鍵盤-成品檢驗(yàn)規(guī)范

1、精品1目的：建立和規(guī)范成品之檢驗(yàn)流程和方法，以確保檢驗(yàn)結(jié)果全面性和準(zhǔn)確性。2范圍：適用于所有有線和無(wú)線keyboard。3相關(guān)文件：3.1 keyboard電性 手感標(biāo)準(zhǔn)。3.2 keyboard 缺點(diǎn)判定基準(zhǔn)。3.3外觀檢驗(yàn)規(guī)范。3.4包裝檢驗(yàn)規(guī)范。3.5產(chǎn)品規(guī)格書。4作業(yè)程序：4.1檢驗(yàn)計(jì)劃：4.1.1批之構(gòu)成:以供貨商一次送驗(yàn)量為單位檢驗(yàn)批。4.1.2抽樣計(jì)劃：依MIL-STD-105E計(jì)數(shù)值抽樣計(jì)劃，實(shí)施單次抽樣。4.1.3檢驗(yàn)水平/允收水平:參見(jiàn)質(zhì)量檢驗(yàn)計(jì)劃表。4.2批允收/拒收之判定：4.2.1依規(guī)定之AQL對(duì)照AC/RE個(gè)數(shù)與實(shí)際不良品個(gè)數(shù)之差異。4.2.2當(dāng)個(gè)別之實(shí)際不良品個(gè)數(shù)

2、(CR/MA/MI)超過(guò)相應(yīng)之任一級(jí)(CR/MA/MI)之允 許不良品個(gè)數(shù)時(shí) 則該批判定為“ REJ” LOT。4.2.3當(dāng)總計(jì)之實(shí)際不良品個(gè)數(shù)超過(guò) MI級(jí)之允許不良品個(gè)數(shù)時(shí)，則該批判定為“REJ”LOT。4.3檢驗(yàn)項(xiàng)目之要求：4.3.1 一般包裝材料及方式和結(jié)構(gòu)外觀檢查參照BOM核對(duì)料號(hào)或規(guī)格，并實(shí)施基本的檢驗(yàn).4.3.2 keyboard 產(chǎn)品的種類不同，根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)需要檢驗(yàn)的電氣功能也不同4. 4. 1鍵盤成品外觀、手感、檢查內(nèi)容及缺陷標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)項(xiàng) 目檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及說(shuō)明缺陷判定CRMAMI鍵帽插錯(cuò)鍵帽插錯(cuò)、漏插MA，鍵帽插歪、插反MA鍵帽異色、斑點(diǎn)1.正前方0.5mm 以上：MA ,以下

3、MI ; 2.左右后方 位0.5mm:以上:MI;沒(méi)擦干凈或側(cè)面有灰塵:MA鍵帽或外殼臟污臟污嚴(yán)重MA ;發(fā)白可擦干凈MA ;有灰塵沒(méi)擦干 凈Ml鍵帽劃傷1. 正前方2.0mm 以上:MA,以下:Ml2. 左右后方位2.0mm以下:Ml鍵帽晃動(dòng)、抖動(dòng)1. 手捏鍵帽左右或上下?lián)u晃比標(biāo)準(zhǔn)鍵盤嚴(yán)重:Ml2. 敲擊鍵盤上殼，鍵帽抖動(dòng)四個(gè)以上:MA外鍵帽歪斜、高低歪斜不能超過(guò)30度或高低1.5mm以上：MA字鍵雕刻不良字鍵雕刻錯(cuò)誤，漏刻，字體殘缺，空心，重影，MA，模糊線型超過(guò)0.3mm : MA，以下Ml字鍵有毛邊不清晰或明顯可見(jiàn)，不明顯觀版本雕刻雕刻版本錯(cuò)誤，版本混裝外殼LOGO不良1面殼LOGO處

4、不得有任何刮傷:MA;有污點(diǎn)、毛邊2.外殼LOGO絲印斜度超過(guò) 2.0mm : MA ;在0.2mm 以 下檢鍵盤鍵帽脫落1. 手拍鍵盤底盤鍵帽脫落：;鍵帽斷扣位：2. 將鍵盤作20cm落地鍵帽脫落：平衡桿脫落敲打鍵帽四個(gè)角位，平衡桿脫落:平衡桿未裝驗(yàn)外殼劃傷1. 有手感，上殼1cm以上或下殼2cm以上:MA;以下:Ml2. 有手感，上殼1cm區(qū)域內(nèi)有兩條以上超過(guò) 1cm劃痕或下 殼1cm區(qū)域內(nèi)有二條以上超過(guò) 1cm劃痕:MA3. 無(wú)手感不見(jiàn)底色劃傷：Ml上下殼噴油不良噴油漏底色、脫色、掉色、蓋不住其它顏色：MA;與樣品顏色不符合要求：MA上下殼不密合上下殼結(jié)合縫隙超過(guò)1.0mm:MA;在0.

5、5-1.0mm:MlLED指示板露白露白2mm以上:MA;以下:Ml卡鍵不能恢復(fù):MA;可恢復(fù):Ml手按鍵手感不一致1. 按鍵手感不順或有生澀感比一般按鍵差:Ml2. 鍵盤所有的按鍵無(wú)段落層次感以及均勻:MA感異形按鍵手感按鍵手感四周或兩端有卡鍵:MA;有生澀感:MA檢帶平衡桿鍵手感空格、大回車、右上檔鍵鍵有搖擺、有噪聲：MA驗(yàn)盲鍵手感盲鍵插錯(cuò)或漏插:MA內(nèi)有異物可導(dǎo)電:MA;有異響MA，非導(dǎo)電:Ml4. 4. 2 鍵盤成品電性、包裝檢查內(nèi)容及缺陷標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)項(xiàng) 目檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及說(shuō)明缺陷判定CRMAMl功 能 測(cè)擋機(jī)有線、無(wú)線鍵盤連接上之后死機(jī)：CR亂碼、連鍵鍵碼不符或兩個(gè)鍵以上連鍵，MA單/多鍵

6、/無(wú)反應(yīng)兩個(gè)鍵以上少鍵：CR;只有一個(gè)鍵無(wú)反應(yīng)：MA性能不穩(wěn)定拍打鍵盤時(shí)擋機(jī)或不穩(wěn)定：CRLED不良LED不亮或常亮不息：CR;不穩(wěn)定：MA ;亮度不 均勻有色差：Ml ; LED高出孔位有手感：MA兼容性不良不兼容或兼容性能不良：CR按鍵靈敏度按鍵反應(yīng)不靈敏或需重壓才有功能：MA試無(wú)線鍵盤對(duì)碼1. 鍵盤與接收器不對(duì)碼或?qū)Υa困難不正常等:CR2. 鍵盤、鼠標(biāo)、接收器配套不能同時(shí)工作：CR3 鍵盤、鼠標(biāo)正常工作時(shí)與接收器空間距離小于0.8m平面距離小于1.2m;在無(wú)干擾360 C： CR包 裝 檢 驗(yàn)?zāi)_架不良或未裝無(wú)腳架：CR;無(wú)法收放：MA ; 1.2 1.5mm:MI螺釘不良或未裝1. PC

7、B螺釘漏打：CR滑牙:MA2. 外殼螺釘漏打：MA;生銹腐蝕:MA腳墊不良或未裝腳墊漏貼:MA;脫落或不良:MI貼紙錯(cuò)誤、貼反 或未貼貼紙錯(cuò)誤或漏貼、貼反：MA ;貼歪：Ml包裝材料不良1. 混裝、異物CR2. 用錯(cuò)包裝盒、包裝箱 CR3. 附件缺少CR4. 封箱不正確,未按客戶要求MA5. 正、側(cè)嘜有錯(cuò)誤、漏寫：MA ;輕微：MA附 注特殊要求依規(guī)定1. 特殊要求或客戶要求依規(guī)定2. 能兼容 WIND98、ME、2000、XP目的為檢測(cè)無(wú)線、有線鍵盤系列產(chǎn)品達(dá)到規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)或客 戶要求，保證不良品不轉(zhuǎn)到下一工序、不出廠范圍有線、無(wú)線鍵盤系列產(chǎn)品檢驗(yàn)條件1. 場(chǎng)所光源：自然日光 場(chǎng)所亮度:500L

8、UX2. 目視距離:0.45mm目視角度：>60 °C>45 C4.5 對(duì)機(jī):4.5.1常規(guī)檢驗(yàn)完畢后，將檢驗(yàn)之不良品標(biāo)識(shí)清楚放置整齊，同時(shí)通知生產(chǎn)部對(duì)機(jī)； 如屬嚴(yán)重不良及批量性不良，則要求QA參與,并分析原因。4.5.2將檢驗(yàn)OK之成品，按原包裝方式放置回去，并交生產(chǎn)線.不良品則送回生產(chǎn)部 門返修.將檢驗(yàn)后的成品予以相應(yīng)狀態(tài)標(biāo)示4.6記錄:4.6.1報(bào)表填寫方式：隨時(shí)記錄檢驗(yàn)狀況4.6.2檢驗(yàn)結(jié)果記錄在“ keyboard檢驗(yàn)報(bào)告”上（參見(jiàn)附件二） 附件一流程圖主要檢驗(yàn)內(nèi)容、重點(diǎn)及相關(guān)資料生產(chǎn)制令（W/0）、生產(chǎn)線別、報(bào)驗(yàn)數(shù)量、序號(hào)范圍等BOM、質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)書、內(nèi)部訂單審核表、樣品、檢驗(yàn)報(bào)告表 等.紙箱規(guī)格（尺寸、材質(zhì)、文字、膠合方式）、外觀依 < 質(zhì)量檢驗(yàn)計(jì)劃>附件檢查對(duì)機(jī)/填寫報(bào)彩盒入箱方式、外箱貼紙粘貼、包扎方式規(guī)格（尺寸、材質(zhì)、文字、膠合方式）、外觀規(guī)格（文字、條形碼、日期、材質(zhì)）、外觀規(guī)格（文字、條形碼、日期、材質(zhì)）、外觀外觀、部件、美工線/段差、平整度、logo/顏色檢查規(guī)格、外觀、