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文檔簡(jiǎn)介

1、按經(jīng)典力學(xué)的觀點(diǎn):若EV。時(shí), 粒子才糍穿過(guò)壘區(qū)。量子力學(xué)觀點(diǎn)：由于微觀粒子不能忽略的波動(dòng)性，即使EV。，也將有部分粒子進(jìn)入或穿過(guò)壘區(qū)。這種低能微觀粒子貫穿勢(shì)壘的現(xiàn)象稱為隧道效應(yīng)。1928 年，喬治伽莫夫用量子隧穿效應(yīng)成功地解釋了原子核的 衰變。 + U ) sAKexp(VJ0TT)(21K210) sAexp(VJ2/1TT恒電流模式恒電流模式:利用一套電子反饋線路控制隧道電流 I ，使其保持恒定。再通過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)控制針尖在樣品表面掃描，使針尖沿x、y兩個(gè)方向作二維運(yùn)動(dòng)。由于要控制隧道電流 I 不變，針尖與樣品表面之間的局域高度也會(huì)保持不變，因而針尖就會(huì)隨著樣品表面的高低起伏而作相同的起伏

2、運(yùn)動(dòng)，高度的信息也就由此反映出來(lái)。這就是說(shuō)，STM得到了樣品表面的三維立體信息。這種工作方式獲取圖象信息全面，顯微圖象質(zhì)量高，應(yīng)用廣泛。 恒高度模式恒高度模式在Si(111)-(77)表面自組織生長(zhǎng)二維Ge團(tuán)簇超晶格，物理學(xué)報(bào)，Vol51，1017（2002）局限性STM的恒電流工作模式下，有時(shí)它對(duì)樣品表面微粒之間的某些溝槽不能夠準(zhǔn)確探測(cè)，與此相關(guān)的分辨率較差。在恒高度工作方式下，從原理上這種局限性會(huì)有所改善。但只有采用非常尖銳的探針，其針尖半徑應(yīng)遠(yuǎn)小于粒子之間的距離，才能避免這種缺陷。STM所觀察的樣品必須具有一定程度的導(dǎo)電性，對(duì)于半導(dǎo)體，觀測(cè)的效果就差于導(dǎo)體；對(duì)于絕緣體則根本無(wú)法直接觀察。在STM基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的各種新型顯微鏡原子間范德華力原子間范德華力硬件架構(gòu)：在原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）的系統(tǒng)中，可分成三個(gè)部分：力檢測(cè)部分、位置檢測(cè)部分、反饋系統(tǒng)。2SiON108nAFM可以滿足多種不同樣品的要求，用于多種系統(tǒng)的成像n量子點(diǎn)n生物分子n多聚體n單體的自組裝沉積于云母片上的抗體分子的 AFM成像?？諝庵?，室溫。由于抗 體分子沉積于支持物的方向不同， 而表現(xiàn)出幾種形態(tài)

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