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文檔簡(jiǎn)介

1、可靠性基礎(chǔ)產(chǎn)品發(fā)展部:羅 堅(jiān)(內(nèi)部資料 密級(jí)管理)一、質(zhì)量和可靠性 1、質(zhì)量 2、可靠性二、可靠性概念 1、可靠性定義 2、可靠性基本術(shù)語(yǔ)三、可靠性測(cè)試 1、可靠性測(cè)試目的 2、可靠性測(cè)試 3、HALT & HASS & ORT四、可靠性增長(zhǎng) 1、MTBF設(shè)計(jì)目 2、可靠性模型 3、可靠性分配 五、可靠性設(shè)計(jì)1、降額設(shè)計(jì)2、冗余設(shè)計(jì)3、熱設(shè)計(jì)4、EMC設(shè)計(jì)5、田口設(shè)計(jì)六、 可靠性常見(jiàn)分布1、指數(shù)分布2、威布爾分布3、對(duì)數(shù)正態(tài)分布七、可靠性現(xiàn)狀及舉例 1、設(shè)計(jì)舉例 2、元器件舉例 3、存儲(chǔ)和貼裝舉例八、可靠性提升計(jì)劃 質(zhì)量: 滿足或超越客戶的需求和期待值。Quality of M

2、anagementQuality of ProcessesQuality of Products & Services 可靠性:產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力。Design QualitySupplier QualityMfg QualityProduct QualityInfrastructure QualityReliability* Mfg = Manufacturing 可靠性定義產(chǎn)品指零件,元器件,部件,設(shè)備或系統(tǒng)。規(guī)定的條件工作條件:電壓,負(fù)載,使用方法,維修方法,輸出功率等。環(huán)境條件:溫度,濕度,壓力,振動(dòng),沖擊,電場(chǎng),磁場(chǎng),電磁場(chǎng)等。儲(chǔ)存條件:運(yùn)輸,

3、保管等。 規(guī)定的時(shí)間 指產(chǎn)品的生命周期(如交換機(jī)壽命20年,手機(jī)壽命5年,手機(jī)劃蓋 工作壽命6萬(wàn)次,汽車壽命30萬(wàn)公里等)規(guī)定的功能 指產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)條件中所規(guī)定的各項(xiàng)技術(shù)性能(技術(shù)指標(biāo))。 可靠度 (電子產(chǎn)品服從指數(shù)分布)R=e-t 可靠性基本術(shù)語(yǔ)故障 指產(chǎn)品不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài)。(故障分類 GB/T 3187-94)應(yīng)力 外界各種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的破壞力 氣候應(yīng)力:高溫,低溫,潮濕,干燥,氣壓,日光,鹽霧等。 機(jī)械應(yīng)力:跌落,振動(dòng),沖擊,離心加速度等。 生物及化學(xué)環(huán)境應(yīng)力:昆蟲(chóng),霉菌,工業(yè)大氣,化學(xué)溶劑等。 電氣應(yīng)力:電壓,電流,靜電,電磁場(chǎng),射線等。MTBF(Mean Time Betw

4、een Failures) 指產(chǎn)品相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間-平均故障間隔(可維修)。失效率 指產(chǎn)品在 t 時(shí)刻失效的可能性,是失效間隔時(shí)間的倒數(shù)維修性 在規(guī)定條件下并按規(guī)定程序和手段實(shí)施維修,產(chǎn)品在規(guī)定使用條件 下保持或恢復(fù)執(zhí)行規(guī)定功能狀態(tài)的能力。 MTBF1=可靠性測(cè)試目的研發(fā)階段:對(duì)試樣進(jìn)行可靠性測(cè)試,找出產(chǎn)品在原材料,結(jié)構(gòu),工藝,環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問(wèn)題,而加以改進(jìn),經(jīng)過(guò)反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn)提高產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。中試階段:當(dāng)新產(chǎn)品定型后,根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)條件進(jìn)行鑒定試驗(yàn),以便全面考核產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。生產(chǎn)過(guò)程中:監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度(監(jiān)控原材料質(zhì)量變差或性能下降和工藝流程失

5、控)。目的總結(jié) 通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在失效模式 (Failure Mode) 探求失效機(jī)理 (Failure Mechanism) 優(yōu)化研發(fā)設(shè)計(jì),工藝流程 (Optimize design and process) 監(jiān)控原材料,工藝流程的改變 (Monitor raw material and process)可靠性測(cè)試類型1.高溫運(yùn)行和貯存(IEC60068-2-2)高溫運(yùn)行(研發(fā)):T max 產(chǎn)品技術(shù)條件溫度上限高溫貯存(研發(fā)):一般取T max + 20 2.低溫運(yùn)行和貯存 (IEC60068-2-1)低溫運(yùn)行(研發(fā)):T min 產(chǎn)品技術(shù)條件溫度下限低溫貯存(研發(fā)): 一般為 - 40

6、 3.在 - 40 下保持1h,在30秒內(nèi)溫度切換到T max + 20下保持1h,一般共做24個(gè)循環(huán)4.交變濕熱 (IEC60068-2-30) 一般高溫(55 )低濕(93%),低溫(25 )高濕(98%)循環(huán)6次,每個(gè)循環(huán)24小時(shí)濕度控制在5%左右可靠性測(cè)試類型5.鹽霧實(shí)驗(yàn)濃度為5%的NaCl溶液,時(shí)間24小時(shí)/168小時(shí)交變鹽霧測(cè)試參考 IEC60068-2-38, IEC60068-2-14, IEC60068-2-67, IEC60068-2-11, IEC60068-2-3, IEC60068-2-306.淋雨實(shí)驗(yàn) 考查產(chǎn)品的密封性(流量:10L/min;距離:0.5米;時(shí)間:5

7、分鐘;10分鐘或明或20分鐘)7.耐化學(xué)品實(shí)驗(yàn)?zāi)痛夹詼y(cè)試:無(wú)水酒精(99.5%),棉簽,砝碼,搽拭循環(huán)耐KOH, H2S, SO2耐化妝品測(cè)試:凡士林護(hù)手霜耐手汗測(cè)試(氨水1.07%; 氯化鈉0.48%; 水98.45%) 可靠性測(cè)試類型8.冷啟動(dòng)實(shí)驗(yàn)產(chǎn)品在低溫下保持0.52小時(shí),然后開(kāi)機(jī),產(chǎn)品應(yīng)能正常工作以上過(guò)程重復(fù)3次以上9.開(kāi)關(guān)電實(shí)驗(yàn)在高溫,低溫和濕熱條件下各開(kāi)關(guān)電3次以上,重復(fù)10次以上10.附著力實(shí)驗(yàn)用刀片在測(cè)試樣本表面劃10*10個(gè)1mm*1mm小網(wǎng)格,用3M膠紙粘在測(cè)試小格上,并用橡皮擦用力擦拭膠帶,用手抓住膠帶一端在垂直方向(90)迅速扯下膠帶,重復(fù)2次11.振動(dòng)實(shí)驗(yàn)工作狀態(tài):

8、IEC60068-2-6運(yùn)輸狀態(tài):IEC60068-2-64 可靠性測(cè)試類型12.跌落實(shí)驗(yàn) (Free Fall Test and Random Free Fall Test)六面八角十二棱測(cè)試條件按照美國(guó)軍標(biāo)MIL-STD-81013.EMC(Electric Magnetic Capability)EMI Electric Magnetic Interference 電磁干 (GB9254)EMS Electric Magnetic Susceptibility 電磁敏感 (GB/T17626)14. 其他實(shí)驗(yàn) 防塵防水,生物,日曬,雷擊,浪涌。 HALT & HASS &

9、 ORT1.HALT Highly Accelerated Life Test 高加速壽命試 (用在研發(fā)階段)HALT施加的應(yīng)力以遞增的形式變化,激發(fā)產(chǎn)品設(shè)計(jì)中潛伏 的各種缺陷,直到產(chǎn)品的破壞極限HALT試驗(yàn)是在超出規(guī)范極限以外進(jìn)行,具有很高的效率在HALT試驗(yàn)中出現(xiàn)的潛在失效模式是在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)所出現(xiàn)的HALT的目的是查明和排除設(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié),評(píng)估產(chǎn)品可靠 性,不評(píng)估因制造引起的失效為HASS試驗(yàn)的應(yīng)力類型和應(yīng)力量級(jí)選擇提供依據(jù)HALT試驗(yàn)過(guò)程:試驗(yàn) 修正 再試驗(yàn) 修正 再試驗(yàn) - . . .試驗(yàn):溫度應(yīng)力 - 高速溫度傳導(dǎo) - 隨機(jī)振動(dòng) - 溫度與振動(dòng)合并應(yīng)力(有時(shí)候會(huì)加入電壓循環(huán)應(yīng)力)HAL

10、T & HASS & ORTHASS Highly Accelerated Stress Screen 高加速應(yīng)力篩選 -(用在生產(chǎn)制造量產(chǎn)階段)目的是在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)量產(chǎn)成品是否有工藝品質(zhì)上的不良存在 將HALT合并應(yīng)力中的高、低溫度的可操作界限縮小20%振動(dòng)條件則以HALT破壞界限值的50%為基準(zhǔn) ORT On going Reliability Test 可靠性測(cè)(用于大量生產(chǎn)制造階段)監(jiān)控生產(chǎn)制程和來(lái)料的質(zhì)量穩(wěn)定性HALT和HASS需試驗(yàn)設(shè)備:液氮快速制冷箱,氣動(dòng)式三軸六自由度振動(dòng)臺(tái),多應(yīng)力綜合試驗(yàn)系統(tǒng)(可選)MTBF設(shè)計(jì)目標(biāo)值 為了使產(chǎn)品的MTBF達(dá)到一定的最基本的

11、要求,在設(shè)計(jì)階段所定目標(biāo)值最小是實(shí)現(xiàn)使用要求值的4倍(一般510倍)可靠性模型可靠性方框圖和可靠性數(shù)學(xué)模型產(chǎn)品典型可靠性模型有串聯(lián)和并聯(lián)模型可靠性分配等分配法(將MTBF均分到各個(gè)模塊)評(píng)分分配法 (根據(jù)QFD來(lái)分配各部件MTBF) 注:QFD Quality Functional Deployment (質(zhì)量功能展開(kāi)) 降額設(shè)計(jì)指構(gòu)成電子設(shè)備的元器件使用中所承受的應(yīng)力(電應(yīng)力和溫度應(yīng)力)低于元器件本身的額定值,以達(dá)到延緩其參數(shù)退化,增加工作壽命,提高可靠性。降額降得太多,選用元器件在性能就應(yīng)該越好,成本也就越高,所以須綜合考慮另外有些元器件不可以降額使用尤其是低質(zhì)量元件 *如聚苯乙烯電容器,

12、降額太大易產(chǎn)生低電平失效*降額通用標(biāo)準(zhǔn)元器件降額準(zhǔn)則一覽表 冗余設(shè)計(jì)冗余設(shè)計(jì)技術(shù)簡(jiǎn)而言之就是用一臺(tái)(套)或多臺(tái)(套)相同單元(系統(tǒng))構(gòu)成并聯(lián)(可采用熱備冗余、溫備冗余、冷備冗余等方式),當(dāng)其中的一套單元發(fā)生故障時(shí),系統(tǒng)仍能正常工作的設(shè)計(jì)技術(shù)。 冗余設(shè)計(jì)會(huì)增加系統(tǒng)的體積和成本只需要選取可靠性薄弱環(huán)節(jié)或?qū)?zhí)行任務(wù)及安全性影響至關(guān)重要的單元進(jìn)行此類設(shè)計(jì)如果提高單元的元器件可靠性可以與進(jìn)行冗余設(shè)計(jì)有相同可靠性水平,那就選用高可靠性元器件尤其對(duì)長(zhǎng)期工作的通訊產(chǎn)品熱設(shè)計(jì)目的:避免產(chǎn)品在過(guò)高溫度下工作,避免參數(shù)漂移,保持電氣性能穩(wěn)定,提升產(chǎn)品可靠性,延長(zhǎng)使用壽命電子設(shè)備中熱設(shè)計(jì)必須滿足兩個(gè)條件;把系統(tǒng)和元器

13、件的溫度限定在一定的范圍內(nèi);盡量使系統(tǒng)各點(diǎn)間的溫差最小 熱設(shè)計(jì)包括散熱設(shè)計(jì)技術(shù)和致冷設(shè)計(jì)技術(shù)常用技術(shù):傳導(dǎo),自然對(duì)流,輻射,熱敏器件遠(yuǎn)離熱源或屏蔽,增加表面黑度提高輻射換熱能力,導(dǎo)熱管,避免熱風(fēng)回流(進(jìn)氣口和排氣口有足夠距離),強(qiáng)迫通風(fēng)和自然通風(fēng)方向一致等 EMC設(shè)計(jì)EMC Electric Magnetic Compatibility EMI Electric Magnetic Interference (干擾別人 )EMS Electric Magnetic Susceptivity (別人干擾自已 )EMC 三要素干擾源敏感設(shè)備傳播途徑設(shè)計(jì)方法靜電放電防護(hù)(屏蔽結(jié)構(gòu),單點(diǎn)接地等)屏蔽接地

14、濾波內(nèi)部設(shè)計(jì)(PCB板)三次設(shè)計(jì)法(田口玄一設(shè)計(jì)法)系統(tǒng)設(shè)計(jì)(提出初始設(shè)計(jì)方案)TRIZ (Theory of Inventive Problem Solving) 發(fā)明問(wèn)題的解決理論DFMEA (Design Failure Mode and Effect Analysis)參數(shù)設(shè)計(jì)(尋求參數(shù)的最佳搭配,提高可靠性)靜態(tài)參數(shù)設(shè)計(jì)(DOE Design of Experiment )能滿足使用環(huán)境條件的最低質(zhì)量等級(jí)的元件和性價(jià)比高的加工精度來(lái)進(jìn)行設(shè)計(jì)容差設(shè)計(jì)(對(duì)關(guān)鍵器件以合適的公差范圍)望目質(zhì)量損失函數(shù)望小質(zhì)量損失函數(shù)望大質(zhì)量損失函數(shù)貢獻(xiàn)率法(單因素和多因素)指數(shù)分布(正向傾斜分布)產(chǎn)品首次發(fā)

15、生故障的時(shí)間或發(fā)生故障后需維修時(shí)間服從方程 500400300200100020100指數(shù)FrequencyR=e-t Weibull 分布(威布爾分布)威布爾分布是根據(jù)最弱環(huán)節(jié)模型或串聯(lián)模型得到的,能充分反映材料缺陷和應(yīng)力集中源對(duì)材料疲勞壽命的影響,而且具有遞增的失效率,所以,將它作為材料或零件的壽命分布模型或給定壽命下的疲勞強(qiáng)度模型是合適的。方程: 對(duì)數(shù)正態(tài)分布 (Lognormal Distribution)對(duì)數(shù)正態(tài)分布主要要用來(lái)描述圓柱螺旋彈簧、軸向受載螺栓、齒輪的接觸疲勞及彎曲疲勞、軸以及鋼、鋁合金等的疲勞壽命分布 方程: 010020030001020Frequency正態(tài) 設(shè)計(jì)舉例 1、MC33152供電冗余不夠?qū)е缕骷龤?3V9更改為6V8) 2、限流電阻冗余設(shè)計(jì)不夠,導(dǎo)致電流大(1K

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