10m100m1000m以太網(wǎng)電口指標(biāo)測(cè)試方法培訓(xùn)膠片

1、10M、100M、1000M 以太網(wǎng)接口信號(hào)測(cè)試方法以太網(wǎng)接口信號(hào)測(cè)試方法 謝才東謝才東 硬件測(cè)試部硬件測(cè)試部 1、測(cè)試工具介紹、測(cè)試工具介紹 2、相關(guān)技術(shù)介紹、相關(guān)技術(shù)介紹 3、測(cè)試方法介紹、測(cè)試方法介紹 4、測(cè)試注意事項(xiàng)、測(cè)試注意事項(xiàng) 5、測(cè)試案例介紹、測(cè)試案例介紹 測(cè)試工具介紹測(cè)試工具介紹 測(cè)試工具介紹測(cè)試工具介紹 1、 示波器示波器 1） TDS7000 、TDS6000或 CSA7000 系列示波器 2）差分探頭（帶寬1G以上） 3）單端探頭（帶寬1G以上） 2、TDSET3以太網(wǎng)兼容測(cè)試軟件以太網(wǎng)兼容測(cè)試軟件 TDSET3符合IEEE 802.3-2000 和 ANSI X3.26

2、3-1995標(biāo) 準(zhǔn)的以太網(wǎng)物理層1000BASE-T、 100BASE-TX 和 10BASE-T的測(cè)試應(yīng)用軟件。軟件直接安裝在 TDS6000, TDS7000 或 CSA7000 系列示波器上。 3、TF-GBE 測(cè)試夾具測(cè)試夾具 測(cè)試夾具配合TDSET3軟件和示波器來測(cè)試以太網(wǎng)的十 兆、百兆、千兆電口的接口指標(biāo)。其上配有以太網(wǎng)口， 電阻、電容等匹配電路和插針，根據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)目選 擇不同的電路直接連接以太網(wǎng)口和示波器差分探頭，無 需外加元器件。 4、其它工具：、其它工具： 1）超五類UTP網(wǎng)線 2）短接帽 3）50歐姆同軸電纜 測(cè)試工具介紹測(cè)試工具介紹 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 相關(guān)技術(shù)

3、介紹相關(guān)技術(shù)介紹 1、接口介紹 1）1000BASE-T MDI接口 1000BASE-T的物理層包括PCS和PMA子層，通過GMII接 口和MAC層相連，通過MDI接口和對(duì)端物理層相連。 MDI接口包括BI_DA+/-、BI_DB+/-、BI_DC+/-、 BI_DD+/-共8根線，每根線傳輸頻率125M，采用4D- PAM5編碼方式。 2） 100BASE-T MDI接口 只采用兩對(duì)線（1、2和3、6），收發(fā)分開在不同線對(duì)上傳 輸，頻率125M，碼型為MLT-3，支持全/半雙工模式。 3） 10BASE-T MDI接口 只采用兩對(duì)線（1、2和3、6），收發(fā)分開在不同線對(duì)上傳 輸，頻率20M

4、，采用曼徹斯特編碼，支持全/半雙工模式。 2、自動(dòng)協(xié)商功能介紹、自動(dòng)協(xié)商功能介紹： 自協(xié)商功能允許一個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備能夠?qū)⒆约核С?的工作模式信息傳達(dá)給網(wǎng)絡(luò)上的對(duì)端，并接受 對(duì)方可能傳遞過來的相應(yīng)信息。 1）FLP脈沖 將協(xié)商信息封裝進(jìn)連接整合性測(cè)試脈沖。這串 脈沖被稱為快速連接脈沖（FLP）。每個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè) 備必須能夠在上電、管理命令發(fā)出、或是用戶 干預(yù)時(shí)發(fā)出此串脈沖。 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 脈沖序列中的第一個(gè)脈沖為時(shí)鐘脈沖，并在其后每隔脈沖序列中的第一個(gè)脈沖為時(shí)鐘脈沖，并在其后每隔125us 出現(xiàn)一個(gè)時(shí)鐘脈沖，數(shù)據(jù)脈沖出現(xiàn)的位置在相鄰兩個(gè)時(shí)鐘脈出現(xiàn)一個(gè)時(shí)鐘脈沖，數(shù)據(jù)脈沖出現(xiàn)的位置在相鄰兩個(gè)時(shí)鐘

5、脈 沖的中點(diǎn)上。且以正脈沖表示邏輯沖的中點(diǎn)上。且以正脈沖表示邏輯1，無脈沖表示邏輯，無脈沖表示邏輯0。一。一 個(gè)個(gè)FLP脈沖序列包含脈沖序列包含17個(gè)時(shí)鐘脈沖，個(gè)時(shí)鐘脈沖，16個(gè)數(shù)據(jù)脈沖。如下圖個(gè)數(shù)據(jù)脈沖。如下圖 所示：所示： 時(shí) 鐘 脈 沖 首 位 脈 沖 數(shù) 據(jù) 位 編 碼 110 1 D0D1D2D3 時(shí) 間 T1 T2 T3 T1： 100nsT2： 62.5usT3： 125us 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 2）NLP脈沖脈沖： NLP脈沖波形要比FLP簡(jiǎn)單，它只是在沒有數(shù) 據(jù)幀發(fā)送時(shí)每隔16ms發(fā)送一次正脈沖。 FLP Burst NLPs T4 T5 T4： 2ms T5： 16m

6、s 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 3、PHY芯片芯片1000M接口測(cè)試模式接口測(cè)試模式 1）測(cè)試項(xiàng)目： 序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試模式 1眼圖1 2DROOP1 3峰值電壓1 4抖動(dòng)2和3 5失真4 6共模電壓4 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 2）測(cè)試模式）測(cè)試模式1輸出測(cè)試波形輸出測(cè)試波形 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 3）測(cè)試模式）測(cè)試模式2、3輸出波形輸出波形 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 3）測(cè)試模式）測(cè)試模式4輸出波形輸出波形 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 4）四個(gè)測(cè)試模式可以通過設(shè)置）四個(gè)測(cè)試模式可以通過設(shè)置PHY芯片的內(nèi)部寄芯片的內(nèi)部寄 存器來實(shí)現(xiàn)，如存器來實(shí)現(xiàn)，如GV48單板的單板的88E1145芯片，在芯

7、片，在 VTP界面下通過如下命令來實(shí)現(xiàn)：界面下通過如下命令來實(shí)現(xiàn)： Sys _ _wri phyreg gx/x/x 09 2300(模式一模式一) _wri phyreg gx/x/x 09 4300(模式二模式二) _wri phyreg gx/x/x 09 6300(模式三模式三) _wri phyreg gx/x/x 09 8300(模式四模式四) 相關(guān)技術(shù)介紹相關(guān)技術(shù)介紹 測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1、1000M測(cè)試方 法 1）使用測(cè)試夾 具的TC2模板 來測(cè)試差模輸 出模板、差模 輸出電壓。測(cè) 試組網(wǎng)如左圖 所示： 測(cè)試步驟 按測(cè)試組網(wǎng)圖，連接好

8、儀器和被測(cè)設(shè)備：用以太網(wǎng)線連接 交換機(jī)被測(cè)網(wǎng)口和J490。 上電，寫被測(cè)試的端口對(duì)應(yīng)PHY芯片的控制寄存器，設(shè)置 測(cè)試模式 test mode 1方式。各PHY芯片內(nèi)部寄存器有差別， 現(xiàn)以88E1145芯片為例，做如上設(shè)置。（具體寄存器說明 請(qǐng)參考芯片datasheet） Sys _ _wri phyreg gx/x/x 09 2300(模式一) 連接差分探頭至測(cè)試夾具的J360，測(cè)試第一對(duì)差分對(duì)。 調(diào)用示波器的TDSET3軟件File-Run Application-Ethernet Compliance Test Software。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1000M測(cè)試方法介

9、紹測(cè)試方法介紹 從菜單下選擇File-Recall Default Setup, 調(diào)用系統(tǒng)默認(rèn)配置。 選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests- Select- 1000BASE-T； 或從 Selection面板中選擇Select。然后從Speed面板中選1000-T。 在右邊Select :1000Base-T窗口中Template標(biāo)簽下選擇“Select all”。 改變配置：在菜單下選擇改變配置：在菜單下選擇Tests - Configure，或，或 從從 Selection面板中選擇面板中選擇Configure。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 在配置面板中，各參數(shù)介紹如下表：在配置

10、面板中，各參數(shù)介紹如下表： 參數(shù)參數(shù)選項(xiàng)選項(xiàng)功能功能 Data CHI,CH2,CH3, or CH4 選擇DUT連接的通道 #Averages 64 to 10000 輸出波形平均點(diǎn)數(shù) Output Ref1,Ref2,Ref3, or Ref4 選擇在測(cè)試過程中將被 存貯的參考波形 Disturbing Signal Yes or No 選擇測(cè)試過程中是否加 入干擾 Filter Int or Ext 選擇是否使用濾波。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 各參數(shù)設(shè)置如下表：各參數(shù)設(shè)置如下表： 參數(shù)參數(shù)選項(xiàng)選項(xiàng)設(shè)置設(shè)置 Data CHI,CH2,CH3, or CH4 如CH1 #Aver

11、ages 64 to 10000 1000 Output Ref1,Ref2,Ref3, or Ref4 Ref1 Disturbing Signal Yes or No No Filter Int or Ext Int 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 查看實(shí)際波形：在菜單下選擇Tests - View Wfm，或從 Selection面板中選擇View Wfm。 此時(shí)示波器顯示實(shí)際波形， 比較一下是否與給出的波形相似。 運(yùn)行測(cè)試：如果相似，點(diǎn)擊Run Test開始測(cè)試。 查看結(jié)果：該應(yīng)用程序自動(dòng)輸出結(jié)果pass 或 fail。點(diǎn)擊面板的 Result按鈕，可以顯示測(cè)試結(jié)果。如果測(cè)試通過，

12、顯示pass; 測(cè) 試不通過，簡(jiǎn)要給出測(cè)試不通過的信息。 保存輸出文檔：在菜單下選擇Utilities - Report Generator，點(diǎn) 擊Generate Report 按鈕； 出現(xiàn)Assign Data to Report對(duì)話框， 選中所有的選項(xiàng)，點(diǎn)擊Assign按鈕；出現(xiàn)Report Viewer窗口， 該文件含有測(cè)試波形和測(cè)量數(shù)據(jù)；在菜單下選擇File-export to rtf，另存為自己的文件（rtf格式的文件可通過word打開）。 重復(fù)步驟a)-f)，選擇其它測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。 依次連接差分探頭至P470、P460、P461，重復(fù)步驟35，測(cè) 試其它差分對(duì)。 1000M測(cè)試

13、方法介紹測(cè)試方法介紹 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 CONNECT界面 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 VIEW界面 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 1000Base-T Differential output template point A 1000Base-T Differential output template point C 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 1000Base-T Differential output template point F 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 1000Base-T Maximum output droop point G 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例

14、1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 2）主發(fā)送器定時(shí)抖動(dòng)）主發(fā)送器定時(shí)抖動(dòng) 在菜單下選擇Tests- Select- 1000BASE-T；或從 Selection面板中 選擇Select。然后從Speed面板中選1000-T。在右邊 Select :1000Base-T窗口中Jit/Distortion標(biāo)簽下選擇Jitter-Master Filtered進(jìn)行Filtered模式/測(cè)試，或選擇Jitter-Master Unfiltered進(jìn)行 Unfiltered模式測(cè)試。 A）Filtered模式模式 測(cè)試組圖 如圖所示： 1、使用以太網(wǎng)測(cè)試夾具的 TC3測(cè)試主時(shí)鐘的抖動(dòng)。 組網(wǎng)如下圖。

15、圖中所 示的Link partner，在實(shí) 際測(cè)試中可以選擇與 DUT相同的設(shè)備即可。 2、設(shè)DUT為主，正常工作 模式。 3、用網(wǎng)線連接DUT的測(cè)試 端口至夾具的J501。 4、連接Link Partner的端口 至J580。 5、使用單端探頭測(cè)試DUT 的TXCLK信號(hào)。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 6、使用以太網(wǎng)測(cè)試夾具的 TC2測(cè)試相對(duì)應(yīng)主時(shí) 鐘的數(shù)據(jù)抖動(dòng)。組網(wǎng) 如右圖所示： 7、設(shè)DUT工作在測(cè)試模式 2下。 8、用網(wǎng)線連接DUT測(cè)試端 口至夾具的J490。 9、使用單端探頭測(cè)試DTU 的TXCLK信號(hào)。 10、使用差分探頭分別測(cè) 試四個(gè)差分對(duì)。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方

16、法介紹 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 注意：注意：Filtered模式的測(cè)試步驟較多，過模式的測(cè)試步驟較多，過 程中即要改變程中即要改變DUT的工作模式，又要改變的工作模式，又要改變 接線方式，測(cè)試過程中一定要注意嚴(yán)格按接線方式，測(cè)試過程中一定要注意嚴(yán)格按 照已定步驟進(jìn)行操作。照已定步驟進(jìn)行操作。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 B）Unfiltered模式模式 使用以太網(wǎng)測(cè)試夾具的 TC3測(cè)試主時(shí)鐘的抖動(dòng)。 組網(wǎng)如圖。 設(shè)置DUT工作在測(cè)試 模式2。 用網(wǎng)線連接DUT測(cè)試 端口至夾具J501。 連接Link Partner的端口 至J580。 使

17、用單端探頭測(cè)試 DUT的TXCLK信號(hào) 。 3）從發(fā)送時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試 測(cè)試步驟同主發(fā)送器定時(shí)抖動(dòng)Filtered模式的測(cè)試步驟基 本相同，不同之處只是在右邊Select :1000Base-T窗口中 Jit/Distortion標(biāo)簽下選擇Jitter-Slave Filtered進(jìn)行Filtered模 式測(cè)試，選擇Jitter-Slave Unfiltered進(jìn)行Unfiltered模式測(cè) 試。同時(shí)所測(cè)試的設(shè)備工作模式設(shè)為備用。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 A）Filtered模式 對(duì)應(yīng)主發(fā)送器定時(shí)抖動(dòng)Filtered模式的測(cè)試步驟g，這里應(yīng) 該設(shè)工作在測(cè)試模式3下，其它步驟相同。 B）

18、Unfiltered模式 使用以太網(wǎng)測(cè)試夾具的TC3測(cè)試主時(shí)鐘的抖動(dòng)。組網(wǎng)如 圖。 設(shè)置DUT工作在測(cè)試模式3。 用網(wǎng)線連接DUT測(cè)試端口至夾具J501。 連接Link Partner的端口至J580。 使用單端探頭測(cè)試DUT的TXCLK信號(hào)。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1000Base-T的抖動(dòng)測(cè)試替代方法 當(dāng)TX_TCLK無法探測(cè)時(shí)，下面的替代方法是我們建 議的。 在此替代方法中，測(cè)試源必須始終是數(shù)據(jù)（測(cè)試 模式2或者測(cè)試模式3） 使用此替代方法測(cè)試確定性抖動(dòng)（Dj）對(duì)產(chǎn)品的 設(shè)計(jì)同樣有指導(dǎo)作用，并且具有一定的參考價(jià)值。 抖動(dòng)測(cè)試替代方法抖動(dòng)測(cè)試替代方法 P2 (8ns) P1

19、(8ns) 0.0ns8.010ns16.566ns 0.010ns0.566nsJitter 數(shù)據(jù) TX_TCLK Jtx-out = 0.566ns 0.010ns = 0.0466ns 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 3）最大波形跌落（）最大波形跌落（Maximum output droop ) l選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests Select 1000BASE-T；或從 Selection面板中選擇Select。然后從Speed面板中選1000-T。在右邊 Select :1000Base-T窗口中Droop標(biāo)簽下選擇Select All 。 a)其它步驟同“輸出電壓測(cè)試模板”

20、。 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 4）發(fā)送器失真（）發(fā)送器失真（Transmitter distortion ） a) 選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests- Select- 1000BASE-T；或從 Selection 面板中選擇Select。然后從Speed面板中選1000-T。在右邊 Select :1000Base-T窗口中Jit/Distortion標(biāo)簽下選擇Distortion 。 b）其它步驟同“輸出電壓測(cè)試模板”。 c）測(cè)試模式設(shè)置為模式四。 5）共模電壓（）共模電壓（Common-mode Voltage ） 在菜單下選擇Tests- Select- 1000BASE

21、-T；或從 Selection面板中選擇Select。然后從Speed面板中選 1000-T。在右邊Select :1000Base-T窗口中CM Voltage標(biāo)簽下選擇CM Voltage測(cè)試。 其它測(cè)試步驟同差分輸出模板測(cè)試項(xiàng)目。 設(shè)置DUT工作在測(cè)試模式4下。 使用網(wǎng)線連接DUT至夾具的J500。 使用同軸電纜連接夾具的J400和示波器。 使用跳線帽依次連接J420、J430、J431、J440，測(cè) 試四個(gè)差分對(duì)。 測(cè)試組圖如下圖所示： 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 1000M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 2、100M測(cè)試方法 1）測(cè)試內(nèi)容主要有以下幾個(gè)項(xiàng)目： FLP脈沖模板符合度

22、發(fā)送器輸出眼圖模板 上升/下降時(shí)間 上升/下降時(shí)間對(duì)稱度 差分信號(hào)幅度 信號(hào)幅度對(duì)稱度 發(fā)送抖動(dòng) 波形過沖 占空比失真 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M參數(shù)測(cè)試選擇模板：選擇Select All。 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M參數(shù)配置模板：取默認(rèn)參數(shù)。 100M Template 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 100M Differential Output Voltage 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 100M Rise Time 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 100M Transmit Jitter 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 2）快速連接脈沖（

23、）快速連接脈沖（FLP）模板測(cè)試）模板測(cè)試 按測(cè)試組網(wǎng)圖準(zhǔn)備好儀器和被測(cè)設(shè)備：用以太 網(wǎng)線連接交換機(jī)被測(cè)網(wǎng)口和J990；示波器的差分 探頭接P22; 用短路子短接LOAD3 (100 Ohm)。 上電將被測(cè)設(shè)備（DUT）的端口工作模式設(shè)置 為auto-negotation模式，此時(shí)端口一定在發(fā)送 FLP脈沖信號(hào)。 測(cè)試組圖如下圖： 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 調(diào)用示波器的TDSET3軟件File/App/ Ethernet compliance test software（7154），），App/ Ethernet compliance test sof

24、tware（7404） 從菜單下選擇FileRecall default setup, 調(diào)用系統(tǒng)默 認(rèn)配置 。 選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests Select 10BASE-T；或從 Selection面板中選擇Select。然后 從Speed面板中選10-T。在右邊Select :10Base-T窗 口中Template標(biāo)簽下選擇Link Pulse; 從右側(cè)出現(xiàn)的 下拉菜單，選擇100 with TPM（帶雙絞線模型測(cè) 試）。 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 改變配置：在菜單下選擇Tests Configure，或從 Selection面板中選擇Co

25、nfigure。通過Source data來 更改差分探頭的通道號(hào)，Sequence面板中選擇 Fast(FLP)。 查看實(shí)際波形：在菜單下選擇Tests View Wfm，或 從 Selection面板中選擇View Wfm。 此時(shí)示波器顯示實(shí)際波形，比較一下是否與給出的波 形相似。 運(yùn)行測(cè)試：如果相似，點(diǎn)擊Run Test開始測(cè)試。 其間 如果出現(xiàn)10Base-T: template user control的提示框，點(diǎn) 擊OK。 查看測(cè)試結(jié)果及保存測(cè)試報(bào)告。 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 注意事項(xiàng)： 測(cè)試前一定切記將差分探頭上的10/1的撥碼開關(guān) 的

26、位置撥到10的位置，否則測(cè)試結(jié)果會(huì)完全失真， 特別是在測(cè)試FLP脈沖信號(hào)的情況。 測(cè)試夾具上用短路子短接J2，P21為空。P22不要接反， 有三角箭頭的一端接差分探頭的正極。 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 FLP的的Head測(cè)試測(cè)試 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 FLP的Tail測(cè)試 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 Link Pulse 100 ohm w/o TPM 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 3）其它測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試方法）其它測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試方法 按測(cè)試組網(wǎng)圖準(zhǔn)備好儀器和被測(cè)設(shè)備：用以太網(wǎng)線連 接交換機(jī)被測(cè)網(wǎng)口和J490；示波器的差分探頭接P9。 上電將被測(cè)設(shè)備（DUT）的端口工作模式設(shè)置

27、為100M 全雙工模式。并通過配置PHY寄存器的百兆Force link 位強(qiáng)制連接。如88E1145芯片配置如下（隱藏模式 下）： _write phyreg gx/x/x 16 0478 測(cè)試組圖如下圖： 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 調(diào)用示波器的TDSET3軟件File/App/ Ethernet compliance test software（7154），App/ Ethernet compliance test software（7404） 從菜單下選擇FileRecall default setup 調(diào)用系統(tǒng)默認(rèn)配置 選擇測(cè)試模板：在菜單下選

28、擇Tests Select 100BASE-TX；或 從 Selection面板中選擇Select。然后從Speed 面板中選100-TX。 在右邊Select :100Base-TX窗口中Parametric標(biāo)簽下選擇Select All。 改變配置：在菜單下選擇Tests Configure，或從 Selection面板 中選擇Configure，通過Source data來更改差分探頭的通道號(hào)。 查看實(shí)際波形：在菜單下選擇Tests View Wfm，或從 Selection 面板中選擇View Wfm。此時(shí)示波器顯示實(shí)際波形，比較一下是 否與給出的波形相似。 運(yùn)行測(cè)試：如果相似，點(diǎn)擊R

29、un Test開始測(cè)試。 查看結(jié)果及保存測(cè)試報(bào)告。 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 發(fā)送器眼圖模板發(fā)送器眼圖模板 100M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 3、10M接口信號(hào)測(cè)試方法接口信號(hào)測(cè)試方法 1）測(cè)試項(xiàng)目有如下兩項(xiàng)：）測(cè)試項(xiàng)目有如下兩項(xiàng)： A）模板符合度）模板符合度 B）Parametric 2）模板符合度測(cè)試 包括Link-Pulse、MAU、TP-IDL三項(xiàng)測(cè)試 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 A） Link-Pulse測(cè)試 該測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試步驟同100M的FLP測(cè)試項(xiàng)目，另一個(gè) NLP測(cè)試只是在Confiure界面中選擇“NLP”，其它步 驟不變。 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 10M

30、測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 B）MAU測(cè)試 調(diào)用示波器的TDSET3軟件File/App/ Ethernet compliance test software（7154）， App/ Ethernet compliance test software（7404） 從菜單下選擇FileRecall default setup 調(diào)用系統(tǒng)默認(rèn)配置 選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests Select 10BASE-TX；或從 Selection面 板中選擇Select。然后從Speed 面板中選10-TX。在右邊Select :10Base-TX窗口 中Template標(biāo)簽下選擇MAU。 10M測(cè)試方法

31、介紹測(cè)試方法介紹 改變配置：在菜單下選擇Tests Configure，或從 Selection面板中選 擇Configure，通過Source data來更改差分探頭的通道號(hào)；選擇 Acquisition Average； 選擇Mask Selection Type中分別選擇EXT和 INT進(jìn)行兩次測(cè)試。 利用SMARTBITS往測(cè)試端口發(fā)數(shù)據(jù)，測(cè)試端口強(qiáng)制為10M/全雙工， 并且強(qiáng)制鏈接。 。 查看實(shí)際波形：在菜單下選擇Tests View Wfm，或從 Selection 面板中選擇View Wfm。 此時(shí)示波器顯示實(shí)際波形，比較一下是否與給出的波形相似。 運(yùn)行測(cè)試：如果相似，點(diǎn)擊Run

32、 Test開始測(cè)試。 查看結(jié)果以及保存測(cè)試報(bào)告。 C）TP-IDL測(cè)試 測(cè)試步驟同MAU測(cè)試，不同之處只是在Select界面中選擇TP- IDL，并分別選擇六個(gè)不同負(fù)載進(jìn)行六次測(cè)試；在Configure界 面中的Mask Selection 選擇Both。 注：帶TPM的三個(gè)負(fù)載分別對(duì)應(yīng)于TC7的三個(gè)負(fù)載；不帶TPM 的三個(gè)負(fù)載分別對(duì)應(yīng)TC6的三個(gè)負(fù)載。 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 3）Parametric測(cè)試 包括以下三項(xiàng)： Jitter（帶TPM和不帶TPM） 差分輸出電壓 諧波 Parametric測(cè)試步驟 從菜單下選擇FileRecall defau

33、lt setup 調(diào)用系統(tǒng)默認(rèn)配置 選擇測(cè)試模板：在菜單下選擇Tests Select 10BASE-TX；或從 Selection面板中選擇Select。然后從Speed 面板中選10-TX。在右邊 Select :10Base-TX窗口中Parametric標(biāo)簽下選擇其中一個(gè)測(cè)試項(xiàng)。 Configure選項(xiàng)取默認(rèn)值，或按測(cè)試需要進(jìn)行設(shè)置更改。 其它步驟同上述其它項(xiàng)目。 注意：Jitter測(cè)試項(xiàng)中的帶TPM選擇TC7的負(fù)載3，不帶TPM的和差分 輸出電壓、諧波測(cè)試都選擇TC6的負(fù)載3。 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 10M測(cè)試方法介紹測(cè)試方法介紹 MAU Int Wave 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 TP_IDL Load 1 w/o TPM 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例 測(cè)試波形示例測(cè)試波形示例