XRF儀器分析培訓(xùn)ppt課件

1、1X X射線熒光光譜儀射線熒光光譜儀 型號：型號：XRF-1800XRF-1800 2主要配置：主要配置：LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及及SX-98N 6塊分光晶體；塊分光晶體；FPC、SC檢測器；液體樣品盒；檢測器；液體樣品盒；微區(qū)刻度尺微區(qū)刻度尺主要性能指標：主要性能指標：1、檢測元素范圍：、檢測元素范圍：4Be-92U2、元素含量范圍：、元素含量范圍：0.0001%-100%3、最大掃描速度：、最大掃描速度：300/min3主要用途：主要用途：1 1、測量塊狀、粉末、薄膜和液態(tài)材料的元素種類及含量，并建立工作曲線。、測量塊狀、粉末、薄膜和液態(tài)材料的元素種類及含量，并建立工作曲

2、線。2 2、對礦石樣品進行局部分析。、對礦石樣品進行局部分析。3 3、通過元素含量分析涂層、薄膜厚度。、通過元素含量分析涂層、薄膜厚度。主要優(yōu)點：主要優(yōu)點：分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少4 基礎(chǔ)知識簡介基礎(chǔ)知識簡介5什么是什么是儀儀器分析？器分析？ 儀器分析是一大類分析方法的總稱，一般的說，儀器分析是指采用比較復(fù)雜或特殊的儀器儀器分析是一大類分析方法的總稱，一般的說，儀器分析是指采用比較復(fù)雜或特殊的儀器設(shè)備，通過測量物質(zhì)的某些物理或物理化學(xué)性質(zhì)的參數(shù)及其變化來獲取物質(zhì)的化學(xué)組成、設(shè)備，通過測量物質(zhì)

3、的某些物理或物理化學(xué)性質(zhì)的參數(shù)及其變化來獲取物質(zhì)的化學(xué)組成、成分含量及化學(xué)結(jié)構(gòu)等信息的一類方法?；蛘哒f通過施加給測試樣品一定的能量，然后成分含量及化學(xué)結(jié)構(gòu)等信息的一類方法?；蛘哒f通過施加給測試樣品一定的能量，然后分析其對聲、光、電等物理或物理化學(xué)信號的響應(yīng)程度或變化大小。分析儀器即測量這分析其對聲、光、電等物理或物理化學(xué)信號的響應(yīng)程度或變化大小。分析儀器即測量這些信號及變化的裝置。根據(jù)待測物質(zhì)在分析過程中被測量或用到的性質(zhì)，儀器分析可分些信號及變化的裝置。根據(jù)待測物質(zhì)在分析過程中被測量或用到的性質(zhì)，儀器分析可分為光分析方法、電分析方法、分離分析方法等。為光分析方法、電分析方法、分離分析方法等。

4、 67儀儀器分析方法的分器分析方法的分類類classification of instrument analytical method儀器分析電化學(xué)分析法光分析法色譜分析法熱分析法分析儀器聯(lián)用技術(shù)質(zhì)譜分析法8什么是光譜：光譜是一系列有規(guī)律排布的光。如雨后的彩虹。什么是光譜：光譜是一系列有規(guī)律排布的光。如雨后的彩虹。91010-1310-1210-1110-1010-910-810-710-610-510-410-310-210-1110 110 210 310 4紫外線超短波短 波中 波長 波 超 聲 波nm1mmkmgreenbluevioletyelloworengeredradiant波

5、長()pmX射線 射線可見光紅外線微 波(indigo)11光分析法光分析法：光學(xué)分析法是根據(jù)物質(zhì)吸收、發(fā)射、散射電磁波或電磁波與物質(zhì)作用而建立起來的一類分析方法。光學(xué)分析法可歸納為以下兩大類：第一類 光譜分析法。例如原子吸收光譜分析、原子發(fā)射光譜分析，分子吸收光譜分析，X射線熒光分析和穆斯鮑爾光譜分析等。第二類 非光譜分析法。例如折射，偏振法，旋光色散法，濁度法，X射線衍射法，電子顯微鏡法等。12光分析法光譜分析法非光譜分析法原子光譜分析法分子光譜分析法原原子子吸吸收收光光譜譜原原子子發(fā)發(fā)射射光光譜譜原原子子熒熒光光光光譜譜X射射線線熒熒光光光光譜譜折射法圓二色性法X射線衍射法干涉法旋光法紫

6、紫外外光光譜譜法法紅紅外外光光譜譜法法分分子子熒熒光光光光譜譜法法分分子子磷磷光光光光譜譜法法核核磁磁共共振振波波譜譜法法13什么是光譜分析？用特殊的儀器設(shè)備對特定物質(zhì)的光譜進行分析的方法。用特殊的儀器設(shè)備對特定物質(zhì)的光譜進行分析的方法。 常見的光譜分析儀器有： 原子吸收光譜儀；直讀光譜分析儀 ICP直讀光譜分析儀；X射線熒光光譜儀 原子熒光光譜儀14X射射線熒線熒光分析光分析15 X X射線熒光光譜儀的分類射線熒光光譜儀的分類 1. 1. 根據(jù)分光方式的不同，根據(jù)分光方式的不同，X X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類， 縮寫縮寫為為EDXRF

7、EDXRF和和WDXRFWDXRF。 2. 2. 根據(jù)激發(fā)方式的不同，根據(jù)激發(fā)方式的不同，X X射線熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種射線熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種 16波長色散與能量色散分辨率的比較波長色散與能量色散分辨率的比較17波長色散波長色散X X射線光譜儀分類射線光譜儀分類 1.1.純掃描型純掃描型: : 一般配備一般配備4-64-6塊晶體、兩個計數(shù)器、衰減器等塊晶體、兩個計數(shù)器、衰減器等. .靈活靈活, ,造價較低造價較低. .但是但是分析速度慢分析速度慢, ,穩(wěn)定性稍差穩(wěn)定性稍差, ,真空室過大真空室過大, ,輕元素掃描道流氣窗易損壞，故輕元素掃描道流氣窗易損壞，故障率較

8、高。障率較高。 2.2.純多道同時型純多道同時型: : 每個元素一個通道每個元素一個通道, ,多數(shù)部件可以互換。穩(wěn)定分析速度快、真空室多數(shù)部件可以互換。穩(wěn)定分析速度快、真空室很小很小. .故障率低。但是造價高故障率低。但是造價高. .18 3.3.多道加掃描道型多道加掃描道型: : 在多道同時型儀器上加掃描道在多道同時型儀器上加掃描道, ,既有多道同時型的優(yōu)點既有多道同時型的優(yōu)點, ,又有靈活的優(yōu)點又有靈活的優(yōu)點. . 4. 4.掃描型儀器加固定道掃描型儀器加固定道: : 在掃描型儀器上加在掃描型儀器上加2-42-4個固定道個固定道. .部分減少了掃描型儀器的慢速、穩(wěn)定性差的缺點部分減少了掃描

9、型儀器的慢速、穩(wěn)定性差的缺點, ,但是基本構(gòu)造沒有改變但是基本構(gòu)造沒有改變, ,真空室很大真空室很大, ,配備固定道后檢測距離加大，靈敏度降低，配備固定道后檢測距離加大，靈敏度降低，故障率偏高。故障率偏高。19掃描型與同時型的比較掃描型與同時型的比較項項 目目XRF-1800XRF-1800MXF-2400MXF-2400分析靈敏度分析靈敏度最高最高很高很高高含量分析高含量分析很好很好最好最好基本參數(shù)法基本參數(shù)法全功能全功能全功能全功能工作曲線法工作曲線法最適合最適合適合適合元素面成象元素面成象可以可以無無高次線解析高次線解析標準標準無無20 X X射線及射線及X X射線熒光射線熒光 X-X-

10、射線：波長射線：波長0.0010.00150nm50nm； X X射線熒光的有效波長射線熒光的有效波長:0.01:0.014.5nm4.5nm X X射線的能量與原子軌道能級差的數(shù)量級相同射線的能量與原子軌道能級差的數(shù)量級相同X-X-射線熒光分析射線熒光分析 利用元素內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生的熒光光譜，應(yīng)用于元素的定性、定量分析、固體表面薄層成利用元素內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生的熒光光譜，應(yīng)用于元素的定性、定量分析、固體表面薄層成分分析；分分析；X-射線光譜X-射線熒光分析X-射線吸收光譜X-射線衍射分析X-射線光電子能譜21 X X射線熒光分析基本原理射線熒光分析基本原理 X X射線管發(fā)出一次射線管發(fā)出一次X

11、 X射線（高能）射線（高能）, ,照射樣品，激發(fā)其中的化學(xué)元素照射樣品，激發(fā)其中的化學(xué)元素, ,發(fā)出二次發(fā)出二次X X射線射線, ,也叫也叫X X射線熒光射線熒光, ,其波長是相應(yīng)元素的標識特征波長其波長是相應(yīng)元素的標識特征波長( (定性分析基礎(chǔ)定性分析基礎(chǔ)););依據(jù)譜線強度依據(jù)譜線強度與元素含量的比例關(guān)系進行定量分析與元素含量的比例關(guān)系進行定量分析. .22 熒光分析的樣品有效厚度一般為熒光分析的樣品有效厚度一般為0.1mm0.1mm。 （金屬（金屬0.10.1；樹脂；樹脂3 3）有效厚度并非初級線束穿透的深度，而是由分析線能夠射出的深度決定的！有效厚度并非初級線束穿透的深度，而是由分析線

12、能夠射出的深度決定的！23XRFXRF18001800結(jié)構(gòu)概念圖示結(jié)構(gòu)概念圖示波長色散型波長色散型WDX(WDX(順序掃描型順序掃描型) ) 24順序型單道掃描順序型單道掃描XRFXRF系統(tǒng)配置系統(tǒng)配置25多道同時型多道同時型XRFXRF儀器結(jié)構(gòu)儀器結(jié)構(gòu)26多道熒光工作多道熒光工作原理原理圖圖樣品樣品檢測器檢測器X X射線束射線束分光分光晶體晶體分光分光晶體晶體檢測器檢測器27多道同時型熒光光譜儀概念圖多道同時型熒光光譜儀概念圖28X X射線及射線及X X射線熒光射線熒光29原子的殼層結(jié)構(gòu)原子的殼層結(jié)構(gòu)30特征特征X X射線射線在在 X X射線管中，當撞擊靶的電子具有足夠能量時，這個電子可將靶

13、原子中最靠射線管中，當撞擊靶的電子具有足夠能量時，這個電子可將靶原子中最靠近原子核的處于最低能量狀態(tài)的近原子核的處于最低能量狀態(tài)的 K K層電子逐出，在層電子逐出，在 K K電子層中出現(xiàn)空穴，使原電子層中出現(xiàn)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)，外側(cè)子處于激發(fā)狀態(tài)，外側(cè) L L層電子則進入內(nèi)層空穴中去，多余的能量以層電子則進入內(nèi)層空穴中去，多余的能量以 X X射線的射線的形式釋放出來，原子再次恢復(fù)到正常的能量狀態(tài)。產(chǎn)生的是形式釋放出來，原子再次恢復(fù)到正常的能量狀態(tài)。產(chǎn)生的是KaKa線。線。對應(yīng)其他的躍遷則產(chǎn)生對應(yīng)其他的躍遷則產(chǎn)生KbKb、LaLa、LbLb等等等等3132熒熒光光X射射線線 入射 X射線激

14、發(fā)原子的內(nèi)層電子，使電子層出現(xiàn)空洞，原子成為不穩(wěn)定狀態(tài)（激發(fā)狀態(tài)），外層電子進入空洞而使原子成為穩(wěn)定狀態(tài)，多余的能量釋放出來這個能量就是熒光X射線由于電子軌道分為K，L，M 以及 ，因此也分別稱為K 線、L 線N層M層L層K層K K KL L 33X射射線線的的產(chǎn)產(chǎn)生生。從陽極發(fā)出的高速電子撞擊對陰極而產(chǎn)生X射線 以 X射線形式輻射出的能量極小，大部分能量轉(zhuǎn)變成熱能陰極的熱量用水或風(fēng)進行冷卻34X X射線管的結(jié)構(gòu)射線管的結(jié)構(gòu)35初級初級X X射線的產(chǎn)生射線的產(chǎn)生高速電子撞擊陽極高速電子撞擊陽極(Rh(Rh、CuCu、CrCr等重金屬等重金屬) )：熱能：熱能(99%)+X(99%)+X射線射線

15、(1%)(1%)高速電子撞擊使陽極元素的內(nèi)層電子激發(fā)；產(chǎn)生高速電子撞擊使陽極元素的內(nèi)層電子激發(fā)；產(chǎn)生X X射線輻射；射線輻射； 36連續(xù)光譜連續(xù)光譜 連續(xù)光譜又稱為“白色”X射線，包含了從短波限m開始的全部波長，其強度隨波長變化連續(xù)地改變。從短波限開始隨著波長的增加強度迅速達到一個極大值，之后逐漸減弱，趨向于零。連續(xù)光譜的短波限m只決定于X射線管的工作高壓。 37不同靶的連續(xù)譜圖不同靶的連續(xù)譜圖特征光特征光譜譜38高級次譜線( n = 2 ) 和一級次譜線 ( n = 1 )在相同的角度被檢測分光晶體的工作原理：39 當當X X射線入射到物質(zhì)中時，其中一部分會被物質(zhì)原子散射到各個方向。當被照射

16、的物射線入射到物質(zhì)中時，其中一部分會被物質(zhì)原子散射到各個方向。當被照射的物質(zhì)為晶體時，且原子層的間距與照射質(zhì)為晶體時，且原子層的間距與照射X X射線波長有相同數(shù)量級，在某種條件下，散射的射線波長有相同數(shù)量級，在某種條件下，散射的X X射線會得到加強，顯示衍射現(xiàn)象。射線會得到加強，顯示衍射現(xiàn)象。 當晶面距離為當晶面距離為d d，入射和反射，入射和反射X X射線波長為射線波長為時，相臨兩個晶面反射出的兩個波，其光時，相臨兩個晶面反射出的兩個波，其光程差為程差為2dsin2dsin，當該光程差為，當該光程差為X X射線入射波長的整數(shù)倍時，反射出的射線入射波長的整數(shù)倍時，反射出的x x射線相位一致，射

17、線相位一致，強度增強，為其他值時，強度互相抵消而減弱。強度增強，為其他值時，強度互相抵消而減弱。 滿足滿足2dsin=n2dsin=n時，衍射線在出射角時，衍射線在出射角方向產(chǎn)生衍射，從而達到分光的目的。方向產(chǎn)生衍射，從而達到分光的目的。40 相干散射線的干涉現(xiàn)象； 相等，相位差固定，方向同， n 中n不同，產(chǎn)生干涉 X X射線的衍射線：射線的衍射線： 大量原子散射波的疊加、干涉而產(chǎn)生最大程度加強的光束；Bragg衍射方程： DB=BF=d sin n = 2d sin光程差為 的整數(shù)倍時相互加強；只有當入射只有當入射X X射線的波長射線的波長 2 2倍晶面間距時，才能產(chǎn)生衍射倍晶面間距時，才

18、能產(chǎn)生衍射41X X射射線熒線熒光光光光譜儀譜儀 X-ray fluorescence spectrometer波長色散型：晶體分光能量色散型：高分辨半導(dǎo)體探測器分光波長色散型波長色散型X X射線熒光光譜儀射線熒光光譜儀四部分：X光源；分光晶體； 檢測器；記錄顯示；按Bragg方程進行色散；測量第一級光譜n=1；檢測器角度 2； 分光晶體與檢測器同步轉(zhuǎn)動進行掃描。分光晶體與檢測器同步轉(zhuǎn)動進行掃描。42全固態(tài)檢測器43儀器結(jié)構(gòu)和微區(qū)分析系統(tǒng) 專利可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。44250250umum成圖分析，世界首創(chuàng)成圖分析，世界首創(chuàng)實用的詳細顯示 巖石樣品巖石樣品Ba 250m 成圖

19、Ba 1mm 成圖45濾光片濾光片初級濾光片次級濾光片46初級濾光器初級濾光器(光源濾光片)作用作用降低背景降低背景改善熒光改善熒光47次級濾光片（次級濾光片（檢測器濾光片） .濾去無用的線濾去無用的線48濾光片的原理與使用 Cu的X射線光譜在通過Ni濾片之前(a)和通過濾片之后(b)的比較 （虛線為Ni的質(zhì)量吸收系數(shù)曲線）49對標樣對標樣的依的依賴賴性性50工作曲線法工作曲線法 標樣繪制曲線標樣的要求標樣與試樣的關(guān)系使用中的一致性 51工作曲線 C3 C2 C1 含量強度R1R2R352什么是什么是FPFP法法FP法也叫基本參數(shù)法 純理論狀態(tài)下，物質(zhì)的量與X射線的強度之間具有一定的函數(shù)關(guān)系。

20、現(xiàn)實中由于散射、吸收增強等因素以及晶體衍射效率的變化等等因素造成實測強度與理論強度的不一致，通過校準實測強度與理論強度之間的差異而建立起來的一種以理論參數(shù)為主的分析方法。其需要較少的標準樣品或僅需要一些純物質(zhì)即可以進行半定量定量分析的計算。53基體效應(yīng)基體效應(yīng)基體：分析元素以外的全部 基體效應(yīng)：在一定的分析條件下，試樣中基體元素對分析元素測量結(jié)果的綜合影響。 Wi = (aI2 + bI + c)(1 + djWj) - l jWjWi = (aI2 + bI + c)(1 + djWj) - l jWj j i, Base j i, Base54礦物效應(yīng)和粒度效應(yīng)礦物效應(yīng)和粒度效應(yīng)在礦石分析

21、中，由于同一元素會以不同的價態(tài)、不同的結(jié)構(gòu)、不同的晶體存在。這種微觀上的差別無法用機械方法除去，這稱為礦物效應(yīng)。當樣品中的顆粒達到一定細度是，X射線的強度達到恒定。顆粒度增加X射線強度下降。 波長越長該現(xiàn)象越嚴重。金屬的表面處理也有類似的情況，我們稱其為粒度效應(yīng)和表面效應(yīng)55試樣的組成及元素間的影響試樣的組成及元素間的影響試樣表面的處理顆粒度的影響成分波動的影響重疊影響高含量元素峰影響56樣品的制備及樣品樣品的制備及樣品與標樣的一致性與標樣的一致性熒光分析中標樣與分析樣品的一致性是影響分析結(jié)果的重要因素。有時甚至將一致性放在最重要的地位。最好使兩者具有：相似的組成、相似的狀態(tài)、相同的加工方式、

22、相似的大小在樣品制備中還要考慮：均勻、無夾雜、無氣孔、無污染、代表性等問題57 理想待測試樣應(yīng)滿足的條件理想待測試樣應(yīng)滿足的條件： 1.有足夠的代表性（因為熒光分析樣品的有效厚度一般只有10100） 2.試樣均勻。 3.表面平整、光潔、無裂紋。 4.試樣在射線照射及真空條件下應(yīng)該穩(wěn)定、不變型、不引起化學(xué)變化。 5.組織結(jié)構(gòu)一致!58 樣品的基本展示形態(tài)： 1.固體：鑄塊類；板、陶瓷、玻璃類；橡皮、木材、紙類 2.小零件類 3.粉末及壓塊 4.液體和溶液 5.支撐式樣品：薄膜和鍍層 6.熔融產(chǎn)物59 常用的制樣方法 1.1.金屬塊狀樣品和其它塊狀材料：金屬塊狀樣品和其它塊狀材料： 澆鑄-切割-磨

23、光或拋光或車制 要求：1、塊狀大小合適 2、有合適的平面且平整、光潔、 無裂紋、無氣孔 3、表面干凈無污染60 2.2.粉末樣品壓片法：粉末樣品壓片法： 一些脆性材料，如礦石、水泥、陶瓷、耐火材料、渣、部分合金可以制成粉末樣品。一般是以粒度200目以上為平均指標。一般疏松樣品不易成塊，壓片成型時可以加入10-15%的粘結(jié)劑，如甲基或乙基纖維素，淀粉，硼酸等。61 3 3、粉末樣品熔融法：、粉末樣品熔融法： 一些基體復(fù)雜，礦物效應(yīng)嚴重不能采用壓片法的可考慮熔融。 熔融一般使用5%黃金95%鉑金的坩堝，溶劑與粉體質(zhì)量比一般為為10：1，常用溶劑為Li2B4O7（熔點930）、LiBO2（熔點850

24、），常用的脫模劑為NaBr、LiF、NH4I、NH4Br。6263X X射線熒光分析技術(shù)射線熒光分析技術(shù)譜線重疊影響例：元素Ka（Kev/nm）Kb（Kev/nm）La（Kev/nm）Lb（Kev/nm）Cu8.04/0.1548.90/0.139Zn8.63/0.1439.57/0.129Pb10.55/0.11812.61/0.098As10.54/0.11711.72/0.10664吸收吸收增強效應(yīng)增強效應(yīng) 1.基體：不包括分析元素本身的其他組成。 2.產(chǎn)生吸收增效效應(yīng)的原因： 基體吸收初級線（較小但不容易修正） 基體吸收二次分析線（嚴重，但容易發(fā)現(xiàn)，容易修正） 基體元素發(fā)射出自身的特征

25、譜線，分析元素受基體元素特征譜線的激發(fā)而發(fā)射特征譜線（增強)65標準化和漂移校正 標準化（漂移校正）控樣分析66 標準化標準化 分析儀器因時間變化、計數(shù)器老化、分析儀器因時間變化、計數(shù)器老化、X X光管老化等引起工作曲線的偏離漂移。用高光管老化等引起工作曲線的偏離漂移。用高低標或高號標樣的測定強度與標準強度比較，再利用數(shù)學(xué)方法將測定的強度修正到標準低標或高號標樣的測定強度與標準強度比較，再利用數(shù)學(xué)方法將測定的強度修正到標準強度的過程叫做標準化。強度的過程叫做標準化。 1.用接近上限和下限的兩個標準試樣標準化叫做兩點標準化。 2.用接近上限的一個標準試樣標準化稱做一點標準化。 3.標準化樣品必須

26、均勻并能得到穩(wěn)定的譜線強度比。67控制試樣法控制試樣法 在實際工作中，由于分析試樣和標準試樣的差異，常使分析結(jié)果出現(xiàn)系統(tǒng)偏差，往往使用一個與分析試樣的狀態(tài)一致的控制試樣來確保分析結(jié)果?？貥訉嶋H是一個標樣，應(yīng)滿足控樣實際是一個標樣，應(yīng)滿足：控樣的含量與分析試樣的盡可能一致；控樣與試樣的冶金物理過程一致；控制試樣含量準確、成分均勻、無缺陷。在日常分析時，將控制樣與試樣在相同的條件下進行分析，通過點(R控,C控)作原曲線的平行線，這就是控樣法的校準曲線。68持久曲線持久曲線控制曲控制曲線線 C0 C控控 含量含量強強度度R69基本參數(shù)基本參數(shù)(FP)(FP)法法1 標準基本參數(shù)法 無標樣定量分析2 推定基本參數(shù)法 定性、定量分析分析3 定量基本參數(shù)法 少量標樣（12個）的精確定量分析4 背景基本參數(shù)法（BG-FP） （島津?qū)＠?0典 型 應(yīng) 用71X X射線熒光分析特點射線熒光分析特點1、X射線熒光分析的優(yōu)點 樣品處理相對簡單 峰背比較高,分析靈敏度高. 不破壞試樣,無損分析. 分析元素多(一般從892號),分析含量范圍廣ppm100%. 試樣形態(tài)多樣化,