超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)講解ppt課件

1、12JB/T 4730.1-2019 JB/T 4730.1-2019 第一部分第一部分 通用要求通用要求 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)：5章1個(gè)附錄 1 范圍 2 規(guī)范性引用文件 3 術(shù)語(yǔ)和定義 4 使用原則 5 一般要求 附錄A資料性附錄） 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄3標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容1 1、范圍、范圍 、標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容：規(guī)定、標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容：規(guī)定RTRT、UTUT、PTPT、MTMT和和ETET五五種方法的一般要求和使用原則。種方法的一般要求和使用原則。 、適用范圍：在制和在用金屬材料制承壓設(shè)備、適用范圍：在制和在用金屬材料制承壓設(shè)備的無(wú)損檢測(cè)。的無(wú)損檢測(cè)。2 2、規(guī)范性引用文件略）、規(guī)范性引用文件略） 帶年份

2、的使用指定版本，不帶年份的使用最新帶年份的使用指定版本，不帶年份的使用最新版本。版本。4 3、術(shù)語(yǔ)和定義 與超聲檢測(cè)有關(guān)的術(shù)語(yǔ)和定義： 3.14 超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB/T 4730.3規(guī)定的用于超聲儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。 3.15 超聲對(duì)比試塊 用于超聲檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。 3.16 密集區(qū)缺陷 在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)；或是在50mm50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的 5缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。陷基準(zhǔn)反射波幅。 3.17 3.17 由缺

3、陷引起的底波降低量由缺陷引起的底波降低量BG/BFBG/BFdBdB） 在靠近缺陷處的無(wú)缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅在靠近缺陷處的無(wú)缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度度BGBG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度BFBF之比，用聲之比，用聲壓級(jí)壓級(jí)dBdB值來(lái)表示。值來(lái)表示。 3.18 3.18 基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度 基準(zhǔn)靈敏度一般指的是記錄靈敏度，它通常用于基準(zhǔn)靈敏度一般指的是記錄靈敏度，它通常用于缺陷的定量和缺陷的等級(jí)評(píng)定。掃查靈敏度則主要缺陷的定量和缺陷的等級(jí)評(píng)定。掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測(cè)靈敏度。指實(shí)際檢測(cè)靈敏度。 6 3.19 3.19 缺陷自身高

4、度缺陷自身高度 缺陷在壁厚方向的尺寸。缺陷在壁厚方向的尺寸。 3.20 3.20 聚焦探頭聚焦探頭 采用透鏡式、反射式和曲面晶片等聚焦方法使采用透鏡式、反射式和曲面晶片等聚焦方法使超聲波束會(huì)聚以提高檢測(cè)靈敏度的超聲探頭。超聲波束會(huì)聚以提高檢測(cè)靈敏度的超聲探頭。 3.21 3.21 端點(diǎn)衍射端點(diǎn)衍射 超聲波在傳播過(guò)程中，當(dāng)波陣面通過(guò)缺陷時(shí)，超聲波在傳播過(guò)程中，當(dāng)波陣面通過(guò)缺陷時(shí)，波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲，并呈圓心展衍，這種現(xiàn)波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲，并呈圓心展衍，這種現(xiàn)象稱之為端點(diǎn)衍射。象稱之為端點(diǎn)衍射。7 3.22 3.22 端點(diǎn)最大反射波端點(diǎn)最大反射波 當(dāng)缺陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)也即缺當(dāng)缺

5、陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)也即缺陷端部回波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置），該陷端部回波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置），該回波稱為缺陷端點(diǎn)最大反射波?；夭ǚQ為缺陷端點(diǎn)最大反射波。 3.23 3.23 回波動(dòng)態(tài)波型回波動(dòng)態(tài)波型 動(dòng)態(tài)波型是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回動(dòng)態(tài)波型是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。波波幅變化的包絡(luò)線。84 4、 使用原則本章主要目的是使承壓設(shè)備設(shè)計(jì)人使用原則本章主要目的是使承壓設(shè)備設(shè)計(jì)人員和管理人員能快速了解標(biāo)準(zhǔn)。）員和管理人員能快速了解標(biāo)準(zhǔn)。） 概述概述 、無(wú)損檢測(cè)方法選擇依據(jù)：、無(wú)損檢測(cè)方法選擇依據(jù)： 受檢設(shè)備的材質(zhì)、構(gòu)造、制造方法、工作介受檢設(shè)

6、備的材質(zhì)、構(gòu)造、制造方法、工作介質(zhì)、使用條件和失效模式，預(yù)計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷質(zhì)、使用條件和失效模式，預(yù)計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷種類、外形、部位和方向。種類、外形、部位和方向。 、五種方法的檢測(cè)對(duì)象：、五種方法的檢測(cè)對(duì)象： 射線和超聲射線和超聲檢測(cè)內(nèi)部缺陷；檢測(cè)內(nèi)部缺陷； 磁粉磁粉檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷；檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷； 浸透浸透檢測(cè)非多孔性金屬材料和非金屬材料檢測(cè)非多孔性金屬材料和非金屬材料表面開(kāi)口缺陷的；表面開(kāi)口缺陷的； 渦流渦流檢測(cè)導(dǎo)電金屬材料表面和近表面缺陷。檢測(cè)導(dǎo)電金屬材料表面和近表面缺陷。9 、表面檢測(cè)方法選擇原則：、表面檢測(cè)方法選擇原則： 鐵磁性材料表面檢測(cè)時(shí)，宜采用

7、磁粉檢測(cè)。鐵磁性材料表面檢測(cè)時(shí)，宜采用磁粉檢測(cè)。 、檢測(cè)結(jié)果評(píng)定原則、檢測(cè)結(jié)果評(píng)定原則 、采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)同、采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別。一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別。 、采用同種檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)、采用同種檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，如果檢測(cè)結(jié)果不一致，應(yīng)以危險(xiǎn)度行檢測(cè)時(shí)，如果檢測(cè)結(jié)果不一致，應(yīng)以危險(xiǎn)度大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn)。大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn)。10 、各種方法的適用場(chǎng)合 射線檢測(cè) 射線檢測(cè)確定缺陷平面投影的位置、大小，可獲得缺陷平面圖像并能據(jù)此判定缺陷的性質(zhì)。 射線檢測(cè)適用于金屬材料制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭的檢

8、測(cè)，適用 的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。 射線檢測(cè)不適用于鍛件、管材、棒材的檢測(cè)。T型焊縫、角焊縫以及堆焊層的檢測(cè)一般也不采用射線檢測(cè)。11 射線檢測(cè)的穿透厚度，主要由射線能量確定。射線檢測(cè)的穿透厚度，主要由射線能量確定。 射線源射線源透照厚度透照厚度W W (AB(AB級(jí)級(jí)) )，mmmm射線源射線源透照厚度透照厚度W W (AB(AB級(jí)級(jí)) )，mmmmX X射線射線(300kV) (300kV) 40 40 Co-60 Co-60 4040200 200 X X射線射線(420kV) (420kV) 80 80 X X射線射線(1

9、MeV(1MeV4MeV)4MeV)3030200 200 Se-75 Se-75 101040 40 X X射線射線(4MeV(4MeV12MeV) 12MeV) 5050400 400 Ir-192 Ir-192 2020100 100 X X射線射線(12MeV) (12MeV) 80 80 12 射線照相、宜采用高梯度噪聲比射線照相、宜采用高梯度噪聲比(T1(T1或或T2)T2)膠片；高能膠片；高能X X射線照相、射線照相、Rm540MPaRm540MPa的高強(qiáng)度材的高強(qiáng)度材料對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)，應(yīng)采用高梯度噪聲比料對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)，應(yīng)采用高梯度噪聲比的膠片。的膠片。 、超聲檢測(cè)

10、、超聲檢測(cè) 超聲檢測(cè)超聲檢測(cè)確定缺陷的位置和相對(duì)尺寸。確定缺陷的位置和相對(duì)尺寸。 超聲檢測(cè)超聲檢測(cè)適用于板材、復(fù)合板材、碳鋼和適用于板材、復(fù)合板材、碳鋼和低合金鋼鍛件、管材、棒材、奧氏體不銹鋼鍛件低合金鋼鍛件、管材、棒材、奧氏體不銹鋼鍛件等承壓設(shè)備原材料和零部件的檢測(cè)；也適用于承等承壓設(shè)備原材料和零部件的檢測(cè)；也適用于承壓設(shè)備對(duì)接焊縫、壓設(shè)備對(duì)接焊縫、T T型焊縫、角焊縫以及堆焊層型焊縫、角焊縫以及堆焊層等的檢測(cè)。等的檢測(cè)。 采用超聲直采用超聲直( (斜斜) )射法檢測(cè)內(nèi)部缺陷，不同檢測(cè)射法檢測(cè)內(nèi)部缺陷，不同檢測(cè)對(duì)象相應(yīng)的超聲厚度檢測(cè)范圍。對(duì)象相應(yīng)的超聲厚度檢測(cè)范圍。13超聲檢測(cè)對(duì)象超聲檢測(cè)對(duì)

11、象適用于厚度范圍，適用于厚度范圍，mmmm碳素鋼、低合金鋼、鎳及鎳基合金板材碳素鋼、低合金鋼、鎳及鎳基合金板材母材母材6 6250250鋁及鋁合金和鈦及鈦合金板材鋁及鋁合金和鈦及鈦合金板材厚度大于或等于厚度大于或等于6 6碳鋼、低合金鋼鋼鍛件碳鋼、低合金鋼鋼鍛件厚度小于等于厚度小于等于10001000不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及鋁合金、鎳及鎳不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及鋁合金、鎳及鎳基合金復(fù)合板基合金復(fù)合板 基板厚度大于或等于基板厚度大于或等于6 6 碳鋼、低合金鋼無(wú)縫鋼管碳鋼、低合金鋼無(wú)縫鋼管外徑為外徑為1212660660、壁厚、壁厚22奧氏體不銹無(wú)縫鋼管奧氏體不銹無(wú)縫鋼管外徑為外徑為121240

12、0400、壁厚為、壁厚為2 23535碳鋼、低合金鋼螺栓件碳鋼、低合金鋼螺栓件直徑直徑M36M36全焊透熔化焊鋼對(duì)接焊縫全焊透熔化焊鋼對(duì)接焊縫母材厚度為母材厚度為6 6400400鋁及鋁合金制壓力容器對(duì)接焊縫鋁及鋁合金制壓力容器對(duì)接焊縫母材厚度大于或等于母材厚度大于或等于8 8鈦及鈦合金制壓力容器對(duì)接焊縫鈦及鈦合金制壓力容器對(duì)接焊縫母材厚度大于或等于母材厚度大于或等于8 8碳鋼、低合金鋼壓力管道環(huán)焊縫碳鋼、低合金鋼壓力管道環(huán)焊縫壁厚大于或等于壁厚大于或等于4.04.0，外徑為，外徑為3232159159，或壁，或壁厚為厚為4.04.06 6，外徑大于或等于，外徑大于或等于159159鋁及鋁合金

13、接管環(huán)焊縫鋁及鋁合金接管環(huán)焊縫 壁厚大于或等于壁厚大于或等于5 5，外徑為，外徑為8080159159，或壁厚，或壁厚為為5.05.08 8，外徑大于或等于，外徑大于或等于159159奧氏體不銹鋼對(duì)接焊縫奧氏體不銹鋼對(duì)接焊縫 母材厚度母材厚度101050 50 14 、 磁粉檢測(cè) 磁粉檢測(cè)確定表面和近表面缺陷的位置、大小和形狀。 磁粉檢測(cè)適用于鐵磁性材料制板材、復(fù)合板材、管材以及鍛件等表面和近表面缺陷的檢測(cè)；也適用于鐵磁性材料對(duì)接焊接接頭、T型焊接接頭以及角焊縫等表面和近表面缺陷的檢測(cè)。 磁粉檢測(cè)不適用非鐵磁性材料的檢測(cè)。 、滲透檢測(cè) 滲透檢測(cè)確定表面開(kāi)口缺陷的位置、尺寸和形狀。 滲透檢測(cè)適用

14、于板材、復(fù)合板材、鍛件、管材和焊縫表面開(kāi)口缺陷的檢測(cè)。 滲透檢測(cè)不適用多孔性材料的檢測(cè)。15 、渦流檢測(cè)、渦流檢測(cè) 渦流檢測(cè)渦流檢測(cè)確定表面及近表面缺陷的位置和相確定表面及近表面缺陷的位置和相對(duì)尺寸。對(duì)尺寸。 渦流檢測(cè)渦流檢測(cè)適用于金屬材料和焊接接頭表面和適用于金屬材料和焊接接頭表面和近表面缺陷的檢測(cè)。近表面缺陷的檢測(cè)。 、聲發(fā)射檢測(cè)、聲發(fā)射檢測(cè) 聲發(fā)射檢測(cè)聲發(fā)射檢測(cè)確定內(nèi)部或表面存在的活性缺陷確定內(nèi)部或表面存在的活性缺陷的位置。的位置。 聲發(fā)射檢測(cè)聲發(fā)射檢測(cè)適用于對(duì)承壓設(shè)備在加載過(guò)程中適用于對(duì)承壓設(shè)備在加載過(guò)程中進(jìn)行局部或整體檢測(cè)與在線監(jiān)測(cè)。進(jìn)行局部或整體檢測(cè)與在線監(jiān)測(cè)。16 、X X射線實(shí)

15、時(shí)成像檢測(cè)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè) X X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)實(shí)時(shí)確定缺陷平面投影的位置、大小以及缺陷的實(shí)時(shí)確定缺陷平面投影的位置、大小以及缺陷的性質(zhì)。性質(zhì)。 X X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)適用于承壓設(shè)備對(duì)接適用于承壓設(shè)備對(duì)接 焊縫的實(shí)時(shí)快速檢測(cè)。焊縫的實(shí)時(shí)快速檢測(cè)。5 5、一般要求、一般要求 、無(wú)損檢測(cè)機(jī)構(gòu)、無(wú)損檢測(cè)機(jī)構(gòu) 、無(wú)損檢測(cè)的機(jī)構(gòu)應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定制定出符合要求的無(wú)損檢測(cè)工藝、無(wú)損檢測(cè)的機(jī)構(gòu)應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定制定出符合要求的無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程。規(guī)程。 、檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確、完好，并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可。、檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確、完好，并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可。 17 、檢測(cè)記

16、錄和報(bào)告等保存期不得少于、檢測(cè)記錄和報(bào)告等保存期不得少于7年。年。7年后，若用戶需要可轉(zhuǎn)年后，若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管。交用戶保管。 、檢測(cè)用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)進(jìn)行定期檢定校準(zhǔn)），并有記錄可查。、檢測(cè)用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)進(jìn)行定期檢定校準(zhǔn)），并有記錄可查。 、無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程、無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程 、無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程包括通用工藝規(guī)程和工藝卡。、無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程包括通用工藝規(guī)程和工藝卡。 、無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程、無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)根據(jù)相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)根據(jù)相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和本部分的要求，并針對(duì)本機(jī)構(gòu)的特點(diǎn)和檢測(cè)能力進(jìn)行編

17、制。和本部分的要求，并針對(duì)本機(jī)構(gòu)的特點(diǎn)和檢測(cè)能力進(jìn)行編制。 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)涵蓋本單位制造、安裝或檢測(cè)單位產(chǎn)品的無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)涵蓋本單位制造、安裝或檢測(cè)單位產(chǎn)品的檢測(cè)范圍。檢測(cè)范圍。18 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程至少應(yīng)包括的內(nèi)容。無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程至少應(yīng)包括的內(nèi)容。 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程的編制、審核及批無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程的編制、審核及批準(zhǔn)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。準(zhǔn)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。 無(wú)損檢測(cè)工藝卡無(wú)損檢測(cè)工藝卡 實(shí)施無(wú)損檢測(cè)的人員應(yīng)按無(wú)損檢測(cè)工藝卡實(shí)施無(wú)損檢測(cè)的人員應(yīng)按無(wú)損檢測(cè)工藝卡進(jìn)行操作。進(jìn)行操作。 無(wú)損檢測(cè)工藝卡應(yīng)根據(jù)無(wú)損檢測(cè)通用工藝無(wú)損檢測(cè)工藝卡應(yīng)根據(jù)無(wú)損檢

18、測(cè)通用工藝規(guī)程、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和本部分的要規(guī)程、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和本部分的要求編制，求編制， 工藝卡至少應(yīng)包括的內(nèi)容工藝卡至少應(yīng)包括的內(nèi)容 無(wú)損檢測(cè)工藝卡的編制、審核應(yīng)符合相關(guān)無(wú)損檢測(cè)工藝卡的編制、審核應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。19 、無(wú)損檢測(cè)人員 、從事承壓設(shè)備原材料、零部件和焊縫無(wú)損檢測(cè)的人員，應(yīng)按照要求取得相應(yīng)無(wú)損檢測(cè)資格。 、無(wú)損檢測(cè)人員資格分為（高級(jí)、（中級(jí)和（初級(jí)。取得不同無(wú)損檢測(cè)方法各資格級(jí)別的人員，只能從事與該方法和該資格級(jí)別相應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)工作，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。 、 未列入標(biāo)準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)方法的應(yīng)用 本標(biāo)準(zhǔn)不排斥其他無(wú)損檢測(cè)方法的應(yīng)用，當(dāng)

19、采用未列入本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的無(wú)損檢測(cè)方法時(shí)，使用該技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)的單位應(yīng)向全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提交有關(guān)技術(shù)資料，經(jīng)評(píng)審形成標(biāo)準(zhǔn)案例。20附錄附錄A A（資料性附錄）（資料性附錄）承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄（略）（略）21JB/T4730.3JB/T4730.32019 2019 超聲檢測(cè)超聲檢測(cè) 第一部分第一部分 前前 言言 一、承壓設(shè)備超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)回顧一、承壓設(shè)備超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)回顧 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)鋼板用標(biāo)準(zhǔn) 1 1、JB1150-73JB1150-73壓力容器用鋼板超聲波探傷壓力容器用鋼板超聲波探傷 2 2、ZBJ74003-88ZBJ74003-88

20、壓力容器用鋼板超聲波探傷壓力容器用鋼板超聲波探傷 3 3、GB7734-86GB7734-86復(fù)合鋼板超聲波探傷方法復(fù)合鋼板超聲波探傷方法 4 4、JB4733-96JB4733-96壓力容器用爆炸不銹鋼復(fù)合鋼板壓力容器用爆炸不銹鋼復(fù)合鋼板 無(wú)縫鋼管用標(biāo)準(zhǔn)無(wú)縫鋼管用標(biāo)準(zhǔn) 5 5、JB1151-73JB1151-73高壓無(wú)縫鋼管超聲波探傷高壓無(wú)縫鋼管超聲波探傷 6 6、GB5777-86GB5777-86無(wú)縫鋼管超聲波探傷方法無(wú)縫鋼管超聲波探傷方法 22 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)鍛件用標(biāo)準(zhǔn) 6 6、JB3963-85JB3963-85壓力容器鍛件超聲波探傷壓力容器鍛件超聲波探傷 焊縫用標(biāo)準(zhǔn)焊縫用標(biāo)準(zhǔn) 7 7、

21、JB1152-73JB1152-73鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 8 8、JB1152-81JB1152-81鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 9 9、JB3144-82JB3144-82鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷 10 10、GB11345-89GB11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí) 綜合性標(biāo)準(zhǔn)綜合性標(biāo)準(zhǔn) 11 11、JB4730-94JB4730-94壓力容器無(wú)損檢測(cè)壓力容器無(wú)損檢測(cè) 12 12、JB4730-201

22、9JB4730-2019363焊焊 接接接接 頭頭承壓設(shè)備承壓設(shè)備對(duì)接接頭對(duì)接接頭碳鋼、低合金鋼碳鋼、低合金鋼 6-400 6-400鈦及鈦合金鈦及鈦合金88鋁及鋁合金鋁及鋁合金88奧氏體不銹鋼奧氏體不銹鋼10-5010-50管座角管座角焊縫焊縫鋼鋼T T型焊縫型焊縫鋼鋼6-506-5028序序號(hào)號(hào)超聲檢測(cè)對(duì)象超聲檢測(cè)對(duì)象適用范圍適用范圍材材 料料厚度范圍厚度范圍mmmm3焊焊 接接接接 頭頭管子和壓管子和壓力管道力管道環(huán)向接頭環(huán)向接頭碳鋼、低合金鋼碳鋼、低合金鋼T4T4、D0=32D0=32159159T=4-6T=4-6、D0159D0159鋁及鋁合金鋁及鋁合金T5T5、D0=80D0=8

23、0159159T=5-8T=5-8、D0159D0159堆焊層堆焊層奧氏體不銹鋼、鎳及鎳合金奧氏體不銹鋼、鎳及鎳合金4在用在用檢測(cè)檢測(cè)螺螺 栓、栓、 螺螺 柱柱鋼鋼對(duì)接接頭對(duì)接接頭鋼鋼6-4006-400管道環(huán)向管道環(huán)向接頭接頭鋼、鋁及鋁合金鋼、鋁及鋁合金29第二部分第二部分 通用要求通用要求13） 1、范圍 、標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容：承壓設(shè)備工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。 、適用范圍： 金屬材料在制承壓設(shè)備(鍋爐、壓力容器和壓力管道用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)。 在用金屬材料制承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。 承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)。30 2 2、規(guī)范性引用文件略）、規(guī)范性引用文件略）

24、 帶年份的使用指定版本，不帶年份的使用最帶年份的使用指定版本，不帶年份的使用最新版本。新版本。 3 3、一般要求、一般要求( (人員、儀器、探頭、試塊、檢測(cè)方人員、儀器、探頭、試塊、檢測(cè)方法和復(fù)核要求）法和復(fù)核要求） 3.1 3.1、超聲檢測(cè)人員、超聲檢測(cè)人員 人員應(yīng)符合人員應(yīng)符合JB/T 4730.1JB/T 4730.1的有關(guān)規(guī)定。的有關(guān)規(guī)定。 3.2 3.2、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備 、超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證、超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件?；蚝细竦淖C明文件。 、探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能、探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能31 、探傷儀： A型脈沖反射式超聲波探傷儀，工作頻率

25、范圍0.5MHz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。 具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔 2dB，精度為任意相鄰12dB誤差在1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差 1dB。 水平線性誤差 1%，垂直線性誤差 5%。 、探頭 晶片面積 500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上 25mm。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角 2，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。32 、儀器和探頭的系統(tǒng)性能、儀器和探頭的系統(tǒng)性能 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量效靈敏度余量10dB10dB。 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤

26、差不得大于得大于10%10%。 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度在基準(zhǔn)儀器和直探頭組合的始脈沖寬度在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz5MHz的探頭，寬度的探頭，寬度10mm10mm；對(duì)于頻率為；對(duì)于頻率為2.5MHz2.5MHz的探頭，寬度的探頭，寬度15mm15mm。 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)30dB30dB，斜探頭的遠(yuǎn)，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)場(chǎng)分辨力應(yīng)6dB6dB。33 3.3、超聲檢測(cè)方法要求 、 檢測(cè)準(zhǔn)備 、檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則進(jìn)行。 、檢測(cè)面的確定，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。 、焊縫的表面質(zhì)量

27、應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?4 、掃查覆蓋率、掃查覆蓋率 探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%15%。 、探頭移動(dòng)速度、探頭移動(dòng)速度 探頭的掃查速度探頭的掃查速度150mm/s150mm/s。采用自動(dòng)報(bào)警。采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。裝置掃查時(shí)，不受此限。 、掃查靈敏度、掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。 、耦合劑、耦合劑 采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合采用

28、透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合 劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。35 、靈敏度補(bǔ)償 、耦合補(bǔ)償。檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 、衰減補(bǔ)償。檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 、曲面補(bǔ)償。探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 36 3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核要求 、一般要求 校準(zhǔn)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。 、儀器校準(zhǔn) 水平線性和垂直線性至少三個(gè)月一次。 、新購(gòu)探頭測(cè)定 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參

29、數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力。37 、檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定、檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定 、儀器、儀器- -斜探頭系統(tǒng)，測(cè)定前沿距離、斜探頭系統(tǒng)，測(cè)定前沿距離、K K值和值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 、儀器、儀器- -直探頭系統(tǒng)，測(cè)定始脈沖寬度、靈直探頭系統(tǒng)，測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。敏度。 、檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核、檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 、探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕改變時(shí)；、探頭、

30、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕改變時(shí)； 、懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；、懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)； 、連續(xù)工作、連續(xù)工作4h4h以上時(shí)；以上時(shí)； 、工作結(jié)束時(shí)。、工作結(jié)束時(shí)。38 、檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核、檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 、每次檢測(cè)結(jié)束前，對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。、每次檢測(cè)結(jié)束前，對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的的10%10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。 、每次檢測(cè)結(jié)束前，對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)、每

31、次檢測(cè)結(jié)束前，對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。對(duì)距離核。對(duì)距離- -波幅曲線的校核不少于波幅曲線的校核不少于3 3點(diǎn)。如曲線點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降上任何一點(diǎn)幅度下降2dB2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等都響儀器線性的控制器如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等都應(yīng)放在應(yīng)放在“關(guān)的位置

32、或處于最低水平上。關(guān)的位置或處于最低水平上。39 3.5、試塊 、標(biāo)準(zhǔn)試塊 、標(biāo)準(zhǔn)試塊是用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，標(biāo)準(zhǔn)中采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有： a) 鋼板用CB、CB； b) 鍛件用CS、CS、CS； c) 焊接接頭用CSK-A 、CSK-A、CSK-A、CSK-A。 、標(biāo)準(zhǔn)試塊材料應(yīng)與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似，用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。40 、標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)化的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。 、對(duì)比試塊 、對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。 、對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如涉及到兩種或兩種以上不同

33、厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。 、對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。 41 、JB/T4730.3-2019JB/T4730.3-2019標(biāo)準(zhǔn)采用的對(duì)比試塊主要有：標(biāo)準(zhǔn)采用的對(duì)比試塊主要有： 鋼板橫波檢測(cè)對(duì)比試塊；鋼板橫波檢測(cè)對(duì)比試塊； 鍛件橫波檢測(cè)對(duì)比試塊；鍛件橫波檢測(cè)對(duì)比試塊； 無(wú)縫鋼管橫波檢測(cè)用對(duì)比試塊：縱向人無(wú)縫鋼管橫波檢測(cè)用對(duì)比試塊：縱向人 工缺陷試塊、橫向人工缺陷試塊；工缺陷試塊、橫向人工缺陷試塊； 聲能傳輸損耗超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；聲能傳輸損耗超聲檢測(cè)對(duì)比試塊； T T型焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；（型式型焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；（型式 I

34、 I、型式、型式II II、型式、型式IIIIII） 鋁焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；鋁焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；42 鈦焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；鈦焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊； 鋼制壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測(cè)鋼制壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；對(duì)比試塊；(GS1(GS1、GS2GS2、GS3GS3、GS4)GS4) 鋁及鋁合金壓力管道和管子焊接接頭超鋁及鋁合金壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊；（聲檢測(cè)對(duì)比試塊；（GS3GS3、GS4GS4） 堆焊層超聲檢測(cè)對(duì)比試塊堆焊層超聲檢測(cè)對(duì)比試塊T1T1、T2T2、T3T3型）。型）。 在用螺栓超聲檢測(cè)用試塊。在用螺栓超聲檢測(cè)用試塊。 43

35、第三部分承壓設(shè)備用原材料超聲檢測(cè)444 4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)4.1 4.1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)4.1 P694.1 P69） 1 1、 適用范圍適用范圍板厚板厚T=6mmT=6mm250mm250mm材質(zhì)：碳素鋼、低合金鋼、奧氏體鋼、鎳及鎳合材質(zhì)：碳素鋼、低合金鋼、奧氏體鋼、鎳及鎳合金、雙相不銹鋼金、雙相不銹鋼 2 2、 探頭選用探頭選用 板厚，板厚，mmmm采用探頭采用探頭公稱頻率，公稱頻率，MHzMHz探頭晶片尺寸探頭晶片尺寸6 620 20 雙晶直探頭雙晶直探頭 5 5不小于不小于150mm150mm2

36、 2 202040 40 單晶直探頭單晶直探頭5 5141420204040250 250 單晶直探頭單晶直探頭2.52.52020252545 3 3、 標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊 T=6 T=620 CBI20 CBI型型46 T T2020250 CB II250 CB II型型47 CBII CBII型試塊型試塊 4 4、基準(zhǔn)靈敏度、基準(zhǔn)靈敏度 T=6 T=620 CBI B1 50%+10dB20 CBI B1 50%+10dB T T20 CBII 5 F1 50%20 CBII 5 F1 50% T3N T3N 底波計(jì)算法底波計(jì)算法 結(jié)果與試塊法一致結(jié)果與試塊法一致48 5 5、檢測(cè)方法、

37、檢測(cè)方法檢測(cè)面：任一軋制面檢測(cè)面：任一軋制面耦合方式：直接接觸法或液浸法耦合方式：直接接觸法或液浸法掃查方式：掃查方式：100mm100mm平行線平行線+ +剖口線剖口線50mm50mm或或T/2T/2掃查。掃查。49 6 6、缺陷判定、缺陷判定 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：情況之一即作為缺陷： a) a) 缺陷第一次反射波缺陷第一次反射波F1F1波高大于或等于滿刻度的波高大于或等于滿刻度的50%50%，即，即F150%F150%； b) b) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ó?dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳˙1B1波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次

38、反射波第一次反射波F1F1波高與底面第一次波高與底面第一次反射波反射波B1B1波高之比大于或等于波高之比大于或等于50%50%，即即B1100%B1L2或者是或者是L2L1，則是傾斜缺，則是傾斜缺陷。陷。 缺陷的傾角缺陷的傾角可按下式計(jì)算：可按下式計(jì)算： tan-1（LH tan）/H 229 傾斜缺陷按下式計(jì)算其傾斜長(zhǎng)度傾斜缺陷按下式計(jì)算其傾斜長(zhǎng)度ABAB。 AB AB（L LHtanHtan2 2H 2H 21/2 1/2 式中：式中：ABAB缺陷傾斜長(zhǎng)度，缺陷傾斜長(zhǎng)度，mmmm； H H缺陷傾斜高度，缺陷傾斜高度，mmmm； tan tan斜探頭折射角正切值；斜探頭折射角正切值； L L

39、L1L1或或L2L2）探頭從探頭從B B點(diǎn)移動(dòng)至點(diǎn)移動(dòng)至A A點(diǎn)點(diǎn)的的 間隔，間隔，mmmm。 230二、端部最大回波法二、端部最大回波法( (附錄附錄J P135)J P135) 1 1、端部最大回波：當(dāng)缺陷的端部回、端部最大回波：當(dāng)缺陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)也即缺陷端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)也即缺陷端部回波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置），波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置），該回波稱為缺陷端點(diǎn)最大反射波。該回波稱為缺陷端點(diǎn)最大反射波。231232 2 2、測(cè)試條件：、測(cè)試條件： 、探頭：聚焦斜探頭、探頭：聚焦斜探頭 ，K1K1，2.5-5MHz2.5-5MHz 、方法：直射法，如有困難也可用

40、一次、方法：直射法，如有困難也可用一次反射法反射法 、靈敏度：按需要，應(yīng)使噪聲不超過(guò)、靈敏度：按需要，應(yīng)使噪聲不超過(guò)20%20%屏高。屏高。 3 3、測(cè)試方法、測(cè)試方法 、內(nèi)部缺陷：如圖、內(nèi)部缺陷：如圖a a所示，探頭前后所示，探頭前后掃查，探頭相應(yīng)于探頭前后位置缺陷的上下端掃查，探頭相應(yīng)于探頭前后位置缺陷的上下端部回波，按下式求出缺陷高度部回波，按下式求出缺陷高度J J。也可用深度。也可用深度1111調(diào)整時(shí)基線，直接測(cè)定。調(diào)整時(shí)基線，直接測(cè)定。 J= J=（W2-W1W2-W1cos cos 式中：式中：W1W1和和W2W2分別為缺陷上、下端部峰值回分別為缺陷上、下端部峰值回波處距入射點(diǎn)的聲

41、程；波處距入射點(diǎn)的聲程； 為折射角。為折射角。233 、表面開(kāi)口缺陷：如圖、表面開(kāi)口缺陷：如圖b所示，探所示，探測(cè)出缺陷端部的峰回波，按下列公式求出缺陷測(cè)出缺陷端部的峰回波，按下列公式求出缺陷高度高度J。 、缺陷開(kāi)口處與探傷面在同一側(cè)時(shí)、缺陷開(kāi)口處與探傷面在同一側(cè)時(shí)見(jiàn)圖見(jiàn)圖b右半圖右半圖 J=Wcos 式中：式中：W為缺陷端部峰值回波處距探頭為缺陷端部峰值回波處距探頭入射點(diǎn)的聲程，入射點(diǎn)的聲程，為折射角。為折射角。 、缺陷在探測(cè)面的對(duì)面時(shí)、缺陷在探測(cè)面的對(duì)面時(shí)見(jiàn)圖見(jiàn)圖b左半圖左半圖 J=（t-Wcos 式中：式中：W為缺陷端部峰值回波處距探頭為缺陷端部峰值回波處距探頭入射點(diǎn)的聲程，入射點(diǎn)的聲程

42、，為折射角，為折射角，t為壁厚。為壁厚。234235三、三、6dB6dB法測(cè)高法測(cè)高 ( (附錄附錄K P138)K P138)1 1、測(cè)試條件：、測(cè)試條件： 、探頭：聚焦斜探頭、探頭：聚焦斜探頭 ，K1K1，2.5-5MHz2.5-5MHz 、方法：直射法，如有困難也可用一、方法：直射法，如有困難也可用一次反次反射法射法 、靈敏度：按需要，應(yīng)使噪聲不超過(guò)、靈敏度：按需要，應(yīng)使噪聲不超過(guò)20%20%屏高。屏高。2 2、測(cè)試方法：、測(cè)試方法：將回波高度的選定值調(diào)到滿屏高的將回波高度的選定值調(diào)到滿屏高的80%80%100%100%，移動(dòng)聲束使之偏離缺陷邊緣，直，移動(dòng)聲束使之偏離缺陷邊緣，直至回波高

43、度降低至回波高度降低6dB6dB。根據(jù)已知的探頭入。根據(jù)已知的探頭入射點(diǎn)位置，聲束角度和聲程長(zhǎng)度，標(biāo)出射點(diǎn)位置，聲束角度和聲程長(zhǎng)度，標(biāo)出缺陷的邊緣位置。缺陷的邊緣位置。 236237 、內(nèi)部缺陷、內(nèi)部缺陷 缺陷自身高度缺陷自身高度 H=（W2-W1）cos 式中：式中：W1和和W2分別為缺陷上、分別為缺陷上、下邊緣位下邊緣位 置至入置至入 射點(diǎn)的聲程，射點(diǎn)的聲程，為折射角。為折射角。 、表面開(kāi)口缺陷、表面開(kāi)口缺陷 、當(dāng)缺陷開(kāi)口處在檢測(cè)面一、當(dāng)缺陷開(kāi)口處在檢測(cè)面一側(cè)時(shí)側(cè)時(shí) 缺陷自身高度缺陷自身高度 H=Wcos 式中：式中：W為缺陷下邊緣位置至為缺陷下邊緣位置至入射點(diǎn)的聲入射點(diǎn)的聲 程，程，為折

44、射角。為折射角。 238 、當(dāng)缺陷開(kāi)口處在檢測(cè)面另一側(cè)時(shí)、當(dāng)缺陷開(kāi)口處在檢測(cè)面另一側(cè)時(shí) 缺陷自身高度缺陷自身高度 H=t-Wcos H=t-Wcos 式中：式中：tt壁厚，壁厚，mmmm； W W缺陷上邊緣位置至入射點(diǎn)的缺陷上邊緣位置至入射點(diǎn)的聲聲 程，程，mmmm； 折射角，（折射角，（）239缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判一、超聲檢測(cè)缺陷定性的意義和問(wèn)題一、超聲檢測(cè)缺陷定性的意義和問(wèn)題 在用承壓設(shè)備的檢驗(yàn)和安全評(píng)定，要求在用在用承壓設(shè)備的檢驗(yàn)和安全評(píng)定，要求在用承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)中，必須對(duì)超標(biāo)缺陷進(jìn)行缺陷承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)中，必須對(duì)超標(biāo)缺陷進(jìn)行缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判。類型識(shí)別和性

45、質(zhì)估判。 對(duì)于超聲檢測(cè)來(lái)說(shuō)，由于對(duì)于超聲檢測(cè)來(lái)說(shuō)，由于A A型脈沖反射式超型脈沖反射式超聲檢測(cè)方法只能提供回波幅度和聲波傳播時(shí)間的聲檢測(cè)方法只能提供回波幅度和聲波傳播時(shí)間的信息，僅根據(jù)這兩方面的信息來(lái)準(zhǔn)確地判定缺陷信息，僅根據(jù)這兩方面的信息來(lái)準(zhǔn)確地判定缺陷性質(zhì)是有很大困難的。性質(zhì)是有很大困難的。240二、回波動(dòng)態(tài)波形附錄二、回波動(dòng)態(tài)波形附錄H P125H P125）1 1、回波動(dòng)態(tài)波形的類型、回波動(dòng)態(tài)波形的類型 共分為四種類型共分為四種類型 、波形模式、波形模式I I 、波形模式、波形模式 、波形模式、波形模式波形模式波形模式aa波形模式波形模式bb 、波形模式、波形模式241 、波形模式、波

46、形模式 熒光屏上顯示出的一個(gè)尖銳回波，當(dāng)探熒光屏上顯示出的一個(gè)尖銳回波，當(dāng)探頭前后、左右掃查時(shí)，其幅度平滑地由零上頭前后、左右掃查時(shí)，其幅度平滑地由零上升到最大值，然后又平滑地下降到零，這是升到最大值，然后又平滑地下降到零，這是尺寸小于分辨力極限即缺陷尺寸小于超聲尺寸小于分辨力極限即缺陷尺寸小于超聲探頭在缺陷位置處聲束直徑缺陷的信號(hào)特探頭在缺陷位置處聲束直徑缺陷的信號(hào)特征。征。 242243 、波形模式、波形模式 II II 探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，熒光屏上均顯示一個(gè)尖銳回波。探頭前后和左熒光屏上均顯示一個(gè)尖銳回波。探頭前后和左右掃查時(shí)，一開(kāi)始波幅平滑地

47、由零上升到峰值，右掃查時(shí)，一開(kāi)始波幅平滑地由零上升到峰值，探頭繼續(xù)移動(dòng)時(shí)，波幅基本不變，或只在探頭繼續(xù)移動(dòng)時(shí)，波幅基本不變，或只在4dB4dB的范圍內(nèi)變化，最后又平滑地下降到零。下圖的范圍內(nèi)變化，最后又平滑地下降到零。下圖表示聲束接近垂直入射時(shí)，由光滑的大平面反表示聲束接近垂直入射時(shí)，由光滑的大平面反射體所產(chǎn)生的波型模式射體所產(chǎn)生的波型模式。244245 、波形模式、波形模式 、波形模式、波形模式 a a 探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，熒光探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，熒光屏上均呈一個(gè)參差不齊的回波。探頭移動(dòng)時(shí)，屏上均呈一個(gè)參差不齊的回波。探頭移動(dòng)時(shí)，回波幅度顯示很不規(guī)則的起伏態(tài)（回波幅度

48、顯示很不規(guī)則的起伏態(tài)（6dB6dB）。下）。下圖表示聲束接近垂直入射，由不規(guī)則的大反射圖表示聲束接近垂直入射，由不規(guī)則的大反射體所產(chǎn)生的波形體所產(chǎn)生的波形aa。 246247 、波形模式b 探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，熒光屏上顯示脈沖包絡(luò)呈鐘形的一系列連續(xù)信號(hào)有很多小波峰）。探頭移動(dòng)時(shí)，每個(gè)小波峰也在脈沖包絡(luò)中移動(dòng)，波幅由零逐漸升到最大值，然后波幅又下降到零，信號(hào)波幅起伏較大（6dB）。下圖表示聲束傾斜入射時(shí)，由不規(guī)則大反射體所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài)波形b。248249 、波形模式、波形模式 探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，探頭在各個(gè)不同的位置檢測(cè)缺陷時(shí)，熒光屏上顯示一群密集信號(hào)在熒光屏?xí)r基線熒光屏上

49、顯示一群密集信號(hào)在熒光屏?xí)r基線上有時(shí)可分辨，有時(shí)無(wú)法分辨），探頭移動(dòng)時(shí)，上有時(shí)可分辨，有時(shí)無(wú)法分辨），探頭移動(dòng)時(shí)，信號(hào)時(shí)起時(shí)伏。如能分辨，則可發(fā)現(xiàn)每個(gè)單獨(dú)信號(hào)時(shí)起時(shí)伏。如能分辨，則可發(fā)現(xiàn)每個(gè)單獨(dú)信號(hào)均顯示波形信號(hào)均顯示波形的特征。下圖表示由密集形的特征。下圖表示由密集形缺陷所產(chǎn)生的反射動(dòng)態(tài)波形缺陷所產(chǎn)生的反射動(dòng)態(tài)波形。 250251 2 2、回波動(dòng)態(tài)波形的區(qū)分、回波動(dòng)態(tài)波形的區(qū)分 、如要分清波形、如要分清波形和和，聲程距，聲程距離較大時(shí)就要特別仔細(xì)，因?yàn)槠脚_(tái)式動(dòng)態(tài)波形離較大時(shí)就要特別仔細(xì)，因?yàn)槠脚_(tái)式動(dòng)態(tài)波形可能很難發(fā)現(xiàn)，除非反射體很大。當(dāng)距離超過(guò)可能很難發(fā)現(xiàn)，除非反射體很大。當(dāng)距離超過(guò)200m

50、m200mm時(shí)，應(yīng)對(duì)反射體標(biāo)出衰減時(shí)，應(yīng)對(duì)反射體標(biāo)出衰減20dB20dB的邊界點(diǎn)，的邊界點(diǎn)，再將其間距和再將其間距和20dB20dB聲束寬度相比較，進(jìn)行區(qū)分。聲束寬度相比較，進(jìn)行區(qū)分。 、探頭在有曲率的表面掃查時(shí)也、探頭在有曲率的表面掃查時(shí)也要特別注意，因?yàn)榛夭▌?dòng)態(tài)波形有可能明顯改要特別注意，因?yàn)榛夭▌?dòng)態(tài)波形有可能明顯改變。圖變。圖H.6H.6和圖和圖H.7H.7所示兩例即說(shuō)明此點(diǎn)。在下所示兩例即說(shuō)明此點(diǎn)。在下圖圖1 1中，點(diǎn)反射體所顯示的回波動(dòng)態(tài)特征與波中，點(diǎn)反射體所顯示的回波動(dòng)態(tài)特征與波形形類似，而不像波形類似，而不像波形。在下圖。在下圖2 2中，反射中，反射體的反射特征為波形體的反射特征

51、為波形aa，而在平表面上則為，而在平表面上則為波形波形bb。 252253254三、缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判附錄三、缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判附錄L P140L P140） 1 1、缺陷類型識(shí)別、缺陷類型識(shí)別 缺陷類型識(shí)別是通過(guò)探頭從兩個(gè)方向掃查缺陷類型識(shí)別是通過(guò)探頭從兩個(gè)方向掃查即前后和左右掃查），觀察其回波動(dòng)態(tài)波形即前后和左右掃查），觀察其回波動(dòng)態(tài)波形來(lái)進(jìn)行的。缺陷類型只用單個(gè)探頭或單向掃查來(lái)進(jìn)行的。缺陷類型只用單個(gè)探頭或單向掃查識(shí)別是不太可能的，宜采用一種以上聲束方向識(shí)別是不太可能的，宜采用一種以上聲束方向作多種掃查，包括前后、左右、轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞掃作多種掃查，包括前后、左右、轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞掃查，以此

52、對(duì)各種超聲信息進(jìn)行綜合評(píng)定來(lái)識(shí)別查，以此對(duì)各種超聲信息進(jìn)行綜合評(píng)定來(lái)識(shí)別缺陷。缺陷。 255、點(diǎn)狀缺陷：、點(diǎn)狀缺陷：點(diǎn)狀缺陷是指氣孔和小夾渣等小缺陷，大多屬體點(diǎn)狀缺陷是指氣孔和小夾渣等小缺陷，大多屬體積性缺陷。積性缺陷。點(diǎn)狀缺陷回波特征點(diǎn)狀缺陷回波特征 回波幅度較小，探頭左右、前后掃查時(shí)均回波幅度較小，探頭左右、前后掃查時(shí)均顯示動(dòng)態(tài)波形顯示動(dòng)態(tài)波形，轉(zhuǎn)動(dòng)掃查時(shí)情況相同。對(duì)缺，轉(zhuǎn)動(dòng)掃查時(shí)情況相同。對(duì)缺陷作環(huán)繞掃查時(shí)，從不同方向、用不同聲束角陷作環(huán)繞掃查時(shí)，從不同方向、用不同聲束角度探測(cè)，進(jìn)行聲程差修正后，回波高度基本相度探測(cè)，進(jìn)行聲程差修正后，回波高度基本相同。同。 256、線性缺陷、線性缺陷

53、線性缺陷有明顯的指示長(zhǎng)度，但不易測(cè)線性缺陷有明顯的指示長(zhǎng)度，但不易測(cè)出其斷面尺寸。線性?shī)A渣、線性未焊透或線性出其斷面尺寸。線性?shī)A渣、線性未焊透或線性未熔合均屬這類缺陷。這類缺陷在長(zhǎng)度上也可未熔合均屬這類缺陷。這類缺陷在長(zhǎng)度上也可能是間斷的，如鏈狀?yuàn)A渣、斷續(xù)未焊透和斷續(xù)能是間斷的，如鏈狀?yuàn)A渣、斷續(xù)未焊透和斷續(xù)未熔合等。未熔合等。 線性缺陷回波特征線性缺陷回波特征 探頭對(duì)準(zhǔn)這類缺陷前后掃查時(shí)一般顯示波探頭對(duì)準(zhǔn)這類缺陷前后掃查時(shí)一般顯示波 形形的特征，左右掃查則顯示波形的特征，左右掃查則顯示波形，或者，或者 有點(diǎn)象波形有點(diǎn)象波形aa。轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞掃查時(shí)，回波高。轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞掃查時(shí)，回波高 度在與缺陷平面

54、相垂直方向兩側(cè)迅速降落。度在與缺陷平面相垂直方向兩側(cè)迅速降落。 只要信號(hào)不能明顯斷開(kāi)較大距離，則表明缺只要信號(hào)不能明顯斷開(kāi)較大距離，則表明缺 陷基本連續(xù)。陷基本連續(xù)。257 若缺陷斷面大致為圓柱形，只要聲束垂直于缺陷的縱軸，作聲軸距離修正后，回波高度變化較小。 若缺陷斷面為平面狀，從不同方向、用不同角度探測(cè)時(shí)，回波高度在與缺陷平面相垂直方向有明顯降落。 斷續(xù)的缺陷在長(zhǎng)度方向上波高包絡(luò)有明顯降落，應(yīng)在明顯斷開(kāi)的位置附近作轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞掃查，如觀察到在垂直方向附近波高迅速降落，且無(wú)明顯的二次回波，則證明缺陷是斷續(xù)的。258、體積狀缺陷、體積狀缺陷體積狀缺陷有可測(cè)長(zhǎng)度和明顯斷面尺寸，如不規(guī)體積狀缺陷有可測(cè)長(zhǎng)度和明顯斷面尺寸，如不規(guī)則或球形的大夾渣。則或球形的大夾渣。 體積狀缺陷回波特征體積狀缺陷回波特征 左右掃查一般顯示動(dòng)態(tài)波形