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文檔簡介
1、文檔來源為:從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word版本可編輯.歡迎下載支持4IQC來料檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書發(fā)行部門品保部管理編號版本號A元件名稱PMOSFET (功率場效應(yīng)管)元件型號*3205*適用范圍通用第1頁/共2頁類別: 電聲類口 電子類NO.檢查項(xiàng)目檢查數(shù)使用工具檢查方法1外觀、表小一般檢查水平n /1.0目視檢查參照派1方法要求2封裝方式、尺寸n=5目視、游標(biāo)卡尺參照派2方法要求3供應(yīng)商數(shù)據(jù)每批目視檢查參照3方法要求4塑封本體分解檢查n=2臺鉗、游標(biāo)卡尺參照4方法要求5電氣性能檢查(試機(jī))n=5功放樣機(jī)功放老化測試儀等參照5方法要求6可焊性n=2溫控電烙鐵參照6方法要求X 1要求外觀確認(rèn);確認(rèn)元件外觀
2、無破損、劃傷、裂紋不良,包裝方式符合規(guī)定要求。引腳無氧化、殘缺、銹斑、污物,無變色不良。表示確認(rèn);確認(rèn)來料標(biāo)識卡中的材料編號或元件型號與BOM表中要求一致。確認(rèn)元件實(shí)物表示面型號與元件標(biāo)識卡中的型號規(guī)格相同,表示面清晰;有要求的安規(guī)標(biāo)識。 判定標(biāo)準(zhǔn):外觀、表示符合以上要求,判定為合格。派2要求封裝方式(即外形特點(diǎn))、尺寸要求檢查;先根據(jù)BOM表(或規(guī)格書)中內(nèi)容,確定元件的正確封裝方式,再檢查來料的實(shí)物封裝。例如:封裝方式 TO-220, KEC有TO-220AB和TO-2201s的兩種類型;如下圖所示:TO-220 :表示單列直插形式;AB :表示帶散熱片的封裝形式;圖1所示根據(jù)不同元件的封
3、裝方式來確認(rèn)元件的安裝尺寸,可參照元件規(guī)格書的規(guī)定尺寸對比判定。派3要求供應(yīng)商數(shù)據(jù)確認(rèn);若供應(yīng)商隨出貨附有實(shí)際檢查、測試數(shù)據(jù),應(yīng)按照部品規(guī)格書的內(nèi)容與數(shù)據(jù)對應(yīng)確認(rèn)在規(guī)格內(nèi)。判定標(biāo)準(zhǔn):數(shù)據(jù)符合相應(yīng)規(guī)格書要求,判定為合格。派4要求臺鉗內(nèi)部晶片塑封本體分解檢查;使用機(jī)械加工用的臺鉗,如右圖所示,元件塑封體夾在臺鉗間,將塑封本體壓碎;露出內(nèi)部晶片后就可以了。擬制/日期:批準(zhǔn)/日期:類別: 電聲類口 電子類第2頁/共2頁分解后,與樣品晶片大小進(jìn)行比較;方法如下所示:OK樣品NG樣品判定標(biāo)準(zhǔn):外觀檢查及尺寸大小在規(guī)定要求范圍內(nèi),判定為合格 派5要求電氣性能檢查(試機(jī));目的:為了驗(yàn)證來料元件的性能能否符合
4、產(chǎn)品整體性能要求,需要進(jìn)行元件的試機(jī)確認(rèn)。試機(jī)驗(yàn)證項(xiàng)目內(nèi)容與條件;* 老化(1.3倍額定功率驗(yàn)證)條件:輸入電壓 DC14.4V (電流:50AMax),輸入信號:1KH?、118mVMax :輸出負(fù)載:2?/路、共四路。* 電流沖擊(10次,10秒/次電流沖擊驗(yàn)證)條件:第一次老化保護(hù)結(jié)束,再二次啟動后,上述條件不變時(shí)做10次、10秒/次的開關(guān)沖擊驗(yàn)證。* 功放樣機(jī)的設(shè)置;(控制面板設(shè)置如下圖所示)試機(jī)前,先對功放樣機(jī)進(jìn)行測試檢查,內(nèi)容是老化、電流沖擊(同樣條件)。將來料抽檢的元件樣品交換到功放樣機(jī)上;元件位號:Q717、Q716、Q720、Q719共四個。驗(yàn)證過程中,詳細(xì)的連接方式參照功放
5、的老化作業(yè)指導(dǎo)書;驗(yàn)證時(shí)要調(diào)整輸入信號確保輸入電流在50A時(shí)被檢的元件沒有出現(xiàn)擊穿,冒煙、冒火的異?,F(xiàn)象。驗(yàn)證結(jié)束后再確認(rèn)功放的輸出信號波形,不能出現(xiàn)異常。判定標(biāo)準(zhǔn):驗(yàn)證結(jié)果符合以上要求內(nèi)容,判定為合格。派5要求可焊性;*將可調(diào)恒溫烙鐵溫度設(shè)置在230C 240C,再將元件的引腳加錫 2-3秒后確認(rèn)引腳上錫情況,確認(rèn)錫面均勻、飽滿,無不上錫現(xiàn)象。判定標(biāo)準(zhǔn):驗(yàn)證結(jié)果符合以上要求內(nèi)容,判定為合格。檢驗(yàn)數(shù)據(jù)記錄在來料檢查數(shù)據(jù)記錄表中。文檔來源為:從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word版本可編輯.歡迎下載支持IQC來料檢查數(shù)據(jù)記錄表類別: 電聲類口 電子類元件名稱元件型號送檢日期物料編號供應(yīng)商檢查員/日期NO.項(xiàng)目規(guī)格檢驗(yàn)結(jié)果記錄判定備注1外觀2表小3封裝方式4尺寸5供應(yīng)商 數(shù)據(jù)6電氣性能結(jié)果判定不合格處理意見口口合格不合格口拒收口讓步接收、特采口挑選使用口返修口報(bào)廢口其他不良現(xiàn)象IQC/日期:審核/日期:備注:當(dāng)來料判定不合格時(shí),需將結(jié)果提交相關(guān)部門評審,并由品保部部長(如有必要時(shí)由副
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