固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置

JJG1102—20141固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置檢定規(guī)程1范圍本規(guī)程適用于固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查。本規(guī)程不適用于便攜式α、β表面污染測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀,以及最大能量小于60keV的β粒子測(cè)量或監(jiān)測(cè)儀器的檢定。2引用文件本規(guī)程引用下列文件:JJG478—1996α、β和γ表面污染儀JJF1001—2011通用計(jì)量術(shù)語及定義GB/T4960.1—2010核科學(xué)技術(shù)術(shù)語第1部分:核物理與核化學(xué)GB/T4960.6—2008核科學(xué)技術(shù)術(shù)語第6部分:核儀器儀表GB/T5202—2008輻射防護(hù)儀器α、β和α/β(β能量大于60keV)污染測(cè)量?jī)x與監(jiān)測(cè)儀GB/T8997—2008α、β表面污染測(cè)量?jī)x與監(jiān)測(cè)儀的校準(zhǔn)IEC61098:2003輻射防護(hù)儀器固定式個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置(Radiationpro-blies)凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本規(guī)范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單位)適用于本規(guī)程。3術(shù)語和計(jì)量單位3.1術(shù)語JJF1001—2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》、GB/T4960.6—2008《核科學(xué)技術(shù)術(shù)語第6部分:核儀器儀表》、GB/T4960.1—2010《核科學(xué)技術(shù)術(shù)語第1部分:核物理與核化學(xué)》界定的及以下術(shù)語和定義適用于本規(guī)程。3.1.1響應(yīng)response在確定的條件下,測(cè)量?jī)x器或裝置(系統(tǒng))對(duì)激勵(lì)作用的反應(yīng)特性,以儀器示值與激勵(lì)量的商表示。當(dāng)放射源的量值以表面發(fā)射率表示時(shí),稱為表面發(fā)射率響應(yīng)。3.1.2響應(yīng)的一致性u(píng)niformityofresponse對(duì)于固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置,由多個(gè)探測(cè)器組成的探測(cè)面上各處的響應(yīng)與參考點(diǎn)處響應(yīng)的相對(duì)偏差,以“%”表示。3.2計(jì)量單位3.2.1[放射性]活度:貝可[勒爾];符號(hào):Bq。JJG1102—201423.2.2[源]表面發(fā)射率:每分鐘2π球面度;符號(hào):(min·2πsr)-1。4概述固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置包括全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置,手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀。全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置由探測(cè)器、信號(hào)處理系統(tǒng)、顯示設(shè)備組成,通常采用閃爍體探測(cè)器或氣體探測(cè)器,若干個(gè)探測(cè)器緊密組合成探測(cè)面,多個(gè)探測(cè)面和手、腳表面污染探測(cè)器組成三維的全身α、β表面污染探測(cè)裝置,可同時(shí)探測(cè)放射性工作人員皮膚及衣物表面的α、β污染,通常以計(jì)數(shù)率或Bq·cm-2顯示;手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀分別設(shè)置有兩組手和腳的α、β粒子探測(cè)器,通常采用ZnS/塑料閃爍體。5計(jì)量性能要求5.1全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置的計(jì)量性能要求見表1。表1全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置的技術(shù)要求計(jì)量性能技術(shù)要求本底計(jì)數(shù)率滿足出廠指標(biāo)響應(yīng)當(dāng)放射性平面源距探測(cè)器窗表面10mm時(shí),對(duì)于241Am核素的α粒子和204Tl核素的β粒子表面發(fā)射率響應(yīng)不低于0.1響應(yīng)的一致性裝置探測(cè)面各處的響應(yīng)與中心處的響應(yīng)相差不超過±30%重復(fù)性小于20%相對(duì)固有誤差不超過±25%5.2手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的計(jì)量性能要求見表2。表2手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的技術(shù)要求計(jì)量性能技術(shù)要求本底計(jì)數(shù)率滿足出廠指標(biāo)響應(yīng)當(dāng)放射源距探測(cè)器窗表面10mm時(shí),對(duì)于241Am核素的α粒子和204Tl核素的β粒子表面發(fā)射率響應(yīng)不低于0.1重復(fù)性小于20%相對(duì)固有誤差不超過±25%JJG1102—201436通用技術(shù)要求6.1外觀固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置外觀不應(yīng)有銹蝕、裂紋和破損等缺陷以及影響正常工作的機(jī)械損傷,控制面板或軟件系統(tǒng)界面上所設(shè)置的功能鍵都能完成該鍵指令下的功能。6.2標(biāo)識(shí)固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置具有生產(chǎn)廠家、規(guī)格型號(hào)、出廠編號(hào)以及接線端口等的清晰標(biāo)識(shí)。7計(jì)量器具控制7.1檢定條件7.1.1計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)(1)α標(biāo)準(zhǔn)平面源:表面發(fā)射率范圍(104~106)/(min·2πsr),相對(duì)擴(kuò)展不確定度不超過5%(k=2)。參考核素:241Am,239Pu。(2)β標(biāo)準(zhǔn)平面源:表面發(fā)射率范圍(104~106)/(min·2πsr),相對(duì)擴(kuò)展不確定度不:9r-90Y。如果探測(cè)器用于測(cè)量最大能量小于200keV的β粒子,參考核素為14C。(3)其他檢定用設(shè)備定位支架,定位偏差不超過±1mm。7.1.2環(huán)境條件(1)環(huán)境溫度:(15~30)℃;(2)相對(duì)濕度:不大于75%;(3)周圍無明顯影響正常工作的機(jī)械振動(dòng)和電磁干擾。7.2檢定項(xiàng)目固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查項(xiàng)目見表3。表3檢定項(xiàng)目一覽表檢定項(xiàng)目首次檢定后續(xù)檢定使用中檢查外觀及標(biāo)識(shí)+--本底計(jì)數(shù)率+++響應(yīng)+++響應(yīng)的一致性①++-重復(fù)性+++相對(duì)固有誤差++-注:“+”為需檢定的項(xiàng)目,“-”為不需檢定的項(xiàng)目。①該項(xiàng)僅適用于固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置;不適用于手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀。JJG1102—201447.3檢定方法7.3.1外觀及標(biāo)識(shí)目測(cè)與通電檢查固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置是否滿足本規(guī)程第6條的要求。7.3.2全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置的計(jì)量特性7.3.2.1本底計(jì)數(shù)率開機(jī)預(yù)熱15min以上,在無放射源或其他監(jiān)測(cè)對(duì)象的條件下作本底計(jì)數(shù)率測(cè)量,連續(xù)讀數(shù)至少10次,取其算術(shù)平均值。7.3.2.2響應(yīng)分別用α、β系列標(biāo)準(zhǔn)平面源檢定全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置對(duì)α、β射線的響應(yīng)。檢定時(shí),標(biāo)準(zhǔn)源距探測(cè)器窗表面10mm。分別將α、β系列標(biāo)準(zhǔn)源依次設(shè)置在全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置各個(gè)探測(cè)面上中心位置進(jìn)行測(cè)量,每一系列標(biāo)準(zhǔn)源至少包括3個(gè)相鄰量級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)源,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)源重復(fù)讀 數(shù)不少于5次,取平均值。響應(yīng)按式(1)、式(2)計(jì)算。 Rij(1)式中:Rij—探測(cè)器對(duì)i放射性系列標(biāo)準(zhǔn)源中第j個(gè)源的響應(yīng),無量綱;Nij—探測(cè)器對(duì)i放射性系列標(biāo)準(zhǔn)源中第j個(gè)標(biāo)準(zhǔn)源的讀數(shù)平均值,s-1;Nib—探測(cè)器對(duì)i放射性的本底計(jì)數(shù)率,s-1;Aijs—i放射性系列標(biāo)準(zhǔn)源中第j個(gè)源的表面發(fā)射率,s-1。Ri=Rij(2)式中:Ri—裝置對(duì)i放射性的參考響應(yīng),無量綱;n—裝置測(cè)量i系列標(biāo)準(zhǔn)源的個(gè)數(shù),n≥3。7.3.2.3響應(yīng)的一致性選取表面發(fā)射率約為104/(min·2πsr)的α、β標(biāo)準(zhǔn)源,分別在裝置正面探測(cè)面中心垂直線上,標(biāo)準(zhǔn)源中心距上下兩端各10cm處和兩側(cè)探測(cè)面的中心位置,進(jìn)行響應(yīng)的測(cè)量,重復(fù)讀數(shù)不少于5次,取平均值。以裝置正面探測(cè)面中心點(diǎn)的響應(yīng)為參考值,由各測(cè)量點(diǎn)的響應(yīng)值按式(3)計(jì)算響應(yīng)的一致性。Ci=1-max(3)式中:Ci—裝置對(duì)i放射性響應(yīng)的一致性,%;Rik—第k個(gè)測(cè)量點(diǎn)對(duì)i放射性的響應(yīng);JJG1102—20145Ric—裝置正面探測(cè)面中心點(diǎn)對(duì)i放射性的響應(yīng)。7.3.2.4重復(fù)性選取表面發(fā)射率約為104/(min·2πsr)的α、β標(biāo)準(zhǔn)源,分別在裝置探測(cè)面中心點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)源重復(fù)測(cè)量10次,按式(4)計(jì)算裝置的重復(fù)性。(4)Vi=i(imNi)2(4)式中:Vi—裝置測(cè)量i放射性的重復(fù)性,%;Nim—裝置對(duì)i放射性標(biāo)準(zhǔn)源的第m個(gè)讀數(shù),s-1; Ni—裝置對(duì)i放射性標(biāo)準(zhǔn)源的讀數(shù)平均值,s-1;n—裝置對(duì)i放射性標(biāo)準(zhǔn)源的測(cè)量次數(shù)。7.3.2.5相對(duì)固有誤差由7.3.2.2測(cè)定的全身α、β和γ表面污染監(jiān)測(cè)裝置的響應(yīng),按式(5)計(jì)算相對(duì)固有誤差。Ei×100%(5)式中:Ei—裝置測(cè)量i放射性的相對(duì)固有誤差,%。7.3.3手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的計(jì)量特性7.3.3.1本底計(jì)數(shù)率開機(jī)預(yù)熱15min以上,在無放射源或其他監(jiān)測(cè)對(duì)象的條件下作本底計(jì)數(shù)率測(cè)量,連續(xù)讀數(shù)至少10次,取其算術(shù)平均值。7.3.3.2響應(yīng)分別將α、β系列標(biāo)準(zhǔn)平面源依次置于手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的手、腳探測(cè)器中,相對(duì)設(shè)置的一組探測(cè)器分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)平面源進(jìn)行測(cè)量,每一系列標(biāo)準(zhǔn)源至少包括3個(gè)相鄰量級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)源,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)源重復(fù)讀數(shù)不少于5次,取平均值,按式(1)、式(2)計(jì)算手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀對(duì)α、β放射性的響應(yīng)。7.3.3.3重復(fù)性選取表面發(fā)射率約為104/(min·2πsr)的α、β標(biāo)準(zhǔn)源分別在手、腳探測(cè)器中進(jìn)行測(cè)量,每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)源重復(fù)測(cè)量10次,按式(4)計(jì)算各探測(cè)器的重復(fù)性,取其中最大者為手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的重復(fù)性。7.3.3.4相對(duì)固有誤差由7.3.3.2測(cè)定的手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的響應(yīng),按式(5)計(jì)算相對(duì)固有誤差。7.4檢定結(jié)果的處理按本規(guī)程檢定合格的固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置發(fā)給檢定證書(推薦內(nèi)頁格式見附錄B);檢定結(jié)果中有一項(xiàng)不符合本規(guī)程的技術(shù)要求即為檢定不合格,檢定不JJG1102—20146合格的固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置發(fā)給檢定結(jié)果通知書(推薦內(nèi)頁格式見附錄B),并注明不合格項(xiàng)目。7.5檢定周期固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置的檢定周期一般不超過1年。JJG1102—20147附錄A固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置檢定原始記錄格式1.被檢儀器信息:型號(hào);器號(hào);制造廠 2.檢定環(huán)境條件:溫度;相對(duì)濕度;其他 3.檢定結(jié)果(1)本底計(jì)數(shù)率測(cè)量擋儀器讀數(shù)Nbs-1或min-1 Nbs-1或min-1αβ(2)全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置的響應(yīng)、重復(fù)性、相對(duì)固有誤差測(cè)量擋標(biāo)準(zhǔn)源編號(hào)/量值儀器讀數(shù)Nijs-1或min-1 Nijσn-1Nij-NibRijRiEiViαβ8(3)全身α、β表面污染監(jiān)測(cè)裝置響應(yīng)的一致性標(biāo)準(zhǔn)源及編號(hào)測(cè)量點(diǎn)儀器讀數(shù)Niks-1或min-1NikNik-NibRikCiα上下左右中心β上下左右中心(4)手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀的響應(yīng)、重復(fù)性、相對(duì)固有誤差(各探測(cè)器的格式相同)測(cè)量擋標(biāo)準(zhǔn)源編號(hào)/量值儀器讀數(shù)Nijs-1或min-1 Nijσn-1Nij-NibRijRiEiViαβ附錄B檢定證書內(nèi)頁信息及格式(1)固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置檢定結(jié)果測(cè)量擋本底計(jì)數(shù)率s-1探測(cè)器(面)響應(yīng)相對(duì)固有誤差%重復(fù)性%響應(yīng)的一致性%α探測(cè)面(中)探測(cè)面(左)探測(cè)面(右)β探測(cè)面(中)探測(cè)面(左)探測(cè)面(右)(2)手腳α、β表面污染監(jiān)測(cè)儀檢定結(jié)果測(cè)量擋探測(cè)器本底計(jì)數(shù)率s-1響應(yīng)%相對(duì)固有誤差%重復(fù)性%α手探測(cè)器1手探測(cè)器2腳探測(cè)器1腳探測(cè)器2β手探測(cè)器1手探測(cè)器2腳探測(cè)器1腳探測(cè)器2JJG1102—2014附錄C檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息及格式(1)固定式α、β個(gè)人表面污染監(jiān)測(cè)裝置檢定結(jié)果測(cè)量擋本底計(jì)數(shù)率s-1探測(cè)器(面)響應(yīng)相對(duì)固有誤差%重復(fù)性%響應(yīng)的一致性%α探測(cè)面(中)探測(cè)面(左)探測(cè)面(右)β探測(cè)面(中)探測(cè)面(左)探測(cè)面(右)其中,