三維表面形貌儀產(chǎn)品信息

1、JR25三維表面形貌儀產(chǎn)品簡介：JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，米用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器的測量探頭可以任意旋轉(zhuǎn)，適合精密測量 不可移動樣品表面形貌，同時適合進行野外測試。產(chǎn)品特性：1, 采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級的分辨率2, 測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高3, 測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒)；4, 尤其適合測量高坡度 高曲折度的材料表

2、面5, 不受樣品反射率的影響6, 不受環(huán)境光的影響7, 測量簡單，樣品無需特殊處理8, Z方向，測量范圍大：為27mm主要技術(shù)參數(shù)：1，掃描范圍：25 X 25 (mm )2, 掃描步長：0.1卩m3，掃描速度：20mm/s4, Z方向測量范圍：27mm4, Z方向測量分辨率：3nm產(chǎn)品應(yīng)用：MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、陶 瓷和先進材料的研發(fā)聯(lián)系人：劉蕊010-5320340313933947304網(wǎng)站：www.mnt-PS50型三維表面形貌儀產(chǎn)品簡介：PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設(shè)備，采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材

3、料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器性價比高，可用于取代傳統(tǒng)的探 針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。產(chǎn)品特性：1, 采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級的分辨率2, 測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高3, 測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒）；4, 尤其適合測量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受樣品反射率的影響6, 不受環(huán)境光的影響7, 測量簡單，樣品無需特殊處理8, Z方向測量范圍大：為27mm 主要技術(shù)參數(shù)：1，掃描范

4、圍：50 X 50 (mm )2, 掃描步長：0.1卩m3，掃描速度：20mm/s4，Z方向測量范圍：27mm4， Z方向測量分辨率：2nm產(chǎn)品應(yīng)用：MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、陶 瓷和先進材料的研發(fā)聯(lián)系人：劉蕊010-5320340313933947304網(wǎng)站：www.mnt-ST400型三維表面形貌儀產(chǎn)品簡介：ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀，采用國際領(lǐng)先的白光共 聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高,速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品，并具有多種選項，包 含360°旋轉(zhuǎn)

5、工作臺，原子力顯微鏡模塊，光學(xué)顯微鏡，特征區(qū)域定位等多種功 能模塊。產(chǎn)品特性：1, 采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級的分辨率2, 測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高漆、3, 測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、 粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、 紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒）；4, 尤其適合測量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受樣品反射率的影響6, 不受環(huán)境光的影響7, 測量簡單，樣品無需特殊處理8, Z方向，測量范圍大：為27mm主要技術(shù)參數(shù)：1，掃描范圍：150mm x 150mm（最大可選 600mm*600mm）2,掃描

6、步長：0.1卩m3，掃描速度：20mm/s4, Z方向測量范圍：27mm4, Z方向測量分辨率：2nm產(chǎn)品應(yīng)用：MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、 瓷和先進材料的研發(fā)聯(lián)系人：劉蕊010-5320340313933947304網(wǎng)站：www.mnt-HS1000型三維表面形貌儀產(chǎn)品簡介：HS1000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度 測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣 品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。產(chǎn)品特性：1, 采用白光共聚焦色差技術(shù)，

7、可獲得納米級的分辨率2, 測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高3, 測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、 紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒）；4, 尤其適合測量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受樣品反射率的影響6, 不受環(huán)境光的影響7, 測量簡單，樣品無需特殊處理8, Z方向，測量范圍大：為27mm主要技術(shù)參數(shù)：1，掃描范圍：400mm x 600mm（最大可選 600mm*600mm）2,掃描步長：5nm3，掃描速度：1m/s4, Z方向測量范圍：27mm4, Z方向測量分辨率：2nm產(chǎn)品應(yīng)用：MEM

8、S、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、陶 瓷和先進材料的研發(fā)聯(lián)系人：劉蕊010-5320340313933947304網(wǎng)站：www.mnt-粗糙度測量儀P3產(chǎn)品簡介:P3型全自動粗糙度測量儀是一款非接觸式粗糙度測量儀，采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，符合國際標準ISO25178,用于取代傳統(tǒng)的接觸式探針型粗糙度測量儀。測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、 木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等 任意樣品，不收材料形狀及顏色的限制 產(chǎn)品特性：1. 測量具有非破壞性：采用白光共聚焦技術(shù)，可獲得納米級分辨率2. 測量范圍大：15mM 15mm無需進行圖像拼接3. 可測樣品的最大坡度：87°C4. 測量范圍廣：可測平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、拋光、粗 糙樣品5. 不受環(huán)境光的影響6. 不受樣品反射率與形狀的影響7. 操作簡單：樣品無需特殊處理優(yōu)于傳統(tǒng)的探針技術(shù)與干涉技術(shù)形貌儀 主要技術(shù)參數(shù):1，掃描范圍：1 x 1，2X 2，3X 3，4X 4，5X 5，10X 10，15X 15 （mm2，掃描步長：1X 1，2X 2，5X 5（卩 m3，Z方向測量范圍：300卩m4，