)，直至固定區(qū)域A寫滿；4)向被測(cè)固態(tài)硬盤發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對(duì)被測(cè)盤掉電；5)被測(cè)盤上電，認(rèn)盤成功后，對(duì)固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)進(jìn)行全部讀校驗(yàn)，保證固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)沒有錯(cuò)誤；6)向測(cè)試區(qū)域B內(nèi)的隨機(jī)地址寫入隨機(jī)長(zhǎng)度的數(shù)據(jù)。在寫入過程中，500ms～2s隨機(jī)延遲對(duì)被測(cè)盤掉電，記錄寫入成功的地址區(qū)間，1秒后再次上電，被測(cè)盤認(rèn)盤成功，記錄認(rèn)盤時(shí)間；7)支持掉電保護(hù)的被測(cè)盤：校驗(yàn)測(cè)試步驟6)寫入成功的地址區(qū)間的數(shù)據(jù)，校驗(yàn)成功。重復(fù)執(zhí)行測(cè)試步驟6)和測(cè)試步驟7)，每執(zhí)行1000次，校驗(yàn)1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；8)不支持掉電保護(hù)的被測(cè)盤，不做測(cè)試區(qū)域B的數(shù)據(jù)校驗(yàn)操作,重復(fù)執(zhí)行測(cè)試步驟6)，每執(zhí)行1000次，校驗(yàn)1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；9)測(cè)試通過的判斷依據(jù)：完成要求的測(cè)試輪數(shù)，所有寫入操作正常、認(rèn)盤正常、認(rèn)盤時(shí)間滿足需求，所有校驗(yàn)數(shù)據(jù)無錯(cuò)誤。9.3可靠性測(cè)試9.3.1使用壽命測(cè)試9.3.1.1概述用于視頻存儲(chǔ)的固態(tài)硬盤的使用壽命可選擇性使用如下測(cè)試方案。a)直接測(cè)試法：直接在產(chǎn)品中進(jìn)行抽樣測(cè)試，抽測(cè)樣本的測(cè)試指標(biāo)（容量、壽命）與產(chǎn)品定義一致；b)推導(dǎo)測(cè)試法：鑒于該測(cè)試在部分容量產(chǎn)品上的測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)，為提縮短測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，可以使用推導(dǎo)測(cè)試。9.3.1.2測(cè)試環(huán)境測(cè)試環(huán)境應(yīng)滿足以下要求：a)物理環(huán)境：1)溫度：70℃,由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境；2)相對(duì)濕度：關(guān)閉濕度控制，由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境；3)大氣壓：無需設(shè)定，由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境。b)硬件環(huán)境：1)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)能提供連接測(cè)試盤的硬件接口，該接口需要處于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中；2)電源：測(cè)試盤的電源輸入可以由測(cè)試系統(tǒng)提供，也可以由其他外置電源提供；3)恒溫恒濕試驗(yàn)箱：為測(cè)試盤提供溫度、濕度測(cè)試環(huán)境。c)軟件環(huán)境：測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)可以提供被測(cè)樣品所需的仿真環(huán)境以及工作負(fù)載。9.3.1.3測(cè)試方法固態(tài)硬盤使用壽命應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：9a)預(yù)置條件：1)連接測(cè)試盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)2臺(tái)恒溫恒濕試驗(yàn)箱，分別設(shè)定溫度為0℃和70℃;3)固態(tài)硬盤使用壽命可采用推導(dǎo)測(cè)試法進(jìn)行測(cè)試4)測(cè)試樣品應(yīng)分為不少于三組，每組樣品不少于21件（套）進(jìn)行測(cè)試。b)測(cè)試步驟：1)當(dāng)?shù)?臺(tái)恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度達(dá)到0℃且保持穩(wěn)定的情況下，將第一組測(cè)試樣品置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，并與測(cè)試系統(tǒng)接通；2)當(dāng)?shù)?臺(tái)恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度達(dá)到70℃且保持穩(wěn)定的情況下，將第二組和第三組測(cè)試樣品都置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，并與測(cè)試系統(tǒng)接通；3)確認(rèn)所有測(cè)試盤正常認(rèn)盤，開始進(jìn)行測(cè)試并計(jì)時(shí)；4)使用工作負(fù)載進(jìn)行讀寫業(yè)務(wù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，直至達(dá)到測(cè)試盤的標(biāo)稱壽命；5)當(dāng)?shù)谝唤M測(cè)試樣品的標(biāo)稱壽命消耗完畢，將該組測(cè)試樣品取出，進(jìn)行全盤數(shù)據(jù)填充并對(duì)填充數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)，記錄測(cè)試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯(cuò)次數(shù)。6)當(dāng)?shù)诙M測(cè)試樣品的標(biāo)稱壽命消耗完畢，將該組測(cè)試盤取出，進(jìn)行全盤數(shù)據(jù)填充并對(duì)填充數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)。移除該組測(cè)試盤的電源輸入，放置于高溫85℃環(huán)境下，儲(chǔ)存96小時(shí)。重新接通該組測(cè)試盤電源，再次對(duì)填充數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)，記錄測(cè)試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯(cuò)次數(shù)；7)當(dāng)?shù)谌M測(cè)試盤的標(biāo)稱壽命消耗完畢，記錄測(cè)試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯(cuò)次數(shù)。9.3.2出錯(cuò)率測(cè)試固態(tài)硬盤讀寫出錯(cuò)率（UBER）測(cè)試應(yīng)符合9.3.2的規(guī)定。固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)出錯(cuò)次數(shù)N是在整個(gè)壽命測(cè)試中檢測(cè)到的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤總數(shù)，數(shù)據(jù)讀取總量D是在壽命測(cè)試中的讀取數(shù)據(jù)總量，單位是Bit。但在如下條件中，包含損壞數(shù)據(jù)的多個(gè)扇區(qū)也可被視為單個(gè)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤：a)在耐久性驗(yàn)證測(cè)試的同一時(shí)間點(diǎn)發(fā)生；b)損壞數(shù)據(jù)的數(shù)量小于等于64KB；c)一個(gè)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤在固態(tài)硬盤讀寫出錯(cuò)率中只能被計(jì)算一次，即使它被多次讀取并且每次都不能返回正確的數(shù)據(jù)。固態(tài)硬盤讀寫出錯(cuò)率應(yīng)滿足以下規(guī)定。--12式中：FFR——產(chǎn)品可接受的故障率，F(xiàn)FR=Warranty*365*24/MTBF；UBER——產(chǎn)品可接受的出錯(cuò)率；data_errors——壽命測(cè)試和數(shù)據(jù)保持測(cè)試中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)；min(TBW,TBR)——TBW和TBR的最小值；TBW——以TB為單位的寫入數(shù)據(jù)量；TBR——以TB為單位的讀取數(shù)據(jù)量；SS——被測(cè)試驅(qū)動(dòng)器樣本的數(shù)量；UCL——定義的置信上限函數(shù)（詳細(xì)信息見JESD47）9.3.3數(shù)據(jù)保存時(shí)間測(cè)試9.3.3.1概述該測(cè)試主要用來衡量測(cè)試盤閃存的數(shù)據(jù)保持能力，進(jìn)而評(píng)價(jià)測(cè)試盤的閃存元件的品質(zhì)。閃存中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)對(duì)溫度比較敏感，因此該測(cè)試采用高溫85℃做為加速因素，縮短數(shù)據(jù)保持能力的測(cè)試時(shí)間。9.3.3.2測(cè)試環(huán)境測(cè)試環(huán)境應(yīng)滿足以下要求：a)物理環(huán)境：1)溫度：85℃,由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境；2)相對(duì)濕度：關(guān)閉濕度控制，由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境；3)大氣壓：默認(rèn)設(shè)定，由恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制測(cè)試環(huán)境。b)硬件環(huán)境：1)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)能提供連接測(cè)試樣品的硬件接口，該接口需要處于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中；2)電源：測(cè)試樣品的電源輸入可以由測(cè)試系統(tǒng)提供，也可以由其他外置電源提供；3)恒溫恒濕試驗(yàn)箱：為測(cè)試盤提供溫度、濕度測(cè)試環(huán)境。c)軟件環(huán)境：在常溫下，測(cè)試系統(tǒng)可給測(cè)試樣品全盤數(shù)據(jù)預(yù)填充，并完成數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)。9.3.3.3測(cè)試方法固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保存時(shí)間應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為85℃;3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預(yù)填充，且校驗(yàn)一次通過。b)測(cè)試步驟：1)當(dāng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度達(dá)到85℃,且保持穩(wěn)定的情況下，將測(cè)試樣品放入試驗(yàn)箱中并開始計(jì)時(shí)；2)計(jì)時(shí)12h，將測(cè)試盤取出，使測(cè)試盤恢復(fù)常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)。9.4安全性測(cè)試9.4.1固件安全測(cè)試為了保證客戶的數(shù)據(jù)安全，客戶使用的固件必須是經(jīng)廠家正式發(fā)布的簽名固件（合法簽名），固態(tài)硬盤固件安全測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試主機(jī)連接，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)將測(cè)試工具安裝在測(cè)試主機(jī)上，確認(rèn)測(cè)試工具能識(shí)別到被測(cè)固態(tài)硬盤。b)測(cè)試步驟：1)使用升級(jí)工具選擇廠商發(fā)布固件（合法簽名）對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)；2)使用升級(jí)工具選擇無簽名固件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)；3)使用升級(jí)工具選擇非法簽名固件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)。c)判斷條件：1)使用升級(jí)工具選擇廠商發(fā)布固件（合法簽名）對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)，提示成功；2)使用升級(jí)工具選擇無簽名固件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)，提示失??；3)使用升級(jí)工具選擇非法簽名固件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行升級(jí)，提示失敗。9.4.2啟動(dòng)安全測(cè)試固態(tài)硬盤啟動(dòng)安全測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)將被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試主機(jī)連接，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)測(cè)試工具軟件安裝在測(cè)試主機(jī)上，確認(rèn)測(cè)試工具軟件能識(shí)別到被測(cè)固態(tài)硬盤。b)測(cè)試步驟：1)將灌裝了合法固件的被測(cè)固態(tài)硬盤接入系統(tǒng)，盤片能正確被系統(tǒng)識(shí)別到；2)利用測(cè)試工具軟件修改被測(cè)固態(tài)硬盤的固件信息，隨后將盤片重新接入系統(tǒng)；3)檢查步驟2）中的被測(cè)固態(tài)硬盤重新接入系統(tǒng)后是否被正確識(shí)別，被測(cè)固態(tài)硬盤的固件信息被測(cè)試工具軟件篡改后，再次接入測(cè)試系統(tǒng)，無法被正確識(shí)別，則測(cè)試通過。9.5環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試9.5.1運(yùn)行溫度上限測(cè)試固態(tài)硬盤運(yùn)行溫度上限測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為70℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；b)測(cè)試步驟：1)將測(cè)試盤放入恒溫恒濕試驗(yàn)箱，當(dāng)溫度達(dá)到70℃,且保持穩(wěn)定的情況下，接通測(cè)試盤電源；2)確認(rèn)測(cè)試盤正常認(rèn)盤；3)使用工作負(fù)載進(jìn)行讀寫業(yè)務(wù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，持續(xù)時(shí)間96h，測(cè)試過程中，測(cè)試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)錯(cuò)誤則測(cè)試通過。9.5.2運(yùn)行溫度下限測(cè)試固態(tài)硬盤運(yùn)行溫度下限測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為0℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；b)測(cè)試步驟：1)將測(cè)試盤放入恒溫恒濕試驗(yàn)箱，當(dāng)溫度達(dá)到0℃,且保持穩(wěn)定的情況下，接通測(cè)試盤電源；2)確認(rèn)測(cè)試盤正常認(rèn)盤；使用工作負(fù)載進(jìn)行讀寫業(yè)務(wù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，持續(xù)時(shí)間96h，測(cè)試過程中，測(cè)試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)錯(cuò)誤則測(cè)試通過。9.5.3高低溫溫度循環(huán)讀寫測(cè)試固態(tài)硬盤高低溫溫度循環(huán)讀寫測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為0～55℃循環(huán)變化，高溫和低溫階段保持3h，變化斜率不小于每分鐘1攝氏度；b)測(cè)試步驟：1)將測(cè)試盤放入恒溫恒濕箱中，當(dāng)開始運(yùn)行后，接通測(cè)試盤電源；2)確認(rèn)測(cè)試盤正常認(rèn)盤；3)使用工作負(fù)載進(jìn)行讀寫業(yè)務(wù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，運(yùn)行10個(gè)循環(huán)，測(cè)試過程中，測(cè)試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)錯(cuò)誤則測(cè)試通過。9.5.4存儲(chǔ)溫度上限測(cè)試固態(tài)硬盤存儲(chǔ)溫度上限測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為85℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預(yù)填充，且校驗(yàn)一次通過。b)測(cè)試步驟：1)將測(cè)試盤放入恒溫恒時(shí)試驗(yàn)箱中，當(dāng)溫度達(dá)到85℃時(shí)，且保持穩(wěn)定的情況下開始計(jì)時(shí)；2)計(jì)時(shí)48h，將測(cè)試盤取出，使測(cè)試盤恢復(fù)常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，測(cè)試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)錯(cuò)誤則測(cè)試通過。9.5.5存儲(chǔ)溫度下限測(cè)試固態(tài)硬盤存儲(chǔ)溫度下限測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為-40℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對(duì)被測(cè)固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預(yù)填充，且校驗(yàn)一次通過。b)測(cè)試步驟：1)將測(cè)試盤放入恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，當(dāng)溫度達(dá)到-40℃,且保持穩(wěn)定的情況下開始計(jì)時(shí)；2)計(jì)時(shí)48h，將測(cè)試盤取出，使測(cè)試盤恢復(fù)常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)，測(cè)試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗(yàn)錯(cuò)誤則測(cè)試通過。9.5.6運(yùn)行濕度上限測(cè)試固態(tài)硬盤運(yùn)行濕度上限測(cè)試應(yīng)按以下預(yù)置條件和測(cè)試步驟執(zhí)行：a)預(yù)置條件：1)連接被測(cè)固態(tài)硬盤與測(cè)試系統(tǒng)，確認(rèn)被測(cè)固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)定溫度為55℃,相對(duì)濕度95%。b)測(cè)試步驟：1)設(shè)定恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度達(dá)到55℃,相對(duì)濕度達(dá)到95%，且保持穩(wěn)定；2)使用工作負(fù)載進(jìn)行讀寫業(yè)務(wù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)一致