谷物水份測量儀的優(yōu)點(diǎn) 測量儀常見問題解決方法

第第頁谷物水份測量儀的優(yōu)點(diǎn)測量儀常見問題解決方法谷物水份測量儀也可以稱之為水分儀，谷物水分儀，糧食水分儀，電腦水分儀，快速水分測定儀。新款便攜式電腦水分儀繼承了原水分儀的全部優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)

1，不需要稱重，能自動測量試樣重量，自動計(jì)算水分含量比例值。

2，測量品種多，能測定十二個(gè)品種，基本覆蓋大部分的糧食品質(zhì)。

3，可以顯示品種編號和品種名稱（英文名稱的前四個(gè)字母），操作直觀。

4，可以自動關(guān)閉電源（約3分鐘不進(jìn)行操作，電源將自動切斷），更省電。

5，可以修正水份初值（可以在—9，9至十9.9的范圍內(nèi)，對各品種水分值進(jìn)行修正），除去環(huán)境影響，提高測量精度。

6，不需要將試樣進(jìn)行粉碎等前處理，按下測定鍵，并將試樣故人測定容器即可表示水分值，操作便捷。7，適用面廣，可適用于必需作多種谷物水分測定的檢查、檢驗(yàn)，必需對手邊大量試樣進(jìn)行處理的農(nóng)業(yè)設(shè)施上。新款谷物水份測量儀加添了便攜式電腦水分測定儀在原來的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改良

三坐標(biāo)測量儀是指在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi)，能夠表現(xiàn)幾何形狀、長度及圓周分度等測量本領(lǐng)的儀器，又稱為三坐標(biāo)測量機(jī)或三坐標(biāo)量床。三坐標(biāo)測量儀又可定義“一種具有可作三個(gè)方向移動的探測器，可在三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳遞訊號，三個(gè)軸的位移測量系統(tǒng)（如光柵尺）經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)（x，y，z）及各項(xiàng)功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀的測量功能應(yīng)包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等三坐標(biāo)測量儀使用方法

三坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）的測量方式通?？煞譃榻佑|式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。

其中，接觸測量方式常用于機(jī)加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數(shù)據(jù)，或?yàn)槟嫦蚬こ坦?yīng)工件原始信息，常常需要用三坐標(biāo)測量機(jī)對被測工件表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)掃描。以三坐標(biāo)的FOUNCTION—PRO型三坐標(biāo)測量機(jī)為例，介紹三坐標(biāo)測量機(jī)的幾種常用掃描方法及其操作步驟。

三坐標(biāo)測量機(jī)的掃描操作是應(yīng)用PCDMIS程序在被測物體表面的特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集，該區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣確定距離的周線等。掃描類型與測量模式、測頭類型以及是否有CAD文件等有關(guān)，掌控屏幕上的“掃描”（Scan）選項(xiàng)由狀態(tài)按鈕（手動/DCC）決議。若接受DCC方式測量，又有CAD文件，則可供選用的掃描方式有“開線”（OpenLinear）、“閉線”（ClosedLinear）、“面片”（Patch）、“截面”（Section）和“周線”（Perimeter）掃描；若接受DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，則可選用“開線”（OpenLinear）、“閉線”（ClosedLinear）和“面片”（Patch）掃描方式；若接受手動測量模式，則只能使用基本的“手動觸發(fā)掃描”（ManulTTPScan）方式；若接受手動測量方式并使用剛性測頭，則可用選項(xiàng)為“固定間隔”（FixedDelta）、“變化間隔”（VariableDelta）、“時(shí)間間隔”（TimeDelta）和“主體軸向掃描”（BodyAxisScan）方式。

下面認(rèn)真介紹在DCC狀態(tài)下，進(jìn)入“功能”（Utility）菜單選取“掃描”（Scan）選項(xiàng)后可供選擇的五種掃描方式。

1.開線掃描（OpenLinearScan）

開線掃描是基本的掃描方式。測頭從起始點(diǎn)開始，沿確定方向并按預(yù)定步上進(jìn)行掃描，直至停止點(diǎn)。開線掃描可分為有、無CAD模型兩種情況。

（1）無CAD模型

如被測工件無CAD模型，首先輸入邊界點(diǎn)（BoundaryPoints）的名義值。打開對話框中的“邊界點(diǎn)”選項(xiàng)后，先點(diǎn)擊“1”，輸入掃描起始點(diǎn)數(shù)據(jù)；然后雙擊“D”，輸入方向點(diǎn)（表示掃描方向的坐標(biāo)點(diǎn)）的新的X、Y、Z坐標(biāo)值；后雙擊“2”，輸入掃描盡頭數(shù)據(jù)。

第二項(xiàng)輸入步長。在“掃描”對話框（ScanDialog）中“方向1技術(shù)”（Direction1Tech）欄中的“大”（MaxInc）欄中輸入一個(gè)新步長值。

后檢查設(shè)定的方向矢量是否正確，該矢量定義了掃描開始后測量點(diǎn)表面的法矢、截面以及掃描結(jié)束前后一點(diǎn)的表面法矢。當(dāng)全部數(shù)據(jù)輸入完成后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

（2）有CAD模型

如被測工件有CAD模型，開始掃描時(shí)用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊CAD模型的相應(yīng)表面，PCDMIS程序?qū)⒃贑AD模型上生成一點(diǎn)并加標(biāo)志“1”表示為掃描起始點(diǎn)；然后點(diǎn)擊下一點(diǎn)定義掃描方向；后點(diǎn)擊盡頭（或邊界點(diǎn)）并標(biāo)志為“2”。在“1”和“2”之間連線。對于每一所選點(diǎn)，PCDMIS已在對話框中輸入相應(yīng)坐標(biāo)值及矢量。確定步長及其它選項(xiàng)（如安全平面、單點(diǎn)等）后，點(diǎn)擊“測量”，然后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

2.閉線掃描（ClosedLinearScan）

閉線掃描方式允許掃描內(nèi)表面或外表面，它只需“起點(diǎn)”和“方向點(diǎn)”兩個(gè)值（PCDMIS程序?qū)⑵瘘c(diǎn)也作為盡頭）。

（1）數(shù)據(jù)輸入操作

雙擊邊界點(diǎn)“1”，在編輯對話框中輸入位置；雙擊方向點(diǎn)“D”，輸入坐標(biāo)值；選擇掃描類型（“線性”或“變量”），輸入步長，定義觸測類型（“矢量”“表面”或“邊緣”）；雙擊“初始矢量”，輸入第“1”點(diǎn)的矢量，檢查截面矢量；鍵入其它選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

也可使用坐標(biāo)測量機(jī)操作盤觸測被測工件表面的測點(diǎn)，然后觸測方向點(diǎn)，PCDMIS程序?qū)褱y量值自動放入對話框，并自動計(jì)算初始矢量。選擇掃描掌控方式、測點(diǎn)類型及其它選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

（2）有CAD模型的閉線掃描

如被測工件有CAD模型，測量前確認(rèn)“閉線掃描”；首先點(diǎn)擊表面起始點(diǎn)，在CAD模型上生成符號“1”（點(diǎn)擊時(shí)表面和邊界點(diǎn)被加亮，以便選擇正確的表面）；然后點(diǎn)擊掃描方向點(diǎn)；PCDMIS將在對話框中給出所選位置點(diǎn)相應(yīng)的坐標(biāo)及矢量；選擇掃描掌控方式、步長及其它選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

3.面片掃描（PatchScan）

面片掃描方式允許掃描一個(gè)區(qū)域而不再是掃描線。應(yīng)用該掃描方式至少需要四個(gè)邊界點(diǎn)信息，即開始點(diǎn)、方向點(diǎn)、掃描長度和掃描寬度。PCDMIS可依據(jù)基本（或缺省）信息給出的邊界點(diǎn)1、2、3確定三角形面片，掃描方向則由D的坐標(biāo)值決議；若加添了第四或第五個(gè)邊界點(diǎn)，則面片可以為四方形或五邊形。

接受面片掃描方式時(shí)，在復(fù)選框中選擇“閉線掃描”，表示掃描一個(gè)封閉元素（如圓柱、圓錐、槽等），然后輸入起始點(diǎn)、停止點(diǎn)和方向點(diǎn)。停止點(diǎn)位置表示掃描被測元素時(shí)向上或向下移動的距離；用起始點(diǎn)、方向點(diǎn)和起始矢量可定義截平面矢量（通常該矢量平行于被測元素）。現(xiàn)以創(chuàng)建四邊形面片為例，介紹面片掃描的幾種定義方式：

（1）鍵入坐標(biāo)值方式

雙擊邊界點(diǎn)“1”，輸入起始點(diǎn)坐標(biāo)值X、Y、Z；雙擊邊界方向點(diǎn)“D”，輸入掃描方向點(diǎn)坐標(biāo)值；雙擊邊界點(diǎn)“2”，輸入確定方向的掃描寬度；雙擊邊界點(diǎn)“3”，輸入確定第二方向的掃描寬度；點(diǎn)擊“3”，然后按“添加”按鈕，對話框給出第四個(gè)邊界點(diǎn)；雙擊邊界點(diǎn)“4”，輸入停止點(diǎn)坐標(biāo)值；選擇掃描所需的步長（各點(diǎn)間的步距）和大步長（1、2兩點(diǎn)間的步長）值后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。（2）觸測方式

選定“面片掃描”方式，用坐標(biāo)測量機(jī)草作盤在所需起始點(diǎn)位置觸測點(diǎn)，該點(diǎn)坐標(biāo)值將顯示在“邊界點(diǎn)”對話框的“#1”項(xiàng)內(nèi)；然后觸測第二點(diǎn)，該點(diǎn)代表掃描方向的停止點(diǎn)，其坐標(biāo)值將顯示在對話框的“D”項(xiàng)內(nèi)；然后觸測第三點(diǎn)，該點(diǎn)代表掃描面片寬度，其坐標(biāo)值將顯示在對話框的“#3”項(xiàng)內(nèi)；點(diǎn)擊“3”，選擇“添加”，可在清單上添加第四點(diǎn)；觸測停止點(diǎn)，將關(guān)閉對話框。后定義掃描行距和步長兩個(gè)方向數(shù)據(jù)；選擇掃描觸測類型及所需選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

（3）CAD曲面模型方式

該掃描方式只適用于有CAD曲面模型的工件。首先選定“面片掃描”方式，左鍵點(diǎn)擊CAD工作表面；加亮“邊界點(diǎn)”對話框中的“1”，左鍵點(diǎn)擊曲面上的掃描起始點(diǎn)；然后加亮“D”，點(diǎn)擊曲面定義方向點(diǎn)；點(diǎn)擊曲面定義掃描寬度（#2）；點(diǎn)擊曲面定義掃描上寬度（#3）；點(diǎn)擊“3”，選擇“添加”，添加附加點(diǎn)“4”，加亮“4”，點(diǎn)擊定義掃描停止點(diǎn)，關(guān)閉對話框。定義兩個(gè)方向的步長及選擇所需選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

4.截面掃描（SectionScan）

截面掃描方式僅適用于有CAD曲面模型的工件，它允許對工件的某一截面進(jìn)行掃描，掃描截面既可沿X、Y、Z軸方向，也可與坐標(biāo)軸成確定角度。通過定義步長可進(jìn)行多個(gè)截面掃描?？稍趯υ捒蛑性O(shè)置截面掃描的邊界點(diǎn)。按“剖切CAD”轉(zhuǎn)換按鈕，可在CAD曲面模型內(nèi)找尋任何孔，并可接受與開線掃描仿佛方式定義其邊界線，PCDMIS程序?qū)⑹箳呙杪窂阶詣颖荛_CAD曲面模型中的孔。按用戶定義表面剖切CAD的方法為：進(jìn)入“邊界點(diǎn)”選項(xiàng)；進(jìn)入“CAD元素選擇”框；選擇表面；在不清除“CAD元素選擇”框的情況下，選擇“剖切CAD”選項(xiàng)。此時(shí)PCDMIS程序?qū)⑶懈钏x表面找尋孔。若CAD曲面模型中無定義孔，就沒有必要選“剖切CAD”選項(xiàng)，此時(shí)PCDMIS將按定義的起始、停止邊界點(diǎn)進(jìn)行掃描。對于有多個(gè)曲面的多而雜CAD圖形，可對不同曲面分組剖切，*#將剖切限制在局部CAD曲面模型上。

5.邊界掃描（PerimeterScan）

邊界掃描方式僅適用于有CAD曲面模型的工件。該掃描方式接受CAD數(shù)學(xué)模型計(jì)算掃描路徑，該路徑與邊界或外輪廓偏置確定距離（由用戶選定）。創(chuàng)建邊界掃描時(shí)，首先選定“邊界掃描”選項(xiàng)；若為內(nèi)邊界掃描，則在對話框中選擇“內(nèi)邊界掃描”；選擇工作曲面時(shí)，啟動“選擇”復(fù)選框，每選一個(gè)曲面則加亮一個(gè)，選定全部期望曲面后，退出復(fù)選框；點(diǎn)擊表面確定掃描起始點(diǎn)；在同一表面上點(diǎn)擊確定掃描方向點(diǎn)；點(diǎn)擊表面確定掃描停止點(diǎn)，若不給出停止點(diǎn)，則起始點(diǎn)即為停止點(diǎn)；在“掃描構(gòu)造”編輯框內(nèi)輸入相應(yīng)值（包括“增值”“CAD公差”等）；選擇“計(jì)算邊界”選項(xiàng)，計(jì)算掃描邊界；確認(rèn)偏差值正確后，按“產(chǎn)生測點(diǎn)”按鈕，PCDMIS程序?qū)⒆詣佑?jì)算執(zhí)行掃描的理論值；點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

固體材料的物理化學(xué)性質(zhì)常用的測試指標(biāo)為接觸角值。為了將測試數(shù)據(jù)進(jìn)行可比較或?qū)腆w材料的性質(zhì)進(jìn)行規(guī)范、統(tǒng)一的評估；通常接受水接觸角值也稱為水滴角值來表征固體材料的性質(zhì)。而測試水滴角的分析測試儀器即為水滴角測量儀。水滴角測量儀測值的核心應(yīng)包括：1、水滴角測量儀測值水滴角值時(shí)接受何種水？或探針液體所用的水的表面張力值是多少？是否穩(wěn)定？通常情況下接受二次蒸餾水作為測試水滴角值的探針液體。眾所周知，溫度不同，水的表面張力值通常也會變化。20度時(shí)，二次蒸餾水的表面張力值為72.8mN/m，25度時(shí)蒸餾水的表面張力值為72mN/m。因而，接受水滴角測試儀測得的水接觸角值或水滴角值因不同的表面張力值的探針蒸餾水而略有不同。同時(shí)，使用過專業(yè)十萬分之一分析天平作為核心稱重傳感器的表面張力儀的用戶會知道；假如水受污染（比如將手指放入到測試蒸餾水中），表面張力值會有明顯變化；即水的表面張力值測試很敏感，特別簡單受到污染；因而此時(shí)假如用污染后的只有65mN/m左右的蒸餾水去測試固體材料的接觸角值時(shí)，測值結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)的蒸餾水表面張力值為72mN/m時(shí)，會存在明顯的區(qū)分。2、水滴角測試儀的基本原理是什么？目前市場上有很多自稱是“水滴角測量儀”的分析儀器；通常這些儀器是將臥式顯微鏡或平整度分析儀加添一個(gè)進(jìn)液裝置后，再接受簡單的量角度軟件（如圓擬合分析工具、橢圓擬合分析工具）進(jìn)行測量。通過如上描述，用戶就會明顯看出，這樣的儀器只能是基于顯微鏡的一個(gè)量測二維條件下的水滴輪廓的角度的工具而已。如上所述，水滴角值是表征固體材料物理化學(xué)性質(zhì)值，這個(gè)值屬于物理化學(xué)領(lǐng)域。且由于如下固體材料客觀存在的原因：（1）表面粗糙度：導(dǎo)致各視角條件下角度可能有不同；（2）化學(xué)多樣性：比如生銹的鐵銹位置與沒有生銹的位置，膜表面的不均勻等等；（3）異構(gòu)性：表面的晶體生長方向、如水稻葉表面一張的經(jīng)緯方向不同等。造成了客觀存在的側(cè)視條件下測試水滴角值時(shí)在三維角度下易形成的左、右、前、后各位置的不同接觸角值的變化。舉例而言，晶圓表面蝕刻后形成的納米級的結(jié)構(gòu)易造成不同視角下的接觸角不同；液晶防指紋效果中表面鍍膜不均勻造成的角度變化；PC