實驗指導書(修改)

1、實驗一 清零程序一、實驗目的（1）掌握匯編語言設計和調(diào)試方法；（2）熟悉MCS-51 單片機實驗系統(tǒng)。二、實驗內(nèi)容把c000Hc0FFH的內(nèi)容清零。三、程序框圖 清零 四、實驗步驟用連續(xù)或單步方式運行程序，檢查C000C0FF中執(zhí)行程序前后的內(nèi)容變化。五、思考（1）對于清零程序，假使把C000HC0FFH中的內(nèi)容改成FF，如何修改本程序？（2）如何用斷點方式調(diào)試程序？實驗二 拆字程序一、實驗目的（1）掌握匯編語言設計和調(diào)試方法；（2）熟悉MCS-51 單片機實驗系統(tǒng)。二、實驗內(nèi)容把C000H的內(nèi)容拆開，高位送C001H低位，低位送C002H低位，C001H、C002H高位清零，一般本程序用于把

2、數(shù)據(jù)送顯示緩沖區(qū)時用。三、程序框圖 拆字 四、實驗步驟程序一：用連續(xù)或單步方式運行程序，檢查C000C002H中內(nèi)容變化情況。程序二：單步或用斷點方式運行程序，檢查C002H內(nèi)容變化情況。五、思考編寫程序：把C000H、C001H的低位分別送入C002H高低位，一般本程序用于把顯示緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)取出拼裝成一個字節(jié)。實驗三 數(shù)據(jù)區(qū)傳送程序（綜合性）一、實驗目的（1）掌握RAM中的數(shù)據(jù)操作；（2）熟悉8031(8051)指令系統(tǒng)，掌握程序設計方法。二、實驗內(nèi)容把R2、R3源RAM區(qū)首址內(nèi)的R6、R7字節(jié)數(shù)據(jù)傳送到R4、R5目的RAM區(qū)。三、程序框圖數(shù)據(jù)區(qū)傳送四、實驗步驟在R2、R3中輸入源首址（例如

3、c000H），R4、R5中輸入目的地址（例如D000H），R6、R7中輸入字節(jié)數(shù)（例如0FFFH），運行程序，檢查C000CFFFH中內(nèi)容是否和D000DFFFH中內(nèi)容完全一致。實驗四 P1口亮燈實驗一、實驗目的（1）學習P1口的使用方法；（2）學習延時子程序的編寫。二、實驗預備知識本實驗中延時子程序采用指令循環(huán)來實現(xiàn)，機器周期（12/6MHz）*指令所需機器周期數(shù)*循環(huán)次數(shù)，在系統(tǒng)時間允許的情況下可以采用此方法。對于延時程序DELAY： MOV R6，#00HDELAY1：MOV R7，#80H DJNZ R7， DJNZ R6，DELAY1MOV、DJNZ指令均需用兩個機器周期，而一個機器

4、周期時間長度為12/6.0MHZ，所以該段指令執(zhí)行時間為：（80+1)×256+1)×2×(12÷6000000)=132.1ms。三、實驗內(nèi)容P1口作為輸出口，接八只發(fā)光二極管，編寫程序，使發(fā)光二極管循環(huán)點亮。四、程序框圖五、實驗電路六、實驗步驟A2區(qū)的P10P17用8芯排線連接到D1區(qū)的LED1LED8，運行程序后，觀察發(fā)光二極管閃亮移位情況。七、思考（1）改變延時常數(shù)，使發(fā)光二極管閃亮時間改變；（2）修改程序，使發(fā)光二極管閃亮移位方向改變。實驗五 定時器實驗一、實驗目的通過學習單片機定時器的定時操作，掌握單片機定時器初始化編程方法和基本應用。二、實

5、驗內(nèi)容利用單片機內(nèi)部定時器產(chǎn)出精確的一秒定時，用其中的單片機的P1 口作為控制端口，使D1 區(qū)的LED 每隔一秒鐘輪流亮。（晶振取6MHz）.三、實驗原理圖四、實驗步驟用排線連接A2區(qū)P1口和D1區(qū)LED1LED8，編寫定時控制程序，觀察LED發(fā)光情況五、思考題1、如何改變定時時間。2、如何改變發(fā)光二極管閃亮移位方向。實驗六 簡單IO擴展實驗一、實驗目的（1）掌握P3口、P1口簡單使用；（2）學習延時程序的編寫和使用。二、實驗內(nèi)容1.P3口做輸入口，外接一脈沖，每輸入一個脈沖，P1口按十六進制加一。2.P1口做輸出口，編寫程序，使P1口接的8 個發(fā)光二極管D1D8按16進制加一方式點亮發(fā)光二極

6、管。三、實驗說明P3口是準雙向口，它作為輸出口時與一般的雙向口使用方法相同，由準雙向口結(jié)構(gòu)可知：當P3口作為輸入口時，必須先對它置高電平，使內(nèi)部MOS管截止，因內(nèi)部上拉電阻是20K40K，故不會對外部輸入產(chǎn)生影響。若不先對它置高，且原來是低電平，則MOS管導通，讀入的數(shù)據(jù)是不正確的。四、實驗程序框圖 五、實驗線路圖 六、實驗步驟A2區(qū)INT1用插針連至D1區(qū)SW1孔，A1區(qū)P10P17用排線連至D1區(qū)LED1LED8。連續(xù)運行程序。開關(guān)SW1每撥動一次，LED1LED8發(fā)光二極管按16進制方式加一點亮。 實驗八 A/D接口實驗一、 實驗目的熟悉A/D轉(zhuǎn)換的工作原理，學習使用并行模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片AD

7、C0809進行電壓信號的采集和數(shù)據(jù)處理。二、 實驗內(nèi)容通過片外總線方式訪問并行模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器芯片ADC0809，掌握模擬電壓的通用采集方法。三、 實驗原理圖四、 實驗步驟1. 將ADC0809模塊插入PARK2區(qū)2. 將D2區(qū)1K電位器的左端金屬孔通過導線連接到該區(qū)的GND金屬孔，而右端的金屬孔通過導線連接到該區(qū)的VCC金屬孔3. 將D2區(qū)1K電位器的中間金屬孔鏈接到A7去的P2_IO2 金屬孔4. 將A7區(qū)的P2_IO3P2_IO5分別連接到A2區(qū)的A2A0，P2_INT連接到A2區(qū)的INT0。5. 將A7區(qū)的P2_CS連接到A2區(qū)的A156. 運行程序，設置斷點，觀察轉(zhuǎn)換值是否與萬用表測試值相同。實驗九 D/A接口實驗一、 實驗目的熟悉D/A轉(zhuǎn)換的工作原理，學習使用并行數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片ADC0832進行數(shù)字信號到模擬信號的轉(zhuǎn)換過程。二、 實驗內(nèi)容通過片外總線方式訪問并行模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器芯片ADC0832，掌握數(shù)字信號到模擬信號的轉(zhuǎn)換方法。三、 實驗原理圖四、 實驗步驟1. 將DAC0832模塊插入PARK2區(qū)2. 將模塊上的JP1跳線帽跳至右側(cè)的VCC處3. 將A7區(qū)的P2_CS連接到A2區(qū)的A15