開(kāi)關(guān)電源可靠度測(cè)試規(guī)范

1、可靠度測(cè)試規(guī)范可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01頁(yè)次P age3發(fā)行日期Release Date90.11.121.5溫度 Derating 率NO組件名稱(chēng)溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備注1電阻電阻最咼耐溫之8 0%2電容電容最咼耐溫減5C3半導(dǎo)體1.Schotty Diode 取 Tj 之 9 0%2.其它半導(dǎo)體(晶體管 MOSFE取Tj 之8 0%)熱暴走高溫短路測(cè)試Ta :55 C Load :100 %Ta :65 C Load :70 %Input :85V/265V

2、 時(shí)(Tj*80 %) +5C為判定基 礎(chǔ)4基板1. FR-4 : 115 C2. CEM-3 : 110 C3. CEM-1 : 100 C4. XPC-FR : 100 C5. 判疋：PCB最大耐溫減10C與基板板厚無(wú)關(guān)5變壓器 （含電 感）絕緣區(qū)分：A種E種 B種標(biāo)準(zhǔn)溫度：105C120C130C熱偶式：90 C105C110CAbnormal :150 C165C175C精品文檔19編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n90.11.12發(fā)行日期

3、Release Date2 Component temp erature rise2.122適用：所有機(jī)種適用。2.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、額定、最大。負(fù)載：規(guī)格范圍之最大。輸出電壓：額定。周?chē)鷾囟龋撼亍＝泳€圖：組件溫度上升：目的：確保待測(cè)物之可靠度，確認(rèn)各組件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用。2.4b.測(cè)試方法：a. 依測(cè)試條件設(shè)定，當(dāng)溫度達(dá)到熱平衡后，以熱電偶測(cè)定組件溫度，基板上之元 件焊點(diǎn)需測(cè)量溫度。參考溫度Derating計(jì)算出最大溫升規(guī)格值 t.（i.e. Derating Curve在 100% Load 100% 下最高至 50C，則以附表 ADeratin

4、g率之溫度減去 50 得 100%之 LOADT之 t. ; 60 C 時(shí)，Derating 率為 70%則減去60得到70% t.）實(shí)際負(fù)載在100%寸依減50C之 t.為規(guī)格值。c. 組件之選擇以R-1溫度分布測(cè)得之發(fā)熱較多組件做測(cè)定。d. 組件實(shí)際溫升不能超過(guò)計(jì)算得出之 t.。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁(yè)次Versio nP age5發(fā)行日期Release Date90.11.123. P arts derat ing3.1組件余裕度：目的：確保待測(cè)物之可靠度，確

5、認(rèn)組件實(shí)際使用時(shí)能在絕對(duì)最大額定下之Derati ng3.2適用：所有機(jī)種適用。率范圍內(nèi)。3.3b.c.定額輸入和輸出.低壓起動(dòng).短路開(kāi)機(jī).開(kāi)機(jī)后短路測(cè)試條件：a. 測(cè)試待測(cè)物在下列條件下一次測(cè)和二次測(cè)主回路波形（電流波形和電壓波形）12345 .滿載關(guān)機(jī)（不做記錄）各回路波形和組件耐壓請(qǐng)參考組件Derating接線圖：編號(hào)WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁(yè)次P ageVersio n6發(fā)行日期Release Date90.11.123.4 組件 DeratingNO組件名稱(chēng)溫度

6、判定標(biāo)準(zhǔn)備注電阻80%電阻最咼耐壓之90%Surge取耐壓之95%電容電容最高耐壓之85%（AC輸入電容取耐壓之95%）Ri ppie 電流取 100%鉭質(zhì)電容取耐壓之80%二極管(Diode)VRMvRSMI sFMSurgeSCR80%95%90%90TRIAC80%95%90%90Bridge-Diode 80%95%90%90Diode80%95%90%90Scotty Diode 90%95%90%90Zener Diode90%90LED80%95%90%90Surge： l2t晶體管MOSFETVDsSVce :取規(guī)格之VGsSV be :取規(guī)格之ID/I C :取規(guī)格之I B

7、:取規(guī)格之95%95%95%95%Fuse取額定電流之70%Surge : 65 %編號(hào)WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范No.版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P ageVersio n7發(fā)行日期Release Date90.11.124. Thermal run away4.14.2適用：所有機(jī)種適用。4.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最小、最大值，（例 負(fù)載：100% 及 70%（例 55r 為 100%, 65 C為 70% ）。周?chē)鷾囟龋鹤罡邉?dòng)作溫度+ 5C,輸出Deratin

8、g Curve 100%下溫度上限+ 5C。 輸出電壓：額定。接線圖：85V/265V）。INPUTSOURCE待測(cè)負(fù)載則物!電流 1.電壓1:溫度記錄器恒溫槽熱暴走：目的：確認(rèn)過(guò)負(fù)載、出力短路下，保護(hù)之余裕度。4.1.4.4測(cè)試方法：a.參照部品溫度上升結(jié)果確定待測(cè)部品，以熱電偶量測(cè)。b. 電源輸入后，連續(xù)觀測(cè)繪出溫度上升值，確認(rèn)飽和點(diǎn)。c. 若有FAN裝置于待測(cè)物，需實(shí)際仿真安裝于系統(tǒng)之情形進(jìn)行測(cè)試。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次Versio nP age8發(fā)行日期

9、Release Date90.11.125. High temp erature shoty circuit5.15.2適用：除未加短路保護(hù)機(jī)種外所有機(jī)種適用。5.3a.b.d.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最大輸入電壓。（實(shí)測(cè)取最大，例265V） 輸出電壓：額定值。c.周?chē)鷾囟龋簞?dòng)作溫度上限+ 5C （例65C）。接線圖：4.1.5.4a.b.c.測(cè)試方法：待測(cè)物在設(shè)定測(cè)試條件下，輸出短路 2小時(shí)以上。記錄溫度上升之情形，參照溫度 Derating，不能超過(guò)規(guī)定溫度。 解除短路狀態(tài)后確認(rèn)輸出仍正常，部品不能有損壞。高溫短路： 目的：確認(rèn)輸出短路放置后，待測(cè)物之可靠度。編號(hào)WI7308修訂日期

10、Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁(yè)次P ageVersio n9發(fā)行日期Release Date90.11.126. Life of electrolytic cap acitor6.16.2適用：所有機(jī)種適用。6.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：輸入電壓：額定值。 輸出電壓：額定值。 負(fù)載：額定。周?chē)鷾囟龋?0C。 接線圖：6.4a.測(cè)試方法：額定之輸出、輸入時(shí)，在規(guī)定之周?chē)鷾囟认?，依下式?jì)算:T1 -T2101=Ls. 2LLTT實(shí)際之有效壽命部品使用溫度范圍上限下之有效壽命 部品之使用溫度范圍

11、上限實(shí)際使用溫度。b.算出之壽命時(shí)間應(yīng)三規(guī)格所示。電解電容算出壽命: 目的：推定待測(cè)物之壽命，并確認(rèn)其可靠度。編號(hào)WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁(yè)次P ageVersio n10發(fā)行日期Release Date90.11.127. Noise Immuuity7.17.2適用：所有機(jī)種。7.3a.b.c.d.測(cè)試條件：規(guī)格上有規(guī)定者，依規(guī)格實(shí)施。周?chē)鷾囟龋狠斎腚妷海狠敵鲭妷海篹. 負(fù)載電流：常溫、常濕。115V額定。100%噪聲免疫力：目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)輸入對(duì)加入

12、脈沖之耐受程度。f. 脈沖規(guī)格：規(guī)格書(shū)所列值*110%(50Q Termination) 如規(guī)格為 2.2KV則脈沖以 2.2KV*110%= 2.2KV施加脈波寬為。100nS,500nS,1000nS，時(shí)間五分鐘。g.接線圖：7.4測(cè)試方法：a.依條件施加脈沖于輸入一輸入間，輸入一 Ground間，應(yīng)無(wú)動(dòng)作異常(含突入電流限 制回路、異常振蕩等)保護(hù)回路誤動(dòng)作及組件損壞發(fā)生，測(cè)試時(shí)，輸出電壓之安定 度應(yīng)在總和變動(dòng)規(guī)格范圍內(nèi)。編號(hào)1No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁(yè)次Versi

13、o nP age11發(fā)行日期Release Date90.11.128. Electro static discharge8.18.2適用：規(guī)格書(shū)上規(guī)定之機(jī)種。8.3a.b.c.d.測(cè)試條件：周?chē)h(huán)境：輸入電壓：輸出電壓：常溫、常濕。額定（實(shí)測(cè)AC115V）額定e.100f.負(fù)載：額定100%施加電壓：規(guī)格書(shū)之?dāng)?shù)值 X 110% Charge Cap acitor 500pF-Series Resistor Q ，時(shí)間三10 sec .接線圖：靜電破壞：目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)產(chǎn)品對(duì)靜電氣之耐受程度。4.1.8.4測(cè)試方法：a.待測(cè)物Ground部位，依條件施加脈沖電壓分接觸外殼及隔離

14、放電實(shí)施；不能有保 護(hù)回路誤動(dòng)作，組件破損之異常發(fā)生。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次Versio nP age12發(fā)行日期Release Date90.11.129. Light ning Surge9.19.2適用：規(guī)格有規(guī)定之機(jī)種。9.3a.b.c.d.e.f.g.測(cè)試條件：規(guī)格書(shū)有規(guī)定依規(guī)格條件。輸入電壓：額定（實(shí)測(cè)AC115V）輸出電壓：額定負(fù)載：額定周?chē)h(huán)境：常溫、常濕施加波形：JEC 212規(guī)定，波頭長(zhǎng)1.2 g,波尾長(zhǎng)50pS之電壓，波形3KV*110%（

15、 限流電阻100Q）。接線圖：雷擊：目的：確認(rèn)輸入端加入Lightning Surge 之耐受能力。4.1.9.4測(cè)試方法：a.依規(guī)定測(cè)試條件，施加Surge電壓于 輸入一輸入，輸入一Ground 極各3回 確認(rèn)組件無(wú)破損，無(wú)絕緣破壞，F(xiàn)lashover Arc及保護(hù)回路誤動(dòng)作情形發(fā)生。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁(yè)次Versio nP age13發(fā)行日期Release Date90.11.12高溫輸入ON/OFF :目的：高溫時(shí)輸入電壓 ON/OFF重復(fù)施加，確認(rèn)產(chǎn)品之

16、信賴(lài)性。10.2適用：所有機(jī)種適用。10.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最大值（例：265V）。負(fù)載：額定100% LOAD輸出電壓：額定周?chē)鷾囟龋簞?dòng)作可能溫度范圍+ 5C （例：65r）。接線圖：10. I nput ON/OFF at high temp erature10.14.1.10.4測(cè)試方法：a.待測(cè)物置于恒溫槽內(nèi)，依條件之溫度設(shè)定，到達(dá)設(shè)定溫度后放置12小時(shí)，同時(shí)電源ON/OFF至少500 cycle于輸入端，結(jié)束后確認(rèn)組件無(wú)破損，輸出電壓與機(jī) 能正常（ON 5S OFF 30S。編號(hào)WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)

17、范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁(yè)次P ageVersio n14發(fā)行日期Release Date90.11.1211. Low temp erature op erati on11.111.2適用：所有機(jī)種適用。11.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、最大值（實(shí)測(cè)最小值）。 輸出電壓：額定。負(fù)載：最小、最大值（實(shí)測(cè)最大值）。 周?chē)鷾囟龋簞?dòng)作可能溫度下限一10C。 接線圖：低溫動(dòng)作確認(rèn)：目的：為確保待測(cè)產(chǎn)品可靠度，確認(rèn)周?chē)鷾囟认孪拗畡?dòng)作余裕度。11.4測(cè)試方法：a.待測(cè)物在測(cè)試溫度條件下設(shè)定為關(guān)機(jī)狀態(tài)充份放置 （至少1

18、小時(shí)）關(guān)機(jī)狀態(tài)，重新 加入電源，確定可激活。編號(hào)WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范No.版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P ageVersio n15發(fā)行日期Release Date90.11.1212. Dyn amic source effect12.1動(dòng)的輸入變動(dòng)：目的：確認(rèn)待測(cè)產(chǎn)品在動(dòng)的輸入變動(dòng)下能正常動(dòng)作。12.2適用：交流輸入之所有機(jī)種。12.3a.b.c.d.e.測(cè)試條件：規(guī)格書(shū)有規(guī)定者，依規(guī)格條件。負(fù)荷：額定100%周?chē)鷾囟龋撼?。輸出電壓：額定。輸入變動(dòng)條件：額定-最小，額定-最大。 最大電壓額定

19、電壓最小電壓頻率：60HzJ t Ttt=0.5sec12.4a.b.c.100%Load,測(cè)定輸出電測(cè)試方法：在基準(zhǔn)動(dòng)作狀態(tài)下（額定輸入電壓 壓值VS。計(jì)算電壓變動(dòng)率：V H -Vs X 100% VVSVL -VsX100%計(jì)算之變動(dòng)率，應(yīng)在總和變動(dòng)之規(guī)格范圍內(nèi)?？煽慷葴y(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號(hào)No.WI7308修訂日期Ame ndme nt Date頁(yè)次P age版本Versio n發(fā)行日期Release DateV.0190.11.1216精品文檔2113. Fan abno rmal op erati on FAN13.1異常動(dòng)作：目

20、的：待測(cè)產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下，確認(rèn) FAN停止運(yùn)轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)數(shù)變慢時(shí)，保護(hù) 機(jī)能正常運(yùn)作。精品文檔2413.2適用：產(chǎn)品因需風(fēng)扇冷卻而裝設(shè)之機(jī)種。13.3a.b.c.測(cè)試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍內(nèi)之最小、最大值。負(fù)載：最大100%。周?chē)鷾囟龋焊袩峤M件部份，依動(dòng)作可能溫度范圍上限+ 5C, 25r及下限5C共 3點(diǎn)實(shí)施測(cè)試。其它部份則以動(dòng)作可能溫度范圍上限+5C,下限-5 r實(shí)施量測(cè)。輸出電壓：額定。d.13.4測(cè)試方法：a.主要晶體管、變壓器、CHOK等重要組件，以熱電藕量測(cè)記錄其結(jié)果。Fan異常動(dòng)作發(fā)生時(shí)觀測(cè)組件溫度上升應(yīng)記錄其結(jié)果。b. O pen Frame之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測(cè)試。編號(hào)N

21、o.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date90.11.12c. 確定在測(cè)試條件下，無(wú)保護(hù)回路之誤動(dòng)作發(fā)生，組件上升溫度不能超過(guò)規(guī)格值。14.1目的：為確保產(chǎn)品之信賴(lài)性，產(chǎn)品在制造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對(duì)振動(dòng)之耐受程度需加以確認(rèn)。14.2適用：所有機(jī)種適用。14.3測(cè)試條件：a.周?chē)鷾囟龋撼?。b.動(dòng)作狀態(tài)：Non-Op erat ingc.振動(dòng)頻率：5 - 10 Hz 全振幅 10 mm10 - 200Hz2加速度 21.6m/sec (2.

22、2G)14. Vibration振動(dòng):1.Swee P Time:10 Min振動(dòng)方向:沖擊試驗(yàn)程序：試驗(yàn)系統(tǒng)圖依對(duì)數(shù)變化。X,Y,Z軸各1小時(shí)。供試電源試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向4.1.14.4a.測(cè)試方法：依測(cè)試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進(jìn)行測(cè)試。b. 測(cè)試完成后，以目視檢查（必要時(shí)用顯微鏡）待測(cè)物之外殼、基板 有無(wú)異常；確認(rèn)后，通電并確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無(wú)異常。編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age18修訂日期Ame ndme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date90.11.1215.

23、 Shock15.1沖擊：目的：為確保待測(cè)物之可靠度，在制造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對(duì)沖擊之耐受程度需予以確認(rèn)。15.2適用：所有機(jī)種適用。15.3a.b.測(cè)試條件：沖擊加速度：588m/sec2(60G)沖擊時(shí)間：11 5m sec 半波正弦波。振動(dòng)方向：X(X),Y(Y ),Z,5方向，各3回。周?chē)鷾囟龋撼?。c.d.e. N on Op erat ing15.4a.b.1.測(cè)試方法：依測(cè)試條件進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試完成后，以目視檢查(必要時(shí)用顯微鏡)待測(cè)物之外殼、基板、零件、配線有 無(wú)異常;確認(rèn)后通電并確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無(wú)異常。沖擊測(cè)試程序：測(cè)試系統(tǒng)圖：供試電源試驗(yàn)方向Z 廿ZYY試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向a.b

24、.c.d.待測(cè)物需設(shè)計(jì)治具以固定之。(電木板及鋁板) 依測(cè)試條件施加予待測(cè)物。加速度588m/sec2(60G)各方向3回。記錄試驗(yàn)條件及結(jié)果。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁(yè)次Versio nP age19發(fā)行日期Release Date90.11.1216. Abnormal Ripple異常 Ripple 確認(rèn):16.1目的：確保待測(cè)產(chǎn)品之可靠度；由周?chē)鷾囟?、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下 ，確認(rèn)其動(dòng)作之安定性。16.2適用：所有機(jī)種適用。16.3測(cè)試條件：a.負(fù)載

25、：0% - 100% （連續(xù)）。b.周?chē)鷾囟龋簞?dòng)作溫度范圍（i.e.720r 60C T 20 r /25 r /60 r）。c.輸入電壓：規(guī)格范圍最小最大（連續(xù)）。d.輸出電壓：額定。e.接線圖：精品文檔424.1.16.4a.b.編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2090.11.12測(cè)試方法：待測(cè)物在不通電之狀態(tài)下，依測(cè)試之組合條件，在設(shè)定之溫度下放置1小時(shí)。連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負(fù)載電流，并觀察有無(wú)異常Ripple

26、之發(fā)生，如振蕩、間歇振蕩、AC Ripple導(dǎo)致之微小異常振蕩。17. High Temp erature Test17.117.2適用：所有機(jī)種適用。17.3測(cè)試條件:a.溫度：高溫測(cè)試：目的：確認(rèn)產(chǎn)品在高溫置放后，維持正常功能之特性。Temp(deg C)70250 1 274 75 76H產(chǎn)品規(guī)格所列之儲(chǔ)存溫度上限b.c.d.e.輸入電壓: 輸入頻率: 負(fù) 載: 接線圖：額定。50H。100% LOADfunctional ins pectionTime (hour)17.4測(cè)試方法：a.產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之條件進(jìn)行測(cè)試。b.溫度在達(dá)到預(yù)定之高溫Th前后一小時(shí)之前于常溫下，須先進(jìn)行

27、功能測(cè)試，確認(rèn)產(chǎn) 品之功能；測(cè)試后產(chǎn)品須無(wú)任何損傷。編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2190.11.1218. Low Temp erature Test18.118.2適用：所有機(jī)種適用。18.3測(cè)試條件:a.溫度：Temp(deg C)25-40L74 75 76+ functional ins pectionTime (hour)0 1 2低溫測(cè)試：目的：確認(rèn)產(chǎn)品在低溫置放后，維持正常功能之特性。b.c.d.

28、e. Tf.負(fù)載：100% LOAD輸入電壓：額定。頻率：50H。L :規(guī)格所列之儲(chǔ)存溫度下限。接線圖：18.4a.b.測(cè)試方法：產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之溫度設(shè)定及接線圖進(jìn)行測(cè)試。溫度到達(dá)預(yù)訂之低溫，前后一小時(shí)前須進(jìn)行功能測(cè)試，確認(rèn)產(chǎn)品能正常動(dòng)作；且無(wú) 任何損傷?？煽慷葴y(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號(hào)No.WI7308頁(yè)次P age22修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01發(fā)行日期Release Date90.11.1219. Temp erature/Humidity Test溫、濕度循環(huán)測(cè)試:19.1目的：確認(rèn)產(chǎn)品

29、對(duì)周?chē)鷾亍穸戎m應(yīng)能力。19.2適用：所有機(jī)種適用。19.3測(cè)試條件:Time (hour)b. 負(fù)載：100% LOADc. 輸入電壓：額定。d. 頻率：e.接線圖：4.1.19.4a.b.測(cè)試方法：依上所列之測(cè)試條件及接線方式，執(zhí)行測(cè)試。 測(cè)試結(jié)束后，待測(cè)物需功能正常，零件無(wú)損壞情形。編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01發(fā)行日期Release Date2320. Strife Test20.1目的:極限測(cè)試：確認(rèn)待測(cè)產(chǎn)品的耐受高溫之極限。20.

30、2適用:依需求規(guī)格列出之機(jī)種。20.3a.d.測(cè)試條件：輸入電壓：額定。(110V/220V)e. 負(fù)載：額定100% LOADf. 溫度：70r (1hr) 80r (1hr) 90C (1hr) 100C (1hr)至產(chǎn)品失效。 接線圖：20.4a.b.c.d.測(cè)試方法： 產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依接線圖及條件設(shè)定。 當(dāng)溫度到達(dá)默認(rèn)值后，停留一小時(shí)，開(kāi)始執(zhí)行功能測(cè)試。 產(chǎn)品若功能正常，將溫度每次升高10C，進(jìn)行測(cè)試，至產(chǎn)品失效為止，記錄失效 之溫度。產(chǎn)品失效時(shí)，不能發(fā)生冒煙、起火等狀況。編號(hào)No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test

31、Sp ecificati on版本V.01頁(yè)次Versio nP age24發(fā)行日期Release Date21. PLD test(輸入瞬斷測(cè)試)：A. A n un dervoltage of 25% below the minimum inputvoltage, app lied for two sec on ds,re peated 10 times : error free with a 10% duty cycle.B. A n un dervoltage of 35% below the minimum nominalinput voltage, but not less tha

32、 n 68V,a pp lied for 30 : error free cycles of the input freque ncy,rep eated 10 times with a 10% duty cycle.C. An un dervoltage of 100% below the minimum nominal input voltage,a pp lied for 20 milli-sec onds rep eated 10 times : error free with a 10% duty cycle.D. A n overvoltage of 20% above the m

33、aximum nominal input voltage app lied for two sec on ds,re peated 10 times with : error free a 10% duty cycle.E. Whe n either of the followi ng waveforms are app lied to either p olarity p eak of the input voltage waveform.The waveforms shall con sist of 400Hz 50hZ or800Hz 100H exponen tially decay

34、ing sinu soid with ap eak voltage equal to the p eak nomin al li ne volage : error free and decay time con sta nt such that the fifth half-cycle of the disturba nee is betwee n 15 and 25% of the first half-cycle. The total durati on of the disturba nee shall not exceed one cycle of the line voltage.

35、This test shall be rep eated 320 times (80 p ositive ringsand 80 n egative rings at 400Hz；80 po sitive rings and80 n egative rings at 800Hz) a three(3) sec ond in tervals.F. Differe ntial mode(li ne-to-li ne) and com mon mode(li ne-to-gro und) voltage surges with open circuit voltages of 2.5KV p eak

36、 10% and 2KV peak 10% resp ectively.The source imp eda nee of the surge gen erator shall be : error free2 ohm 20%.The surge wave shall be defi ned in ANSI/IEEEC62.41(1980) and lEC 60-2(1973).three p ositive and three n egative surges shall be app liedat 0,90,180, and 270 degrees(24 total). The timei

37、n terval betwee n surges shall be 18 sec on ds.編號(hào)No.WI7308可靠度測(cè)試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁(yè)次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2590.11.12G. A 100 nano sec ond pu Ise with an amp litude of 400volts shall be superimp osed on the p eak of the: error freenominal input voltage

38、and rep eated at the line freque ncy for ten (10) minu tes.H. The po wer supply shall suffer no p hysical damage un der the follow ing disurba nces in AC line voltage.Rep eat each test five times,retu rning the po wer supply : damage free to its no rmal running con diti ons betwee n tests.A comp lete line outage for any durati on.I. The po wer supply shall suffer no p hysical damage un der the follow ing disturba nces in AC line voltage.damage freeRep eat each test five times,retu rning the po wer supply : to