《材料分析測試技術》試卷(答案)剖析

1、材料分析測試技術試卷（答案）一、填空題：（20分，每空一分）X射線管主要由陽極、陰極、和窗口構成。X射線透過物質時產(chǎn)生的物理效應有：散射、光電效應、透射X射線和，遜。德拜照相法中的底片安裝方法有：正裝、反裝和偏裝三種。X射線物相分析方法分：定性分析和定量分析兩種；測鋼中殘余奧氏體的直接比較法就屬于其中的定量分析方法。透射電子顯微鏡的分辨率主要受衍射效應和像差兩因素影響。今天復型技術主要應用于萃取復型來揭取第二相微小顆粒進行分析。電子探針包括波譜儀和能譜儀成分分析儀器。掃描電子顯微鏡常用的信號是二次電子和背散射電子二、選擇題：（8分，每題一分）X射線衍射方法中最常用的方法是（b）。a.勞厄法；b

2、.粉末多晶法；c.周轉晶體法。已知X光管是銅靶，應選擇的濾波片材料是（b）。a.Co；b.Ni；c.Fe。X射線物相定性分析方法中有三種索引，如果已知物質名時可以采用（c）。a.哈氏無機數(shù)值索引；b.芬克無機數(shù)值索引；c.戴維無機字母索引。能提高透射電鏡成像襯度的可動光闌是（b）。a.第二聚光鏡光闌；b.物鏡光闌；c.選區(qū)光闌。透射電子顯微鏡中可以消除的像差是（b）。a.球差；b.像散；c.色差?？梢詭椭覀児烙嫎悠泛穸鹊膹碗s衍射花樣是（a）。a.高階勞厄斑點；b.超結構斑點；c.二次衍射斑點。電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號中可用于分析1nm厚表層成分的信號是（b）。a.背散射電子；b

3、.俄歇電子；c.特征X射線。中心暗場像的成像操作方法是（c）。a.以物鏡光欄套住透射斑；b.以物鏡光欄套住衍射斑；c.將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑。三、問答題：（24分，每題8分）X射線衍射儀法中對粉末多晶樣品的要求是什么？答：X射線衍射儀法中樣品是塊狀粉末樣品，首先要求粉末粒度要大小適中，在lum-5um之間；其次粉末不能有應力和織構；最后是樣品有一個最佳厚度（t=分析型透射電子顯微鏡的主要組成部分是哪些？它有哪些功能？在材料科學中有什么應用？答：透射電子顯微鏡的主要組成部分是：照明系統(tǒng)，成像系統(tǒng)和觀察記錄系統(tǒng)。透射電鏡有兩大主要功能，即觀察材料內部組織形貌和進行電子衍射以了解選區(qū)

4、的晶體結構。分析型透鏡除此以外還可以增加特征X射線探頭、二次電子探頭等以增加成分分析和表面形貌觀察功能。改變樣品臺可以實現(xiàn)高溫、低溫和拉伸狀態(tài)下進行樣品分析。透射電子顯微鏡在材料科學研究中的應用非常廣泛。可以進行材料組織形貌觀察、研究材料的相變規(guī)律、探索晶體缺陷對材料性能的影響、分析材料失效原因、剖析材料成分、組成及經(jīng)過的加工工藝等。什么是缺陷的不可見性判據(jù)？如何用不可見性判據(jù)來確定位錯的布氏矢量？答：所謂缺陷的不可見性判據(jù)是指當晶體缺陷位移矢量所引起的附加相位角正好是n的整數(shù)倍時，有缺陷部分和沒有缺陷部分的樣品下表面衍射強度相同，因此沒有襯度差別，故而看不缺陷。利用缺陷的不可見性判據(jù)可以來確

5、定位錯的布氏矢量。具體做法是先看到位錯，然后轉動樣品，選擇一個操作反射g,使得位錯不可見。這說明g和位錯布氏矢量垂直；再選擇另一個操作反射g2,使得位錯不可見；那么gxg2就等于位錯布氏矢量b。四、證明題：20分證明衍射分析中的厄瓦爾德球圖解與布拉格方程等價。以入射X射線的波長入的倒數(shù)為半徑作一球（厄瓦爾德球），將試樣放在球心0處，入射線經(jīng)試樣與球相交于0*；以0*為倒易原點，若任一倒易點G落在厄瓦爾德球面上，則G對應的晶面滿足衍射條件產(chǎn)生衍射。證明：如圖，令入射方向矢量為k（k=1/入），衍射方向矢量為k,衍射矢量為g。則有g=2ksin0。.g=l/d；k=1/入，A2dsin0二入。即厄

6、瓦爾德球圖解與布拉格方程等價。2.作圖并證明公式：Rd=LA。作圖：以1/入為半徑作厄瓦爾德球面，入射線經(jīng)試樣0與厄瓦爾德球面交于0*點，與熒光屏交于0,點；衍射線與厄瓦爾德球面交于G點，與熒光屏交于A點。0*G是倒易矢量g，0,A=R,0O,=L。透射電子顯微鏡的孔徑半角很小可近似認為g/R有/00*G9/00,A00*/L=g/R將00*=1/入,g=1/d代入上式得：Rd=LA五、綜合題：（28分）為使Cuk線的強度衰減1/2,需要多厚的Ni濾波片？（Ni的ka八|Jm=49.2/cm2g-1,p=8.9/gcm-3）。（10分）解：根據(jù)強度衰減公式I=Ioe-JmpX1/2=e-49.

7、2*8.9XX=ln2/49.2*8.9=15.83um有一金屬材料的多晶粉末電子衍射花樣為六道同心圓環(huán),其半徑分別是：8.42mm,11.88mm,14.52mm,16.84mm,18.88mm,20.49mm；相機常數(shù)LA=17.00mmA。請標定衍射花樣并求晶格常數(shù)。（10分）解：已知R1=8.42；R2=11.88；R3=14.52；R4=16.84；R5=18.88；R6=20.49123456有R12=70.8964；R22=141.1344；R32=210.8304；R42=283.5856；R52=356.4544；R62=419.8401。56R12/R12=1；R22/R1

8、2=1.99；R32/R12=2.97；R42/R12=4；R52/R12=5.02；R2/R2=5.92。61有N數(shù)列為：1：2：3：4：5：6。由于金屬材料中很少是簡單立方結構,故考慮N數(shù)列為：2：4：6：8：10：12。這是體心立方晶體結構,其值對應的晶面族指數(shù)是110；200；211；220；310；222。根據(jù)電子衍射基本公式Rd=LA，有d1=2.019；d2=1.431；d3=1.171；d4=1.009；d5=0.900；d6=0.829。123456a=2.86A分析電子衍射與X射線衍射有何異同？（8分）答：電子衍射的原理和X射線衍射相似，是以滿足（或基本滿足）布拉格方程作為

9、產(chǎn)生衍射的必要條件。首先，電子波的波長比X射線短得多，在同樣滿足布拉格條件時，它的衍射角e很小，約為10-rad。而X射線產(chǎn)生衍射時，其衍射角最大可接近n/2。其次，在進行電子衍射操作時采用薄晶樣品，薄樣品的倒易陣點會沿著樣品厚度方向延伸成桿狀，因此，增加了倒易陣點和愛瓦爾德球相交截的機會，結果使略微偏離布拉格條件的電子束也能發(fā)生衍射。第三，因為電子波的波長短，采用愛瓦爾德球圖解時，反射球的半徑很大，在衍射角8較小的范圍內反射球的球面可以近似地看成是一個平面，從而也可以認為電子衍射產(chǎn)生的衍射斑點大致分布在一個二維倒易截面內。這個結果使晶體產(chǎn)生的衍射花樣能比較直觀地反映晶體內各晶面的位向，給分析

10、帶來不少方便。最后，原子對電子的散射能力遠高于它對X射線的散射能力（約高出四個數(shù)量級），故電子衍射束的強度較大，攝取衍射花樣時暴光時間僅需數(shù)秒鐘。第一童1、X射線是德國物理學家）在研究真空管高壓放電現(xiàn)象時偶然發(fā)現(xiàn)的。勞埃布拉格仁、倫琴D、德拜2、X射線管中陰極的功能是（：）使電子突然減速發(fā)射電子C、汶?yún)sy射出的通道D、發(fā)射即的地方3、電子由躍遷輻射出的特征X射線稱為（）譜線AB%KpC-LaD、Lp4、壯r眄光子與束縛力不犬的原子外層電子相碰撞時發(fā)生的散射稱為（）A.非相干散射相干散射仁、弾性散射D、湯姆謝散射典醫(yī)射線管中陽極的功能是（）A.使電子突然腹速B.岌射電子仁、汶衛(wèi)丫射出的通道D、發(fā)

11、射曙即的地方隊醫(yī)射線管中窗口的功能是（）A.使電子突然減速B.發(fā)射電子J汶?yún)sy射出的通道D、發(fā)射at眄的地方了、X射線是（）A、電磁波Bs聲減6超聲波D、單色光8、當X射線將某物質原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出檢外，這整個過程將產(chǎn)生（）A、光電子廿、二次熒光匸、俄歇電子D、光電子和俄歇電子9、已知X射線管是銅靶，應選擇的濾泯片材料是）A、6BsNiCsFeD、Al10、既能進行形貌觀察又能進行晶體結構分析的儀器是）A.XRDB.TENC.SENI）、EPMA表形貌分析的手段包括）A、XRD和SEMB.SEN口TEMC、他訂口XPSD、STEM和SEM發(fā)現(xiàn)

12、了K-ray在晶體丄衍射的科學家是）A.勞埃B.布拉格C.倫琴D、德拜特征叭的液長取決于）A.A射波的波長加速電壓G物質的原子能紙結構D、濾波片厝r叭管中，當采用鋰線形燈絲時將產(chǎn)生（）焦點長方形線性C.橢圓形D、圓形店、濾波片的波長應（）Ax大于hkaE.小于九k；C、位于入為和丸k：.之間D、任意選取第二童1、面心立方結構的單位晶胞原子數(shù)是）A.2B.4C.8Dx122、體心立方結構的單位晶胞原子數(shù)是）A.1叭斗C.8D.123、密排六方結構的單位晶胞原子數(shù)是）A.24C.6Dx124、-最常用的X射線衍射方法是（）恥勞埃法取粉末法G周轉晶體法D,德拜法$束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決

13、于）A是否很足布扌顯格條件Bx是否（訂射強度I齊卩匚、ABD、晶體形狀趴空間點陣只能有（）種A.1214C、15D、16人1斗種布拉菲點陣（：）A.按其對稱性，可歸結為七大晶系B.按其點陣常數(shù)分類，可歸納為七大晶系C.按其點陣所在位羞分，可歸結為七大晶系D、按其幾何形狀分類，可歸結為七大晶系8、某晶體屬于立方晶系，一晶面截孟軸于a/2、y軸于b/3、z軸于凸4,則該晶面的指標為）A、（364）E、（234）J（213）D、（儀町勺、符號pvw表示）A-.晶面族Bx晶面C、晶向族D、晶向10.在立方晶系中，指數(shù)相同的晶面和晶向（）A、相互平行目、相互垂直成一定角度范圍D、無必然聯(lián)系1K體心立方結

14、構的點陣常數(shù)之間的關系為（）TOC o 1-5 h z鼻、a=b=c馭u=b豐亡u、“工&工匸d、a=cn.密排六方結構點詁常數(shù)間的關系為、氏、a=b=c職a=bc“a=b口、a=c13、引人空間點陣概念是為了）A、描述原子在晶胞中的位蠱B、描述晶體的對稱性C、描述晶體結構的周期性D、同時描述晶體結構的周期性和對稱性M.N兩晶體，如果）A.所屬的空間點陣相同，則此兩晶體的結構相同B.晶體結構相同，它們所屬的空間點陣可能不同C.晶體結構相同，它們所屬的空間點陣業(yè)然相同D、所屬的空間點陣不同，兩晶體的結構可能相同15、已知NaCl晶體結構屬于立方晶系，則其晶體結構常數(shù)關系為（A-n、a.b=c:a

15、=py=90C、a=bc,a=p#90oD、2=山匚u=冋A.aFeB.AlC.MgD、y-Fe17、屬于面心立方晶體的是)A.a-FeB.TisMgD、y-Fe18.屬于密排六方晶體的是（)A.aFeB.Alc.MgD、y-Felb、屬于體心立方晶體的是）19、立方晶系的110晶面族包含）個晶面A.68Cx12D、1斗20、X射線衍射方法中,試樣為單晶體的是）A、勞埃法B、周輕晶體法C、平面底片照相法D、A和B21、第一位推導出x-Ky在晶體上衍射幾何規(guī)律的科學家是）恥勞埃馭布拉格仁、倫琴D、布拉菲22、單晶體材料呈現(xiàn)）A.各向異性B.各向同性J偽各向異性D、偽各向同性。芻、非晶體材料呈現(xiàn)）

16、As各向異性B.各向同性仁、偽各向異性D、偽各向同性。24、非晶體屬于（）擬聚態(tài)職固體下列屬于晶體的是（A、蠟燭B.松香C、液體）C、食鹽D、氣體D、玻璃）晶體結構和空間點陣的相互關系A、空間點陣中每一個點陣代表晶體中的一個原子取每一種空間點陣代表唯一的一種晶體結構C、晶體結構一定，它所屬的空間點陣也唯一地被確定D、每一種晶體結構可以用不同的空間點陣表示27、利用白色壯偽y作為入射光源的X射線衍射方法是（）勞埃法周轉晶體法C、平面底片照相法第三童1、對于簡單點陣結構的晶休,系統(tǒng)消光的條件是（）A、不存在系統(tǒng)消光気h+k為奇數(shù)C、h+k-1為奇數(shù)2、對于底心斜方點陣結構的晶體，系統(tǒng)消光的條件是（

17、）漢、不存在系統(tǒng)消光臥h+k為奇數(shù)6h+k-1為奇數(shù)趴對于體心立方點陣結構的晶體，系統(tǒng)消進的條件是（）A.不存在系統(tǒng)消光気h+k為奇數(shù)C、h+k-1為奇數(shù)對于面心立方點陣結構的晶體，系統(tǒng)消光的條件是（）A、不存在系統(tǒng)消光気h+k為奇數(shù)C、h+k-1為奇數(shù)5、立方晶系10叮晶面的多重性因子為）D、粉末法D、h、k.1為異性數(shù)D、h、k、1為異性數(shù)D、h.k.1為異性數(shù)D、h.k.1為異性數(shù)A.23C.4D.6隊洛倫茲因子中，第一幾何因子反映的是）Ax晶粒大小對衍射強度的影響B(tài)x參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響C.衍射線位置對衍射強度的戢響D、試樣形狀對衍身犧度的戢響7、洛倫茲因子中，第二幾何因子

18、反映的是（）A、晶粒丈小對衍射強度的戢響B(tài)x參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的戢響J衍射線位置對衍射強度的影響D、試樣形狀對衍身撰度的戢響氛洛倫茲因子中，第三幾何因子反映的是（）Ax晶粒丈小對衍射強度的戢響B(tài)x參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響C、衍射線位蠱對衍射強度的影響D、試樣形狀對衍身損度的影響9、對于底心斜方晶體，產(chǎn)生系統(tǒng)消光的晶面有（）A、112B.1136101D、11110、對于面心立方晶體，產(chǎn)生系統(tǒng)消光的晶面有）Ax200Bx220Cx112D、11111、熱振動對x-rav衍射的戢響中不正確的是）A、溫度升高引起晶胞膨脹廿、使衍射線強度減小C、產(chǎn)生熱漫散射D、改變布拉格角定量表征原子

19、排布以及原子種類對衍射強度影響規(guī)律的參數(shù)稱為（）A.結構因子馭角因子C、多重性因子D、吸收因子將等同晶面?zhèn)€數(shù)對衍射強度的影響因子稱為（）結構因子馭角因子。多重性因子D、吸收因子個電子對恥偽、散射的特點敘述不正確的是（）A.散射線強度很強B.散射線的強度與到觀測點距離的平方成正比:、在2日=0處散射強度最強D、在2日TDtJ時散射強度最弱德拜相機的直徑為57-3n,則底片上每一至米對應于（）圓心角A.0.52C、1D、4氣德瑋相機的直徑為114.6nmi,則底片上每一毫米對應于（）圓心角A.0.52C、1D、4第四章1、德拜法中有利于提高測量精度的底片安裝方法是（）乩正裝法馭反裝法G偏裝法D、以

20、上均可工、樣品臺和測角儀機械連動時，計數(shù)器與試樣的轉速關系是）A.1：1馭2：1C.1：2D、沒有確定比例3、衍射儀法中的試樣形狀是（）絲狀粉末多晶塊狀粉末多晶塊狀單晶D、任意形狀關于相機分辨率的戢響因素敘述錯誤的是（）A.相機半徑越大，分辨率越高9角越大，分辨率越高C、X射線浪長越小，分辨率越高D、晶面間距越大，分辨率越低、粉末法是由德國的（）于凹16年提出的A.德拜和謝樂気布拉格和德拜G勞埃和布拉格D、布拉格Z粉末照相法所用的試樣形狀為()A.塊狀職分散C.圓柱形D、任育形狀八低角的弧線接近中心孔，高角線靠近端部的底片安裝方法為()恥正裝法眾反裝;去5偏裝法D、任育安裝都可高角的弧線接近中

21、心孔，低角線靠近端部的底片安裝方法為()恥正裝法馭反裝1去S偏裝法D、任青安裝都可9、以.氣體電離為基礎制造的計數(shù)器是)A、正比計數(shù)器B.蓋革計數(shù)器J閃爍計數(shù)器D、A和E利用X射線激發(fā)某種物質會產(chǎn)生可見的熒光，而且熒光的多少與X射線強度成正比的特性而制造的計數(shù)器為)A、正比計數(shù)器B.蓋革計數(shù)器仁、閃爍計數(shù)器D、鋰潼移硅檢測器11、把從高度分析器來的脈沖加以.計數(shù)的電子儀器為)A-.計數(shù)器定標器匸、測角儀D、光鬧下列說法錯誤的是()A、多晶體衍射的技術測量方法有連續(xù)掃描和階梯掃描兩種測量法B、為了提高衍射的分辨率，應該選擇較小的接受光鬧C、為了提高測量精度，一般選用盡可能犬的時間常數(shù)D、為了提高

22、測量精確度，應選用盡可能小的掃描速度13、下列說法錯i吳的是()A、發(fā)散狹縫光闌是用來限制入射線在測角儀平面平行方向上的發(fā)散角馭為了提高衍射的分辨率，應該選擇較小的接受光鬧J為了測量衍射強度，應適當?shù)丶尤邮芄怍[D、防寄生散射光鬧對衍射線本身有很大的影響底片位于相機圓筒內表面，試樣位于中心軸上的照相法是()A.徳拜法職聚焦照相法6針孔法D、衍射儀法底片與孟寸好垂直且試樣位于兩者之間的照相法是()A、徳拜法聚焦照相法G針孔法D、衍射儀法1氣底片、試樣、比丫源均位于圓周上的照相法是()A.徳拜法職聚焦照相法C、針孔法D、衍射儀法在壯r野探測器中分辨能丈I高、分析速度塊、檢測效率可達100%的原子固

23、體檢測器是()A、正比計數(shù)器蓋革計數(shù)器S閃爍計數(shù)器D、鋰漂移硅檢測器在發(fā)散光鬧尺寸不變的情況下，20角越小，入射線在試樣表面的照射面積()A.越小越大0不變D、不確定19、時間常數(shù)的増大會導致x-rav衍射線的峰高下降)A、升高職下降6木變D、無陀燃聯(lián)系20、掃描速度的増大會導致x-rav衍射線的峰高下降()A、升高取下降C、不變D、無必然聯(lián)系21、為了提高x-ray衍射分辨率，需選用）A、低速掃描和較小的接受帙縫光鬧B.快速掃描和較小的接受茯縫光鬧C.低速掃描和較大的接受狹縫光鬧D、快速掃描和較犬的接受狹縫光闌22、為了x-ray衍射強度測1量有最大的精確度，需選用）A、低速掃描和中等的接受

24、狹縫光鬧B.快速掃描和中等的接受狹縫光闌C.低速掃描和較大的接受狹縫光鬧D、快速掃描和較犬的接受鐵縫光闌第五章1、X射線物相定性分析方法中，如果已知物質名時可以.采用）A.哈氏無機數(shù)值索引B.芬克無機數(shù)值索引C、戴維無機字母索引D.A或B2、測定鋼中的奧氏體含量，若采用定量醫(yī)射線物相分析，常用方法是（）A、外標法內標法6直接比較法D、K值法3、PDF卡片中，數(shù)據(jù)最可靠的用（）表示41馭C.OD、C4、PDF卡片中，數(shù)據(jù)可靠程度最低的用（）表示A.1叭女C.OD、C將所需物相的純物質另外單獨標定，然后與多項混合物中待測相的相應衍射線強度相比較而進行的定量分析方法稱為（）A、外標法B.內標法C、直

25、接比較法D、K值法氣在待測試樣中摻入一定含量的標準物質，把試樣中待測相的某根衍射線條強度與摻入試樣中含量已知的標準物質的某根衍射線條相比較，從而茯得待測相含量的定量分析方法稱為）A.外標法B.內標法C、直接比較法D、K值法第九童1、若H-800電蓮的最高分辨率是0.5nm,那么這臺電蓮的有效放大倍數(shù)是）A、LOOO馭10000C.40000D、6000002、透射電子顯微蓮中可以消除的像差是）A、球差B、像散C、色差D、均不可能消除3、由于電磁透蓮中心區(qū)域和邊緣區(qū)域對電子折射能力不同而造成的像差稱為）A、球差B、像散C、色差D、背散4、由于透蓮磁場非旋轉對稱而引起的像差稱為（）A、球差B、像散

26、C、色差D、背散5、由于入射電子波長的非單一性造成的像差稱為J）A、球差B、像散C、色差D、背散6、制造出世界上第一臺投射電子顯徽蓮的是）A、德布羅意B.魯斯卡C、德拜D、布拉格7、1924年，）發(fā)現(xiàn)電子波的波長比可見光短十萬倍A、德布羅意B.魯斯卡C、德拜D、布拉格8、Y射線不能用來做透射電蓮照明光源的是因為（）A、波長較可見光長B、不是單色光C、不能聚焦D、分辨率太低9、孔徑角越小則（）A、球差越大B、像散越大C、色差越大D、分辨率越高第十童1、透射電鏡中電子槍的作用是）A、電子源B、會聚電子束C、2、透射電鏡中聚光的作用是J）A、電子源B、會聚電子束C、3、透射電鏡中物蓮的作用是J）A、

27、電子源B、會聚電子束C、形成第一副高分辨率電子顯微團像形成第一副高分辨率電子顯微團像形成第一副高分辨率電子顯微團像D、進一步放大物蓮像D、進一步放大物蓮像D、進一步放大物蓮像逶射電鏡中電中間鏡的作用是（）A.電子源會聚電子束形成第一副高分辨率電子顯徽團像D、進一步放丈物蓮像能提高透射電鏡成像襯度的光闌是（A、第二聚光蓮光闌B.物鏡光闌氣物鏡光闌安放在（）A、物蓮的物平面物蓮的像平面7、選區(qū)光闌在TEM蓮筒中的位置是（A、物蓮的物平面物蓮的像平面電子衍射成像時是將（）A、中間蓮的物平面與與物蓮的背焦面重合6關閉中間蓮C、選區(qū)光詞D、索拉光闌S物蓮的背焦面D、物蓮的前焦面S物蓮的背焦面D、物蓮的前

28、焦面B.中間蓮的物平面與與物鐐的像平面重合D、關閉物鏡勺、透射電鏡成形貌像時是將）A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合6關閉中間鏡D、關閉物鏡為了減小物鏡的球差，往往在物鏡的背焦面上安放一個（）A.第二聚光鏡光鬧物鏡光鬧C、選區(qū)光闌D、索拉光鬧第一童1、同種材料經(jīng)過不同的處理后其性能不變）、XRD可以進行樣品表面徹觀形貌觀察（）3、壯r野是電璇波，具有粒子性和波動性（）斗、在醫(yī)學透視上的x-ray長很長，故又稱為軟x-ray（）、對于長方形焦點的兀-他丫管，對這長邊的表觀焦點弟狀為線狀，它的強度很強（）包、連續(xù)x-迢y的強度隨著嘗壓的増咼而増咼）4連續(xù)孟-r

29、ay譜中,能量最犬值在光子能量最犬的加處（：）塔、K-線比Kp線的波長長而強度高）9、每種物質的俄歇電子能量犬小只取決于該物質的原子能圾結構，是物質的固有特征）質量吸收系數(shù)與物質密度和狀態(tài)無關，只與原子序數(shù)和的波長有關）1K隨X射線管的電壓升高，打和兀都隨之減小）12、經(jīng)濾減后的X射線是相對的單色光）13、選擇濾波片只要根據(jù)吸收曲線選擇材料，而不需要考慮厚度）產(chǎn)生特征X射線的前提是原子內層電子被打出孩外，原子處于激岌狀態(tài)）X射線是單色的）兀-r昭的波長很短，能量和動量很犬，具有很強的穿逶能力（）14連續(xù)x-ray譜短泯限只與管電壓有關）18、X4冇管中陽極靶物質的原子序數(shù)越大，所需臨界激發(fā)電壓

30、值越高()19、線呢收系數(shù)與物質種類、密度、x-ray長有關)20、mr眄不反射，幾乎不折射)21、原早系統(tǒng)中各能級的能量差是不均勻的，越靠近原子核的相鄰能極差越大()22、光的干涉條件是散射減之間振動方向相同、頻率相同、位相差恒定()第二童1、空間點陣只有1斗種，而晶體結構可以有無限種)2、空間點陣與晶體結構是相同的兩個概念()3、立方晶系的1悅晶面族包含囲個晶面()4、同一晶帶中所有晶面的法線都與晶帶軸垂直)、(100)和(110)同屬于001囁帶軸()6、單色X-ray的衍射只在滿足布拉格定律的若干個特殊角度上產(chǎn)生()7、X射線衍備線的強度接近于入射線強度)8、X射線的入射線與反射線的夾

31、角永遠是20()9、X射線的衍射是大量原子參與的一種散射現(xiàn)象()10、產(chǎn)生X射線衍射現(xiàn)象的必要條件是有一個可以.干涉的波和一組周期排列的散射中心)11、干涉指數(shù)只能是互質的整數(shù)()12、衍射方向決定于晶胞的大小與形狀()13、干涉晶面與實際晶面的區(qū)別在于：干涉晶面是虛擬的，指數(shù)間存在公約數(shù)n()14、X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行()15、種布拉菲點陣可以代表許多種晶體結構()1隊晶面間距越大的晶面其指數(shù)也越犬()粉末法多晶體試樣的形狀可以是任意的)晶面指數(shù)的數(shù)值是晶面在三個坐標軸上的截距()14凡是屬于uvw晶帶的晶面，其晶面指數(shù)hid)必須符合hu+kv+lwo()

32、20、若已知特征mi羽的波長和衍射角,則通過布拉格方程可法計算出晶面間距)21、勞埃法是采用連續(xù)x-ray作為入射光源的)22、粉末法采用的X射線為單色x-ray()第三童1、衍射方向在X射線波長一定的情況下取決與晶面間距)物質的原子序數(shù)越小，非相干散射越弱)3、在一個晶面族中，等同晶面越多，參加衍射的擬率就越大)X射線衍射線的峰寬可以_反映出許參晶體信息，峰越寬說明晶粒越大)在其他條件一定的情況下，晶粒越小，X射線衍射強度越弱)氣原子的熱振動可使X射線衍射強度増大)7、溫度一定時；彳汀射角越犬，溫度因子越小；彳汀射強度隨之減小)布拉格萬程只涉反藍射袋衍射萬問，不能反映衍射強度）彳汀射角一正時，溫度越咼，溫度因子越小，T汀射強度隨之減小）原子的熱振動會產(chǎn)生各個方向散射的相干散射）第四童1、大直徑德拜相機可以提高衍射線分辨率，縮矩曝光時間）2、德拜法比衍射儀法測量衍射強度更精確）3、在衍射儀法中，衍射幾何包括二個圓。一個是測角儀圓；另一個是聚焦圓，蠱射線管的焦