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1、1.自然電位測(cè)井 前提:首先我們假設(shè), 在地層條件下始終成立。 原理:裸眼井內(nèi),儲(chǔ)層純砂巖與泥漿之間的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)會(huì)被反向的泥質(zhì)與泥漿之間的擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)所“中和”。隨泥質(zhì)含量增高,電動(dòng)勢(shì)不斷減小,甚至反向。第1頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井1、儲(chǔ)層砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì):2、泥巖或儲(chǔ)集層中的泥質(zhì)含量的擴(kuò)散-吸附電動(dòng)勢(shì):dEdaE第2頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 (1)儲(chǔ)集層砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì): 產(chǎn)生原因:dE第3頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì) 求解方法: 其中 為擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)系數(shù),可以由一個(gè)地區(qū)大量的實(shí)驗(yàn)獲得。dEmfwddCCKElgdK第4頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 泥巖或泥質(zhì)含量的擴(kuò)散-

2、吸附電動(dòng)勢(shì) 產(chǎn)生原因:離子雙電層daE第5頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)求解方法: 其中 為擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù),亦可由實(shí)驗(yàn)獲得。mfwdadaCCKElgdaK第6頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 所以在含水純巖石中,電流圖可模擬如下:第7頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 則在含水純巖石中,有: 又因?yàn)樵谀酀{Nacl含量很低的時(shí)候,泥漿電阻率很大。所以基本上mshtxomdadrrrrrEESP純dadEESSP純SSPSP 純第8頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 而在實(shí)際儲(chǔ)層中,因?yàn)橛心噘|(zhì)含量的存在,在儲(chǔ)層中產(chǎn)生了 ,使SP減小。見(jiàn)下圖。daE第9頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 則在實(shí)際地層

3、中,有: 即因?yàn)?的作用而使: 因此,在實(shí)際地層中, mshtxomdadadrrrrrEEESP實(shí)際daE純實(shí)際SPSP不再近似相等。和純實(shí)際SSPSP第10頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 也可以說(shuō),在 中包含了儲(chǔ)層中泥質(zhì)含量的信息。 則用: 即可反應(yīng)儲(chǔ)層中的泥質(zhì)含量。實(shí)際SP純實(shí)際SSPSP1第11頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井具體應(yīng)用方法:在畫(huà)好泥巖基線之后,在圖上按比例尺標(biāo)出計(jì)算好的、和泥巖基線平行的 曲線 ,然后觀察SP曲線和其差值。差值越大,則泥質(zhì)含量越大。純SSP第12頁(yè)/共25頁(yè)1.自然電位測(cè)井 本方法的適用條件和不宜之處: 1、必須為裸眼井,沙泥巖剖面,淡水泥漿。鹽水泥漿無(wú)法測(cè)量

4、。 2、若儲(chǔ)層含油氣,或泥漿侵入深,或地層厚度薄,都會(huì)導(dǎo)致SP減小,而誤以為是因?yàn)槟噘|(zhì)含量增加所致。第13頁(yè)/共25頁(yè)2.自然伽馬測(cè)井 前提:在地層不含泥質(zhì)以外的放射性物質(zhì)!的時(shí)候,自然伽馬測(cè)井幾乎是最好的探測(cè)儲(chǔ)層泥質(zhì)的方法,它適用條件廣,測(cè)量精度高。第14頁(yè)/共25頁(yè)2.自然伽馬測(cè)井 原理:在地層巖石中,火山巖和變質(zhì)巖本身含有放射性礦物,可以發(fā)射伽馬射線;沉積巖則不含放射性礦物,其放射性主要由泥質(zhì)吸附放射性物質(zhì)而引起的。因此可以通過(guò)放射性的大小來(lái)判斷泥質(zhì)含量的高低。第15頁(yè)/共25頁(yè)2.自然伽馬測(cè)井流程:泥質(zhì)吸附的放射性物質(zhì)放射伽馬射線與地層產(chǎn)生三種效應(yīng)和次級(jí)電子次級(jí)電子被探測(cè)器接收次級(jí)電子

5、的多少反應(yīng)為脈沖的個(gè)數(shù)將脈沖個(gè)數(shù)統(tǒng)一為API指數(shù)APIAPI次級(jí)電子次級(jí)電子射線強(qiáng)弱射線強(qiáng)弱放射物質(zhì)放射物質(zhì)泥質(zhì)含泥質(zhì)含量量第16頁(yè)/共25頁(yè)2.自然伽馬測(cè)井maxG書(shū)為設(shè)純泥巖的自然伽馬讀minG純巖石的伽馬讀數(shù)為GRGRGRGRSHImaxmin泥質(zhì)含量指數(shù):1212GCURGCURSHIshV則第17頁(yè)/共25頁(yè)2.自然伽馬測(cè)井 自然伽馬測(cè)井最大的前提: 地層不含除泥質(zhì)以外的放射性礦物第18頁(yè)/共25頁(yè)3.交會(huì)圖法 涵義:交會(huì)圖法是將不同的測(cè)井曲線交會(huì),從而通過(guò)作圖的方法測(cè)定一些地質(zhì)參數(shù),減小誤差。 常見(jiàn)的交會(huì)圖有: 1、巖性-孔隙度交會(huì)圖 2、頻率圖、Z值圖和直方圖 3、M-N交會(huì)圖第

6、19頁(yè)/共25頁(yè)3.交會(huì)圖法 重點(diǎn)講解中子-密度交會(huì)圖法測(cè)量泥質(zhì)含量的方法。 為此,首先需要知道 交會(huì)圖、頻率交會(huì)圖、Z值交會(huì)圖的意義和制作方法。Nb第20頁(yè)/共25頁(yè)3.交會(huì)圖法 制圖方法:對(duì)于砂巖取: =0,5,10,15,20,25,30,35,40%,代入下列公式:DEN= *DEN +(1)*DENmaCNL= *CNL +(1)*CNLma其中下標(biāo)為 者為孔隙流體的數(shù)據(jù),下標(biāo)為ma者為巖石骨架數(shù)據(jù)第21頁(yè)/共25頁(yè)泥巖點(diǎn)泥巖點(diǎn)純巖石線第22頁(yè)/共25頁(yè)3.交會(huì)圖法 確定了純巖石線和泥巖點(diǎn)之后,就可以求泥質(zhì)含量了。 在純巖石線上隨便取兩個(gè)點(diǎn),(x1,y1)和(x2,y2),可以確定巖石線的方程

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