開關(guān)電源測試指導(dǎo)書V

1、測試指導(dǎo)書目錄1、功率因素和效率測試2、平均效率測試3、輸入電流測試4、浪涌電流測試5、電壓調(diào)整率測試6、負載調(diào)整率測試7、輸入緩慢變動測試8、紋波及噪聲測試9、上升時間測試10、下降時間測試11、開機延遲時間測試12、關(guān)機維持時間測試13、輸出過沖幅度測試14、輸出暫態(tài)響應(yīng)測試15、過流保護測試16、短路保護測試17、過壓保護測試18、重輕載變化測試19、輸入電壓變動測試20、電源開關(guān)循環(huán)測試21、元件溫升測試/22、高溫操作測試23、高溫高濕儲存測試24、低溫操作測試25、低溫儲存測試26、低溫啟動測試27、溫度循環(huán)測試28、冷熱沖擊測試29、絕緣耐壓測試30、跌落測試31、絕緣阻抗測試3

2、2、額定電壓輸出電流測試33、零件應(yīng)力測試34、電磁干擾測試35、模擬雷擊測試36、快速瞬變脈沖測試37、靜電放電測試1 / 291. POWER FACTOR & EFFICIENCY TEST / 功率因素和效率測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 的功率因素 POWER FACTOR, 效率 EFFICIENCY(規(guī)格依客戶要求設(shè)計).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;(4). AC POWER METER

3、/ 功率表;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負載.(2). 從 POWER METER 讀取 Pin and PF 值, 并讀取輸出電壓, 計算 Pout.(3). 功率因素=PIN / (Vin*Iin), 效率=Pout / Pin*100%；2. ENERGY EFFICIENCY TEST / 能效測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 能效值是否滿足相應(yīng)的各國能效等級標準要求(規(guī)格依各國標準要求定義).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD

4、/ 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1).在測試前將產(chǎn)品在在其標稱輸出負載條件下預(yù)熱30分鐘.(2). 按負載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時的輸入功率(Pin),輸入電流(Iin),輸出電壓(Vo), 功率因素(PF)，然后計算各條件負載的效率.(3). 在空載時僅需記錄輸入功率(Pin)與輸入電流(Iin).(4).計算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時的四種負載的平均效率,該值為能效的效率值五、標準定義 : CEC / 美國EPA / 澳大利亞及新西

5、蘭的能效規(guī)格值標準(IV等級)； (1). IV等級效率的規(guī)格是: 1).Po<1W, Average Eff.0.5*Po; 2).1Po51W, 2 / 29 Average Eff.0.09*Ln(Po)+0.5; 3).Po>51,Average Eff.0.85. (2). 輸入空載功率的規(guī)格是:1).0<Po250W, Pin0.3W; (3). Po為銘牌標示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積; (4) .實際測試的平均效率值和輸入空載功率值需同時滿足規(guī)格要求才可符合標準要求.六、計算方法舉例： (1).12V/1A的能效效率=(0.09*ln12+0.5 )*

6、100%= (0.09*2.4849+0.5)*100%=72.36%; (2). 輸入功率 0.5W;3. AC I / P CURRENT TEST / 輸入電流測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 之輸入電流有效值 INPUT CURRENT(規(guī)格依客戶要求設(shè)計).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負載;(2). 從功率計中記錄 AC INP

7、UT 電流值4. INRUSH CURRENT TEST / 浪涌電流測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 輸入浪涌電流 INRUSH CURRENT, 是否符合SPEC.要求.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 :(1).依 SPEC. 所要求(通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz).四、 測試方法 :(1). 依 SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓, 頻率, 將待測品輸出負載設(shè)定在 MAX. LOAD.(2). SCOPE C

8、H2 接 CURRENT PROBE, 用以量測 INRUSH CURRENT, CH1設(shè)定在 DC Mode, VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定, CH1作為 SCOPE 之 TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 "+", TIME/DIV 以 1mS 為較佳, TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL".(3). CH1 則接到 AC 輸入電壓.(4). 以上設(shè)定完成后 POWER ON, 找出 TRIGGER 動作電流值 (AT 90o 或 270o POWER ON).3 / 29五、注意事項 :(1). 冷

9、開機 (COLD-START): 需在低(常)溫環(huán)境下且 BULK Cap.電荷須放盡, 以及熱敏電阻亦處于常溫下, 然后僅能第一次開機, 若需第二次開機須再待電荷放盡才可再開機測試.(2). OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器.5. LINE REGULATION TEST / 電壓調(diào)整率測試一、目的 :測試 S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而 AC LINE 變動時, 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(常規(guī)定義1%).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). DIGITAL VOLTA

10、GE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :4 / 29(1). 依規(guī)格設(shè)定測試負載 LOAD 條件.(2). 調(diào)整輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值.(3). 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi).(4). Line reg.=(輸出電壓的最大值(Vmax.)-輸出電壓的最小值(Vmin.)/Vrate volt.*100%.五. 注意事項 :(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試.(2). 電壓調(diào)整率值是輸出負載不變,輸入電壓變動時計算的值.6. LOAD REGULATION TEST /

11、 負載調(diào)整率測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 在 AC LINE 一定而 OUTPUT LOAD 變動時, 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(常規(guī)定義±5%).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定測試輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值.(2). 調(diào)整輸出負載 LOAD 值(3). 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi).(4).

12、 Load reg.=(輸出電壓的最大/小值(Vmax/min.)-輸出電壓的額定值(Vrate)/Vrate volt.*100%.五. 注意事項 :(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試;(2). 負載調(diào)整率值是輸入電壓不變,輸出負載變動時計算的值.7. BROWN OUT & RECOVERY TEST / 輸入緩慢變動測試一、目的 : 驗證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時, 待測品需能自我保護, 且不能有損壞現(xiàn)象;二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER

13、METER / 功率表;三. 測試條件 :依 SPEC. 要求5 / 29四、 測試方法 :(1). 將待測品與輸入電源和電子負載連接好, 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負載;(2). 逐步調(diào)降輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘. (3). 記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓), 直到待測品自動當(dāng)機為止. (4). 設(shè)定好輸入電壓為 0Vac,逐步調(diào)升輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘, 直到待測品輸出電壓達到正常規(guī)格為止,記錄電壓啟動時輸出電壓和輸入電壓值. 五、注意事項: (1). 待測品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動作發(fā)生, 以及失效情形; (2). 產(chǎn)品當(dāng)機和啟動時的輸入電壓需小于輸入電

14、壓范圍下限值. 8. RIPPLE & NOISE TEST / 紋波及噪聲測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 直流輸出電壓之紋波 RIPPLE 及噪聲 NOISE(規(guī)格定義常規(guī)為輸出電壓的1%);二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3) OSCILLOSCOPE / 示波器;(4) TEMP. CHAMBER / 溫控室;三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 按測試回路接好各測試儀器,設(shè)備,以及待測品,測試電源在各種 LINE 和 LOAD,及溫度條件之RIPPLE

15、& NOISE下圖為一典型輸出 RIPPLE & NOISE 五、注意事項:6 / 29 (1). 測試前先將待測輸出并聯(lián)SPEC. 規(guī)定的濾波電容, (通常為10uF/47uF電解電容;或鉭電容及0.1uF陶瓷 電容) 頻寬限制依 SPEC. 而定(通常為20MHz). (2). 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊.9. RISE TIME TEST / 上升時間測試一、目的 :測試 S.M.P.S. POWER ON 時,各組輸出從 10% 90% POINT 之上升時間(常規(guī)定義為20mS).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). E

16、LECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD .(2). SCOPE 的 CH1 接 Vo, 并設(shè)為 TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 "+", TIME/DIV 和 VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.(3). 用 CURSOR 中 "TIME", 量測待測品各組輸出從電壓

17、10% 至 90% 之上升時間.五. 注意事項 :測試前先將待測品處于冷機狀態(tài),待 BUCK Cap. 電荷放盡后進行測試.7 / 2911. TURN ON DELAY TIME TEST / 開機延遲時間測試一、目的 :測試 S.M.P.S. POWER ON 時, 輸入電壓 AC LINE 與輸出之時間差(常規(guī)定義為3000mS).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 :依規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 測試時依規(guī)格設(shè)定 AC L

18、INE, FREQUENCY 和輸出負載 (一般為 LOW LINE & MAX. LOAD時間最長).(2). OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE, CH2 接 AC LINE.(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 "+", VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視實際情況而定.(4). 用 CURSOR 中 "TIME", 量測 AC ON 至 Vo LOW LIMIT 之時間差.五. 注意事項 :(1).

19、測試前先將待測品處于冷機狀態(tài), 待 BULK Cap. 電荷放盡后進行測試;(2). 示波器 (OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.8 / 2912. HOLD UP TIME TEST / 關(guān)機維持時間測試一、目的 :測試 S.M.P.S. POWER OFF 時, 輸入電壓 AC LINE 與輸出 OUTPUT 之時間差(常規(guī)定義10mS/115Vac & 20mS/230Vac );二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 :依

20、規(guī)格書所提要求。四、 測試方法 :(1). 測試時依規(guī)格設(shè)定 AC LINE, FREQUENCY 和輸出負載 .(2). OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE, CH2 接 AC LINE.(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 90% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “-”, VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視實際情況 而定.(4). 用 CURSOR 中 "TIME", 量測 AC ON 至 Vo LOW LIMIT 之時間差.五. 注意事項 :(1). 測試前先將待測品

21、熱機, 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進行測試;(2). 示波器 (OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.9 / 2913. OUTPUT OVERSHOOT TEST / 輸出過沖幅度測試一、目的 : 測試 S.M.P.S. POWER ON 時, 輸出 DC OUTPUT 過沖幅度變化量(常規(guī)定義為10%).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 :依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸出負載(Min. Max. load).四、 測試方法 :(1

22、). 測試時依規(guī)格設(shè)定 AC LINE, FREQUENCY 和輸出負載 . (2). OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE;(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “+” 和 “-”, VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視 實際情況而定.(4). 用 CURSOR 中 "VOLT", 量測待測品輸出過沖點與穩(wěn)定值之關(guān)系.(5). ON / OFF 各做十次, 過沖幅度%=V / Vo *100%;五、注意事項 : 產(chǎn)品在CC與CR模式都需

23、滿足規(guī)格要求.10 / 2914. OUTPUT TRANSIENT RESPONSE TEST / 輸出暫態(tài)響應(yīng)測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 輸出負載快速變化時, 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 :依 SPEC.所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE, 變化的負載 LOAD, 頻率及升降斜率 SR/F 值.四、 測試方法 :(1). 測試時設(shè)定好

24、待測品輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY.(2). 測試時設(shè)定好待測品輸出條件: 變化負載和變化頻率及升降斜率.(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到 OUTPUT 偵測點, 量其電壓之變化.(4). CH2 接 CURRENT PROBE 測試輸出電流, 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.(5). TRIGGER MODE設(shè)定為 "AUTO.".五、注意事項 :(1). 注意使用 CURRENT PROBE 時,每改變 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO,(2). 須經(jīng)常對 CURRENT

25、PROBE 進行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO. 11 / 2915. OVER CURRENT PROTECTION TEST / 過流保護測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 輸出電流過高時是否保護, 保護點是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會對 S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義過流點為輸出額定負載的1.2-2.5倍 / CV模式產(chǎn)品初外).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 :依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和電子負

26、載.四、 測試方法 :(1). 將待測組輸出負載設(shè)在 MAX. LOAD.(2). 以一定的斜率 (通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護, 當(dāng)保護后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會自動 RECOVERY.(3). OSCILLOSCOPE CH2 接上 CURRENT PROBE, 以 PROBE 檢測輸出電流.(4). CH1 則接到待測輸出電壓, 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 "-", TRIGGER MODE 設(shè)定為 "AUTO", TIM

27、E/DIV 視情況而定.五、注意事項 :(1). 注意使用 CURRENT PROBE 時,每改變 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO,(2). 須經(jīng)常對 CURRENT PROBE 進行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO. (3). 產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.12 / 2916.SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保護測試一、目的 : 測試 S.M.P.S. 輸出端在開機前或在工作中短路時, 產(chǎn)品是否有保護功能.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3

28、). OSCILLOSCOPE / 示波器;(4). 低阻抗短路夾三. 測試條件 :依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負載 LOAD 值和低阻抗短路夾.四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓 AC LINE 和負載 LOAD 值(一般為 MAX. LOAD).(2). 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪? 偵測輸出特性.(3). 開機后短路 TURN ON THEN SHORT & 短路后開機 SHORT THEN TURN ON 各十次.五、注意事項 :(1).當(dāng) SHORT CIRCUIT 排除之后, 檢測待測品是否自動恢復(fù)或需重新啟動 (視 SPEC

29、 要求),并測試產(chǎn)品是否正常或有無零 件損壞(產(chǎn)品要求應(yīng)正常).(2). 產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.13 / 2917. OVER VOLTAGE PROTECTION TEST / 過壓保護測試一、目的 : 測試 S.M.P.S. 輸出電壓過高時是否保護, 保護點是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會對 S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義:Vout<12V,過壓保護點為1.8倍輸出電壓; Vout12V,.過壓保護點為1.5倍輸出電壓).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE /

30、 示波器;(4). DC SOURCE / 直流電源;三. 測試條件 :依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負載 LOAD 值.四、 測試方法 :(1). 測試方式一: 拿掉待測品回授 FEEDBACK, 找出過壓保護 OVP 點,(2). 測試方式二: 短路光藕3.4 FEEDBACK, 找出過壓保護 OVP 點,(2). 測試方式三: 外加一可變電壓于操作待測品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過壓保護 OVP 點,（適用于PC POWER）(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到 OVP 偵測點, 測量其電壓之變化.(4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為

31、OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 "-", TRIGGER MODE 設(shè)定為 "NORMAL".五、注意事項 : 產(chǎn)品不能有安全危險產(chǎn)生.14 / 2918. MAX. AND MIN. LOAD CHANGE TEST / 重輕載變化測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 的輸出負載在重輕載切換時對輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD

32、/ 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負載 LOAD(MIN. AND MAX.) 值.四、 測試方法 :(1). 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和 MIN. LOAD).(2). SCOPE 的 CH1 接 Vo, 并設(shè)為 TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 90% 100% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 "+", VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.(3). T

33、IME/DIV 設(shè)定為 1S/DIV 或 2S/DIV,為滾動狀態(tài).(4). 在輸入電壓穩(wěn)定時,變化輸出負載(最大/最小).(5). 在設(shè)定電壓下測試輸出電壓的最大和最小值.五、注意事項 : 無15 / 2919. INPUT VOLTAGE CHANGE TEST / 輸入電壓變動測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動時,是否會對 S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;三. 測試條件 :依SPE

34、C. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負載 LOAD 值.四、 測試方法 :(1). 將待測輸出負載設(shè)在 MAX. LOAD 和 MIN. LOAD.(2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 "+", TRIGGER MODE 設(shè)定為 "AUTO", TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或 2S/DIV.(3). 變動輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac 0-264Vac.(4). 測試輸出電壓在輸入電壓變動時的最大值和最小值.五、注意事項 :輸出電壓變動的范圍應(yīng)在

35、規(guī)格電壓要求內(nèi).AC DIP 過程中，樣機不能有損壞！16 / 2920. POWER ON/OFF CYCLE TEST / 電源開關(guān)循環(huán)測試一、目的 : 測試 S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測試儀;三. 測試條件 :(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負載: 滿載.(2). ON/OFF時間: ON 2秒 / OFF 2秒 O

36、N/OFF CYCLE：AT LEAST 1000 CYCLE. ON 30秒 / OFF30秒 ON/OFF CYCLE：AT LEAST 1000 CYCLE.(3). 環(huán)境溫度: 室溫.高溫四、 測試方法 :(1). 連接待測品到電源開/關(guān)測試儀及電源. (115Vac和230Vac &滿載, 或依客戶規(guī)格執(zhí)行)(2). S.M.P.S OFF 3秒 及 ON 3秒為一周期,總共測試周期: 1000 CYCLES.(3). 測試過程中每完成200周期時,記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓.(4). 待試驗結(jié)束后,確定待測品在試驗前后電氣性能是否有差異.五、注意事項 : 測試過程中或測試

37、完成階段, 待測品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生.17 / 2921. COMPONENT THERMAL TEST / 元件溫升測試一、目的 : 測試 S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負載條件時, 元件的溫升狀況.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). HYBRID RECORDER / 混合記錄儀(DR130);(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;三. 測試條件 :依 SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE, 頻率 FREQUENCY, 輸出負載 L

38、OAD 及環(huán)境溫度.四、 測試方法 :(1). 依線路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件.(2). 依規(guī)格設(shè)定好測試條件 (AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機, 并記錄輸入功率和輸出電壓.(3). 用混合記錄儀 HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線, 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓.五、注意事項 : (1). 溫升線耦合點應(yīng)盡量貼著元件測試點, 溫升線走勢應(yīng)盡量避免影響 S.M.P.S 元件的散熱. (2). 測試的樣品應(yīng)模擬其實際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài). (3). 針對于無風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測試時應(yīng)

39、盡量避免外界風(fēng)流動對它的影響.22. HIGH TEMP OPERATION TEST / 高溫操作測試一、目的 : 測試高溫環(huán)境對 S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀三. 測試條件 :(1). 依SPEC.要求: 輸入條件 (RATED

40、VOLTAGE), 輸出負載 (FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40);(2). 試驗時間: 4Hrs.18 / 29四、 測試方法 :(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機;(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動溫控室;(3). 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;(4). 做完測試后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時.五、注意事項 : (1). 產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需

41、符合規(guī)格書要求.23. HIGH TEMP.&HUMIDITY STORAGE TEST / 高溫高濕儲存測試一、目的 : 測試高溫高濕儲存環(huán)境對 S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀三. 測試條件 : 儲存高溫高濕條件: 通常為溫度 70&#

42、177;2, 濕度 90-95% 試驗時間 24Hrs(非操作條件).四、 測試方法 :(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況;(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動溫控室;(3). 試驗 24Hrs, 試驗結(jié)束后在空氣中放置 至少4Hrs,再確認待測品外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.五、注意事項 : (1). 產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.24. LOW TEMP. OPERATION TEST / 低溫操作測試一、目的 : 測試低溫

43、環(huán)境對 S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.20 / 29二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 :(1). 依SPEC.要求: 輸入條件 (RATED VOLTAGE), 輸出負載 (FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為

44、:(0).(2). 試驗時間: 4Hrs.四、 測試方法 :(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機.(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動溫控室.(3). 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;(4). 做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時,然后確認其外觀和電氣性能有無異常.五、注意事項 : (1). 產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.25. LOW TEMP. STORAGE TEST / 低溫儲存測試一、目的 : 測試低溫

45、儲存環(huán)境對 S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 : 儲存低溫條件: 通常為溫度 -30, 試驗時間24Hrs(非操作條件).四、 測試方法 :(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況.(2). 將確認后的待

46、測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.(3). 試驗 24Hrs, 試驗結(jié)束后在空氣中放置 至少4Hrs, 再將待測品做 HI-POT 測試, 記錄測試結(jié)果, 之后確認待測品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.20 / 29五、注意事項 : (1). 產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.26. LOW TEMP. STARTING UP TEST / 低溫啟動測試一、目的 : 測試低溫儲存環(huán)境對 S.M.P.S. 的整機電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性.二. 使

47、用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; 三. 測試條件 : 儲存低溫條件: 通常為操作溫度 0 條件下降低到 -10 ±2, 儲存時間至少 4Hrs.四、 測試方法 :(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況.(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.(3). 試驗溫度儲存至少 4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz & 230V

48、ac/50Hz和輸出最大負載條件下開關(guān)機各 20 次, 確認待測品電氣性能是否正常.五、注意事項 : (1). 在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.27. TEMPERATURE CYCLING TEST / 溫度循環(huán)測試一、目的 : 測試針對 S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測試, 用來顯露出在實際操作中所可能出現(xiàn)的問題.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). T

49、EMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 :操作溫度條件: 通常為低溫度-40 、25、33和高溫度 66 (濕度: 50-90%), 試驗至少2個循環(huán).21 / 29四、 測試方法 :(1). 試驗前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況.(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 以無包裝,非操作狀態(tài)下.(3). 設(shè)定溫度順序為66±2 保持1小時, 33±2 和濕度90±2%保持1小時, -40±2 保持1小時, 25±2 和濕度50±2%保持30

50、分鐘,為一個循環(huán).(4). 啟動恒溫恒濕機, 然后記錄其溫度與時間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,(5). 試驗完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出, 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.五、注意事項 : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.28. THERMAL SHOCK TEST / 冷熱沖擊測試一、目的 : 測試高, 低溫度沖擊對 S.M.P.S. 的影響,用來揭露各組成元件的弱點.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交

51、流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 :(1). 依 SPEC. 要求: 儲存最高(70), 低溫度(-30), 測試共 10 個循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時間為 <2min;(2). 依客戶所提供的試驗條件.四、 測試方法 :(1). 在溫控室內(nèi)待測品由常溫 25 向低溫通常為 -30 轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤 1Hr.(2). 溫控室由低溫 -30 向高溫通常為 70 轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時間為 2min., 并高

52、溫烘烤 1Hr.(3). 在高溫 70 和低溫 -30 之間循環(huán) 10 個周期后, 溫度回到常溫將 S.M.P.S. 取出(至少恢復(fù)4小時).(4). 確認待測品的標簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異.五、注意事項 : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象. (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求. (3). 產(chǎn)品為非操作條件.29. HI - POT TEST / 絕緣耐壓測試一、目的 :測試 S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時間條件下, 是否產(chǎn)生電弧 ARCING, 其 CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要

53、求, 及是否會對 S.M.P.S. 造成損傷.22 / 29二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 :依 SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時間(1 minute)和 CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值;四、 測試方法 :(1). 依 SPEC. 設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時間 TIME, CUT OFF CU

54、RRENT 值.(2). 將待測品與耐壓測試儀依要求連接, 進行耐壓測試, 觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過大.(3). 耐壓測試后, 確認待測品輸入功率與輸出電壓是否正常.五、注意事項 :(1). 測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試儀的測試條件, 待測品的輸入與輸出分別應(yīng)與測試儀接觸良好.(2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.30. UNIT DROP TEST / 跌落測試一、目的 :了解 S.M.P.S. 由一定高度, 不同面進行跌落 DROP, 其結(jié)構(gòu), 電氣等特性的變化狀況.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源;(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;(3). AC POWER METER / 功率表;(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;三. 測試條件 :依SPEC. 要求: 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.四、 測試方法 :(1). 所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在.(2). 確定六個面(小-大)順序依次進行跌落.(3). 使待測品由規(guī)定的高度及項 (2) 所確定的測試點各進行一次跌落, 每跌落一次均須對其電氣