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第三章測試經(jīng)濟(jì)學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量3.1測試經(jīng)濟(jì)學(xué)3.2良率3.3測量品質(zhì)的缺陷等級3.1測試經(jīng)濟(jì)學(xué)總成本（TC）=固定成本（FC）+可變成本（VC）平均成本（AC）=總成本/產(chǎn)量TotalCostCostperIC

VariablecostDieCostWaferSizeYield3.1測試經(jīng)濟(jì)學(xué)十倍法則：如果一個芯片故障沒有在芯片測試時發(fā)現(xiàn)，那么在PCB級別發(fā)現(xiàn)故障的成本就是芯片級別的10倍。如果一個PCB故障沒有在電路板測試時被發(fā)現(xiàn)，那么在系統(tǒng)級別發(fā)現(xiàn)錯誤的成本將是PCB級別的10倍。3.2良率良率（yield）=好的芯片數(shù)目/生產(chǎn)出來的總的芯片數(shù)圓片良率：一個圓片上的好芯片的平均數(shù)3.2良率3.3測量品質(zhì)的缺陷等級缺陷級別：在通過測試的芯片中，故障芯片所占的比例。通常用每百萬個芯片中的故障芯片數(shù)來表示（ppm）。EX3.1Therearesomeparametersoftwodifferentprocessofachip.Theexpectedsaleofthischipbetween100,000and500,000.canyoufigureoutthecostofperchipwith65nmand90nmprocess.Everyonecanchooseadifferentprodu

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