JJF(浙) 1132-2016 圓測頭千分尺校準規(guī)范

CalibrationSpecificationforcircleanvilmicrometer浙江省質量技術監(jiān)督局發(fā)布I圓測頭千分尺校準規(guī)范 (Ⅲ) 2引用文件 3.1示值變動性 (1)4概述 5計量特性 5.2測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量 （2） 5.13校對用量桿尺寸偏差和尺寸變動量 （4） （4） 7.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離 （8） （8） （8） （9） （9） （9）附錄A圓測頭千分尺示值誤差測量結果的不確定度評定 (14)1圓測頭千分尺校準規(guī)范凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是圓測頭千分尺是應用螺旋副結構，將回轉運動變?yōu)橹本€運動的計量器具，其測微螺桿為圓頭形狀，固定測砧有圓頭和平面二種形狀。主要用于測量各種工件外尺寸。它由尺架、固定測砧、測微螺桿、測力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝2圓測頭千分尺的測力系指測微螺桿測量面與量具測力儀平面接觸時所作用的3當測量下限調整正確后，微分筒上的零刻線與固定套412123量具測力儀MPE：±1.0%45微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線—789—5一般情況下用手感檢查測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動。有異議時，可按7.1.1測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分表校準。校準時，杠桿千分表與測微7.1.2測微螺桿的徑向擺動，用杠桿千分表校準。校準時，將測微螺桿伸出尺徑向擺動量。徑向擺動的測量應在測微螺桿相互垂直的兩個方向進行。此過程6（0～25）mm的圓測頭千分尺可目力觀察圓測頭千分尺測砧與測微螺桿測量面的偏移量，測量上限大于25mm的圓測頭千分尺可借助校對用量桿進行校用杠桿百分表校準測砧與測微螺桿在這一方位上的偏移量x，然后將尺架側轉7在工具顯微鏡上校準。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻當測量下限調整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套筒任意毫米刻線的對于固定測砧測量面是平面的，用二級平面平晶以技術光波法進行校準。將平面平晶的測量面與固定測砧的平面研合，其形成的干涉環(huán)或干涉帶的最小8的圓測頭千分尺，用兩測量面直接接觸調整零位；對其他測量范圍的用校對量e=Li-Ls>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋259圓測頭千分尺校對用量桿的尺寸偏差及變動量在光學計或測長機上采用4等量塊以比較法進行校準。對于平測量面的校對用量桿應采用球面測帽在圖7圓測頭千分尺的校準時間間隔，由于復校時間間隔的長短是由圓測頭千分尺的使用情況、使用者、圓測頭千分尺本身質量等因素所決定的，可根據(jù)實際A.1概述A.1.3測量對象：圓測頭千分尺和數(shù)顯圓測頭千分尺，測量范圍為(0～100)cLb.αc.ΔtcLb.αb.Δtb（A.1）αc，αb——圓測頭千分尺和量塊的線脹系數(shù)，℃-1；cb基本是采用同一只溫度計測量而具有相關性，其數(shù)學處理過令δα=αcαb，δt=ΔtcΔtb得e=Lc-Lb+L.δα.Δt.+L.α.δt24為uc2121222u22+c32u32+c42u42(A.4)122)2+(L.Δt)2.u32+(L.α)2.u42u(xi)ciu11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.57μmu(xi)ciu11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.81μmA.6.1圓測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量u1量重復性引入的不確定度分量，因此圓測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量作為u1。A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22校準點25mm量塊不確定度為u220.5+5×25×103×10-6）μm/2.58=0.24校準點100mm量塊不確定度為u220.5+A.6.3圓測頭千分尺與量塊間線脹系數(shù)差引入的不確定度u3A.6.4圓測頭千分尺和量塊間的溫度差引入的不確定度u4圓測頭千分尺和量塊間的溫度差存在,并