《材料近代分析測(cè)試方法》課程教學(xué)大綱

《材料近代分析測(cè)試方法》課程教學(xué)大綱一、課程基本情況課程代碼：101145123404課程名稱（中/英文）：材料近代分析測(cè)試方法/MethodsofAnalysisforMaterials課程類別：專業(yè)選修課程學(xué)分：1.5總學(xué)時(shí)：24理論學(xué)時(shí)：24實(shí)驗(yàn)/實(shí)踐學(xué)時(shí)：0適用專業(yè)：焊接技術(shù)與工程適用對(duì)象：本科先修課程：大學(xué)物理、材料科學(xué)基礎(chǔ)教學(xué)環(huán)境：多媒體教室開課學(xué)院：材料科學(xué)與工程學(xué)院二、課程簡(jiǎn)介1.課程任務(wù)與目的本課程是焊接技術(shù)與工程專業(yè)的專業(yè)選修課程之一，課程系統(tǒng)的闡述了材料近代分析測(cè)試方法，包括X射線衍射分析、透射電子顯微鏡分析、掃描電鏡及電子探針、表面分析技術(shù)、掃描探針顯微分析等。通過該課程的學(xué)習(xí)，要求學(xué)生理解和掌握材料物相、結(jié)構(gòu)、成分的分析方法及其原理，掌握樣品的制備、測(cè)試參數(shù)的選擇、數(shù)據(jù)和曲線的處理以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法，培養(yǎng)學(xué)生對(duì)材料微觀組織、結(jié)構(gòu)、成分等的分析測(cè)試及研究的能力，了解較先進(jìn)的材料分析測(cè)試方法和應(yīng)用。在本課程中貫徹社會(huì)主義思想核心價(jià)值觀，樹立尊重科學(xué)，認(rèn)真負(fù)責(zé)的工作態(tài)度，立足于培養(yǎng)學(xué)生的實(shí)踐技能、工匠精神、創(chuàng)新思維、較強(qiáng)的應(yīng)用能力和可持續(xù)發(fā)展能力，樹立自主創(chuàng)新，勇于開拓的勵(lì)志情懷，在學(xué)習(xí)和今后的工作中為建設(shè)中國(guó)特色社會(huì)主義事業(yè)貢獻(xiàn)自己的聰明才智。2.對(duì)接培養(yǎng)的崗位能力通過本課程學(xué)習(xí)，使學(xué)生掌握材料的近代分析測(cè)試方法，為本專業(yè)學(xué)生從事材料的分析與測(cè)試，分析產(chǎn)品的性能優(yōu)劣，閱讀與寫作專業(yè)文獻(xiàn)，了解專業(yè)內(nèi)的技術(shù)動(dòng)態(tài)，從事新產(chǎn)品、新工藝的研究與研發(fā)等工作奠定必要的理論和技術(shù)基礎(chǔ)。三、課程教學(xué)目標(biāo)1.課程對(duì)畢業(yè)要求的支撐[畢業(yè)要求指標(biāo)點(diǎn)4.3]能夠根據(jù)研究方案，利用實(shí)驗(yàn)平臺(tái)或裝置，安全的開展科學(xué)實(shí)驗(yàn)，分析和解釋焊接加工實(shí)驗(yàn)結(jié)果，并通過信息綜合得到合理有效的結(jié)論。[畢業(yè)要求指標(biāo)點(diǎn)5.1]了解焊接加工領(lǐng)域常用的現(xiàn)代儀器、信息技術(shù)工具、工程工具的使用原理和方法，并理解其局限性。[畢業(yè)要求指標(biāo)點(diǎn)12.2]能針對(duì)個(gè)人或職業(yè)發(fā)展的需求，了解國(guó)內(nèi)外前沿發(fā)展、技術(shù)更新的動(dòng)態(tài)，具有自主學(xué)習(xí)的能力。2.課程教學(xué)目標(biāo)對(duì)應(yīng)畢業(yè)要求指標(biāo)點(diǎn)，具體內(nèi)容如下教學(xué)目標(biāo)1：了解和掌握材料近代分析測(cè)試方法的基本原理和基本知識(shí)。掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇。（支撐畢業(yè)要求5.1）教學(xué)目標(biāo)2：掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。（支撐畢業(yè)要求4.3）教學(xué)目標(biāo)3：掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法，能夠從事材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分的微觀分析與測(cè)試方法方面的工作；能夠針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，并對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；能夠根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料，并能進(jìn)行材料性能優(yōu)劣的評(píng)價(jià)；能夠根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，選擇與設(shè)計(jì)相關(guān)工藝和設(shè)備；能夠從事新產(chǎn)品、新工藝的研究與研發(fā)。（支撐畢業(yè)要求4.3）教學(xué)目標(biāo)4：能夠根據(jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，閱讀與寫作焊接技術(shù)專業(yè)文獻(xiàn)，能夠根據(jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法了解專業(yè)內(nèi)的技術(shù)動(dòng)態(tài)，理解焊接科學(xué)技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)和先進(jìn)理念，為今后從事相關(guān)工作具備終身學(xué)習(xí)能力奠定基礎(chǔ)。（支撐畢業(yè)要求12.2）四、教學(xué)課時(shí)安排（一）學(xué)時(shí)分配主題或知識(shí)點(diǎn)教學(xué)內(nèi)容總學(xué)時(shí)學(xué)時(shí)完成課程教學(xué)目標(biāo)講課實(shí)驗(yàn)實(shí)踐主題或知識(shí)點(diǎn)1X射線物理學(xué)基礎(chǔ)22001主題或知識(shí)點(diǎn)2X射線運(yùn)動(dòng)學(xué)衍射理論44001主題或知識(shí)點(diǎn)3X射線衍射方法22001、2、3、4主題或知識(shí)點(diǎn)4多晶體的物相分析22001、2、3、4主題或知識(shí)點(diǎn)5電子與物質(zhì)的交互作用22001主題或知識(shí)點(diǎn)6透射電子顯微分析44001、2、3、4主題或知識(shí)點(diǎn)7掃描電子顯微分析44001、2、3、4主題或知識(shí)點(diǎn)8材料表面分析技術(shù)22001、2、3、4主題或知識(shí)點(diǎn)9掃描探針顯微鏡22001、4合計(jì)242400五、教學(xué)內(nèi)容及教學(xué)設(shè)計(jì)主題或知識(shí)點(diǎn)1X射線物理學(xué)基礎(chǔ)介紹X射線發(fā)現(xiàn)史及十九世紀(jì)科學(xué)發(fā)展史，使學(xué)生了解科學(xué)發(fā)現(xiàn)及發(fā)展的規(guī)律，樹立學(xué)科自豪感，激發(fā)科學(xué)興國(guó)和投身祖國(guó)建設(shè)的理想。，同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法?；蛑R(shí)點(diǎn)X射線衍射方向、布拉格方程的討論、倒易點(diǎn)陣、X射線衍射強(qiáng)度及影響因素。介紹物相鑒定發(fā)現(xiàn)史，使學(xué)生樹立科學(xué)史觀，并將之帶入生產(chǎn)生活中，帶著“發(fā)現(xiàn)”的眼睛，激發(fā)學(xué)生工業(yè)興國(guó)思想。X射線衍射方向、布拉格方程的討論、X射線衍射強(qiáng)度及影響因素。布拉格方程、X射線衍射強(qiáng)度。，同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)3X射線衍射方法粉末照相法原理及特點(diǎn)，X射線衍射儀的原理、構(gòu)造及應(yīng)用，勞厄?qū)嶒?yàn)方法，勞厄衍射花樣指數(shù)化方法。在本節(jié)中加入X射線衍射儀發(fā)展介紹，使學(xué)生樹立在科學(xué)儀器領(lǐng)域國(guó)產(chǎn)替代，激勵(lì)學(xué)生勇迎挑戰(zhàn)、勇于創(chuàng)新、勇?lián)?zé)任，振興祖國(guó)科技發(fā)展的思想。粉末照相法原理及特點(diǎn)，X射線衍射儀的原理、構(gòu)造及應(yīng)用，勞厄衍射花樣指數(shù)化方法。勞厄成像原理、衍射斑點(diǎn)分布規(guī)律。，同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)4多晶體的物相分析1.教學(xué)內(nèi)容物相定性分析方法、物相定量分析方法、PDF卡片、計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索分析物相的方法。在本節(jié)中加入X射線物相定性分析軟件的發(fā)展介紹，使學(xué)生樹立在科學(xué)儀器領(lǐng)域國(guó)產(chǎn)替代，激勵(lì)學(xué)生勇迎挑戰(zhàn)、勇于創(chuàng)新、勇?lián)?zé)任，振興祖國(guó)科技發(fā)展的思想。2.教學(xué)重點(diǎn)物相定性分析方法、物相定量分析方法。3.教學(xué)難點(diǎn)物相的定量分析原理和方法。4.教學(xué)方案設(shè)計(jì)（含教學(xué)方法、教學(xué)手段），同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)5電子與物質(zhì)的交互作用彈性散射、非彈性散射、二次電子、被散射電子、吸收電子、透射電子、特征X射線產(chǎn)生的機(jī)制及其應(yīng)用。將阿貝成像理論與光刻機(jī)的原理結(jié)合，介紹我國(guó)半導(dǎo)體與光刻機(jī)發(fā)展現(xiàn)狀及國(guó)外對(duì)我國(guó)半導(dǎo)體與光刻機(jī)的技術(shù)封鎖，激發(fā)學(xué)生愛國(guó)感情和奮發(fā)圖強(qiáng)投身祖國(guó)科技發(fā)展的理想。2.教學(xué)重點(diǎn)二次電子、被散射電子、透射電子、特征X射線產(chǎn)生的機(jī)制及其應(yīng)用。二次電子、特征X射線產(chǎn)生的機(jī)制及其應(yīng)用。，同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)6透射電子顯微分析介紹透射電子顯微鏡制造技術(shù)的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀，激勵(lì)學(xué)生勇迎挑戰(zhàn)、勇于創(chuàng)新、勇?lián)?zé)任，振興祖國(guó)科技的思想。，同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)7掃描電子顯微分析內(nèi)容掃描電鏡工作基本原理，掃描電鏡的結(jié)構(gòu)，掃描電鏡的主要性能，掃描電鏡樣品制備及數(shù)據(jù)分析，表面形貌襯度及應(yīng)用，電子被散射襯度及應(yīng)用，波譜儀和能譜儀，電子探針分析方法，微區(qū)成分分析技術(shù)。在本節(jié)中介紹相關(guān)先進(jìn)材料，使學(xué)生樹立工匠精神、創(chuàng)新思維，樹立自主創(chuàng)新，勇于開拓的科學(xué)精神。2.教學(xué)重點(diǎn)掃描電鏡工作基本原理，掃描電鏡樣品制備及數(shù)據(jù)分析，表面形貌襯度及應(yīng)用，電子被散射襯度及應(yīng)用，波譜儀和能譜儀，電子探針分析方法，微區(qū)成分分析技術(shù)3.教學(xué)難點(diǎn)表面形貌襯度及應(yīng)用、電子被散射襯度及應(yīng)用4.教學(xué)方案設(shè)計(jì)（含，同時(shí)授課過程中穿插問題討論式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)8材料表面分析技術(shù).教學(xué)內(nèi)容俄歇電子能譜分析、X射線光電子能譜分析、原子探針顯微分析。在本節(jié)中介紹相關(guān)需表面分析的先進(jìn)材料，使學(xué)生樹立理論聯(lián)系實(shí)際，自主創(chuàng)新，勇于開拓的科學(xué)精神。2.教學(xué)重點(diǎn)俄歇電子能譜分析、X射線光電子能譜分析3.教學(xué)難點(diǎn)X射線光電子能譜分析4.教學(xué)方案設(shè)計(jì)（含教學(xué)方法、教學(xué)手段），同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、案例式，啟發(fā)式等教學(xué)方法。主題或知識(shí)點(diǎn)9掃描探針顯微鏡內(nèi)容掃描探針顯微鏡的基本原理、掃描隧道顯微鏡在材料研究中的應(yīng)用。原子力顯微鏡；其他掃描探針顯微鏡簡(jiǎn)介。介紹原子級(jí)的分析和加工技術(shù)，介紹我國(guó)量子器件的發(fā)展，激發(fā)學(xué)生的民族自豪感和專業(yè)學(xué)習(xí)的興趣。2.教學(xué)重點(diǎn)掃描探針顯微鏡的基本原理、掃描隧道顯微鏡在材料研究中的應(yīng)用。3.教學(xué)難點(diǎn)掃描隧道顯微鏡在材料研究中的應(yīng)用4.教學(xué)方案設(shè)計(jì)（含教學(xué)方法、教學(xué)手段），同時(shí)授課過程中穿插問題互動(dòng)式、討論式、啟發(fā)式等教學(xué)方法。六、學(xué)生成績(jī)?cè)u(píng)定1.課程考核方式及比例考核學(xué)生獲取知識(shí)的能力、應(yīng)用所學(xué)知識(shí)分析問題和解決問題的能力；考核方式采用出勤、作業(yè)、階段測(cè)驗(yàn)、小論文、期末考試等多種形式、多個(gè)階段、多種類型的全過程考核，使學(xué)生成績(jī)?cè)u(píng)定更加合理多樣，優(yōu)化課程評(píng)價(jià)體系，進(jìn)一步提升本課程教學(xué)效果。學(xué)生成績(jī)?cè)u(píng)定表考核方式平時(shí)成績(jī)期中考試期末考試出勤作業(yè)課堂表現(xiàn)階段測(cè)驗(yàn)答辯項(xiàng)目小論文其他√√√√√成績(jī)比例%51051010602.課程目標(biāo)考核方式評(píng)價(jià)權(quán)重本課程教學(xué)目標(biāo)與考核方式評(píng)價(jià)權(quán)重如表所示：課程教學(xué)目標(biāo)與考核方式評(píng)價(jià)權(quán)重表課程教學(xué)目標(biāo)支撐畢業(yè)要求指標(biāo)點(diǎn)考核評(píng)價(jià)方式權(quán)重（%）過程性考核小論文期末考試合計(jì)出勤及課堂表現(xiàn)作業(yè)階段測(cè)驗(yàn)教學(xué)目標(biāo)1指標(biāo)點(diǎn)5.1353015~3021~41教學(xué)目標(biāo)2指標(biāo)點(diǎn)4.3353015~3026~41教學(xué)目標(biāo)3指標(biāo)點(diǎn)4.3404015~3023~38教學(xué)目標(biāo)4指標(biāo)點(diǎn)12.210合計(jì)10101010601003.成績(jī)?cè)u(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)平時(shí)成績(jī)?cè)u(píng)定及考核標(biāo)準(zhǔn)考核環(huán)節(jié)考核結(jié)果及標(biāo)準(zhǔn)評(píng)估項(xiàng)目及權(quán)重優(yōu)秀（90~100分）良好（80~89分）中等（70~79分）及格（60~69分）不及格（<60分）出勤及課堂表現(xiàn)（10%）無遲到、早退、曠課現(xiàn)象。積極參加課堂討論，并有自己獨(dú)到的見解，能夠準(zhǔn)確回答問題，并有自己獨(dú)到的見解偶爾有遲到、早退現(xiàn)象。較為積極參加課堂討論，能夠準(zhǔn)確回答問題，并提出自己的見解有遲到、早退現(xiàn)象。能夠主動(dòng)參加課堂討論，能夠回答問題有遲到、早退、偶爾有曠課現(xiàn)象。參與課堂討論，基本能回答相關(guān)問題遲到、早退、曠課較多。不能有效參加課堂討論，回答不出所有問題作業(yè)（10%）能夠獨(dú)立完成作業(yè)，作業(yè)完成質(zhì)量?jī)?yōu)秀，能夠靈活運(yùn)用所學(xué)知識(shí)和理論解決問題，并獲得正確結(jié)論能夠獨(dú)立完成作業(yè)，完成質(zhì)量較高，能夠運(yùn)用所學(xué)知識(shí)和理論解決問題，并獲得正確結(jié)論能夠獨(dú)立完成作業(yè)，完成質(zhì)量符合要求，能夠運(yùn)用所學(xué)知識(shí)和理論解決問題，并獲得有效結(jié)論基本能夠獨(dú)立完成作業(yè)，部分題目解答存在抄襲現(xiàn)象，運(yùn)用所學(xué)知識(shí)和理論解決問題的能力基本符合要求不能獨(dú)立完成作業(yè)，存在明顯抄襲現(xiàn)象，不具備運(yùn)用所學(xué)知識(shí)和理論解決問題的能力階段測(cè)驗(yàn)（10%）完成所有階段測(cè)驗(yàn)，根據(jù)參考答案評(píng)分，總評(píng)成績(jī)?yōu)閮?yōu)秀完成所有階段測(cè)驗(yàn)，根據(jù)參考答案評(píng)定分，總評(píng)成績(jī)?yōu)閮?yōu)良完成所有階段測(cè)驗(yàn)，根據(jù)參考答案評(píng)分，總評(píng)成績(jī)?yōu)橹械韧瓿伤须A段測(cè)驗(yàn)，根據(jù)參考答案評(píng)分，總評(píng)成績(jī)?yōu)榧案駴]有完成階段測(cè)試，根據(jù)參考答案評(píng)分，總評(píng)成績(jī)不及格小論文（10%）能夠根據(jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，閱讀、理解專業(yè)文獻(xiàn)，熟練掌握文獻(xiàn)中的測(cè)試方法，與課本知識(shí)結(jié)合獨(dú)立完成論文，具有自己的獨(dú)特見解。能夠根據(jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，閱讀、理解專業(yè)文獻(xiàn)，掌握文獻(xiàn)中的測(cè)試方法，與課本知識(shí)結(jié)合獨(dú)立完成論文，具有一定的見解?；灸軌蚋鶕?jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，閱讀、理解專業(yè)文獻(xiàn)，基本掌握文獻(xiàn)中的測(cè)試方法，與課本知識(shí)結(jié)合獨(dú)立完成論文?；灸軌蚋鶕?jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，閱讀、理解專業(yè)文獻(xiàn)，與課本知識(shí)結(jié)合完成論文。不能根據(jù)近代材料分析研究與測(cè)試方法，不能掌握文獻(xiàn)中的測(cè)試方法，不能與課本知識(shí)結(jié)合獨(dú)立完成論文。課程教學(xué)目標(biāo)評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)考核環(huán)節(jié)考核結(jié)果及標(biāo)準(zhǔn)評(píng)估項(xiàng)目及權(quán)重優(yōu)秀（90~100分）良好（80~89分）中等（70~79分）及格（60~69分）不及格（<60分）教學(xué)目標(biāo)1熟練掌握材料分析測(cè)試的基本原理和基本知識(shí)。熟練掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；熟練掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇。正確掌握材料分析測(cè)試的基本原理和基本知識(shí)。正確掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；正確掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇。掌握材料分析測(cè)試的基本原理和基本知識(shí)。掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇?；菊莆詹牧戏治鰷y(cè)試的基本原理和基本知識(shí)。基本掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；基本掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇。未掌握材料分析測(cè)試的基本原理和基本知識(shí)。未掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析、掃描探針顯微分析的基本原理與分析方法；未掌握多晶X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀和波譜儀、掃描探針顯微鏡的工作原理和使用方法、測(cè)試參數(shù)的選擇。教學(xué)目標(biāo)2熟練掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；熟練掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。正確掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；正確掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。基本掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；基本掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。未掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析測(cè)試試樣的制備方法；未掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針、電子能譜分析的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及數(shù)據(jù)和曲線的處理，以及實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析方法。教學(xué)目標(biāo)3熟練綜合掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法；能夠熟練針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，熟練地對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；能夠熟練根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料；能夠熟練根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。正確綜合掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法；能夠正確針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，正確地對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；能夠正確地根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料；能夠正確根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。能夠綜合掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法；能夠針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；能夠根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料；能夠根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)?；灸軌蚓C合掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法；基本能夠針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；基本能夠根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料；基本能夠根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。未能夠綜合掌握材料的物相、結(jié)構(gòu)及成分、表面的微觀分析與測(cè)試方法；未能夠針對(duì)金屬材料工程領(lǐng)域的復(fù)雜工程問題設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理和解釋；未能夠根據(jù)物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，選用合適的材料；未能夠根據(jù)材料的物相、微觀結(jié)構(gòu)及成分，進(jìn)行材