半導(dǎo)體封裝流程_第1頁
半導(dǎo)體封裝流程_第2頁
半導(dǎo)體封裝流程_第3頁
半導(dǎo)體封裝流程_第4頁
半導(dǎo)體封裝流程_第5頁
已閱讀5頁,還剩28頁未讀 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

半導(dǎo)體封裝

ICProcessFlowCustomer客戶ICDesignIC設(shè)計(jì)WaferFab晶圓制造WaferProbe晶圓測試Assembly&TestIC封裝測試SMTIC組裝什么是封裝封裝,就是指把硅片上的電路管腳,用導(dǎo)線接引到外部接頭處,以便與其它器件連接。

可以這么理解:芯片〔Die〕和不同類型的框架〔L/F〕和塑封料〔EMC〕形成的不同外形的封裝體。封裝功用電力和電子訊號的傳輸。散熱。保護(hù)電路。方便運(yùn)輸。封裝分類

按封裝材料劃分為:

金屬封裝陶瓷封裝塑料封裝封裝分類按與PCB板的連接方式劃分為:

PTHPTH-PinThroughHole,通孔式;SMT-SurfaceMountTechnology,外表貼裝式。目前市面上大局部IC均采為SMT式的SMTPackageLeadPCB封裝分類按封裝外型可分為:

SOT、QFN

、SOIC、TSSOP、QFP、BGA、CSP等;決定封裝形式的兩個(gè)關(guān)鍵因素:

封裝效率。芯片面積/封裝面積,盡量接近1:1;引腳數(shù)。引腳數(shù)越多,越高級,但是工藝難度也相應(yīng)增加;封裝流程Waferback-sidegrindingDiesawingEpoxypasteDieattachWirebondingMolding封裝流程Back-sideMarking(Laser/ink)SE8117T331101-LFTrimmingSolderplatingFormingBackGrinding反面減薄Taping粘膠帶BackGrinding磨片De-Taping去膠帶將從晶圓廠出來的Wafer進(jìn)行反面研磨,來減薄晶圓到達(dá)

封裝需要的厚度〔8mils~10mils〕;磨片時(shí),需要在正面〔ActiveArea〕貼膠帶保護(hù)電路區(qū)域

同時(shí)研磨反面。研磨之后,去除膠帶,測量厚度;高速旋轉(zhuǎn)的砂輪真空吸盤工作臺(tái)DIESaw晶圓切割WaferMount晶圓安裝WaferSaw晶圓切割WaferWash清洗將晶圓粘貼在藍(lán)膜〔Mylar〕上,使得即使被切割開后,不會(huì)散落;通過SawBlade將整片Wafer切割成一個(gè)個(gè)獨(dú)立的Dice,方便后面的

DieAttach等工序;WaferWash主要清洗Saw時(shí)候產(chǎn)生的各種粉塵,清潔Wafer;DIESaw晶圓切割WaferSawMachineSawBlade(切割刀片):LifeTime:900~1500M;

SpindlierSpeed:30~50Krpm:FeedSpeed:30~50/s;DieAttach芯片粘接WriteEpoxy點(diǎn)銀漿DieAttach芯片粘接EpoxyCure銀漿固化EpoxyStorage:

零下50度存放;EpoxyAging:

使用之前回溫,除去氣泡;EpoxyWriting:

點(diǎn)銀漿于L/F的Pad上,Pattern可選;DieAttach芯片粘接芯片拾取過程:

1、EjectorPin從wafer下方的Mylar頂起芯片,使之便于

脫離藍(lán)膜;

2、Collect/Pickuphead從上方吸起芯片,完成從Wafer

到L/F的運(yùn)輸過程;

3、Collect以一定的力將芯片Bond在點(diǎn)有銀漿的L/F

的Pad上,具體位置可控;

4、BondHeadResolution:

X-0.2um;Y-0.5um;Z-1.25um;

5、BondHeadSpeed:1.3m/s;FOL–DieAttach芯片粘接EpoxyWrite:

Coverage>75%;DieAttach:

Placement<0.05mm;EpoxyCure銀漿固化銀漿固化:175°C,1個(gè)小時(shí);

N2環(huán)境,防止氧化:DieAttach質(zhì)量檢查:DieShear〔芯片剪切力〕WireBonding引線焊接利用高純度的金線〔Au〕、銅線〔Cu〕或鋁線〔Al〕把Pad

和Lead通過焊接的方法連接起來。Pad是芯片上電路的外接

點(diǎn),Lead是LeadFrame上的連接點(diǎn)。W/B是封裝工藝中最為關(guān)鍵的一部工藝。WireBonding引線焊接WireBonding引線焊接陶瓷的Capillary內(nèi)穿金線,并且在EFO的作用下,高溫?zé)颍唤鹁€在Cap施加的一定壓力和超聲的作用下,形成BondBall;金線在Cap施加的一定壓力作用下,形成Wedge;WireBonding引線焊接Cap下降到芯片的Pad上,加Force和Power形成第一焊點(diǎn)Cap牽引金線上升Cap運(yùn)動(dòng)軌跡形成良好的WireLoopCap下降到LeadFrame形成焊接Cap側(cè)向劃開,將金線切斷,形成魚尾Cap上提,完成一次動(dòng)作WireBondingExamplesStackedwiringMulti-layer1stbondMolding〔注塑〕為了防止外部環(huán)境的沖擊,利用EMC

把WireBonding完成后的產(chǎn)品封裝起

來的過程,并需要加熱硬化。BeforeMoldingAfterMoldingMolding〔注塑〕MoldingTool〔模具〕EMC〔塑封料〕為黑色塊狀,低溫存儲(chǔ),使用前需先回溫。其特

性為:在高溫下先處于熔融狀態(tài),然后會(huì)逐漸硬化,最終成型。Molding參數(shù):MoldingTemp:175~185°C;ClampPressure:3000~4000N;

TransferPressure:1000~1500Psi;TransferTime:5~15s;

CureTime:60~120s;CavityL/FL/FMolding〔注塑〕MoldingCycle-L/F置于模具中,每個(gè)Die位于Cavity中,模具合模。-塊狀EMC放入模具孔中-高溫下,EMC開始熔化,順著軌道流向Cavity中-從底部開始,逐漸覆蓋芯片-完全覆蓋包裹完畢,成型固化De-flash〔去溢料〕BeforeAfter目的:De-flash的目的在于去除Molding后在管體周圍Lead之間

多余的溢料;

方法:弱酸浸泡,高壓水沖洗;切筋切筋的目的:切筋是指利用機(jī)械模具將腳間金屬連接桿切除。切筋位置外腳位置Plating〔電鍍〕BeforePlatingAfterPlating利用金屬和化學(xué)的方法,在Leadframe的外表

鍍上一層鍍層,以防止外界環(huán)境的影響〔潮濕

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論