世界科技的突飛猛進(jìn)離不開測量測試為之提供的精確依據(jù)

1、世界科技的突飛猛進(jìn)離不開測量測試為之提供的精確依據(jù)，測試測量發(fā)展的滯后將會阻礙科技乃至商業(yè)技術(shù)的進(jìn)步。高校的科研成果決定著各領(lǐng)域的技術(shù)與應(yīng)用創(chuàng)新；高校的教育成果更是決定著中國科技的未來！“科研測試”無疑是科研、教育成果轉(zhuǎn)化最有力的保障，同時(shí)“科研測試”領(lǐng)域設(shè)備的精密性、方法的專業(yè)性、技術(shù)的前瞻性、理念的創(chuàng)新性也是有目共睹的！ 傳達(dá)最新的技術(shù)動(dòng)向；促成開發(fā)者與應(yīng)用者的直接對話；挖掘與更新測試測量行業(yè)的教育資源是我們的責(zé)任與義務(wù)。此次“科研測試核心技術(shù)交流會”有幸邀請到中國測試測量界泰斗孫圣和教授、電子測量儀器和系統(tǒng)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者美國吉時(shí)利公司與各高校測試測量領(lǐng)域的科研與教育專家共同參與；有幸將世界

2、領(lǐng)先的測試測量技術(shù)展現(xiàn)給高校的科研工作者與教育工作者；有幸為各位專家、學(xué)者和世界頂尖的測試測量廠商搭建技術(shù)交流、信息共享的平臺！在此，我們真誠的邀請您一同探討電子儀器及傳感器的發(fā)展方向；體驗(yàn)世界頂級的微弱信號測試技術(shù)；應(yīng)對半導(dǎo)體特性分析測試的尖端技術(shù)挑戰(zhàn)；分享射頻信號測試的專業(yè)解決方案！科研測試核心技術(shù)交流會尊敬的 先生/女士：技術(shù)發(fā)展源于您的科技創(chuàng)新，行業(yè)振興歸功于您的辛勤耕耘，我們的進(jìn)步更要感謝您一直以來的關(guān)心與支持。在各界朋友的關(guān)注下，“科研測試技術(shù)交流會”即將隆重召開，在組委會的精心籌備下，此次會議不僅定位于搭建產(chǎn)、學(xué)、研、用的交流平臺，還旨在為行業(yè)的發(fā)展、技術(shù)的革新打開一扇創(chuàng)新之窗，

3、真正詮釋“技術(shù)驅(qū)動(dòng)應(yīng)用”的意義所在。主辦單位：儀器儀表學(xué)報(bào)、國外電子測量技術(shù)、電子測量技術(shù)、中國儀器與測量網(wǎng)、東北大學(xué)、控制工程、美國吉時(shí)利儀器公司時(shí)間：2008年1月9日下午14：00分地點(diǎn)：沈陽玫瑰大酒店三層郁金香多功能廳（沈陽市沈河區(qū)中街路201號）我們用真誠和熱情期待您的蒞臨?。ㄕ埬鷮脮r(shí)憑請柬報(bào)到） 會議流程時(shí)間主題演講人說明14:00-14:10致辭14:10-15:00微弱信號測試技術(shù)王中武從超導(dǎo), 熱電到量子點(diǎn)陣和炭納米管, 如今的科研研究對于微弱電信號的測量提出了更高的要求。本部分著重介紹微弱信號測量技術(shù)，讓更多從事微弱信號測量的科研人員了解到如何正確的運(yùn)用合適的技術(shù)和設(shè)備以達(dá)

4、到電流1x10-17A，電壓1x10-12V，電阻1x10-10W1x1020W，電荷1x10-16C，溫差1x10-6C 量級的測試。這些技術(shù)可以被廣泛的用于超導(dǎo)研究，材料科學(xué)，光電科學(xué)，生物技術(shù)以及鐵電體研究等等領(lǐng)域，為高校的科研工作者提供廣泛的測試選擇15:00-15:40電子儀器與傳感器孫圣和孫圣和教授是自動(dòng)化測試領(lǐng)域知名專家，長期從事該領(lǐng)域教學(xué)科研工作，創(chuàng)建了哈工大自動(dòng)化測試與控制研究所，取得多項(xiàng)重要的創(chuàng)造性成果。培養(yǎng)出三位獲得“中國百名優(yōu)秀博士論文獎(jiǎng)”的博士研究生。報(bào)告內(nèi)容包括1、電子儀器與傳感器的一般特性2、電子儀器及傳感器的發(fā)展方向15:40-15:50中場休息茶歇15:50-

5、16:50半導(dǎo)體特性分析測試的技術(shù)挑戰(zhàn)張志剛本專題以吉時(shí)利旗艦產(chǎn)品4200型半導(dǎo)體特性測試系統(tǒng)作橋梁，探討半導(dǎo)體特性分 析領(lǐng)域的機(jī)遇與挑戰(zhàn)，從4200型所實(shí)現(xiàn)的卓越功能（最低電流測量能力、多路源 測量單元擴(kuò)展能力、多功能外置儀器擴(kuò)展）分享吉時(shí)利在此領(lǐng)域的成功經(jīng)驗(yàn)。 本講還將著重介紹脈沖(Pulse IV)測試技術(shù)。與單純的DC測試不同,脈沖I-V測試讓您實(shí)現(xiàn)對當(dāng)今更快速, 尺寸更小的器件和尖 端材料的特性分析,同時(shí)避免能影響和干擾測試結(jié)果的自加熱問題。此外， 本講中也將介紹一些CV的測量的知識并分享吉時(shí)利在此領(lǐng)域的最新進(jìn)展。16:50-17:10提問及抽獎(jiǎng)報(bào)名表姓名：_先生/女士 部門/職務(wù)：_單位名稱：_詳細(xì)地址：_郵政編碼：_ _ _ _ 研究方向：_ 電 話：_ _ 傳 真：_