如何正確選擇三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭

1、如何正確選擇三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)頭是測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān)，它是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，需要的測(cè)量精度的高低決定了測(cè)量機(jī)測(cè)頭精度的高低，另外，不同的零件要求選擇不同功能的測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量。測(cè)頭可分為接觸式測(cè)頭和非接觸式測(cè)頭（激光等類(lèi)型）。    目前主要用接觸式測(cè)頭，接觸式測(cè)頭又可分為開(kāi)關(guān)式（觸發(fā)式或動(dòng)態(tài)發(fā)訊式）與掃描式（比例式或靜態(tài)發(fā)訊式）兩大類(lèi)   開(kāi)關(guān)測(cè)頭的實(shí)質(zhì)是零位發(fā)訊開(kāi)關(guān)，以TP6（RENISHAW）為例，它相當(dāng)于三對(duì)觸點(diǎn)串聯(lián)在電路中，當(dāng)測(cè)頭產(chǎn)生任一方向的位移時(shí)，均使任一觸點(diǎn)離開(kāi)，電路斷開(kāi)即可發(fā)訊計(jì)數(shù)。開(kāi)關(guān)式結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，壽命長(zhǎng)（

2、106107）、具有較好的測(cè)量重復(fù)性（0.350.28m），而且成本低廉，測(cè)量迅速，因而得到較為廣泛的應(yīng)用。    掃描式測(cè)頭實(shí)質(zhì)上相當(dāng)于X、Y、Z個(gè)方向皆為差動(dòng)電感測(cè)微儀，X、Y、Z三個(gè)方向的運(yùn)動(dòng)是靠三個(gè)方向的平行片簧支撐，是無(wú)間隙轉(zhuǎn)動(dòng)，測(cè)頭的偏移量由線性電感器測(cè)出。掃描式測(cè)頭主要用來(lái)對(duì)復(fù)雜的曲線曲面實(shí)現(xiàn)測(cè)量。非接觸測(cè)頭主要分為激光掃描測(cè)頭和視頻測(cè)頭兩種。   激光掃描測(cè)頭主要用于實(shí)現(xiàn)較軟材料或一些特征表面進(jìn)行非接觸測(cè)量。測(cè)頭在距離檢測(cè)工件一定距離（比如50mm），在其聚焦點(diǎn)!5mm范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，采點(diǎn)速率在200點(diǎn)/秒以上。通過(guò)對(duì)

3、大量采集數(shù)據(jù)的平均處理功能而獲得較高的精度。    視頻測(cè)頭進(jìn)一步提高了測(cè)量機(jī)的應(yīng)用，使得許多過(guò)去采用非接觸測(cè)量無(wú)法完成的任務(wù)得以完成。一些諸如印刷線路板、觸發(fā)器、墊片或直徑小于0.1mm的孔可采用視頻測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量。操作者可將檢測(cè)工件表面放大50倍以上，采用標(biāo)準(zhǔn)的或可變換的鏡頭實(shí)現(xiàn)對(duì)細(xì)小工件的測(cè)量。   以下就如何進(jìn)行觸發(fā)和掃描測(cè)頭提出建議：什么時(shí)侯用觸發(fā)式測(cè)頭？ 1. 零件所被關(guān)注的是尺寸（如小的螺紋底孔）、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差（如定位銷(xiāo)孔）; 2. 或你確信你所用的加工設(shè)備有能加

4、工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是由于對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量; 3. 觸發(fā)式測(cè)頭比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件; 4. 一般來(lái)講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低;    在機(jī)械工業(yè)中有大量的幾何量測(cè)量,所關(guān)注的僅是零件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分測(cè)量機(jī)，特別是中等精度測(cè)量機(jī)，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭。什么時(shí)侯用掃描測(cè)頭？   應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可

5、以用來(lái)確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來(lái)精確的描述形狀、輪廓，這特別適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等); 也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件 。    目前三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)所使用的測(cè)頭系統(tǒng)基本上是英國(guó)雷尼紹（RENISHAW)的，產(chǎn)品性能及品種多樣化排在世界前列，可以?xún)?yōu)選選購(gòu)此品牌之測(cè)頭系統(tǒng)。測(cè)頭選擇基本原則：    如果只測(cè)尺寸和位置要素的情況下，首選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；    對(duì)形狀和輪廓精度

6、要求較高的情況下，選用掃描式測(cè)頭；    易變性零件、精度要求不高零件，可選用非接觸式測(cè)頭；    如果考慮成本因素，可選擇接觸式觸發(fā)測(cè)頭；    考慮掃描測(cè)頭和觸發(fā)測(cè)頭均需要使用，需選用通用測(cè)頭座；    1、觸發(fā)式測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)和適用場(chǎng)合    觸發(fā)式測(cè)頭通用性強(qiáng)，體積小，應(yīng)用簡(jiǎn)單，采購(gòu)及運(yùn)行成本低，適用于空間箱體類(lèi)工件及已知表面的測(cè)量，如TP20、TP200。    觸發(fā)式測(cè)頭特別適用于離散點(diǎn)的測(cè)量，當(dāng)零件被關(guān)注的

7、是尺寸間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差，測(cè)量精力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，觸發(fā)式測(cè)頭是最佳選擇。    2、掃描式測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)和適用場(chǎng)合    掃描式測(cè)頭（如SP25、SP80）采點(diǎn)率高，高密度的采點(diǎn)仍舊保證良好的重復(fù)性和再現(xiàn)性。掃描測(cè)頭適用于形狀及輪廓有嚴(yán)格要求的零件（如葉片）。對(duì)于未知曲面的掃描，掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)：因?yàn)閿?shù)字化工作方式，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢。如果是未知曲面，測(cè)量機(jī)根據(jù)已運(yùn)動(dòng)的軌跡來(lái)計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡，并可根據(jù)曲率變化來(lái)計(jì)算采點(diǎn)密度等。· 世界上最小的掃描測(cè)頭，直徑僅為25

8、mm。· 優(yōu)異的計(jì)量性能 獨(dú)立的光學(xué)傳感和三次多項(xiàng)式補(bǔ)償。· 四個(gè)模塊在各種測(cè)針長(zhǎng)度（最長(zhǎng)可達(dá)400 mm）范圍內(nèi)均具有理想的性能。· 二合一傳感器 掃描和觸發(fā)。· 防碰撞保護(hù)功能，測(cè)針更換簡(jiǎn)單。· 快速簡(jiǎn)便的測(cè)頭標(biāo)定過(guò)程。· 適于輪廓和外形測(cè)量。· 適合用于機(jī)動(dòng)可重復(fù)定位測(cè)座,靈活性更強(qiáng)，掃描循環(huán)時(shí)間更短。· 設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔、剛性好，可靠性更高 無(wú)馬達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)。   測(cè)頭屬性 3軸模擬測(cè)量 (X, Y, Z)：在XY平面的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，Z方向有平移 使用TM25

9、-20模塊可以轉(zhuǎn)換為普通接觸式測(cè)頭，支持所有TP20模塊 測(cè)量范圍 在X、Y和Z方向?yàn)?#177;0.50 mm 超行程范圍 ±X：2.00mm ±Y：2.00mm Z：1.70mm Z：1.20mm 分辨率 UCC2子卡或AC3接口卡時(shí)< 0.10 µm 測(cè)頭直徑 25.00mm 彈簧剛性 使用模塊支持的最短測(cè)針長(zhǎng)度時(shí)：0.60N/mm 使用模塊支持的最長(zhǎng)測(cè)針長(zhǎng)度時(shí)：0.20N/mm 重量

10、 SP25M body  ：60.00g SM25-1 模塊 ：35.00g SM25-2 模塊 ：40.00g SM25-3 模塊 ：49.00g SM25-4 模塊 ：71.00g TM25-20 模塊：40.00g 有效測(cè)針長(zhǎng)度范圍 SM25-1SH25-1：020.00mm050.00mm SM25-2SH25-2：050.00mm105.00mm SM25-3SH25-3：120.00mm200.00mm SM25-4SH25-4：200.00mm400.00mm&

11、#160;TM25-20：參考TP20個(gè)模塊參數(shù) 碰撞保護(hù) X、Y、Z：模塊或測(cè)針架折斷 Z：內(nèi)置緩沖塊設(shè)計(jì) 減振 單個(gè)粘性流體減振器 電源 12.00V(±05.00%) 12.00V(10.00%/08.00%) 05.00V(10.00%/13.00%)DC 測(cè)頭更換架 FCR25、FCR25-3、FCR25-6、 上端接口類(lèi)型/ 下端接口類(lèi)型 多線接口/M3螺紋接口 上端可接用配件 可以直接連接使用的測(cè)頭座：PH10M

12、(Q)自動(dòng)測(cè)頭座 可以直接連接使用的加長(zhǎng)桿：PEM 下端可接用配件 M3系列測(cè)針測(cè)頭是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān)，它是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，測(cè)頭精度的高低決定了測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。正確的選擇測(cè)頭可以提高測(cè)量效率及機(jī)器的使用壽命。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)除用于空間尺寸及形位誤差的測(cè)量外，應(yīng)用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)對(duì)未知數(shù)學(xué)模型的復(fù)雜曲面進(jìn)行測(cè)量，提取復(fù)雜曲面的原始形狀信息，重構(gòu)被測(cè)曲面，實(shí)現(xiàn)被測(cè)曲面的數(shù)字化，不僅是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)用的一個(gè)重要領(lǐng)域，也是反求工程中的關(guān)鍵技術(shù)之一，近年來(lái)也得到快速發(fā)展。測(cè)頭是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān)，它是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，測(cè)頭精度的高低決定了

13、測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。此外，不同零件需要選擇不同功能的測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量。測(cè)頭可分為接觸式和非接觸式（激光等類(lèi)型）。目前主要用接觸式測(cè)頭，接觸式測(cè)頭又可分為開(kāi)關(guān)式（觸發(fā)式或動(dòng)態(tài)發(fā)訊式）與掃描式（比例式或靜態(tài)發(fā)訊式）兩大類(lèi)。 （1）機(jī)械接觸式測(cè)頭接觸式測(cè)頭又稱(chēng)為“剛性測(cè)頭”、“硬測(cè)頭”，一般用于“靜態(tài)”測(cè)量，大多作為接觸元件使用。這種測(cè)頭沒(méi)有傳感系統(tǒng)，無(wú)量程、不發(fā)訊，只是一個(gè)純機(jī)械式接觸頭。機(jī)械接觸式測(cè)頭主要用于手動(dòng)測(cè)量。由于人工直接操作，故測(cè)頭的測(cè)量力不易控制，只適于作一般精度的測(cè)量。由于其明顯的缺點(diǎn)，目前這種測(cè)頭已很少使用。（2）電氣接觸式測(cè)頭電氣接觸式測(cè)頭又稱(chēng)為“軟測(cè)頭”，適于動(dòng)態(tài)測(cè)量。

14、這種測(cè)頭作為測(cè)量傳感器，是唯一與工件接觸的部件，每測(cè)量一個(gè)點(diǎn)時(shí)，測(cè)頭傳感部分總有一個(gè)“接觸偏轉(zhuǎn)發(fā)訊回復(fù)”的過(guò)程，測(cè)頭的測(cè)端與被測(cè)件接觸后可作偏移，傳感器輸出模擬位移量的信號(hào)。這種測(cè)頭不但可用于瞄準(zhǔn)（即過(guò)零發(fā)訊），還可用于測(cè)微（即測(cè)出給定坐標(biāo)值的偏差值）。因此按其功能，電氣接觸式測(cè)頭又可分為作瞄準(zhǔn)用的開(kāi)關(guān)測(cè)頭和具有測(cè)微功能的三向測(cè)頭。電氣接觸式測(cè)頭是目前使用最多的測(cè)頭。 非接觸測(cè)頭主要分為激光掃描測(cè)頭和視頻測(cè)頭兩種。激光掃描測(cè)頭主要用于實(shí)現(xiàn)較軟材料或一些特征表面進(jìn)行非接觸測(cè)量。測(cè)頭在距離檢測(cè)工件一定距離（比如50mm），在其聚焦點(diǎn)!5mm范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，采點(diǎn)速率在200點(diǎn)/秒以上。但精

15、度有限一般在0.02mm以上。 2測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差（1）測(cè)針的選擇正確選擇和使用測(cè)頭是影響坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度的重要因素。測(cè)針安裝在測(cè)頭上，是測(cè)量系統(tǒng)中直接接觸工件的部分，它與測(cè)頭的通訊式連接渠道稱(chēng)作觸發(fā)信號(hào)。如何選用合適的測(cè)針類(lèi)型和規(guī)格取決于被測(cè)工件的特征，但是在任何情況下，測(cè)針的剛性和測(cè)球的球度都是不可或缺的。工業(yè)用紅寶石是高硬度的陶瓷材料，紅寶石測(cè)球具有很好的球度，測(cè)量時(shí)紅寶石測(cè)球的球頭磨損可忽略不計(jì)。測(cè)針針桿一般用非磁性的不銹鋼針桿或碳鎢纖維針桿，以保證測(cè)針的剛性。測(cè)針的有效工作長(zhǎng)度（EWL）使得測(cè)針接觸工件時(shí)可獲得精確的測(cè)點(diǎn)位置。球頭尺寸和測(cè)針有效工作長(zhǎng)度的選取取決于被測(cè)工

16、件?？赡艿那闆r下，選擇球頭直徑盡可能大、測(cè)桿盡可能短的測(cè)針，以保證最大的球頭/測(cè)桿距，獲得最佳的有效工作長(zhǎng)度和測(cè)針剛性。需要時(shí)可加長(zhǎng)測(cè)桿以增大探測(cè)深度，但值得注意的是，使用測(cè)針加長(zhǎng)桿會(huì)降低剛性，從而降低測(cè)量精度。（2）測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差當(dāng)測(cè)針接觸到工件時(shí)，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)接收的的坐標(biāo)值應(yīng)是紅寶石球頭中心點(diǎn)坐標(biāo)，顯然，測(cè)量軟件將自動(dòng)沿著測(cè)針從接觸點(diǎn)回退的方向加上一個(gè)測(cè)球半徑值作為測(cè)量值。但該測(cè)量值是一個(gè)與測(cè)頭的機(jī)械慣性有關(guān)的動(dòng)態(tài)值。實(shí)際上，測(cè)量作為一個(gè)動(dòng)態(tài)過(guò)程，其測(cè)量值應(yīng)該考慮到從測(cè)頭采點(diǎn)到實(shí)際向系統(tǒng)傳送該點(diǎn)坐標(biāo)值時(shí)發(fā)生的機(jī)器空間移動(dòng)距離。盡管這個(gè)距離極小，但對(duì)系統(tǒng)計(jì)算動(dòng)態(tài)尺寸有一定影響。在實(shí)際測(cè)量時(shí)

17、，每測(cè)量一個(gè)元素，系統(tǒng)都可以自動(dòng)區(qū)分測(cè)球半徑的補(bǔ)償方向，計(jì)算正確的補(bǔ)償半徑。在采點(diǎn)開(kāi)始后，測(cè)量軟件將在沿著測(cè)針接觸工件的方向上對(duì)測(cè)球進(jìn)行半徑補(bǔ)償。但被補(bǔ)償點(diǎn)并非真正的接觸點(diǎn)，而是測(cè)頭沿著測(cè)針接觸工件方向的延長(zhǎng)線上的一個(gè)點(diǎn)。這樣就造成了補(bǔ)償誤差，產(chǎn)生誤差的大小與測(cè)球的半徑及該工件被測(cè)面與笛卡爾坐標(biāo)軸的夾角有關(guān)，夾角越大，誤差越大。1）測(cè)球半徑r對(duì)補(bǔ)償誤差的影響補(bǔ)償誤差與測(cè)球半徑r成正比關(guān)系，即測(cè)球半徑r越小，補(bǔ)償誤差也越小。因此當(dāng)用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行點(diǎn)位測(cè)量時(shí)，應(yīng)選用盡可能小的測(cè)球。2）測(cè)針軸線與被測(cè)表面法線間的夾角對(duì)補(bǔ)償誤差的影響當(dāng)測(cè)針軸線與被測(cè)表面法線間的夾角等于0時(shí)，測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差也為0。

18、因此，測(cè)量時(shí)要盡可能使測(cè)針軸線與被測(cè)表面垂直，使測(cè)頭沿著被測(cè)表面的法線方向移動(dòng)，以最大限度地減小測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差。在用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量點(diǎn)元素時(shí)，測(cè)量軟件在自動(dòng)補(bǔ)償測(cè)球半徑過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差。通過(guò)運(yùn)用參考坐標(biāo)系找正工件或用CNC模式進(jìn)行測(cè)量，使測(cè)頭沿著被測(cè)表面的法線方向移動(dòng)采集點(diǎn)的坐標(biāo)，可以盡量減小測(cè)球半徑補(bǔ)償誤差，正確進(jìn)行測(cè)球半徑補(bǔ)償，提高測(cè)量精度。幾十年的發(fā)展充分證明，現(xiàn)代三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)打破了傳統(tǒng)的測(cè)量模式，具有通用、靈活、高效等特點(diǎn)，可以通過(guò)計(jì)算機(jī)控制完成各種復(fù)雜零件的測(cè)量，符合機(jī)械制造業(yè)中柔性自動(dòng)化發(fā)展的需要，能夠滿足現(xiàn)代生產(chǎn)對(duì)測(cè)量技術(shù)提出的高精度、高效率要求。 什么

19、時(shí)侯用掃描測(cè)頭？應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來(lái)確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來(lái)描述形狀、輪廓，這特別適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等); 也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件,而形狀誤差成為主要問(wèn)題時(shí)。 什么時(shí)侯用觸發(fā)式測(cè)頭？1. 零件所被關(guān)注的是尺寸（如小的螺紋底孔）、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差（如定位銷(xiāo)孔）;2. 或你確信你所用的加工設(shè)備有能加工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適

20、的，特別是由于對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量.3. 觸發(fā)式測(cè)頭比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件;4. 一般來(lái)講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低;在機(jī)械工業(yè)中有大量的幾何量測(cè)量,所關(guān)注的僅是零件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，特別是中等精度測(cè)量機(jī)，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭。 選擇觸發(fā)測(cè)頭和掃描測(cè)頭的技巧高精度測(cè)量：掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)，其測(cè)點(diǎn)精度可以更高；由于掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢，對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合，掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì);對(duì)于未知曲面的掃描，亦即稱(chēng)為數(shù)字化的場(chǎng)合下，掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì):因?yàn)閿?shù)字化

21、工作方式時(shí)，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢;由于是未知曲面，測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣，即在“探索方式”下工作：測(cè)量機(jī)根據(jù)巳運(yùn)動(dòng)的軌跡來(lái)計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。 選擇測(cè)頭的幾點(diǎn)考慮：1. 在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下，慎選非接觸式測(cè)頭；2. 在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；3. 考慮成本又能滿足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；4. 對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭;5. 掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量；6. 考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性（一般用通用測(cè)座來(lái)達(dá)到）；7. 易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采

22、用非接觸式測(cè)頭;8. 要考慮軟件、附加硬件（如測(cè)頭控制器、電纜）的配套。 觸發(fā)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)：優(yōu)勢(shì)：1. 適于空間棱柱形物體及己知表面的測(cè)量；2. 通用性強(qiáng),3. 有多種不同類(lèi)型的觸發(fā)測(cè)頭及附件供采用；4. 采購(gòu)及運(yùn)行成本低；5. 應(yīng)用簡(jiǎn)單;6. 適用于尺寸測(cè)量及在線應(yīng)用；7. 堅(jiān)固耐用；8. 體積小，易于在窄小空間應(yīng)用9. 由于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x在測(cè)點(diǎn)時(shí)測(cè)量機(jī)處于勻速直線低速運(yùn)行狀態(tài)，測(cè)量機(jī)的動(dòng)態(tài)性能對(duì)測(cè)量精度影響較小；劣勢(shì)：測(cè)量取點(diǎn)率低。掃描測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)：優(yōu)勢(shì)1、適于形狀及輪廓測(cè)量；2、采點(diǎn)率高；3、更高級(jí)的數(shù)據(jù)處理能力；劣勢(shì)：1、比觸發(fā)測(cè)頭復(fù)雜；2、對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量較觸發(fā)測(cè)頭為慢

23、；3、高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動(dòng)態(tài)誤差很大，不可忽略，必須加以補(bǔ)償；4、測(cè)尖的磨損必須注意。蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)信息編號(hào)：13047282    2015/3/19 15:08:18    18次   收藏    舉報(bào)· 產(chǎn)品名稱(chēng)：蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CONTURA· 產(chǎn)品品牌：蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CONTURA· 產(chǎn)品型號(hào)：CONTURA G· 關(guān)鍵字：蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CONTURA G3系列CONTURA G3