XBAR-R_SPC教材ppt課件

1、spcSPC(Statistical Process Control)統(tǒng)計(jì)制程控制.控制圖 上控制限 中心限 下控制限1、搜集搜集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限 識(shí)別變差的特殊緣由并采取措施3、分析及改良確定普通緣由變差的大小并采取減小它的措施反復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改良過程.控制圖類型計(jì)量型數(shù)據(jù)X-R 均值和極差圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)P chart 不良率管制圖 X-均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖nP chart 不良數(shù)管制圖X -R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 X-MR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 .均值和極差圖X-R 1、搜集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組方式報(bào)

2、告，子組通常包括2-5件延續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 注：應(yīng)制定一個(gè)搜集數(shù)據(jù)的方案，將其作為搜集、記錄及描圖的根據(jù)。1-1 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 1-1-1 子組大?。浩胀?件延續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具/沖頭/過程 流等。注：數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 消費(fèi)出來的零件，即一個(gè)單一的消費(fèi)流。 1-1-2 子組頻率：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)搜集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才干 反映潛在的變化，這些變化緣由能夠是換班/操作人 員改換/資料批次不同等緣由引起。對(duì)正在消費(fèi)的產(chǎn) 品進(jìn)展監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班2次，或一小時(shí)一 次等。 .接上頁(yè)1-1-3 子組數(shù)：子組越多，變差越有時(shí)機(jī)出現(xiàn)。普通為25組，初次

3、使 用控制圖選用35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 1-2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 見以下圖 .1-3、計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差R 對(duì)每個(gè)子組計(jì)算： X=X1+X2+Xn/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 為子組內(nèi)的每個(gè)丈量值。n 表示子組 的樣本容量1-4、選擇控制圖的刻度 4-1 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的丈量值。 4-2 刻度選擇 ：.接上頁(yè) 對(duì)于X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值X的最大值與最小值的差的2倍，對(duì)于R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差R的2倍。 注：一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為

4、 X 圖刻度值的2倍。 例如：平均值圖上1個(gè)刻度代表0.01英寸，那么在極差圖上 1個(gè)刻度代表0.02英寸1-5、將均值和極差畫到控制圖上 5-1 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，閱讀各點(diǎn)能否 合理，有無很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖能否正確。 5-2 確保所畫的X 和R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注：對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研討字樣。.計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 2-1 計(jì)算平均極差R及過程均值X R=R1+R2+Rk/ kK表示子組數(shù)量 X =X1+X2+Xk/ k 2-2 計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普

5、通緣由時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決議的。 計(jì)算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R .接上頁(yè) 注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決議于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31 注： 對(duì)于樣本容量小于7的情況，LCLR能夠技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味

6、著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為6的子組，6個(gè)“同樣的丈量結(jié)果是能夠成立的。 .2-3 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 各控制限畫成虛線。 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX 注：在初始研討階段，應(yīng)注明實(shí)驗(yàn)控制限。過程控制分析 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 即其中之一或兩者均不受控進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?注1：R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)展比較，了解影響過程 的特殊緣由。 注2：由于子組極差或子組均值的才干都取決于零件間的變差， 因此，首先應(yīng)分析R圖。.3-1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)3-1-1 超出控制限的點(diǎn)a

7、出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控形狀的主要 證據(jù)，應(yīng)分析。b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常闡明存在以下情況中的一種或幾種： b.1 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) b.2 零件間的變化性或分布的寬度已增大(即變壞 b.3 丈量系統(tǒng)變化如：不同的檢驗(yàn)員或量具 c 有一點(diǎn)位于控制限之下，闡明存在以下情況的一種或多種 c.1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) c.2 分布的寬度變小變好 c.3 丈量系統(tǒng)已改動(dòng)包括數(shù)據(jù)編輯或變換 .不受控制的過程的極差有超越控制限的點(diǎn)UCLLCLUCLLCL R R受控制的過程的極差.3-1-2 鏈- 有以下景象之闡明過程已改動(dòng)或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 延續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； 延續(xù)7

8、點(diǎn)延續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈闡明存在以下情況之一或全部： a-1 輸出值的分布寬度添加，緣由能夠是無規(guī)律的例如：設(shè)備任務(wù)不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng)或是由于過程中的某要素變化如運(yùn)用新 的不一致的原資料，這些問題都是常見的問題，需求糾正。 a-2 丈量系統(tǒng)的改動(dòng)如新的檢驗(yàn)人或新的量具)。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈闡明存在以下情況之一或全部： b-1 輸出值的分布寬度減小，好形狀 。 b-2 丈量系統(tǒng)的改好。 注1：當(dāng)子組數(shù)n變得更小5或更小時(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的能夠 性添加，那么8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才干闡明過程變差減小。.注2：標(biāo)注這些使人們作出決議的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸

9、到鏈的開場(chǎng)點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)思索開場(chǎng)出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。.UCLLCL RUCL RLCL 不受控制的過程的極差存在高于和低于極差均值的兩種鏈不受控制的過程的極差存在長(zhǎng)的上升鏈.3-1-3 明顯的非隨機(jī)圖形a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。b 普通情況，各點(diǎn)與R 的間隔：大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域。 C 假設(shè)顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處對(duì)于25子組，假設(shè)超越90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域，那么應(yīng)對(duì)以下情況的一種或更多進(jìn)展調(diào)查： c-1 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算

10、錯(cuò)描錯(cuò) 。 c-2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的丈量值如：從幾組 軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)。 c-3 數(shù)據(jù)曾經(jīng)過編輯極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除。 .d 假設(shè)顯著少余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處對(duì)于 25子組，假設(shè)有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域，那么應(yīng)對(duì)以下情況的一種或更多進(jìn)展調(diào)查： d-1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 d-2 過程或取樣方法呵斥延續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的丈量值如：輸入資料批次混 淆。 注：假設(shè)存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。3-2 識(shí)別并標(biāo)注一切特殊緣由極差圖a

11、 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊緣由進(jìn)展標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該緣由并改良，防止再發(fā)生。b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立刻開 始分析過程緣由。 .3-3 重新計(jì)算控制限極差圖 a 在進(jìn)展初次過程研討或重新評(píng)定過程才干時(shí)，失控的緣由已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除一切已被識(shí)別并處理或固定下來的特殊緣由 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差R和控制限，并畫下來， 使一切點(diǎn)均處于受控形狀。b 由于出現(xiàn)特殊緣由而從R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從X圖中去掉。 修正后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的實(shí)驗(yàn)控制限，X A2R 。注：排除代

12、表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)。而是排除受知的特殊緣由影響的點(diǎn)。并且一定要改動(dòng)過程，以使特殊緣由不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。.3-4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)3-4-1 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常闡明存在以下情況之一或更多： a-1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a-2 過程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)能夠是一件獨(dú)立的 事件或是一種趨勢(shì)的一部分。 a-3 丈量系統(tǒng)發(fā)生變化例如：不同的量具或QC .不受控制的過程的均值有一點(diǎn)超越控制限 受控制的過程的均值UCLLCL XLCLUCL X.3-4-2 鏈- 有以下景象之闡明過程已改動(dòng)或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 延續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或7點(diǎn)延續(xù)上升或下

13、降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常闡明出現(xiàn)以下情況之一或兩者。 a-1 過程均值已改動(dòng) a-2 丈量系統(tǒng)已改動(dòng)漂移，偏向，靈敏度注：標(biāo)注這些使人們作出決議的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開場(chǎng)點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)思索開場(chǎng)出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 .不受控制的過程的均值長(zhǎng)的上升鏈不受控制的過程的均值出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈UCL XLCLUCL XLCL.3-4-3 明顯的非隨機(jī)圖形a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。b 普通情況，各點(diǎn)與 X的間隔：大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)

14、域；1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處位于外1/3的區(qū)域。c 假設(shè)顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處對(duì)于25子組， 假設(shè)超越90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域，那么應(yīng)對(duì)以下情況的 一種或更多進(jìn)展調(diào)查： c-1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) c-2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不 同的過程均值的過程流的丈量值如：從 幾組軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)。 . c-3 數(shù)據(jù)曾經(jīng)過編輯(極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除d 假設(shè)顯著少余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處對(duì)于25子組， 如 果有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域，那么應(yīng)對(duì)以下情況的一 種或更多進(jìn)展調(diào)查： d-

15、1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 d-2 過程或取樣方法呵斥延續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過程流的丈量值這能夠是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)展 過度 控制呵斥的，這里過程改動(dòng)是對(duì)過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的呼應(yīng)。 注：假設(shè)存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。.UCL XLCLUCL XLCL均值失控的過程點(diǎn)離過程均值太近均值失控的過程點(diǎn)離控制限太近.3-5 識(shí)別并標(biāo)注一切特殊緣由均值圖 a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控形狀的條件進(jìn)展一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊緣由的理由，糾正該形狀， 防止再發(fā)生。b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立刻開 始分析過程緣由。 3-6 重新計(jì)算控制

16、限均值圖 在進(jìn)展初次過程研討或重新評(píng)定過程才干時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并處理了的特殊緣由的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程 均值 X 和控制限，使一切點(diǎn)均處于受控形狀。 .過程才干分析控制圖判讀1、過程才干分析-5.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-1判斷失控的規(guī)則樣本點(diǎn)落在控制界限之外連續(xù)9點(diǎn)在同側(cè)的C區(qū)或C區(qū)之外ABCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-2連續(xù)6點(diǎn)以上持續(xù)地上升或下降A(chǔ)BCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-3連續(xù)11點(diǎn)交互一升一降A(chǔ)BCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-4相連3點(diǎn)中有2點(diǎn)在同側(cè)

17、的A區(qū)或A區(qū)之外ABCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-5相連5點(diǎn)中有4點(diǎn)在同側(cè)的B區(qū)或B區(qū)之外ABCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-6連續(xù)15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)的C區(qū)ABCCBAUCLLCLCL.過程才干分析控制圖判讀2、控制圖判讀-6有8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但C區(qū)並無點(diǎn)子ABCCBAUCLLCLCL.3-7 為了繼續(xù)進(jìn)展控制延伸控制限a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在實(shí)驗(yàn)控制限之內(nèi)即控制限確定后，延伸控 制限，將其作為未來的一段時(shí)期的控制限。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，例如：減少樣本容量，添加抽樣頻率 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： b -1 估計(jì)過

18、程的規(guī)范偏向用 表示，用現(xiàn)有的子組容 量計(jì)算： = R/d2 式中R為子組極差的均值在極差受控期間， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08.b 2 按照新的子組容量查表得到系數(shù)d2 、D3、D4 和 A2，計(jì)算新 的極差和控制限： R新 = d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。.4 過程才干分析 假設(shè)曾經(jīng)確定一個(gè)過程已處于統(tǒng)計(jì)控制形狀，還存在過程是 否有才干滿足顧客需求的問題時(shí)； 普通講，控制形狀穩(wěn)定， 闡明不存在特殊緣由引起的變差，而才干反映普通緣由引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙?duì)系統(tǒng)采取措施來提高才干，過程能 力經(jīng)過規(guī)范偏向來評(píng)價(jià)。 . 帶有不同程度的變差的可以符合規(guī)范的過程一切的輸出都在規(guī)范之內(nèi)規(guī)范下限 LCL規(guī)范上限 UCL范圍 LCL UCL范圍不能符合規(guī)范的過程有超越一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出 LCL LCL UCL UCL范圍范圍.規(guī)范偏向與極差的關(guān)系對(duì)于給定的樣本容量,平均極差-R越大,規(guī)范偏向- 越大X范圍范圍XX范圍RRR.4-1 計(jì)算過程的規(guī)范偏向 = R/d2 R 是子組極差的平均值，d2 是隨