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1、無損檢測(cè)新技術(shù)的發(fā)無損檢測(cè)新技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用展與應(yīng)用劉建屏無損檢測(cè)定義 現(xiàn)代無損檢測(cè)的定義現(xiàn)代無損檢測(cè)的定義: 在不損壞試件的前提下,以物理或化學(xué)方法為手段,借助先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備儀器,對(duì)試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu),性質(zhì),狀態(tài)進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。一、5大常規(guī)無損檢測(cè)方法:超聲檢測(cè)(UT)射線檢測(cè)(RT)磁粉檢測(cè)(MT)滲透檢測(cè)(UT)渦流檢測(cè)(ET)其他無損檢測(cè)方法: 超聲波導(dǎo)波檢測(cè)技術(shù) 低頻電磁檢測(cè) 低頻渦流(LFEC)檢測(cè) 超聲相控陣技術(shù) 超聲波TOFD技術(shù) 數(shù)字射線照相技術(shù) 聲發(fā)射超聲檢測(cè)基本原理超聲檢測(cè)基本原理在電廠中的應(yīng)用 常規(guī)超聲檢測(cè)應(yīng)用: 管道焊縫、管道彎頭、容器、聯(lián)箱、螺栓、轉(zhuǎn)子軸

2、頸、護(hù)環(huán)、軸瓦、鋼結(jié)構(gòu)等。超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性包括如下:超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性包括如下:1. 面積型缺陷的檢出率較高,而體積型缺陷的檢出率較低2. 適合檢驗(yàn)厚度較大的工件,不適合檢驗(yàn)較薄的工件。如小于8mm的焊縫和6mm的板材。3. 應(yīng)用范圍廣,可用于各種試件。4. 檢測(cè)成本低、速度快,儀器體積小,重量輕,現(xiàn)場(chǎng)使用較方便。5. 無法得到缺陷直觀圖像,定性困難,定量精度不高6. 檢測(cè)結(jié)果無直接見記錄7. 對(duì)缺陷在工件厚度方向上的定位較準(zhǔn)確8. 材質(zhì)、晶粒度對(duì)探傷有影響9. 工件不規(guī)則的外形和一些結(jié)構(gòu)會(huì)影響檢測(cè)10.不平或粗糙的表面會(huì)影響耦合和掃查,從而影響檢測(cè)精度和可靠性。磁粉檢測(cè)原理 射

3、線檢測(cè)基本原理射線檢測(cè)技術(shù)在電廠中的應(yīng)用:射線檢測(cè)技術(shù)在電廠中的應(yīng)用:小徑管焊縫等。射線檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性:射線檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性:1. 檢測(cè)結(jié)果有直接記錄-底片2. 可以獲得缺陷的投影圖像,缺陷定性定量準(zhǔn)確3. 體積型缺陷的檢出率很高。而面積型缺陷的檢出率受多種因素的影響。4. 適宜檢驗(yàn)較薄的工件而不適宜較厚的工件5. 適宜檢測(cè)對(duì)接焊縫,檢測(cè)角焊縫效果較差,不適宜檢測(cè)板材、棒材、鍛件6. 有些試件結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場(chǎng)條件不適合射線照相7. 對(duì)缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸(高度)的確定比較困難8. 檢測(cè)成本高9. 射線照相檢測(cè)速度慢10. 射線對(duì)人體有傷害滲透檢測(cè)原理 滲透檢測(cè)技術(shù)在電廠中的應(yīng)用:管

4、道焊縫、管道彎頭、壓力容器、聯(lián)箱、轉(zhuǎn)子軸頸、葉片、護(hù)環(huán)、軸瓦、鋼結(jié)構(gòu)等。滲透檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性概括如下:1.滲透檢測(cè)可用于除了疏松多孔材料外任何種類的材料。2.形狀復(fù)雜的不見也可用滲透檢測(cè),并一次操作就可大致做到全面檢測(cè)。3.同時(shí)存在幾個(gè)方向的缺陷,用一次探傷操作盡可以完成檢測(cè)。4.不需要大型的設(shè)備,可不用水、電。5.試件表面粗糙度影響大,探傷結(jié)果往往容易受操作人員水平的影響6.可以檢出表面開口的缺陷,但對(duì)埋藏缺陷或閉合型的表面缺陷無法檢出。7.檢測(cè)工序多,速度慢。8.檢測(cè)靈敏度比側(cè)分探傷低9.材料較貴,成本較高10.滲透檢測(cè)所用的檢測(cè)劑大多易燃有毒,必須采取有效措施保證安全。渦流檢測(cè)原理渦流

5、檢測(cè)二、無損檢測(cè)新技術(shù)簡(jiǎn)介:二、無損檢測(cè)新技術(shù)簡(jiǎn)介:?jiǎn)蝹€(gè)渦流探頭與陣列渦流探頭一次檢測(cè)過程對(duì)比示意陣列渦流陣列渦流線圈之間的多路技術(shù)陣列渦流陣列渦流的應(yīng)用:陣列渦流的應(yīng)用:渦流陣列具有透過導(dǎo)電材料上的薄涂層進(jìn)行檢測(cè)的獨(dú)特性能。與現(xiàn)有的檢測(cè)方式相比,如:滲透、磁粉或磁光成像(MOI)檢測(cè),這個(gè)性能具有極大的優(yōu)勢(shì),因?yàn)橥耆∪チ藱z測(cè)前去除漆層或鍍層,檢測(cè)后再重新涂上漆層或鍍層的步驟。隨著時(shí)間的推移,這種檢測(cè)方式可以為用戶節(jié)省大量的成本,而且最重要的是不使用化學(xué)制劑進(jìn)行檢測(cè)。陣列渦流檢驗(yàn)實(shí)例陣列渦流檢驗(yàn)實(shí)例使用滲透檢測(cè)工件使用陣列渦流檢測(cè)工件,得到的C掃描圖像,靈敏度可調(diào)含人工缺陷的管材試件陣列渦流

6、的3D成像渦流陣列技術(shù)是近十年內(nèi)出現(xiàn)的一項(xiàng)新的渦流檢測(cè)技術(shù),它將多個(gè)渦流檢測(cè)線圈進(jìn)行特殊設(shè)計(jì)封裝,并借助計(jì)算機(jī)對(duì)激勵(lì)次序快速控制和處理,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)材料和零件快速、有效地檢測(cè),其主要優(yōu)點(diǎn)表現(xiàn)為: 快速檢測(cè); 一次檢測(cè)區(qū)域更大; 復(fù)雜工件檢測(cè)時(shí)具有更好的穩(wěn)定性; 更高的缺陷檢測(cè)能力; 通過編碼器記錄可以對(duì)缺陷進(jìn)行定位和測(cè)量; 計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告,便于后續(xù)跟蹤記錄; 更簡(jiǎn)單的掃查模式可以降低掃查裝置成本; 可以用于檢測(cè)受限制部位; 無化學(xué)成分,不需要清理,綠色環(huán)保; 可以很好地與超聲檢測(cè)聯(lián)合使用。TOFD技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用P91、P92弧坑裂紋的監(jiān)控相控陣檢測(cè)技術(shù)線性陣的波束角度控制焊縫檢測(cè)T型接頭

7、Y型接頭縱樹型葉根的檢測(cè)隔板隔板主焊縫的檢測(cè):水電接頭相控陣檢測(cè)水電接頭相控陣檢測(cè)水電接頭的檢測(cè):電磁導(dǎo)波檢測(cè)技術(shù)電磁聲傳感器基本原理示意圖板中的導(dǎo)波Lamb波形成機(jī)理受熱面管縱向缺陷檢測(cè) 受熱面管橫向缺陷檢測(cè)儲(chǔ)罐檢測(cè)在役容器檢測(cè)電磁導(dǎo)波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn): 1)無需任何耦合劑。 2)靈活地產(chǎn)生各類波形。 3)對(duì)被探工件表面質(zhì)量要求不高。 4)檢測(cè)速度快。傳統(tǒng)的壓電超聲的檢測(cè)速度難以達(dá)到一個(gè)新的水平20米/分鐘(國(guó)產(chǎn)設(shè)備),而EMAT可達(dá)到40米/分鐘,甚至更快。 5)聲波傳播距離遠(yuǎn)。 6)所用通道與探頭的數(shù)量少。在實(shí)現(xiàn)同樣功能的前題下,EMAT探傷設(shè)備所選用的通道數(shù)和探頭數(shù)少于壓電超聲。局限性: 1)電磁導(dǎo)波檢測(cè)需要通過實(shí)驗(yàn)選擇最佳頻率。 2)受焊縫余高(焊縫橫截面)不均勻而影響評(píng)價(jià)的準(zhǔn)確程度; 3)超聲導(dǎo)波的有效檢測(cè)距離除了與導(dǎo)波的頻率、模式有關(guān)外,還于管道保溫層以及管道本身的腐蝕情況與程度等相關(guān); 4)超聲導(dǎo)波一次檢測(cè)距離段不宜有過多彎頭(一般不宜超過2

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