實驗一組合邏輯電路設(shè)計(含門電路功能測試)

1、實驗一 組合邏輯電路設(shè)計（含門電路功能測試）一、實驗?zāi)康?. 掌握常用門電路的邏輯功能2. 掌握小規(guī)模集成電路設(shè)計組合邏輯電路的方法3. 掌握組合邏輯電路的功能測試方法 二、實驗設(shè)備與器材數(shù)字電路試驗箱雙蹤示波器穩(wěn)壓電源數(shù)字多用表 74LS20 二4輸入與非門 74LS00 四2輸入與非門 74LS10 三3輸入與非門 三、實驗原理保證實驗的順利TTL集成邏輯電路種類繁多， 使用時應(yīng)對選用的器件做簡單邏輯功能檢查, 進行。2血牝O 90G測試門電路邏輯功能有靜態(tài)測試和動態(tài)測試兩種方法。靜態(tài)測試時，門電路輸入端加固定的LED ）測出門電路的輸出響應(yīng)。動高（H ）、低電平，用示波器、萬用表、或發(fā)光

2、二極管（ 態(tài)測試時，門電路的輸入端加脈沖信號，用示波器觀測輸入波形與輸出波形的同步關(guān)系。F面以74LS00為例，簡述集成邏輯門功能測試的方法。74LS00為四輸入2與非門，電路14條外圖如3-1所示。74LS00是將四個二輸入與非門封裝在一個集成電路芯片中，共有引線。使用時必須保證在第14腳上加+5V電壓，第7腳與底線接好。整個測試過程包括靜態(tài)、動態(tài)和主要參數(shù)測試三部分。表3-174LS00與非門真值表ABC0010111011101.門電路的靜態(tài)邏輯功能測試靜態(tài)邏輯功能測試用來檢查門電路的真值表,確認門電路的邏輯功能正確與否。實驗時，可將74LS00中的一個與非門的輸入端 A、B分別作為輸入

3、邏輯變量，加高、低電平，觀測輸 出電平是否符合 74LS00的真值表（表3-1 ）描述功能。測試電路如圖3-2所示。試驗中A、B輸入高、低電平，由數(shù)字電路實驗箱中邏輯電平產(chǎn)生 電路產(chǎn)生，輸入F可直接插至邏輯電平只是電路的某一路進行顯示。仿真示意D-T.TTT.H V2.門電路的動態(tài)邏輯功能測試:WK動態(tài)測試用于數(shù)字系統(tǒng)運行中邏輯功能的檢查,測試時，電路輸入串行數(shù)字信號,用示波器比較輸入與輸出信號波形，以此來確定電路的功能。實驗時，與非門輸入端A加一頻率為1kHz的脈沖信號Vi，如圖3-3所示，另一端加上開關(guān)信號，觀測F輸出波形是否符合功能要求。測試圖如 3-4所示。動態(tài)測試-1態(tài)jtteiU2

4、-IkHf ；UIA士2叫CDHVIS 弐匚 OQCfViV 恥畑m甲0 cmiiOF"Aif'PMl MIOIT-142*4.li-n#fF I fgHJEt；料常 n 3阿|芹加E；* f>IE_帕：園7亙；r水二：W常主正萃 Mr廠幻因SbtiT；測T址鉀SI: DI -. -Ill .ttrufe：瑙:I 打?qū)?If吞動態(tài)測試-0態(tài)： ： JLSCiEvi TriesU1AZ4LSOOOI T :nxSi： - rM IlkHz<>:時基圖lAililB觸發(fā)-標團1 msAiv沁2也國刻度,2 V伽丄邊沿：因盡區(qū)Bit-xWh移格）；0Y軸位移（格1；28Y釉位移搭）；卜1 水平：0¥ 1! |vzr| 殊加 b/a a/br -=交淙0 1直謊1交療1 01直療1 -單次1正常自動1無1,保存T2J1外觸左通直A5.000 V 5.000 V lO&