熒光壽命測定方法ppt課件

1、熒光壽命的測定方法熒光壽命的測定方法2019-9-26一、熒光壽命的概念一、熒光壽命的概念二、測定熒光壽命的幾種方法二、測定熒光壽命的幾種方法三、時間相關(guān)單光子計數(shù)方法三、時間相關(guān)單光子計數(shù)方法TCSPC四、四、TCSPC技術(shù)優(yōu)缺點技術(shù)優(yōu)缺點五、熒光壽命測定中可能存在的問題五、熒光壽命測定中可能存在的問題激光(Laser)的全名是“光的受激輻射放大”。(Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation)一、熒光壽命的概念一、熒光壽命的概念E1E2E3E4hE1E2E3E4(10-8s)(10-3s)一、熒光壽命的概念一、熒光壽命的概

2、念自發(fā)輻射：處于高能級E2的原子自發(fā)地向低能級E1躍遷，并發(fā)射出一個頻率為=（ E2- E1 ）/h的光子。自發(fā)躍遷幾率：發(fā)光材料在單位時間內(nèi)，從高能級上產(chǎn)生自發(fā)輻射的發(fā)光粒子數(shù)密度占高能級總粒子數(shù)密度的比值A(chǔ)21=(dn21/dt)sp/n2一、熒光壽命的概念一、熒光壽命的概念自發(fā)輻射躍遷的過程是一種只與原子本身的性質(zhì)有關(guān)，與輻射場無關(guān)的自發(fā)過程。A21的大小與原子處在E2能級上的平均壽命2有關(guān)。E2能級上的粒子數(shù)密度n2隨時間的變化率dn2(t)/dt=-(dn21/dt)sp=-A21n2(t)n2(t)= n2(0)e -A21n2(t)定義粒子數(shù)密度由t=0時的n(0)衰減到它的1/

3、e時所用的時間為E2能級的平均壽命。=1/A21一、熒光壽命的概念一、熒光壽命的概念假定一個無限窄的脈沖光(函數(shù)) 激發(fā)n0 個原子到其激發(fā)態(tài),處于激發(fā)態(tài)的原子將通過輻射或非輻射躍遷返回基態(tài)。假定兩種衰減躍遷速率分別為和knr ,則激發(fā)態(tài)衰減速率可表示為d n ( t)/d t= - ( + knr ) n ( t)其中n ( t) 表示時間t 時激發(fā)態(tài)原子的數(shù)目,由此可得到激發(fā)態(tài)物質(zhì)的單指數(shù)衰減方程。 n ( t) = n0 exp ( - t/) 式中為熒光壽命。熒光強度正比于衰減的激發(fā)態(tài)分子數(shù),因此可將上式改寫為:I ( t) = I0 exp ( - t/) 其中I0 是時間為零時的熒

4、光強度。于是,熒光壽命定義為衰減總速率的倒數(shù): = ( + knr ) - 1 也就是說熒光強度衰減到初始強度的1/e 時所需要的時間就是該熒光物質(zhì)在測定條件下的熒光壽命。二、測定熒光壽命的幾種方法二、測定熒光壽命的幾種方法熒光壽命測定的現(xiàn)代方法主要有以下幾種：時間相關(guān)單光子記數(shù)法(Time-Correlated Single-Photon Counting ，TCSPC) 頻閃技術(shù)(Strobe Techniques)相調(diào)制法(Phase Modulation Methods) 條紋相機法(Streak Cameras) 上轉(zhuǎn)換法(Upcon-version Methods)三、單光子計數(shù)方

5、法三、單光子計數(shù)方法單光子計數(shù)技術(shù)，是檢測極微弱光的有力手段，這一技術(shù)是通過分辨單個光子在檢測器PMT中激發(fā)出來的光電子脈沖，把光信號從熱噪聲中以數(shù)字化的方式提取出來光電倍增管(PMT)是一種高靈敏度電真空光敏器件，主要包括以下幾個部分：光窗：光線或射線射入的窗口璃；光陰極：這是接受光子產(chǎn)生光電子的電極；倍增極：管內(nèi)光電子產(chǎn)生倍增的電極，倍增極的數(shù)目有813個，一般電子放大倍數(shù)達106-109；陽極：經(jīng)過多次倍增后的電子被陽極收集，形成輸出信號。三、單光子計數(shù)方法三、單光子計數(shù)方法熒光的發(fā)射是一個統(tǒng)計過程，很少有熒光分子剛好在熒光壽命時刻發(fā)射熒光，熒光壽命僅反映熒光強度衰減到其起始值1/e所需

6、的時間。在被測的微弱隨機光場作用下，光檢測計光陰極發(fā)射光電子，其行為可用雙隨機泊松點過程來描述，光電子時間統(tǒng)計特性可用多重概率密度求平均來得到式中：tjtotj0得到光檢測方程t） It）式中： 是比例系數(shù)。說明光電子發(fā)射概率密度與光場瞬時強度成正比。三、時間相關(guān)的單光子計數(shù)方法三、時間相關(guān)的單光子計數(shù)方法TCSPC降低激光功率，使每一個激光脈沖所含能量足夠小，以至于每次激發(fā)樣品時或者僅有個熒光光子到達探測器的光陰極，或者沒有。假如100個激光脈沖激發(fā)樣品，所發(fā)出的熒光光子僅能使光陰極平均發(fā)射個光電子。光子q重概率密度則變成單個光電子概率密度：Pf(t) = It）只要測得單個光電子到達時間概

7、率分布，也就得到了微弱光場衰變曲線。利用窗口鑒別器開設(shè)時間窗口，可以很方便地測量激發(fā)后不同時間區(qū)間的熒光光譜，就得到了時間分辨熒光光譜。利用非線性最小二乘法、矩法、Laplace 變換法、最大熵法以及正弦變換法等擬合曲線得到結(jié)果。三、時間相關(guān)單光子計數(shù)方法三、時間相關(guān)單光子計數(shù)方法TCSPC時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)首先由 Bollinger、Bennett、Koechlin 三人在六十年代為檢測被射線激發(fā)的閃爍體發(fā)光而建立的,后來人們把它應(yīng)用到熒光壽命的測量。四、四、TCSPC技術(shù)優(yōu)缺點技術(shù)優(yōu)缺點 TCSPC 法的突出優(yōu)點在于靈敏度高、測定結(jié)果準確、系統(tǒng)誤差小,是目前最流行的熒光壽命測定方法；實際測定中,必須調(diào)節(jié)樣品的熒光強度,確保每次激發(fā)后最多只有一個熒光光子到達終止光電倍增管。否則會引起“堆積效應(yīng)” (Pileup Effect)；對于量子效率較高的樣品，需要限制激發(fā)光強度，即減小多個光電子同時到達的概率；這種方法所用儀器結(jié)構(gòu)復雜、價格昂貴、而且測定速度慢,無法滿足某些特殊體系熒光壽命測定的要求。五、熒光壽